CN113589067A

CN113589067A - 低压电控设备通用耐久测试系统及其测试方法

Info

Publication number: CN113589067A
Application number: CN202110734717.9A
Authority: CN
Inventors: 王赛; 何葵; 彭金城; 李婷; 常云萍
Original assignee: Dongfeng Motor Corp
Current assignee: Dongfeng Motor Corp
Priority date: 2021-06-30
Filing date: 2021-06-30
Publication date: 2021-11-02

Abstract

本发明涉及车辆设备测试技术领域，具体涉及一种低压电控设备通用耐久测试系统及其测试方法。环境试验箱，用于放置待测试设备，并根据耐久测试的需求模拟测试环境；耐久测试机柜，用于根据上位机下发的测试用例包进行对应测试；扩展负载箱机柜，用于为被测试设备提供负载；上位机，用于根据待测试设备的种类和待测试的功能向耐久测试机柜下发对应的测试用例包，以及根据测试结果输出测试报告；测试用例包包括一个或若干个测试用例，不同的测试用例分别对应的不同的待测试功能。可解决耐久测试设备测试信号种类的单一性、负载的不可更换性，并可以任意搭建测试用例和测试序列，具有较高的模块集成度和通用性，测试效率高。

Description

低压电控设备通用耐久测试系统及其测试方法

技术领域

本发明涉及车辆设备测试技术领域，具体涉及一种低压电控设备通用耐久测试系统及其测试方法。

背景技术

当今社会，随着汽车厂家和车型越来越多，车载控制器的种类和数量愈之丰富，与此同时，控制器出现故障的绝对数量也急剧增加，车载控制器的耐久性测试试验是衡量控制器可靠性的有效手段，为了验证车载控制器的可靠性，传统的车载控制器的耐久性测试方法为：测试台架仅完成单一环境、一只或两只单一种类控制器的耐久性数据采集和计算，测试效率低下，测试误差大，测试一致性差，尤其是无法全程记录测试数据和捕捉异常，在车载控制器更新迭代时，无法快速建立多样化控制器的耐久性测试系统，测试不同的控制器时，需要重新搭建测试台架，延长了产品的研发周期，增加了产品的研发成本。

发明内容

本发明的目的就是针对现有技术的缺陷，提供一种低压电控设备通用耐久测试系统及其测试方法，可解决现有耐久测试设备测试信号种类的单一性、负载的不可更换性，并可以任意搭建测试用例和测试序列，自动记录和分析控制器的整个试验过程产生的状态信息。具有较高的模块集成度和通用性，测试效率高，可大大缩短产品的测试周期。

本发明一种低压电控设备通用耐久测试系统，其技术方案为：包括

环境试验箱，用于放置待测试设备，并根据耐久测试的需求模拟测试环境；

耐久测试机柜，用于根据上位机下发的测试用例包进行对应测试；

扩展负载箱机柜，用于为被测试设备提供负载；

上位机，用于根据待测试设备的种类和待测试的功能向耐久测试机柜下发对应的测试用例包，以及根据测试结果输出测试报告；

所述测试用例包包括一个或若干个测试用例，不同的测试用例分别对应的不同的待测试功能。

较为优选的，所述环境试验箱包括快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的任意一个或多个，所述快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的每个箱体均分别连接一个耐久测试机柜，每个所述耐久测试机柜均连接一个扩展负载箱机柜。

较为优选的，所述耐久测试机柜内设置有信号负载箱，所述信号负载箱包括Ethernet通讯模块、CAN/CANFD通讯模块、LIN通讯模块、SENT通讯模块、TPL通讯模块、模拟输入/输出模块、频率输入/输出模块、通用I/0模块和特殊信号模块。

