CN113487988A - 显示面板的侦测方法和显示面板 - Google Patents

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    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

本申请公开了一种显示面板的侦测方法和显示面板,所述侦测方法,用于侦测显示面板的数据线或扫描线上的异常点,所述侦测方法包括步骤:记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线;侦测是否出现预设异常,若出现预设异常,则记录当前扫描线和当前数据线的交点为异常点,且记录当前时间为异常时间;根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置;其中,所述异常点包括短路点和断路点。根据预设顺序打开扫描线和数据线,根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置,十分方便简单且快速。

Description

显示面板的侦测方法和显示面板
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板的侦测方法和显示面板。
背景技术
随着显示面板的广泛应用,人们对于显示面板的显示要求越来越高,为了提高显示面板的良率,常常在出货前或者在制备过程中进行检测,以排除存在的问题,保证出售的显示面板的质量,提高客户体验效果。
目前针对面板的一些异常情况,比如异物或者断线情况会使用显微镜进行排查,但是需要一个拼脚一个拼脚进行排查,如此需要花费很多时间,验证影响生产效率,而且对于出现在显示面板内部或芯片内部的一些异常点通过显微镜还是无法排查出来。
发明内容
本申请的目的是提供一种显示面板的侦测方法和显示面板,可以快速找出显示面板内的异常点,提高显示面板良率的同时提高生产效率。
本申请公开了一种显示面板的侦测方法,用于侦测显示面板的数据线或扫描线上的异常点,所述侦测方法包括步骤:
记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线;
侦测是否出现预设异常,若出现预设异常,则记录当前扫描线和当前数据线的交点为异常点,且记录当前时间为异常时间;
根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置;
其中,所述异常点包括短路点和断路点。
可选的,所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤中包括:
先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,分时且逐列打开数据线;
其中,不同扫描线的扫描周期相同,不同数据线的打开周期相同。
可选的,所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤中包括:
先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,同时打开所有的数据线,分时且逐行给其中一条数据线输送测试数据,其他数据线则输送黑画面数据。
可选的,所述根据第一个像素的打开时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置的步骤包括:
根据第一预设公式计算得到数值取整,从而得到异常点对应的行数;
其中,所述第一预设公式为t/T(CLK),t为异常时间,T(CLK)是时钟信号的一个周期时间。
可选的,所述根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置的步骤还包括:
根据第二预设公式计算得到的数值进行取整,从而得到异常点对应的列数;
其中,第二预设公式为{t-(N-1)*T(CLK)}/T(Tp),t为异常时间,T(CLK)是时钟信号的一个周期时间,N为异常点的行数,T(Tp)是锁存信号的一个周期时间,其中,T(CLK)=1920T(Tp)。
可选的,所述预设顺序包括打开所有数据线,并分时且逐行打开扫描线;
若侦测到当前扫描线对应的所有像素均没有点亮,则判断当前扫描线断线。
可选的,所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤前包括步骤:
检测点亮显示面板,判断点亮的显示面板是否存在预设类型的显示问题;若存在,则执行所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤;否则,判定不存在预设类型的显示问题,终止后续步骤;
其中预设类型的显示问题为数据线或扫描线断路或短路导致的显示问题。
可选的,若异常点为当前列数据线和第一行扫描线交界处为异常点,则判断实际异常点为当前列数据线和第一行扫描线交界处、当前列数据线和数据芯片的绑定连接处和数据芯片对应当前列的数据线通道中的一个,需要更换数据芯片或重新绑定后,以进一步测试以判断实际异常点的位置。
可选的,若检测到无电流,则判断断路,异常点为断路点;若实际电流大于预设电流,则判定为短路点。
