CN201014993Y - Pcb板测试仪的测试电路改良 - Google Patents

Pcb板测试仪的测试电路改良 Download PDF

Info

Publication number
CN201014993Y
CN201014993Y CNU2006201541250U CN200620154125U CN201014993Y CN 201014993 Y CN201014993 Y CN 201014993Y CN U2006201541250 U CNU2006201541250 U CN U2006201541250U CN 200620154125 U CN200620154125 U CN 200620154125U CN 201014993 Y CN201014993 Y CN 201014993Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
test circuit
operational amplifier
fixed value
resistance
value resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNU2006201541250U
Other languages
English (en)
Inventor
杨世光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CNU2006201541250U priority Critical patent/CN201014993Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN201014993Y publication Critical patent/CN201014993Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本实用新型涉及一种测量仪器，更具体地说，为PCB板仪器的测试电路改良。测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。本实用新型通过运算放大器二直接与测量端子相连接，由于运算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线本身的内阻变为零，有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压源和恒流源两种测量电压，使测量范围较大程度的扩大。

Description

PCB板测试仪的测试电路改良
技术领域
本实用新型涉及一种测量仪器，更具体的说，为PCB板仪器的测试电路改良。
背景技术
现在的测试仪器测试元件电阻，一般采用电流电压法测试原理，即采用将电流表或电压表的测试探头直接接触在被测元件的两端，电流表或电压表提供恒定的电压或电流，通过测试回路的电流或电压，达到测试元件的电阻的目的。
这种结构的测量仪器，当测量电阻值较大时，其测量精度可以保证，但测量较小的电阻元件时，由于测量仪器的测试探头线本身有一定的内阻，与待测电阻相差较小时，测量值就会产生较大误差，无法保证测量的精度。现在的市场测试仪器还没有很好的克服这一技术难题。
对于PCB板测试，待测的元件内阻一般相差较大，有时可能需要测量内阻上百兆欧姆的元件，有时可能需要测量一个几毫欧姆的元件，另外，PCB板的测试点数多，元件的精度高，这无疑对PCB板的仪器产生更高的要求。
发明内容
本实用新型的针对现有技术不足，提供一种测量精度高，测量的点数多的PCB板仪器的测试电路改良。
本实用新型提供的PCB板测试仪的测试电路改良，测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。
所述的定值电阻有多个，他们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关。
所述的测试电路的恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、Q3的发射极，PNP三极管的基极Q1、Q3串联信号源SC，PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子P1、P2，测量端子P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时定值电阻。
本实用新型有益效果在于：本实用新型通过运算放大器二直接与测量端子相连接，由于运算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线本身的内阻变为零，有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压源和恒流源两种测量电压，使测量范围较大程度的扩大。
附图说明：
图1为本实用新型的电路原理图
具体实施方式：
以下仅为本实用新型较佳实施例，并不以此来限定本实用新型的保护范围。
见图1所示，本实用新型采用的PCB板测试仪的测试电路改良，测试电路提供恒流源或恒压源，恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、Q3的发射极，此PNP三极管基极Q1、Q3串联信号源SC连接，此PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子P1、P2，测量触点P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时串联定值电阻到信号地，定值电阻有多个，其阻值各不相同，他们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关，本实施例提供三个电阻R1、R2和R3，分别串联开关K1、K2和K3，其应用与不同测量值的电路中。定值电阻连接运算放大器一的输入端，运算放大器的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子P1、P2还连接高阻抗运算放大器二，在测量端子P1、P2和高阻抗运算放大器二的两个端子之间设有电子开关K1、K2、K3、K4、K5、K6，以控制端子是否连通高阻抗运算放大器二。
本电路为PCB板测试仪器的两个量测端子的测试电路，实际的PCB板测试仪器设置多个测试卡，每个测试卡集成了256测试端子。
本实用新型的工作原理如下：
1.当测量端子P1、P2连接待测电阻RX的电阻值比较小时(0.005-30欧姆)，测试电路连接恒流源，即电流值大小恒定，并已知电流值，三极管开关通路Q1与Q4开通，电流从Q1流过RX，经过Q4、K7和定值电阻R1通入恒流源负端。此时开关K1、K2、K4、K6、K7闭合，运算放大器二与待测电阻RX两端直接相连通，可直接测出待测电阻RX两端电压，且运算放大器二本身为高阻抗元件，直接测量端子P1、P2连接，相当于将测试探头线本身的内阻变为零，运算放大器二将经过测得的结果直接输入A/D数模转换，通过显示器直接显示测得的结果。
2.当测量端子P1、P2连接待测电阻RX的电阻值比较大时(1-100K欧姆)，测试电路连接恒压源，即电压值大小恒定，并已知电压值，三极管开关通路Q1与Q4开通，电流从Q1流过RX，经过Q4、K8和定值电阻R2通入恒流源负端。此时开关K1、K2、K4、K6、K8闭合，定值电阻R1运算放大器2与待测电阻RX两端直接相连通，可直接测出待测电阻RX两端电压，此时运算放大器一可直接测定定值电阻R2两端的电压，可得到电路中的电流值，运算放大器一和运算放大器二综合得到测得的结果直接输入A/D数模转换，通过显示器直接显示测得的结果。
3.当测量端子P1、P2连接待测电阻RX的电阻值比较大时(1M-100M欧姆)，测试电路连接恒压源，即电压值大小恒定，并已知电压值，三极管开关通路Q1与Q4开通，电流从Q1流过RX，经过Q4、K9和定值电阻R3通入恒流源负端。此时开关K9闭合，定值电阻R3运算放大器二与待测电阻RX两端直接相连通，可直接测出待测电阻RX两端电压，此时运算放大器一可直接测定定值电阻R3两端的电压，可得到电路中的电流值，运算放大器一和运算放大器二可测得待测电阻的电阻值。
总之，本实用新型通过运算放大器二直接与测量端子相连接，由于运算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线本身的内阻变为零，有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压源和恒流源两种测量电压，使测量范围较大程度的扩大。