较为优选的，所述扩展负载箱机柜通过模拟负载或接入真实负载的方式为被测试设备提供负载。

较为优选的，所述快速温变试验箱用于模拟温度快速变化的测试环境，所述高温试验箱用于模拟高温测试环境，所述高低温试验箱用于模拟高温或低温测试环境；

当所述待测试设备进行热循环的耐久性试验时，置于所述快速温变试验箱内；

当所述待测试设备进行耐久性的激活或高温耐久性试验时，置于所述高温试验箱或高低温试验箱内。

本发明一种低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其技术方案为，包括：

将待测试设备放入环境试验箱内；

根据所述待测试设备的类型，选择相应的硬线线束连接至耐久测试机柜的对应接口；

耐久测试机柜根据接口输入信号，识别出待测试设备的类型，并将待测试设备的类型发送至上位机；

所述上位机根据所述待测试设备的类型，通过所述耐久测试机柜向所述待测试设备发送测试模块功能选项数据；

所述待测试设备在所述测试模块功能选项数据中选择需要测试的功能数据，并通过所述耐久测试机柜发送至上位机；

所述上位机基于需要测试的功能数据将与各功能对应的测试用例组合为测试用例包，并下发至耐久测试机柜；

接入扩展负载箱机柜，启动环境试验箱和耐久测试机柜，根据所述测试用例包执行对应的功能测试；

所述上位机获取功能测试的结果，并基于所述结果输出测试报告。

较为优选的，还包括根据耐久测试的需求将一个所述待测试设备置于快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的任一箱体内，当一个待测试设备测试完毕后再对另一个待测试设备进行测试；

其中，当所述待测试设备进行热循环的耐久性试验时，置于所述快速温变试验箱内；当所述待测试设备进行耐久性的激活或高温耐久性试验时，置于所述高温试验箱或高低温试验箱内。

较为优选的，还包括根据耐久测试的需求将多个待测试设备分别置于不同的环境试验箱内，所述环境试验箱为快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的任一箱体，每个所述环境试验箱中放置一个待测试设备，多个待测试设备之间并行测试；

较为优选的，所述上位机预存储有每种功能测试的测试要求，所述上位机将获取的各功能的测试结果与预存储的各功能对应的测试要求进行比对，并根据比对结果输出关于该待测试设备在指定耐久试验下各功能测试通过与否的测试报告。

较为优选的，所述需要测试的功能数据以CAN通道报文的形式发送，所述上位机通过CAN通道报文中的位信号识别需要测试的功能。

本发明的有益效果为：

1、设置环境试验箱、耐久测试机柜、上位机和扩展负载箱机柜，可以任意搭建测试用例和测试序列，根据测试功能调用对应的测试用例进行测试，自动记录和分析控制器的整个试验过程产生的状态信息。具有较高的模块集成度和通用性，测试效率高，可大大缩短产品的测试周期。

2、环境试验箱采用三种不同的测试环境，可以满足各种耐久性试验需求，实现同一个测试系统对于设备热循环的耐久性试验、耐久性的激活、高温耐久性试验等多种耐久性测试。

3、耐久测试机柜内集成有可涵盖各域控制器接口类型的多种通讯模块、输入输出模块、信号模块等，能够涵盖各域控制器的电信号。在对不同的控制器进行测试时，无需更换系统，只需跟换对应硬线接线方式即可，其通用性强。

4、涉及三种不同的测试环境，控制器测试种类、数量和试验环境可以自由组合，实现“2+2+2”模式，试验组合非常灵活。同时，具有较强的扩展性，可搭建任意测试序列，多个控制器同时测试时，上位机显示各控制器执行进度条，可实时接收和发送CAN报文给被测样件，记录被测样件的测试数据，并进行分析，输出测试报告。

附图说明

图1为本发明一种低压电控设备通用耐久测试系统的连接原理示意图；

图2为本发明耐久测试机柜内部连接示意图；

图3为本发明一种低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法流程示意图。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

