CN113495204B - 一种小功率管开关时间测试系统 - Google Patents
一种小功率管开关时间测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113495204B CN113495204B CN202110619743.7A CN202110619743A CN113495204B CN 113495204 B CN113495204 B CN 113495204B CN 202110619743 A CN202110619743 A CN 202110619743A CN 113495204 B CN113495204 B CN 113495204B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- precision
- transistor
- resistor
- tested
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明提供的一种小功率管开关时间测试系统;包括测试模块,测试模块输入端输入高精度电源和高精度信号源,测试模块的输出端与高速示波器连接,所述高精度信号源为脉冲信号。本发明通过设计晶体管的测量回路和通用的高精度电源、高精度信号源、高速示波器连接,准确的测试出晶体管的开关时间波形图。
Description
技术领域
本发明涉及一种小功率管开关时间测试系统。
背景技术
晶体管开关时间是晶体管开关特性的一个极其重要的参数,大多数中功率大功率晶体管开关时间测试系统的主要测试回路是用来实现晶体管从截止态到饱和态再到截止态的一个开关过程,其测试脉冲通常在500ns到3到5倍的开关总时间最大可到几十微秒,测试脉冲上下沿要求在开关时间的三分之一以下即可。对测量回路,元器件选择上有一定要求,晶体管的测试较易完成,国内外具有现成的测试机或测试系统。小功率晶体管的开关时间测试国内也经常采用前述测试机或测试系统完成。但是我国各种电路中在用的元器件在对标时往往与美国军用标准对应,这时我们就发现有一部分小功率开关晶体管的测试原理图和前述测量原理图有本质上的区别,使用现有的测试机得出的测试结果不准确。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种小功率管开关时间测试系统。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的一种小功率管开关时间测试系统;包括测试模块,测试模块输入端输入高精度电源和高精度信号源,测试模块的输出端与高速示波器连接,所述高精度信号源为脉冲信号。
所述测试模块包括被测试晶体管,被测试晶体管的基极、发射极、集电极分别与高精度电源连接。
所述被测试晶体管的的集电极通过电阻RC与高精度电源VC连接并作为信号输出端口与高速示波器连接。
所述被测试晶体管的发射极与二极管的负极和电阻Re连接,二极管的正极接地,电阻Re另一极接高精度电源VE。
被测试晶体管的基极还与高速示波器连接,高速示波器测试被测晶体管的输入信号。
被测试晶体管的基极分别与电阻RB、电阻R2、电容C1连接,所述电阻RB连接高精度电源VB,所述电阻R2接地,所述电容C1的另一端与高精度信号源及电阻R1连接,电阻R1接地。
本发明的有益效果在于:通过设计晶体管的测量回路和通用的高精度电源、高精度信号源、高速示波器连接,准确的测试出晶体管的开关时间波形图。
附图说明
图1是本发明的测试系统结构示意图;
图2是本发明的测试装置电路原理示意图;
图3是本发明的开关时间定义波形示意图;
实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案,但要求保护的范围并不局限于所述。
一种小功率管开关时间测试系统;包括测试模块,测试模块输入端输入高精度电源和高精度信号源,测试模块的输出端与高速示波器连接,所述高精度信号源为脉冲信号。
所述测试模块包括被测试晶体管,被测试晶体管的基极、发射极、集电极分别与高精度电源连接。
所述被测试晶体管的集电极通过电阻RC与高精度电源VC连接并作为信号输出端口与高速示波器连接。
所述被测试晶体管的发射极与二极管的负极和电阻Re连接,二极管的正极接地,电阻Re另一极接高精度电源VE。
被测试晶体管的基极还与高速示波器连接,高速示波器测试被测晶体管的输入信号。
被测试晶体管的基极分别与电阻RB、电阻R2、电容C1连接,所述电阻RB连接高精度电源VB,所述电阻R2接地,所述电容C1的另一端与高精度信号源及电阻R1连接,电阻R1接地。
本申请利用一些通用的高精度信号源、高精度电源、高速示波器仪器,并设计小型晶体管的测量回路,选择调整一些特性优异的元器件,最终实现在非完全截止态到饱和态再到截止态下,在一定的直流工作状态下叠加动态开关时间测试,同时测试脉冲宽度在15nS左右,测试结果开关时间20nS左右。
如图3,所示显示了晶体管从截止太到饱和太再到截止太的时间过程。
Claims (1)
1.一种小功率管开关时间测试系统,其特征在于:包括测试模块,测试模块输入端输入高精度电源和高精度信号源,测试模块的输出端与高速示波器连接,所述高精度信号源为脉冲信号;
所述测试模块包括被测试晶体管,被测试晶体管的基极、发射极、集电极分别与高精度电源连接;
所述被测试晶体管的集电极通过电阻RC与高精度电源VC连接并作为信号输出端口与高速示波器连接;
所述被测试晶体管的发射极与二极管的负极及电阻Re连接,二极管的正极接地,电阻Re另一极接高精度电源VE;
被测试晶体管的基极还与高速示波器连接,高速示波器测试被测晶体管的输入信号;
被测试晶体管的基极分别与电阻RB、电阻R2、电容C1连接,所述电阻RB连接高精度电源VB,所述电阻R2接地,所述电容C1的另一端与高精度信号源及电阻R1连接,电阻R1接地。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110619743.7A CN113495204B (zh) | 2021-06-03 | 2021-06-03 | 一种小功率管开关时间测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110619743.7A CN113495204B (zh) | 2021-06-03 | 2021-06-03 | 一种小功率管开关时间测试系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113495204A CN113495204A (zh) | 2021-10-12 |
CN113495204B true CN113495204B (zh) | 2023-04-11 |
Family
ID=77997256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110619743.7A Active CN113495204B (zh) | 2021-06-03 | 2021-06-03 | 一种小功率管开关时间测试系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113495204B (zh) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1539038A1 (de) * | 1965-07-15 | 1969-12-04 | Verfahren und Schaltung zur Ermittlung der Schaltzeitkonstanten von Transistoren | |
WO2009022313A2 (en) * | 2007-08-16 | 2009-02-19 | Nxp B.V. | Integrated circuit with rf module, electronic device having such an ic and method for testing such a module |
CN105372573A (zh) * | 2014-08-28 | 2016-03-02 | 哈尔滨理大晟源科技开发有限公司 | 晶体管开关时间参数测量装置及其进行测量的方法 |