本申请还公开了一种显示面板,包括侦测电路、时序控制器和处理器:所述侦测电路用于侦测异常点的电信号并输出;所述时序控制器与所述侦测电路连接,输出锁存信号以及时钟信号,用于控制扫描线和数据线的打开时间和顺序,且接收异常点的电信号,记录异常点的电信号的反馈时间;所述处理器与所述时序控制连接,根据时序控制器反馈时间以及时钟信号的周期时间和锁存信号的周期时间计算得到异常点的位置。
相对于之前通过显微镜去找出断点的方案来说,本申请通过记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线,并记录异常点的异常时间,从而根据根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置,且能精准检测出数据线和扫描线中的断点位置,大大节省了检测的时间和人力。
附图说明
所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是本申请的第一实施例的一种侦测方法流程示意图;
图2是本申请的第一实施例的信号波形示意图;
图3是本申请的第二实施例的侦测方法流程示意图;
图4是本申请的第三实施例的侦测方法流程示意图;
图5是本申请的第四实施例的显示面板示意图。
其中,100、显示面板;110、时序控制器;120、数据驱动芯片;130、侦测电路;140、处理器;150、印刷电路板;160、显示灯。
具体实施方式
需要理解的是,这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节,仅仅是为了描述具体实施例,是代表性的,但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现,不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示相对重要性,或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,除非另有说明,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征;“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形,意为不排他的包含,可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
另外,“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语,是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的,仅是为了便于描述本申请的简化描述,而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。
图1是本申请的第一实施例的一种侦测方法流程示意图;如图1所示,作为本申请的第一实施例,公开了一种显示面板的侦测方法,用于侦测显示面板的数据线或扫描线上的异常点,所述侦测方法包括步骤:
S1:记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线;
S2:侦测是否出现预设异常,若出现预设异常,则记录当前扫描线和当前数据线的交点为异常点,且记录当前时间为异常时间;
S3:根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置;
其中,所述异常点包括短路点和断路点,在使用侦测方法的时间开始计时,按照预设的顺序打开显示面板中的扫描线和数据线,若侦测到了异常点,那么会记录下异常点的时间,通过扫描线和数据线的相关周期时间,以及开始时间、预设顺序和异常时间进行计算得到异常点位置。
一般的,若检测到无电流,则判断断路,异常点为断路点;若实际电流大于预设电流,则判定为短路点。短路点的判断需要根据具体的显示面板的规格选定预设电流,一般的常用的显示面板的电流小于100毫安,由于部分波动是可以接收的,所有预设电流值一般设定120毫安,也就是测得异常点的电流超过120毫安才算短路,否则不算短路。
关于预设顺序,我们可以设定是先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,分时且逐列打开数据线;需要说明的是,不同扫描线的扫描周期相同,不同数据线的打开周期相同,数据线的打开周期很短,短于像素电极的充电时间。
所述根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置的步骤包括:
根据第一预设公式计算得到数值取整,从而得到异常点对应的行数;
根据第二预设公式计算得到的数值进行取整,从而得到异常点对应的列数;
其中,所述第一预设公式为t/T(CLK),第二预设公式为{t-(N-1)*T(CLK)}/T(Tp),t为异常时间,T(CLK)是时钟信号的一个周期时间,N为异常点的行数,T(Tp)是锁存信号的一个周期时间,其中,T(CLK)=1920T(Tp)。
由上可知,我们可以控制数据线和扫描线的打开时间从而控制每个像素点亮的时间,即逐行逐个点亮像素,若电流异常,则反馈给时序控制器,时序控制器计算出异常的时间,从而找到对应的位置输出给电路板上的显示灯,这样我们就可以知晓具体哪里有问题。