本方案的一种低压电控设备通用耐久测试方法与系统，包括硬件和软件两部分。

硬件主要由测试机柜、信号负载箱、扩展负载机柜、扩展负载箱、环境试验箱、可编程电源、测试电脑和相应线束组成。

测试机柜放置信号负载箱；信号负载箱主要包括主控单元、I/O板卡、信号调理和小功率负载单元等，为被测样件提供输入信号模拟、输出信号采集、模拟负载状态、采集负载状态、模拟小功率负载，模拟CAN(CAN/FD)通信、LIN通信、SENT通信、以太网通信、TPL通信等。扩展负载机柜放置扩展负载箱，扩展负载箱为被测车载控制器提供模拟负载和真实负载预留接口。环境试验箱为被测车载控制器提供模拟环境试验条件，包括热循环的耐久性、耐久性的激活和高温耐久性。可编程电源：为被测样件提供供电电源。测试电脑：运行测试软件，进行数据记录和处理等功能，自动生成测试报告。线束：分两种，一种是被测样件与信号负载箱之间的线束，另一种是信号负载箱和扩展负载箱之间的线束。

软件部分主要包括系统管理、数据处理、数据保存、历史数据查询、自动生成测试报告。实现硬件配置管理、测试用例编辑。

本方案中的待测试设备主要针对现有的域控制器的耐久测试试验，涉及到BCM(Body Control Module车身域控制器)、IVI(In-Vehicle Infotainment车载信息娱乐系统)、EMS(Engine Management System发动机管理系统)、HDC(Hill Descent Control陡坡缓降调节系统)等等。

本发明一种低压电控设备通用耐久测试系统，包括

扩展负载箱机柜，用于为被测试设备提供负载；

如图3所示，本发明一种低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其包括：

S1，将待测试设备放入环境试验箱内；

S2，根据所述待测试设备的类型，选择相应的硬线线束连接至耐久测试机柜的对应接口；

S3，耐久测试机柜根据接口输入信号，识别出待测试设备的类型，并将待测试设备的类型发送至上位机；

S4，所述上位机根据所述待测试设备的类型，通过所述耐久测试机柜向所述待测试设备发送测试模块功能选项数据；

S5，所述待测试设备在所述测试模块功能选项数据中选择需要测试的功能数据，并通过所述耐久测试机柜发送至上位机；

S6，所述上位机基于需要测试的功能数据将与各功能对应的测试用例组合为测试用例包，并下发至耐久测试机柜；

S7，接入扩展负载箱机柜，启动环境试验箱和耐久测试机柜，根据所述测试用例包执行对应的功能测试；

S8，所述上位机获取功能测试的结果，并基于所述结果输出测试报告。

实施例一

图1示出了本申请较佳实施例(图1示出了本申请第一实施例)提供的一种低压电控设备通用耐久测试系统的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：

该系统主要涵盖环境试验系统、信号负载系统、扩展负载系统、工控机及线束。

其中，环境试验系统(即环境试验箱)包括快速温变试验箱1，提供热循环耐久性试验环境，高温试验箱2，提供高温耐久性试验环境，高低温试验箱3，提供耐久性激活试验环境。

环境试验箱包括耐久测试机柜4～6，其中，耐久测试机柜4～6内又设有信号负载箱41、信号负载箱42、可编程电源43、信号负载箱51、信号负载箱52、可编程电源53、信号负载箱61、信号负载箱62、可编程电源63。

扩展负载系统包括扩展负载机柜7～9，扩展负载机柜7～9又包括扩展负载箱71、扩展负载箱72、扩展负载箱81、扩展负载箱82、扩展负载箱91、扩展负载箱92、测试电脑10。

线束包括待测试设备(包括被测件11、12、21、22、31、32)与信号负载箱41、42、51、52、61、62之间的线束A、信号负载箱41、42、51、52、61、62与扩展负载箱71、72、81、82、91、92之间的线束B。

快速温变试验箱1、高温试验箱2和高低温试验箱3可放置相同或不同DUT(DeviceUnder Test待测设备)，完成DUT的环境试验设置，经过线束A与信号负载箱41连接，信号负载箱41提供激励信号、数据采集以及小功率负载，模拟车载工况，信号负载箱41通过线束B与扩展负载箱71连接，为DUT提供大功率负载(如驱动大灯、电机等)或真实负载接口(如节气门等)，当需要连接真实负载时，通过扩展负载箱71输出接口，与真实负载连接。