CN107091980A (zh) * | 2017-05-27 | 2017-08-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种晶闸管维持电流测试装置 |
CN108051719A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-05-18 | 广东美的制冷设备有限公司 | 功率管测试电路及功率管测试装置 |
CN110376499A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-10-25 | 西北核技术研究院 | 三极管三端电流波形、退火效应测量系统及方法、中子注量测量方法 |
CN111596191A (zh) * | 2020-07-10 | 2020-08-28 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司天生桥局 | 一种晶闸管关断时间的测定方法及测定装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3051900A (en) * | 1959-05-08 | 1962-08-28 | Philco Corp | In-circuit transistor tester |
US4010418A (en) * | 1975-03-13 | 1977-03-01 | Rca Corporation | Transistor circuits |
JPH01321382A (ja) * | 1988-06-23 | 1989-12-27 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Mosトランジスタの試験回路 |
CN204302445U (zh) * | 2014-12-26 | 2015-04-29 | 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) | 一种整流器件反向恢复时间测试装置 |
CN205749797U (zh) * | 2015-12-14 | 2016-11-30 | 湖南高速铁路职业技术学院 | 三极管反向特性测试仪 |
CN108267679B (zh) * | 2017-12-01 | 2019-03-26 | 西安电子科技大学 | 基于重离子微束辐照的锗硅异质结晶体管单粒子效应测试方法 |
US10895601B2 (en) * | 2019-05-10 | 2021-01-19 | Infineon Technologies Ag | System and method of monitoring a switching transistor |
-
2021
- 2021-06-03 CN CN202110619743.7A patent/CN113495204B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1539038A1 (de) * | 1965-07-15 | 1969-12-04 | Verfahren und Schaltung zur Ermittlung der Schaltzeitkonstanten von Transistoren | |
WO2009022313A2 (en) * | 2007-08-16 | 2009-02-19 | Nxp B.V. | Integrated circuit with rf module, electronic device having such an ic and method for testing such a module |
CN105372573A (zh) * | 2014-08-28 | 2016-03-02 | 哈尔滨理大晟源科技开发有限公司 | 晶体管开关时间参数测量装置及其进行测量的方法 |
CN107091980A (zh) * | 2017-05-27 | 2017-08-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 一种晶闸管维持电流测试装置 |
CN108051719A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-05-18 | 广东美的制冷设备有限公司 | 功率管测试电路及功率管测试装置 |
CN110376499A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-10-25 | 西北核技术研究院 | 三极管三端电流波形、退火效应测量系统及方法、中子注量测量方法 |
CN111596191A (zh) * | 2020-07-10 | 2020-08-28 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司天生桥局 | 一种晶闸管关断时间的测定方法及测定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113495204A (zh) | 2021-10-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8502549B2 (en) | Test apparatus and driver circuit | |
CN103822731B (zh) | 一种vdmos器件结温的测试方法 | |
CN102116827B (zh) | 脉冲i-v与脉冲c-v半导体参数自动测量装置和方法 | |
CN109884492A (zh) | 一种功率mosfet器件雪崩耐量的测试装置 | |
CN203479979U (zh) | 功率半导体器件直流参数测试系统 | |
CN212379541U (zh) | 一种mosfet晶圆漏电流并行测试装置 | |
CN212514763U (zh) | 一种igbt饱和导通电压测量电路 | |
CN212008817U (zh) | 有源mosfet电压钳位电路和双脉冲测试电路 | |
CN111929485A (zh) | 一种igbt饱和导通电压测量电路 | |
CN113495204B (zh) | 一种小功率管开关时间测试系统 | |
CN111308308A (zh) | 一种大功率igbt开关特性测试装置 | |
CN110991131A (zh) | 一种用于fpga的结温动态调节装置和方法 | |
CN201014993Y (zh) | Pcb板测试仪的测试电路改良 | |
CN107132392B (zh) | 用于探头或附件的动态输出钳位 | |
CN215813162U (zh) | 一种半导体器件参数测试装置 | |
CN203930003U (zh) | 一种用于芯片检测的模拟信号激励系统 | |
CN214201684U (zh) | 一种数字隔离器高温测试装置 | |
CN203616370U (zh) | 一种电流表的档位插口自动选择装置 | |
CN104515968A (zh) | 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法 | |
CN110376499B (zh) | 三极管三端电流波形、退火效应测量系统及方法、中子注量测量方法 | |
CN214750671U (zh) | 一种pnp双极型晶体管开关时间的测试装置 | |
CN113504447A (zh) | 一种半导体器件参数测试装置 | |
CN206788313U (zh) | 一种双极型功率晶体管开关时间参数标准检测装置 | |
CN112213610A (zh) | 一种绝缘栅器件阈值电压的不停机测量方法 | |
CN218917514U (zh) | 功率半导体器件的等效输出电容的测试电路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |