CN113631909A - 包括传感器元件和封闭片的传感器装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种传感器装置(10)，其包括传感器元件(12)、保护所述传感器元件(12)免受环境影响的封闭片(16)以及用于识别所述封闭片(16)上的污物(110)的探测装置(100)，所述探测装置包括用于发出光的发射器(102)、用于将光耦入到所述封闭片(16)中的耦入器件(104)、用于将光从所述封闭片(16)耦出的耦出器件(106)以及探测器(108)。此外设置，所述发射器(102)和所述耦入器件(104)构造和布置为，使得光以多个角度耦入到所述封闭片(16)中并且由于在所述封闭片(16)内的全反射而传播至所述耦出器件(106)并且到达所述探测器(108)，其中，在所述封闭片(16)上存在污物(110)时，对于以在消除范围内的角度耦入的光，全反射至少部分地被消除，该消除范围与所述污物(110)的折射率有关，并且所述探测器(108)设置为用于探测对于这些角度的全反射的消除，并且所述探测装置(100)设置为用于从全反射被消除的角度中推断出所述污物(110)的类型。
Description
技术领域
本发明涉及一种传感器装置，其包括传感器元件、保护传感器元件免受环境影响的封闭片以及用于识别封闭片上的污物的探测装置。
背景技术
传感器装置，例如是经常结合现代车辆所使用的摄像机或激光雷达传感器包括传感器元件，该传感器元件为了保护免受来自环境的影响而借助封闭片覆盖。为了保证该传感器装置的功能性，需要识别封闭片上的污物，例如封闭片上的固体颗粒、水、雪、冰或油。与车辆关联地已知雨传感器，其可以识别挡风玻璃上的湿气或一般污物并且必要时可以根据这些湿气或污物来操纵玻璃刮水器。然而，借助这些雨传感器不能表征玻璃上的污物类型。
由DE 10 2007 003 023 B4已知一种用于监控监控区域的光电子传感器，其具有透明保护板。为了检查保护板的透光性，借助测试光发送器将测试光射入到保护板的内腔中，其中，入射角选择成使得出现全反射。由此，保护板的内腔被照亮，但光不能从保护板的表面射出并且不能到达光电传感器的图像传感器。如果保护板在一个部位上被污染，则在该部位处不再满足全反射的条件，并且光可以射出并作为干扰光被图像传感器感测到。替代于图像传感器，可以相对于测试光发送器布置有光电二极管，借助该光电二极管确定测试光电位。在板干净的情况下，接收已知的测试光电位。当测试光由于污物能够从板射出时，该电位改变。
由DE 23 54 100 A1已知用于在透明板上记录和分析透明液体的方法以及装置。光通过光学系统这样被偏转到所述板上，使得光以全反射的角度照射到该板上。全反射的光通过棱镜板从所述板射出并且通过光学系统聚焦到探测器上。如果在所述板上存在具有不同折射率的不同材料，例如油和水，则该板也相应地配属有关于板材料的全反射的不同极限角度。以这种方式可以基于液体的不同折射率来区分液体，使得例如可以在玻璃清洗设备中使用不同的清洁剂。
由DE 10 2014 116 709 A1已知一种具有烹饪室的烹饪器，该烹饪室包括光学的污染传感器。该污染传感器具有透明的传感器面、光源和光传感器。传感器面是烹饪室壁的一部分，并且光源以及光传感器布置在烹饪室外，使得来自光源的光倾斜地落到传感器面上，并且由传感器面反射的光被光传感器接收。由于在透明传感器表面上的污染，折射率这样地改变，使得至少对于由光源发射的光的一部分取消在传感器表面上的全反射。因为入射光优选在宽的角度范围内耦入到传感器面中，所以也在一个角度范围内提供了耦出，该角度范围直至在透明传感器面上达到全反射。在此，耦出角度通过污染材料的光学折射特性来确定，因此，通过全反射消除的角度范围甚至能够确定污染材料具有何种折射率。从该特性中又可以推断出污染材料的类型。
与包括传感器元件和封闭片(该封闭片保护传感器元件免受环境影响)的传感器装置关联地，清洁装置的使用是已知的。例如DE 10 2018 104 007 A1描述了一种包括传感器和刮水器片的装置，所述传感器包括柱形窗，所述刮水器片固定在传感器上并且能够在可见区段上运动。