上位机10(即测试电脑)通过无线网络与耐久测试机柜4、耐久测试机柜5和耐久测试机柜6连接，用于配置不同DUT的测试，信号负载箱41、42、51、52、61、62、可编程电源43、53、63、扩展负载箱71、72、81、82、91、92均为标准机柜形式，可拆卸式，信号负载箱41和扩展负载箱71均具备可扩展能力。

以上耐久测试机柜在功能和结构上完全相同、信号负载箱在结构和功能上完全相同、扩展机柜在结构和功能上完全相同、扩展负载箱在功能和结构上完全相同。

如图2所示，信号负载箱内测试单元，包含下位机实施处理器，完成与上位机和各信号之间的信息交换，各通信模块：Ethernet通讯模块411、CAN/CANFD通讯模块412、LIN通讯模块413、SENT通讯模块414、TPL通讯模块416、模拟输入/输出模块417、频率输入/输出模块418，通用I/0模块419、特殊信号模块41A，其中特殊信号模块包含EMS专用信号，如：二进制氧传感器和线性氧传感器模拟信号、爆震传感器模拟信号、高压喷油器模拟信号、高压油泵模拟信号、点火线圈模拟信号、节气门模拟信号等，以上信号均通过标准板卡提供给DUT。

实施例二

该实施例提供该系统的一种控制方法，其包括：

S1：将待测试设备放入环境试验箱内；

被测控制器需要测试哪种测试耐久环境，如，热循环的耐久性，需要将被测控制器放置在快速温变箱(可根据不同国标或企标，选择不同的变温率试验箱)中；耐久性的激活和高温耐久性，则需要将被测控制器放置在高低温试验箱中。可随意选择试验环境，或被测控制器类型；如，相同的被测控制器可分别放置在不同的试验箱中，完成不同的测试环境试验；不同的被测控制器可放置在同一个试验箱中，完成相同环境试验。

S3，耐久测试机柜根据接口输入信号，识别出待测试设备的类型，并将待测试设备的类型发送至上位机，也可通过上位机发送可选测试控制器类别，通过CAN接收报文，根据通讯协议解析，确认选择哪种类别的控制器，如BCM、VCU、PDC、IVI等；

根据已输入系统的测试用例，CAN报文发送测试模块选项，同一类型的控制器具有不同的功能模块，以适配不同的车型及配置，如，BCM控制器，低配时，不包含以太网功能模块；高配时，包含以太网功能模块，可根据CAN0通道接收到的位信号，当bit0＝1，表示在CAN1～CAN7中，都包含哪些功能模块，来确定哪些通道需要初始化；

被测控制器的测试功能模块，可并行进行，测试时序为周期性测试，或定时测试，或根据自定义形式完成，通过CAN通信，上传测试数据；

S8，所述上位机获取功能测试的结果，并基于所述结果输出测试报告。上位机预存储有每种功能测试的测试要求，所述上位机将获取的各功能的测试结果与预存储的各功能对应的测试要求进行比对，并根据比对结果输出关于该待测试设备在指定耐久试验下各功能测试通过与否的测试报告。

不同的控制器相同功能的测试用例相同，根据硬线接入的通道，通过LIN转CAN通讯，识别选择那一路的硬线信号，并调用该信号的测试用例，依次类推，组合成被测控制器的测试用例包，根据不同的试验要求，确定是周期性测试，还是定时测试，选择将被测控制器放置不同的试验环境中。

一个被测控制器测试时，为多个测试功能，同时测试，因为在实车中，存在多个功能模块同时工作的可能性，为更为严格的模拟实车环境，测试用例可同时测试多个功能模块。

上位机初始化，当连接好DUT时，上位机系统自动检测被测件，并设置DUT的ID，DUT的状态(是否连接正确)，整个试验过程产生试验数据保存的路径等。

当上位机初始化完成后，上位机系统可配置DUT对应的激励模块、测试模块和负载模块，完成产品测试代码编写，上位机开放测试用例的编写接口，可自行设置输出条件和监控方式，修改运行条件、设定边界值、修改参数值、设定运行条件等，可以搭建自动测试序列，包括顺序执行，条件判断、循环等。测试台架根据上位机设置，执行完整性测试。