图2是本申请的第一实施例的信号时序示意图;以高清显示面板为例,如图2为我们的时序,一个CLK打开的时间为1920个锁存信号TP周期,当第一行打开时,第一个TP到来时,TP上升沿锁存数据,下降沿释放数据,则数据线输出第一列的数据,若第1920根数据线断裂,则当输出第1920列数据时候,时序控制模块侦测到此路断路无电流,则可确认到断路的具体位置,即第多少根数据线有异常。
若异常点出现在第N行,M列,则我们可以通过反馈的信号时间,时序控制器上计时器得出距离第一个CLK开始的时间t,用t/T(CLK)取整得到这是第N个CLK,从而计算出异常点出现在第N行,这里的取整是向上取整,即若计算得到的值在两个正整数之间,那么N为大的正整数,举例说明,若计算的值是1.1则N取整为2。进一步的,通过这个时间{t-(N-1)*T(CLK)}/T(Tp)取整还能计算出这是第M个TP,就可以得到出现异常的第M列,最终可以得到出现异常的点(N,M),再通过显示灯LED显示出来,这样我们就能一眼看到出现问题的点了,大大缩短了我们查找的时间及人力。
图3是本申请的第二实施例的侦测方法流程示意图;作为本申请的第二实施例,是对第一实施例的进一步限定和改善,其中预设顺序为先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,同时打开所有的数据线,分时且逐行给其中一条数据线输送测试数据,其他数据线则输送黑画面数据。具体的,本实施例如图3所示,与上述实施例不同的是,本实施例包括步骤:
S11:记录开始时间,先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,同时打开所有的数据线,分时且逐行给其中一条数据线输送测试数据,其他数据线则输送黑画面数据;
S12:侦测是否出现预设异常,若出现预设异常,则记录当前数据线为异常线段,且记录当前时间为异常时间;
S13:根据开始时间和异常时间计算得到异常线段的位置。
其中,步骤S11-S13对应步骤S1-S3进行的修改或细化,通过在每一行扫描线的打开时间内,同时打开所有数据线,可以快速找出某一条数据线是否是异常线段,另外如前面扫描线打开没有出现异常,而当前扫描线打开出现了异常,则对应当前扫描线和数据线可以得到具体的断点位置。
另外,所述预设顺序还包括打开所有数据线,并分时且逐行打开扫描线;若侦测到当前扫描线对应的所有像素均没有点亮,则判断当前扫描线断线。
图4是本申请的第三实施例的侦测方法流程示意图;作为本申请的第三实施例,如图4所示,与上述实施例不同的是,在步骤S1前包括步骤:
S0:检测点亮显示面板,判断点亮的显示面板是否存在预设类型的显示问题;若存在,则执行所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤;否则,判定不存在预设类型的显示问题,终止后续步骤;
其中,预设类型的显示问题为数据线或扫描线断路或短路导致的显示问题。
考虑到逐行逐个点亮像素花费的时间是比较久的,所有在进行逐个点亮之前,先检测点亮显示面板,判断点亮的显示面板是否存在预设类型的显示问题;若存在,则执行步骤S1,否则,判定不存在预设类型的显示问题,不再进行S1步骤,直接结束流程。
另外,需要注意的是,若异常点为当前列数据线和第一行扫描线交界处为异常点,则判断实际异常点为当前列数据线和第一行扫描线交界处、当前列数据线和数据芯片的绑定连接处和数据芯片对应当前列的数据线通道中的一个,需要更换数据芯片或重新绑定后,以进一步测试以判断实际异常点的位置。
图5是本申请的第四实施例的显示面板示意图,作为本申请的第四实施例,本申请还公开了一种显示面板100,如图5所示,所述显示面板100包括侦测电路130、时序控制器110、处理器140以及数据驱动芯片120:所述侦测电路130用于侦测异常点的电信号并输出;所述时序控制器110与所述侦测电路13连接,输出锁存信号以及时钟信号,用于控制扫描线和数据线的打开时间和顺序,且接收异常点的电信号,记录异常点的电信号的反馈时间;所述处理器140与所述时序控制110连接,根据时序控制器110反馈时间以及时钟信号的周期时间和锁存信号的周期时间计算得到异常点的位置。
所述侦测电路侦测到数据线的电流存在异常,所述时序控制器记录当前时间,根据当前时间计算得到当前像素的位置,并记录当前像素的为异常像素。所述处理器140与所述时序控制110连接,根据时序控制器110反馈时间以及时钟信号的周期时间和锁存信号的周期时间计算得到异常点(N,M)的位置。
另外,我们得到出现异常的点(N,M),再通过对应的显示灯160(LED)显示出来,这样我们就能一眼看到出现问题的点了,LED设置在印刷电路板上,所述时序控制器设置在所述印刷电路板上。
需要说明的是,本方案中涉及到的各步骤的限定,在不影响具体方案实施的前提下,并不认定为对步骤先后顺序做出限定,写在前面的步骤可以是在先执行的,也可以是在后执行的,甚至也可以是同时执行的,只要能实施本方案,都应当视为属于本申请的保护范围。
需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例,但是申请文件的篇幅有限,无法一一列出,因而,在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例,各实施例或技术特征组合之后,将会增强原有的技术效果