由于磨损，这种清洁系统不可以不间断地工作。因此值得期望的是，识别在传感器装置的封闭片上是否存在污物以及存在哪些污物。
发明内容
本发明提出一种传感器装置，其包括传感器元件、保护传感器元件免受环境影响的封闭片以及用于识别封闭片上的污物的探测装置。该探测装置包括用于发出光的发射器、用于将光耦入到封闭片中的耦入器件、用于将光从封闭片耦出的耦出器件以及探测器。在此设置，发射器和耦入器件构造和布置为，使得光以多个角度耦入到封闭片中并且由于在封闭片内的全反射而传播至耦出器件并且到达探测器。当在封闭片上存在污物时，对于以在与污物的折射率有关的消除区域内的角度耦入的光，全反射至少部分地被消除
在此，探测器设置为用于探测对于这些角度的全反射的消除，并且探测装置设置为从全反射被消除的角度中推断出污物的类型。
传感器装置可以使用关于污物类型的信息，以便生成关于传感器装置的功能性的评判或者生成关于由传感器元件感测到的信息的质量的评判，以及必要时采取对策。
传感器元件是一种装置，该装置使用电磁辐射，例如光或无线电波来感测关于传感器装置环境的数据。为了保护免受环境影响，该传感器元件用封闭片来保护，该封闭片对于由传感器元件所使用的电磁辐射是透明的。如果传感器元件例如在使用光的情况下工作，则封闭片对于光是可透过的。然而，如果在封闭片上存在污物，例如水或者其它污垢，则电磁辐射穿过封闭片的扩散会被干扰，使得也干扰或至少限制传感器元件的功能。除了封闭片外，传感器装置还可以包括其它壳体部件，这些壳体部件对于传感器元件所使用的电磁辐射不一定必须是透明的。
传感器装置的探测装置设置为用于不但记录污物的存在，而且确定是哪种污物。为了识别污物及其类型，光被耦入到封闭片中。在此，光由发射器发出并且在使用耦入器件的情况下耦入到封闭片中。在此，光以多个角度耦入到封闭片中。多个角度可以理解为多个离散的光束，其中，这些光束中的每一个可以配属有不同角度，但例如也可以是连续的角度范围，在该角度范围内光被耦入到封闭片中。在此，该连续的角度范围被最大角度和最小角度限界，光在该角度范围内被耦入到封闭片中并且在充分利用全反射的情况下在封闭片内传播。
耦入到封闭片中的光在封闭片的两个面之间总是又被全反射并且以这种方式从光已经耦入到封闭片中的部位扩散至光再次耦出的部位。在此，耦入器件与光耦入到封闭片中的部位相对地或邻接地布置，并且相应地，耦出器件与光从封闭片再次耦出的部位邻接地或相对地布置。
在使用耦出器件的情况下从封闭片耦出的光分别以不同的角度离开耦出器件，这些角度分别相应于光已经耦入到封闭片中的角度。耦出的光通过探测器来记录，其中，探测器可以区分不同的角度。根据探测器的构型而定，该探测器可以区分不同数量的角度范围。
如果封闭片没有污物，则光可以以耦入角度中的每一个从耦入部位到达耦出部位，使得对于所有角度范围由探测器记录光。对于所有耦入角度，光分别在封闭片和周围空气之间的分界面上被全反射。
相反地，如果封闭片具有污物，则至少在被污染的区域上存在改变的条件。在污物所在的位置处，封闭片的折射率不是过渡到空气的折射率，而是过渡到污物的对应材料的折射率。因此，根据污物材料的折射率值而定，对于光已经耦入到封闭片中的确定角度，不再满足用于全反射的条件，使得对于该角度，来自封闭片的光的至少一部分已经在污染的部位处从封闭片耦出。根据菲涅尔方程(Fresnel-Gleichungen)，所有以小于全反射极限角度的角度耦入到封闭片中的射束至少部分地从封闭片耦出。对于具有低折射率的污物，全反射的极限角度小于具有高折射率的污物。因此，对于具有较大折射率的污物，与具有较小折射率的污染相比，光在封闭片内的扩散对于较大的角度范围是附带损失的。随后，光的部分耦出通过探测器记录，其中，探测器对于确定的角度范围通过所记录的光强度的减小来识别至少部分消除的全反射。
优选地，发射器设置为用于发出呈发散光束形式的光。在该发散光束中，所有扩散角度都包含在由发散光束预给定的锥体内。因此，通过将该发散光束耦入到封闭片中，光也在连续的角度范围内耦入到封闭片中并且然后在充分利用全反射的情况下在封闭片内传播。
优选地，发射器构型为发光二极管或激光二极管。
