CN113495074A - 视觉检测系统 - Google Patents
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Abstract
一种视觉检测系统,利用半反射镜使视觉检测装置的定位摄影单元与检测摄影单元,能够以重叠的拍摄光轴中心拍摄待检测物,再进行定位与检测,可避免现有知技术中因定位至检测的过程中,需移动待检测物或摄影单元所造成的误差,进而有效提升检测精准度,且可缩短检测所需的时间,提高产能。
Description
技术领域
一种视觉检测系统,尤指利用光轴中心于待检测物上方呈重叠状的两个检测摄影单元,对待检测物进行定位与检测的视觉检测系统。
背景技术
电子产品中的电路板上各种元件的质量及外观检测,为制造与检验过程中的重要步骤,为了使检测更加准确,目前大多使用视觉检测系统,以影像方式进行检测,而在检测过程中,会先以大面积的方式拍摄待检测物,对待检测物进行坐标定位,在依据待检测物的坐标进行局部影像拍摄进行检测,此种作法必须移动待检测物或摄影单元,先对待检测物进行坐标定位后,才能开始进行待检测物检测,然而,不论驱动待检测物或摄影单元的驱动器精密度有多准确,必然存在有公差,因此在检测待检测物时,精准度就会下降,且此种检测过程也会使检测时间较长,造成产能降低。
发明内容
本发明的主要目的在于,利用半反射镜使视觉检测装置的定位摄影单元与检测摄影单元,能够以重叠的拍摄光轴中心拍摄待检测物,再进行定位与检测,可避免现有技术中因定位至检测的过程中,需移动待检测物或摄影单元所造成的误差,进而有效提升检测精准度,且可缩短检测所需的时间,提高产能。
为达上述目的,本发明提供的视觉检查系统设置有半反射镜与视觉检测装置,半反射镜设置于待检测物上方,视觉检测装置具有主机端以及主机端所连接的第一摄影单元以及第二摄影单元,第一摄影单元用以接收该半反射镜所反射的待检测物影像,第二摄影单元用以接收穿透半反射镜的待检测物影像,且第一摄影单元与第二摄影单元的拍摄光轴中心于待检测物上方呈重叠状。
前述的视觉检查系统,其中该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,且主机端内设置有检测程序,当主机端于执行检测程序时,主机端会先控制第一摄影单元拍摄检测物的影像,并传送至主机端,主机端于接收到第一摄影单元所拍摄待检测物的影像后,对该影像进行分析后产生至少一个检查坐标,并使检测平台依据检查坐标移动后,控制第二摄影单元接收待检测物的影像,并对该影像进行检测。
前述的视觉检查系统,其中该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,且主机端内设置有检测程序,当主机端于执行检测程序时,主机端会先控制第一摄影单元拍摄检测物的影像并传送至主机端,主机端于接收到第一摄影单元所拍摄待检测物的影像后,对该影像进行分析后产生至少一个检查坐标,并使检测平台依据检查坐标移动后,控制第一摄影单元以及第二摄影单元接收待检测物影像,并传送至主机端,主机端对该第二摄影单元所接收的影像进行检测,以及比对第一摄影单元以及第二摄影单元所接收的待检测物影像的中心点。
前述的视觉检查系统,其中该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,且主机端内设置有位置校正程序,当主机端于执行位置校正程序时,先将具有校正图形的校正片置于检测平台,使第一摄影单元以及第二摄影单元所拍摄的影像中心点皆正对于该校正图形的中心点。
前述的视觉检查系统,其中该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,而主机端内设置有比例校正程序,第一摄影单元为定焦摄影器,当主机端于执行校正程序时,先将具有校正图形的校正片置于检测平台,控制第一摄影单元拍摄该校正图形,利用该校正图形的实际尺寸与第一摄影单元所拍摄的校正图形的像素,计算出第一摄影单元所拍摄的影像与实际影像的比例。
附图说明
图1为本发明的示意图。
图2为本发明的方块图。
图3为本发明校正片的示意图。
附图标记说明:10-视觉检测系统;1-检测平台;2-半反射镜;21-反射面;22-穿透面;3-视觉检测装置;31-主机端;311-检测程序;312-位置校正程序;313-比例校正程序;32-第一摄影单元;33-第二摄影单元;4-待检测物;51-校正图形;5-校正片;A-B-光轴中心;C-重叠状。
具体实施方式
如图1与图2所示,由图中可清楚看出,本发明第一实施例的视觉检测系统10设置有半反射镜2以及视觉检测装置3,其中:
该半反射镜2于待检测物4上方呈非平行设置,并具有反射面21以及穿透面22,反射面21用以将待检测物4影像朝向第一方向反射,穿透面22供待检测物4影像穿透朝向第二方向投射,而待检测物4置放于检测平台1上。
该视觉检测装置3,具有主机端31以及主机端31所连接的第一摄影单元32以及第二摄影单元33,第一摄影单元32设置于半反射镜2的反射面21侧方,第二摄影单元33设置于半反射镜2的穿透面22侧方,而主机端31内设置有检测程序311、位置校正程序312以及比例校正程序313。