上位机接收到测试数据，并通过强大的数据处理功能，进行数据分析和整理，最后生成测试报告。当测试结束后，可调用测试报告中相应的过程数据，可以为周期测试数据表，也可以为整合测试数据表。

实施例三

该实施例提供了针对车身域控制器用电信息，该用电信息如表1所示：

表1

根据不同板卡内容，列表中明确的各用电信息需求，定制对应硬件线束，连接上DUT后，检查输入接口、输出接口、各负载连接是否正确；根据测试试验要求，将被测控制器放置在要求的环境试验箱中，如高低温试验箱或快速温变箱，为被测控制器上电，CAN报文发送信号给被测控制器，被测控制器接收到信息，选择哪些功能模块初始化，完成初始化后，通过CAN报文发送指令给上位机，上位机显示出OK或NO OK提示；系统提供一套基于NILabVIEW完成所有硬件接口(输入、输出、通讯)和网络报文的封装，且在TestStand中直接控制硬件接口和网络报文，测试用例可按测试计划配置(如当右位置灯检测到高电平6V～13.5V时，相应的一路高边驱动灯亮5S)，测试序列可按测试用例配置(测试序列要求每一次测试循环中，右位置亮一次)，最终系统记录测试数据，判定后形成测试报告。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims

1.一种低压电控设备通用耐久测试系统，其特征在于：包括

扩展负载箱机柜，用于为被测试设备提供负载；

2.如权利要求1所述的低压电控设备通用耐久测试系统，其特征在于：所述环境试验箱包括快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的任意一个或多个，所述快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的每个箱体均分别连接一个耐久测试机柜，每个所述耐久测试机柜均连接一个扩展负载箱机柜。

3.如权利要求1所述的低压电控设备通用耐久测试系统，其特征在于：所述耐久测试机柜内设置有信号负载箱，所述信号负载箱包括Ethernet通讯模块、CAN/CANFD通讯模块、LIN通讯模块、SENT通讯模块、TPL通讯模块、模拟输入/输出模块、频率输入/输出模块、通用I/0模块和特殊信号模块。

4.如权利要求1所述的低压电控设备通用耐久测试系统，其特征在于：所述扩展负载箱机柜通过模拟负载或接入真实负载的方式为被测试设备提供负载。

5.如权利要求2所述的低压电控设备通用耐久测试系统，其特征在于：所述快速温变试验箱用于模拟温度快速变化的测试环境，所述高温试验箱用于模拟高温测试环境，所述高低温试验箱用于模拟高温或低温测试环境；

6.一种如权利要求1所述的低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其特征在于，包括：

将待测试设备放入环境试验箱内；

7.如权利要求6所述的低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其特征在于：还包括根据耐久测试的需求将一个所述待测试设备置于快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的任一箱体内，当一个待测试设备测试完毕后再对另一个待测试设备进行测试；

8.如权利要求6所述的低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其特征在于：还包括根据耐久测试的需求将多个待测试设备分别置于不同的环境试验箱内，所述环境试验箱为快速温变试验箱、高温试验箱、高低温试验箱中的任一箱体，每个所述环境试验箱中放置一个待测试设备，多个待测试设备之间并行测试；

9.如权利要求6所述的低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其特征在于：所述上位机预存储有每种功能测试的测试要求，所述上位机将获取的各功能的测试结果与预存储的各功能对应的测试要求进行比对，并根据比对结果输出关于该待测试设备在指定耐久试验下各功能测试通过与否的测试报告。

10.如权利要求6所述的低压电控设备通用耐久测试系统的测试方法，其特征在于：所述需要测试的功能数据以CAN通道报文的形式发送，所述上位机通过CAN通道报文中的位信号识别需要测试的功能。