由发射器发出的光可以具有确定的波长或确定的波长范围。优选地，由发射器发出的光的波长选择为使得该波长不影响或尽可能小地影响传感器装置的传感器元件的测量。例如，为此可以选择这样的波长，传感器元件对于该波长不具有或仅具有小的灵敏度。替代地或附加地可以设置，使用滤波元件，该滤波元件布置在传感器元件前方并且抑制由发射器发出的光。
耦入器件和/或耦出器件优选构型为棱镜、全息图(Hologramm)、光栅或封闭片的倾斜面。在封闭片的倾斜面的情况下，该面相对于发射器或探测器布置成使得该面相对于发射器或探测器的轴线不是垂直地布置，而是倾斜地延伸。
对于耦入器件或耦出器件构型为棱镜、全息图或者光栅的情况，这些器件可以构型为附加的元件，该附加的元件与封闭片邻接地或相对地布置。替代于此，这些耦入器件或耦出器件也可以直接集成到封闭片中。
为了识别封闭片上的污物而必要的是，封闭片的要识别出污物的相应区域位于封闭片的光从发射器传播至探测器的区域上。为了能够覆盖封闭片的尽可能大的区域，优选的是，探测装置包括多个在空间上分布的发射器和/或探测器。通过设置多个发射器和相应地多个配属于各发射器的探测器，光可以在封闭片的多个部位处耦入并且相应地在多个部位处再次耦出。因此，光从发射器出发经由不同路径扩散至探测器中的一个，其中，不同路径布置成使得至少能够检验封闭片的被传感器元件所需的面是否有污物。在此，作为封闭片的被传感器元件所需的区域是指封闭片的这些部分：传感器通过这些部分发出电磁辐射或传感器元件通过这些部分接收电磁辐射。替代地或附加地也可以设置，在发射器和耦入器件之间放置至少一个第一光学元件如散射器或透镜，以便在耦入之前影响光。通过漫射器例如可以将由发射器发出的光分布在限定的面上。
附加地或替代地也可以设置，至少一个发射器和至少一个探测器可运动地接收在探测装置中，使得可以通过改变发射器或探测器的位置来改变在封闭片上可以识别出污物的区域。优选地，为此进行发射器和/或探测器的平移或旋转运动。
在传感器装置的一个实施变型中，封闭片以具有柱体轴线的圆柱体的形式构型。在此，所述至少一个探测器和所述至少一个发射器设置为用于绕着柱体轴线旋转。以这种方式，探测装置可以通过发射器和所配属的探测器监控圆柱体周面的至少一部分。
传感器元件优选是激光雷达传感器或视频摄像机。然而，传感器元件可以是任意的光敏传感器。在激光雷达传感器的情况下优选的是，选择具有呈圆柱体形状的封闭片的传感器装置，并且为了识别封闭片上的污物使用具有至少一个发射器和一个探测器的探测装置，所述发射器和探测器设置为用于绕着封闭片的圆柱体形状的柱体轴线旋转。在此，尤其可以设置，不但激光雷达传感器的一部分而且发射器和探测器一起布置在一个旋转单元上。
优选地，探测装置的探测器实施为电荷耦合装置(Charged-coupled Device，CCD)或光电二极管阵列。在光电二极管阵列的情况下，光电二极管中的每一个相应于一个能够被探测器识别到的角度范围。在CCD的情况下，探测器包括大量像素，这些像素分别可以识别在不同位置处的光强度，其中，CCD的每个像素配属有一角度或一小的角度范围。替代地可以是，探测器具有其它对光学辐射敏感地反应的探测器元件。在这种情况下，也分别设置有用于针对确定的角度范围探测光强度的探测器元件。
附加地，通过耦出器件耦出的辐射能够通过至少一个第二光学元件，例如透镜来影响，使得相同角度的射束映射到相同的探测器位置上，以便提高测量精度。
优选地，传感器装置还包括用于清洁封闭片的清洁装置。该清洁装置优选设置为用于根据在封闭片上识别到的污物的类型和/或量来运行。因此，一方面可以是，仅当确实识别到污物时才激活清洁装置，并且当在封闭片上没有识别到污物时完全停用清洁装置。此外可以设置，根据识别到的污物的类型来选择清洁装置的运行模式。
优选地，清洁装置包括用于将液体施加到封闭片上的喷洒装置，其中，清洁装置设置为用于根据污物的类型来操纵喷洒装置。因此，例如可以设置，只要在封闭片上识别到水，就不施加附加的液体，并且因此激活清洁装置，而不操纵喷洒装置。相反地，优选设置，在识别到干燥的污物时激活喷洒装置，以便润湿封闭片或使去除污物变容易。
