CN204302445U - 一种整流器件反向恢复时间测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种整流器件反向恢复时间测试装置，包括控制回路、信号源、测试采样回路和示波器；所述控制回路的信号输出端与信号源的信号输入端连接，所述信号源的信号输出端与被测器件D的正极连接，所述被测器件D的负极通过测试采样回路与示波器的信号输入端连接。本实用新型利用该测试电路对U型器件在大电流、快恢复测试条件的特殊条件下进行反向恢复时间测试，根据实际的测试结果，器件的反向恢复时间测试值在规定范围内，测试盒产生的振荡、测试波型都与国外同类测试盒基本一致，满足测试元器件的测试目的，测试电路简单，易于制作且测试方便。
Description
技术领域
本实用新型属于电子元件测试技术领域，具体涉及一种整流器件反向恢复时间测试装置。
背景技术
在现代电控技术领域对高频高压整流的使用越来越多，如X射线检测设备，这些设备的高频高压整流多数是用多个高频高压整流二极管串接而成；在使用中发现，在多个串接的高频高压整流二极管中，反向恢复时间快的高频高压整流二极管容易损坏，这样就必须对所购买的高频高压整流二极管进行分类筛选，而筛选时的测试条件要符合产品的使用条件。目前，国内无法对U型器件在大电流、快恢复测试条件的特殊条件下进行反向恢复时间测试。
实用新型内容
为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种整流器件反向恢复时间测试装置。
本实用新型通过以下技术方案得以实现。
本实用新型提供的一种整流器件反向恢复时间测试装置，包括控制回路、信号源、测试采样回路和示波器；所述控制回路的信号输出端与信号源的信号输入端连接，所述信号源的信号输出端与被测器件D的正极连接，所述被测器件D的负极通过测试采样回路与示波器的信号输入端连接。
所述控制回路包括电控开关K1和光控开关K2，所述电控开关K1和光控开关K2分别直接与信号源的输入端连接。
所述电控开关K1和光控开关K2均设置于测试盒内。
所述光控开关K2为高精度光控开关。
所述测试采样回路包括电阻R1和电阻R2，所述电阻R1和电阻R2的一端相连并与被测器件D的负极连接，所述电阻R1的另一端接地，电阻R2的另一端与示波器的信号输入端连接。
所述测试采样回路设置于测试盒内。
本实用新型的有益效果在于：利用该测试电路对U型器件在大电流、快恢复测试条件的特殊条件下进行反向恢复时间测试，根据实际的测试结果，器件的反向恢复时间测试值在规定范围内，测试盒产生的振荡、测试波型都与国外同类测试盒基本一致，满足测试元器件的测试目的，测试电路简单，易于制作且测试方便。
附图说明
图1是本实用新型的原理框图；
图2是图1的电路图。
具体实施方式
下面进一步描述本实用新型的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
如图1和图2所示的一种整流器件反向恢复时间测试装置，包括控制回路、信号源、测试采样回路和示波器；所述控制回路的信号输出端与信号源的信号输入端连接，所述信号源的信号输出端与被测器件D的正极连接，所述被测器件D的负极通过测试采样回路与示波器的信号输入端连接。设置在测试盒内的控制回路将控制信号提供给信号源，打开软件控制开关、保证信号源正常输出。
所述控制回路包括电控开关K1和光控开关K2，所述电控开关K1和光控开关K2分别直接与信号源的输入端连接。所述光控开关K2为高精度光控开关。
所述电控开关K1和光控开关K2均设置于测试盒内，所述测试采样回路设置于测试盒内。
所述测试采样回路包括电阻R1和电阻R2，所述电阻R1和电阻R2的一端相连并与被测器件D的负极连接，所述电阻R1的另一端接地，电阻R2的另一端与示波器的信号输入端连接。
利用国有设计技术、国有器件与国外进口器件相结合，先进的设计理念，解决原国有器件在此类测试上达不到国外器件同等水平的问题，在同类测试盒中，测试数据优于国外测试盒。U型封装整流二极管反向恢复时间测试盒，主要含从信号源输出到示波器检测的前端全套，集合在一个测试盒内，含测试线路、对应信号源测试用开关检测线路、高频电缆及夹具的制作。测试原理，符合MIL-STD-750E-METHOD4031标准的相关规定。
基于反向恢复时间的测试原理及方式方法，信号源提供根据测试条件给出的电流或电压信号，施加在被测器件D上，由电阻R1及电阻R2组成的测试采样回路，以原始信号进入示波器中显示并读取。电控开关K1及高精度光控开关K2控制信号源正常输出信号。测试盒产生的振荡、测试波型都与国外同类测试盒基本一致，前沿小于国外同类测试盒。
利用该测试电路对U型器件在大电流、快恢复测试条件的特殊条件下进行反向恢复时间测试，根据实际的测试结果，器件的反向恢复时间测试值在规定范围内，测试盒产生的振荡、测试波型都与国外同类测试盒基本一致，满足测试元器件的测试目的，测试电路简单，易于制作且测试方便。
Claims (6)
1.一种整流器件反向恢复时间测试装置，包括控制回路、信号源、测试采样回路和示波器，其特征在于：所述控制回路的信号输出端与信号源的信号输入端连接，所述信号源的信号输出端与被测器件D的正极连接，所述被测器件D的负极通过测试采样回路与示波器的信号输入端连接。
2.如权利要求1所述的整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于：所述控制回路包括电控开关K1和光控开关K2，所述电控开关K1和光控开关K2分别直接与信号源的输入端连接。
3.如权利要求2所述的整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于：所述电控开关K1和光控开关K2均设置于测试盒内。
4.如权利要求2或3所述的整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于：所述光控开关K2为高精度光控开关。
5.如权利要求1所述的整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于：所述测试采样回路包括电阻R1和电阻R2，所述电阻R1和电阻R2的一端相连并与被测器件D的负极连接，所述电阻R1的另一端接地，电阻R2的另一端与示波器的信号输入端连接。
6.如权利要求1或5所述的整流器件反向恢复时间测试装置，其特征在于：所述测试采样回路设置于测试盒内。
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| CN201420847539.6U CN204302445U (zh) | 2014-12-26 | 2014-12-26 | 一种整流器件反向恢复时间测试装置 |
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Publications (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106468756A (zh) * | 2015-08-18 | 2017-03-01 | 长春艾克思科技有限责任公司 | 二极管反向恢复时间的测试系统 |
| CN113495204A (zh) * | 2021-06-03 | 2021-10-12 | 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂） | 一种小功率管开关时间测试系统 |
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2014
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