Claims (3)

1.PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于：测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。
2.根据权利要求1所述的PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于：所述的定值电阻有多个，它们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关。
3.根据权剂要求1或2所述的PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于：所述的测试电路的恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、Q3的发射极，PNP三极管的基极Q1、Q3串联信号源SC，PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子P1、P2，测量端子P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时定值电阻。
CNU2006201541250U 2006-12-04 2006-12-04 Pcb板测试仪的测试电路改良 Expired - Fee Related CN201014993Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNU2006201541250U CN201014993Y (zh) 2006-12-04 2006-12-04 Pcb板测试仪的测试电路改良

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNU2006201541250U CN201014993Y (zh) 2006-12-04 2006-12-04 Pcb板测试仪的测试电路改良

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN201014993Y true CN201014993Y (zh) 2008-01-30

Family

ID=39026792

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNU2006201541250U Expired - Fee Related CN201014993Y (zh) 2006-12-04 2006-12-04 Pcb板测试仪的测试电路改良

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN201014993Y (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102332903A (zh) * 2011-08-02 2012-01-25 赖德龙 开关电路及使用开关电路的开关测试系统
CN102508150A (zh) * 2011-12-30 2012-06-20 常州工学院 接触式电路板测试系统的自检工作方法
CN103917880A (zh) * 2011-11-09 2014-07-09 爱德万测试(新加坡)私人有限公司 用于提取在被测器件与自动测试设备之间进行交换的信号的概念
CN105319476A (zh) * 2014-07-29 2016-02-10 雅马哈精密科技株式会社 印刷基板检查装置以及检查方法
CN111413547A (zh) * 2020-05-06 2020-07-14 苏州市运泰利自动化设备有限公司 主板电阻测试系统及方法
CN112904084A (zh) * 2019-11-19 2021-06-04 中车唐山机车车辆有限公司 一种转向架阻抗自动测试装置及自动测试方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102332903A (zh) * 2011-08-02 2012-01-25 赖德龙 开关电路及使用开关电路的开关测试系统
CN103917880A (zh) * 2011-11-09 2014-07-09 爱德万测试(新加坡)私人有限公司 用于提取在被测器件与自动测试设备之间进行交换的信号的概念
CN103917880B (zh) * 2011-11-09 2016-06-08 爱德万测试公司 用于提取在被测器件与自动测试设备之间进行交换的信号的概念
CN102508150A (zh) * 2011-12-30 2012-06-20 常州工学院 接触式电路板测试系统的自检工作方法
CN102508150B (zh) * 2011-12-30 2014-06-18 常州工学院 接触式电路板测试系统的自检工作方法
CN105319476A (zh) * 2014-07-29 2016-02-10 雅马哈精密科技株式会社 印刷基板检查装置以及检查方法
CN105319476B (zh) * 2014-07-29 2018-05-08 雅马哈精密科技株式会社 印刷基板检查装置以及检查方法
CN112904084A (zh) * 2019-11-19 2021-06-04 中车唐山机车车辆有限公司 一种转向架阻抗自动测试装置及自动测试方法
CN111413547A (zh) * 2020-05-06 2020-07-14 苏州市运泰利自动化设备有限公司 主板电阻测试系统及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201014993Y (zh) Pcb板测试仪的测试电路改良
CN201449411U (zh) 多通道电流采样电路
US7392147B2 (en) USB port tester
US5280237A (en) Method for testing semiconductor integrated circuits soldered to boards and use of a transistor tester for this method
CN103529297A (zh) 阻抗测试装置
CN110261759B (zh) 一种芯片管脚的损伤检测系统
US20110163771A1 (en) Test apparatus and driver circuit
CN101769964A (zh) 测试封装后的场效应管的导通电阻的方法、装置及系统
EP2562932B1 (en) Integrated circuit
CN202758003U (zh) 一种直流电阻测试仪
CN202994857U (zh) 能够用低压测试通道测量高压芯片的探针卡
CN110658439A (zh) 一种保护电路的测试方法及系统
CN101303384B (zh) 一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法
CN203930003U (zh) 一种用于芯片检测的模拟信号激励系统
CN108535535B (zh) 一种用于集成芯片的电流侦测方法及系统
US20130043892A1 (en) Resistance measurement circuit
CN102621367A (zh) 用于一种moa阻性电流检测系统的前级放大电路
CN202119878U (zh) 用于模拟集成电路测试系统的高压测试电源专用电路
CN202330515U (zh) 一种多量程电流测量并行显示装置
CN214335032U (zh) 一种程控复合电压电流源电路
CN201041575Y (zh) 一种pcb板测试仪的测试电路
CN102998646A (zh) 一种半导体直流参数测量模块组快速校准装置
CN103837811A (zh) 晶体管特性图示仪高分辨测试装置
CN208569014U (zh) 一种可调压的局放信号标定仪
CN110412485A (zh) 一种输出电流检测电路

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20080130

Termination date: 20121204