为了去除污物，清洁装置尤其可以具有机械的清洁单元，例如机械的刮水器片。为了避免该刮水器片的过早磨损，优选设置，避免刮水器片的干式运行。即仅当识别到干燥的污物时，刮水器片才与喷洒装置结合地运行。相反地，在识别到封闭片上的湿气时，刮水器片也可以在不操纵喷洒装置的情况下运行。
借助喷洒装置施加的液体尤其可以是清洁液。例如，为此可以对水掺有清洁剂。
清洁装置可以设置为用于储存多种不同的液体并且将其有针对性地施加到封闭片上。
优选地，封闭片由对于由传感器元件接收或发出的电磁辐射可透过的材料制造。尤其，对于封闭片的材料可以使用塑料或玻璃，其对于电磁光谱的相应区域是可透过的。
本发明的优点：
所提出的传感器装置可以在使用探测装置的情况下识别在封闭片上存在何种类型的污物，该封闭片保护传感器装置的传感器元件免受环境影响。以这种方式可以评判，传感器装置是否具有功能性，即传感器装置的传感器元件是否能够提供正确的数据。这尤其当传感器装置被用于安全关键的应用领域中时是有利的，例如在自主车辆的运行中感测环境的情况下。在不同类型的污物之间进行区分的能力在此是重要的，因为不是每种污物都相同程度地影响传感器元件的功能。
此外，在得知封闭片上的污物类型的情况下，可以有针对性地采取对策。在优选的实施方式中，传感器装置为此包括清洁装置，该清洁装置根据识别到何种类型的污物来运行。如果例如识别到液体，则可以操纵刮水器片，而不需要用喷洒装置事先喷洒清洁液。相反地，在存在干燥的污物时可以防止刮水器片干燥地工作并且可以事先喷洒清洁液。
此外可以考虑，根据识别到的污物类型相应地选择不同清洁方法和/或不同清洁液，以便去除污物。
通过将大的角度范围耦入到保护覆盖件中，可以通过探测装置识别在封闭片的整个表面上的污物。同时，由此也可以通过探测装置确定对于污染度的量度，使得能够有意义地阐释传感器装置的测量数据。
此外，探测装置所使用的辐射的波长可自由选择。因此，该波长可以选择为使得由背景光引起的干扰影响最小化。可以通过添加滤波器实现干扰效应的进一步最小化。
附图说明
借助附图和下面的说明进一步阐述本发明的实施例。
附图示出了：
图1传感器装置的示意图，该传感器装置具有用于识别封闭片上的污物的探测装置，
图2测量原理的示意图，
图3a和3b在没有污物的情况下的三种不同光束的扩散的示意图，
图4a和4a在存在第一污物的情况下的三个光束的示意性扩散，图5a和5b在存在第二污物的情况下的三个光束的扩散；和
图6具有柱形封闭片的传感器装置。
在本发明的实施方式的以下说明中，相同或相似的元件以相同的附图标记标明，其中，在个别情况下不重复说明这些元件。附图仅示意性地示出本发明的内容。
具体实施方式
图1示出传感器装置10的示意图。传感器装置10包括传感器元件12，借助该传感器元件可以感测关于传感器装置10所在的周围环境的数据。为此，传感器元件12设置为用于接收电磁辐射并且必要时也发出电磁辐射。传感器元件12布置在壳体14中，该壳体借助封闭片16封闭。封闭片16保护传感器元件12免受环境影响。同时，封闭片16允许电磁辐射能够到达传感器元件12，并且必要时相反地允许由传感器元件12发出的电磁辐射能够释放到周围环境中。
如果传感器元件12实施为光学摄像机，则封闭片16对于可见光是透明的。如果传感器元件12例如是红外摄像机，则封闭片16对于红外光是可透过的并且必要时对于可见光可以是不透明的。传感器元件12的另一示例是激光雷达传感器，借助该激光雷达传感器可以识别在传感器装置10的周围环境中的对象并且可以确定该对象与传感器装置10的距离。
为了识别封闭片16上的沉积物，传感器装置10还具有探测装置100。此外，传感器装置10的在图1中所示的实施方式具有清洁装置200，借助该清洁装置可以从封闭片16去除污物110。