而于视觉检测系统10对待检测物4进行检测前,视觉检测装置3的主机端31先执行位置校正程序312,在执行位置校正程序312时,将具有校正图形51的校正片5置于检测平台1,使得检测平台1带动校正片5,使校正图形51的中心点位于该第一摄影单元32所拍摄的影像中心点,然后移动第二摄影单元33,使第二摄影单元33所拍摄的影像中心点位于该校正图形51的中心点,使第一摄影单元32以及第二摄影单元33所拍摄的影像中心点皆正对于该校正图形51的中心点,也就是说,且第一摄影单元32与第二摄影单元33的拍摄光轴中心(A、B)于校正片5上方呈重叠状C;再者,当第一摄影单元32或第二摄影单元33为定焦摄影器时,会有视场角问题,即镜头与对象间的距离增加,放大倍率便会增加,因此,当第一摄影单元32或第二摄影单元33为定焦摄影器时,便须执行比例校正程序313,利用第一摄影单元32或第二摄影单元33拍摄该校正图形51,由于该校正图形51的实际尺寸为已知,再利用第一摄影单元32或第二摄影单元33所拍摄的校正图形51的像素,计算出第一摄影单元32或第二摄影单元33所拍摄的影像与实际影像的比例,在本实施例中,第一摄影单元32为定焦摄影器,第二摄影单元33为远心摄影器,第一摄影单元32的拍摄范围大于第二摄影单元的拍摄范围,而远心摄影器的放大倍率不因距离而改变,因此,只须对第一摄影单元32进行比例校正程序313即可;又,当视觉检测装置3的主机端31执行位置校正程序312与比例校正程序313后,即可开始进行检测程序311对待检测物4进行检测,此时,先将待检侧物4置放于检测平台1,由于视觉检测装置3已执行位置校正程序312,因此第一摄影单元32与第二摄影单元33的拍摄光轴中心会于待检测物4上方呈重叠状,而当待检侧物4置放于检测平台1后,主机端31会先控制第一摄影单元32拍摄检测物4的影像,并传送至主机端31,主机端31于接收到第一摄影单元32所拍摄待检测物4的影像后,对该影像进行分析后产生至少一个检查坐标,并使检测平台1依据检查坐标移动后,控制第二摄影单元33接收待检测物4的影像,并对该影像进行检测,由于主机端31能够以相对位置固定的第一摄影单元32与第二摄影单元33重叠的拍摄光轴中心拍摄待检测物,进而有效提升检测精准度,且可缩短检测所需的时间,提高产能;又,该检测程序311进行时,主机端31使检测平台1依据检查坐标移动后,同时控制第一摄影单元32与第二摄影单元33接收待检测物4的影像,主机端31通过第二摄影单元33所接收的影像进行检测,第一摄影单元32所拍摄待的待测物影像用来比对第一摄影单元32以及第二摄影单元33所接收的待检测物4影像的中心点是否重叠,以确认第一摄影单元32与第二摄影单元33相对位置并无变更。
Claims (5)
1.一种视觉检查系统,用于检测待检测物,其特征在于,该视觉检查系统包含:
半反射镜,设置于待检测物上方;
视觉检测装置,具有主机端以及主机端所连接的第一摄影单元以及第二摄影单元,第一摄影单元用以接收该半反射镜所反射的待检测物影像,第二摄影单元用以接收穿透半反射镜的待检测物影像,且第一摄影单元与第二摄影单元的拍摄光轴中心于待检测物上方呈重叠状。
2.如权利要求1所述的视觉检查系统,其特征在于,该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,且主机端内设置有检测程序,当主机端于执行检测程序时,主机端先控制第一摄影单元拍摄检测物的影像,并传送至主机端,主机端于接收到第一摄影单元所拍摄待检测物的影像后,对该影像进行分析后产生至少一个检查坐标,并使检测平台依据检查坐标移动后,控制第二摄影单元接收待检测物的影像,并对该影像进行检测。
3.如权利要求1所述的视觉检查系统,其特征在于,该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,且主机端内设置有检测程序,当主机端于执行检测程序时,主机端先控制第一摄影单元拍摄检测物的影像并传送至主机端,主机端于接收到第一摄影单元所拍摄待检测物的影像后,对该影像进行分析后产生至少一个检查坐标,并使检测平台依据检查坐标移动后,控制第一摄影单元以及第二摄影单元接收待检测物影像,并传送至主机端,主机端对该第二摄影单元所接收的影像进行检测,以及比对第一摄影单元以及第二摄影单元所接收的待检测物影像的中心点。
4.如权利要求1所述的视觉检查系统,其特征在于,该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,且主机端内设置有位置校正程序,当主机端于执行位置校正程序时,先将具有校正图形的校正片置于检测平台,使第一摄影单元以及第二摄影单元所拍摄的影像中心点皆正对于该校正图形的中心点。
5.如权利要求1所述的视觉检查系统,其特征在于,该视觉检查系统设置有检测平台供待检侧物置放,检测平台连接于视觉检测装置的主机端,而主机端内设置有比例校正程序,第一摄影单元为定焦摄影器,当主机端于执行校正程序时,先将具有校正图形的校正片置于检测平台,控制第一摄影单元拍摄该校正图形,利用该校正图形的实际尺寸与第一摄影单元所拍摄的校正图形的像素,计算出第一摄影单元所拍摄的影像与实际影像的比例。