图2示意性地示出探测装置100(比较图1)，借助该探测装置可以识别封闭片16的表面上的沉积物110。为此，探测装置100包括发射器102，该发射器例如构型为发光二极管并且发出要耦入到封闭片16中的光105。要耦入的光105到达耦入器件104并且由耦入器件104耦入到封闭片16中。要耦入的光105可以在耦入之前被第一光学元件112影响，该第一光学元件布置在发射器102和耦入器件104之间。在图2所示的示例中，第一光学元件112构型为漫射器。耦入的光在封闭片16内朝耦出器件106的方向传播并且在那里又作为耦出的光107射出。在充分利用全反射的情况下，光在封闭片16内传播，其中，光通过在封闭片16的表面上的多次反射从耦入器件104传播至耦出器件106。如果在封闭片16的表面上不存在污物110，则通过封闭片16的材料的折射率和周围空气的折射率得到对于全反射确定的极限角度。然而，如果污物110位于封闭片16的表面上，则在污物110所在的部位处，由于污物110的折射率不同于空气的折射率，在封闭片16内能够发生全反射的极限角度减小。在此，极限角度减小的强度与污物110的折射率有关。因为现在不再能对于在要耦入的光105已经耦入到封闭片16中时的所有角度发生全反射，所以现在光的一部分量111在污物110的位置处耦出。
通过借助探测器108分析耦出的光107可以确定，对于何种角度在封闭片16内的全反射是可能的并且对于何种角度是不能的。从该信息中可以推导出，污物110是否位于封闭片16上，并且可以推断出该污物110的折射率。因为不同物质具有不同折射率，例如水具有约1.33的折射率，并且油通常具有在约1.4-1.6范围内的折射率，使得仅通过折射率就能够推断出污物110的类型。有利地，耦出的光107在照射到探测器108上之前通过第二光学元件114来影响，所述第二光学元件在图2所示的示例中构型为透镜。
在图3a中绘制出要耦入的光105的三个示例性光束通过封闭片16的走向。耦入器件104在此示例性地构型为封闭片16的倾斜面。同样，耦出器件106也构型为封闭片16的倾斜面。
在图3a所示的状况中，完全没有污物110位于封闭片16上(比较图2)，使得对于要耦入的光105的所有三个所示的射束能够在封闭片16内发生全反射。在耦出的光107中，三个射束分别以不同的角度离开封闭片16，使得这些射束分别在不同探测器位置P处照射到探测器108上。探测器位置P可以相应地配属于封闭片16中的一个传播角度。
在图3b中示出曲线图，该曲线图与探测器位置P相关地示出由探测器108求取的耦出的光107的强度I。如根据图3b的示图可得出，对于耦出的光107的所有三个所示的光束测量出高强度I。测量出高强度I时的最小角度相应于全反射的与折射率相关联的极限角度。在探测器108上的相应于极限角度的位置用附图标记116标记。
在图4a和所属的图4b中示出三条光束穿过封闭片16扩散(比较图3a)，其中，污物110位于封闭片16的表面上。由于污物110的存在，在污物110的位置处，能够在封闭片16内发生全反射的极限角度发生变化，使得用于全反射所需的条件仅对于要耦入的光105的三个光束中的一个仍然是满足的。与此相应地，仅三个所示的光束中的一个也以耦出的光107的形式到达探测器108。相应地，图4b的所属的曲线图仅对于三个光束中的一个示出高强度I。
图5a和所属的图5b示出与图4a和4b中相同的状况，但针对具有不同折射率的第二污物110’。第二污物110’的折射率对于要耦入的光105的三个所示的光束不允许在封闭片16内发生全反射，使得这三个所示的光束都不再到达探测器108。相应地，图5b的由探测器108求取的光强度I的曲线图对于三个所示的光束都不再显示出值得重视的强度I。在探测器108上的相应于极限角度的位置再次用附图标记116标记。
在图3a、图4a和图5a中所示的情况中，探测器108例如可以构型为单行的CCD，使得探测器108可以沿着一个空间维度对于多个像素求取相应入射的光的强度I。替代地，例如在图2中所示的那样，探测器108可以以多个探测器元件109的形式构型，这些探测器元件例如分别表示一个对光敏感的光电二极管。这些光电二极管中的每一个然后可以相应地对于能够在封闭片16内发生全反射的一定的角度范围来求取光。
图6示出与封闭片16关联的探测装置100的一个实施例，该封闭片以具有柱体轴线120的圆柱体形式实施。在该示例中，探测装置100包括发射器102和探测器108，该探测器相应地具有两个探测器元件109。这两个探测器元件109中的每一个可以探测在确定的角度范围内耦合到封闭片16中的光。
为了用探测装置100覆盖封闭片16的整个周面，不但发射器102而且探测器108都设置成使得它们能够绕着柱体轴线120旋转。通过绕着柱体轴线120的旋转，发射器102和探测器108之间的光路122逐渐扫过圆柱形的封闭片16的整个周面。
探测装置100的在图6中所示的实施方式尤其与传感器元件12关联地适用，所述传感器元件构型为激光雷达传感器并且也绕着一轴线旋转。
本发明不局限于在此说明的实施例和在此突出的方面。而是，在由权利要求给定的范围内可以实现多个变型方案，这些变型方案在本领域技术人员的能力范围内。
Claims (10)
1.一种传感器装置(10)，其包括传感器元件(12)、保护所述传感器元件(12)免受环境影响的封闭片(16)以及用于识别所述封闭片(16)上的污物(110、110’)的探测装置(100)，所述探测装置包括用于发出光的发射器(102)、用于将光耦入到所述封闭片(16)中的耦入器件(104)、用于将光从所述封闭片(16)耦出的耦出器件(106)以及探测器(108)，其中，所述发射器(102)和所述耦入器件(104)构造和布置为，使得光以多个角度耦入到所述封闭片(16)中并且由于在所述封闭片(16)内的全反射而传播至所述耦出器件(106)并且到达所述探测器(108)，其中，在所述封闭片(16)上存在污物(110、110’)时，对于以在消除范围内的角度耦入的光，全反射至少部分地被消除，该消除范围与所述污物(110、110’)的折射率有关，并且所述探测器(108)设置为用于探测对于这些角度的全反射的消除，并且所述探测装置(100)设置为用于从全反射被消除的角度中推断出所述污物(110、110’)的类型。
2.根据权利要求1所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述发射器(102)设置为用于发出呈发散光束形式的光。
3.根据权利要求1或2所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述发射器(102)构型为发光二极管或激光二极管。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述耦入器件(104)和/或所述耦出器件(106)构型为棱镜、全息图、光栅或所述封闭片(16)的倾斜面。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述探测装置(100)包括多个在空间上分布的发射器(102)和/或探测器(108)。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述探测器(108)实施为电荷耦合装置或光电二极管阵列。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述传感器装置(10)还包括用于清洁所述封闭片(16)的清洁装置(200)，所述清洁装置能够根据污物(110、110’)的类型运行。
8.根据权利要求7所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述清洁装置(200)包括用于将液体施加到所述封闭片(16)上的喷洒装置，其中，所述清洁装置(200)设置为用于根据所述污物(110、110’)的类型操纵所述喷洒装置。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述封闭片(16)以具有柱体轴线(120)的圆柱体的形式构型，其中，所述发射器(102)和所述探测器(108)设置为用于绕着所述柱体轴线(120)旋转。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的传感器装置(10)，其特征在于，所述传感器元件(12)构型为激光雷达传感器或视频摄像机。
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