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Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004032592A1 (en) * | 2002-10-01 | 2004-04-15 | Mirtec Co., Ltd. | Vision inspection apparatus using a full reflection mirror |
CN202230032U (zh) * | 2011-10-18 | 2012-05-23 | 平成科贸股份有限公司 | 视觉检查复检机 |
CN102865815A (zh) * | 2012-09-24 | 2013-01-09 | 上海功源电子科技有限公司 | 一种新型的单视觉相机对位pcb的定位补偿方法 |
TW201416713A (zh) * | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Ind Tech Res Inst | 立體攝像裝置、自動校正裝置與校正方法 |
CN105091790A (zh) * | 2014-05-23 | 2015-11-25 | 旺矽科技股份有限公司 | 视觉检测系统及视觉检测方法 |
CN105496351A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-04-20 | 深圳市莫廷影像技术有限公司 | 一种双目验光装置及验光方法 |
CN107037048A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-08-11 | 华中科技大学 | 同时获取反射信号和荧光信号的成像装置、方法及成像系统 |
TW201740484A (zh) * | 2016-05-10 | 2017-11-16 | 韓美半導體有限公司 | 視覺化檢驗裝置 |
US20180003487A1 (en) * | 2016-07-04 | 2018-01-04 | Keyence Corporation | Image Measurement Device |
CN207833129U (zh) * | 2017-10-17 | 2018-09-07 | 歌尔股份有限公司 | 光学模组组装设备 |
TWM577499U (zh) * | 2017-11-03 | 2019-05-01 | 聯策科技股份有限公司 | Optical image detecting device |
-
2020
- 2020-04-07 CN CN202010266767.4A patent/CN113495074A/zh active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004032592A1 (en) * | 2002-10-01 | 2004-04-15 | Mirtec Co., Ltd. | Vision inspection apparatus using a full reflection mirror |
CN202230032U (zh) * | 2011-10-18 | 2012-05-23 | 平成科贸股份有限公司 | 视觉检查复检机 |
CN102865815A (zh) * | 2012-09-24 | 2013-01-09 | 上海功源电子科技有限公司 | 一种新型的单视觉相机对位pcb的定位补偿方法 |
TW201416713A (zh) * | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Ind Tech Res Inst | 立體攝像裝置、自動校正裝置與校正方法 |
CN105091790A (zh) * | 2014-05-23 | 2015-11-25 | 旺矽科技股份有限公司 | 视觉检测系统及视觉检测方法 |
CN105496351A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-04-20 | 深圳市莫廷影像技术有限公司 | 一种双目验光装置及验光方法 |
TW201740484A (zh) * | 2016-05-10 | 2017-11-16 | 韓美半導體有限公司 | 視覺化檢驗裝置 |
US20180003487A1 (en) * | 2016-07-04 | 2018-01-04 | Keyence Corporation | Image Measurement Device |
CN107037048A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-08-11 | 华中科技大学 | 同时获取反射信号和荧光信号的成像装置、方法及成像系统 |
CN207833129U (zh) * | 2017-10-17 | 2018-09-07 | 歌尔股份有限公司 | 光学模组组装设备 |
TWM577499U (zh) * | 2017-11-03 | 2019-05-01 | 聯策科技股份有限公司 | Optical image detecting device |
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