本申请的技术方案可以广泛用于各种显示面板,如TN(Twisted Nematic,扭曲向列型)显示面板、IPS(In-Plane Switching,平面转换型)显示面板、VA(VerticalAlignment,垂直配向型)显示面板、MVA(Multi-Domain Vertical Alignment,多象限垂直配向型)显示面板,当然,也可以是其他类型的显示面板,如OLED(Organic Light-EmittingDiode,有机发光二极管)显示面板,均可适用上述方案。
以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明,不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板的侦测方法,用于侦测显示面板的数据线或扫描线上的异常点,其特征在于,所述侦测方法包括步骤:
记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线;
侦测是否出现预设异常,若出现预设异常,则记录当前扫描线和当前数据线的交点为异常点,且记录当前时间为异常时间;
根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置;
其中,所述异常点包括短路点和断路点。
2.如权利要求1所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤中包括:
先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,分时且逐列打开数据线;
其中,不同扫描线的扫描周期相同,不同数据线的打开周期相同。
3.如权利要求1所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤中包括:
先逐行打开扫描线,且在每一行扫描线打开时间内,同时打开所有的数据线,分时且逐行给其中一条数据线输送测试数据,其他数据线则输送黑画面数据。
4.如权利要求2或3所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,所述根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置的步骤包括:
根据第一预设公式计算得到数值取整,从而得到异常点对应的行数;
其中,所述第一预设公式为t/T(CLK),t为异常时间,T(CLK)是时钟信号的一个周期时间。
5.如权利要求4所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,所述根据开始时间、预设顺序和异常时间计算得到异常点的位置的步骤还包括:
根据第二预设公式计算得到的数值进行取整,从而得到异常点对应的列数;
其中,第二预设公式为{t-(N-1)*T(CLK)}/T(Tp),t为异常时间,T(CLK)是时钟信号的一个周期时间,N为异常点的行数,T(Tp)是锁存信号的一个周期时间,其中,T(CLK)=1920T(Tp)。
6.如权利要求1所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,所述预设顺序包括打开所有数据线,并分时且逐行打开扫描线;
若侦测到当前扫描线对应的所有像素均没有点亮,则判断当前扫描线断线。
7.如权利要求1所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤前包括步骤:
检测点亮显示面板,判断点亮的显示面板是否存在预设类型的显示问题;若存在,则执行所述记录开始时间,并按照一预设顺序打开显示面板中的扫描线和数据线的步骤;否则,判定不存在预设类型的显示问题,终止后续步骤;
其中预设类型的显示问题为数据线或扫描线断路或短路导致的显示问题。
8.如权利要求2或3所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,若异常点为当前列数据线和第一行扫描线交界处为异常点,则判断实际异常点为当前列数据线和第一行扫描线交界处、当前列数据线和数据芯片的绑定连接处和数据芯片对应当前列的数据线通道中的一个,需要更换数据芯片或重新绑定后进一步测试以判断实际异常点的位置。
9.如权利要求2或3所述的显示面板的侦测方法,其特征在于,若检测到无电流,则判断断路,异常点为断路点;若实际电流大于预设电流,则判定为短路点。
10.一种显示面板,其特征在于,包括:
侦测电路,用于侦测异常点的电信号并输出;
时序控制器,与所述侦测电路连接,输出锁存信号以及时钟信号,用于控制扫描线和数据线的打开时间和顺序,且接收异常点的电信号,记录异常点的电信号的反馈时间;
处理器,与所述时序控制连接,根据时序控制器反馈时间以及时钟信号的周期时间和锁存信号的周期时间计算得到异常点的位置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114758629A (zh) * 2022-06-16 2022-07-15 惠科股份有限公司 背光模组及其点亮方法

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH055866A (ja) * 1991-06-28 1993-01-14 Sharp Corp アクテイブマトリクス基板の検査方法
CN101136172A (zh) * 2006-08-30 2008-03-05 三星Sdi株式会社 显示器的驱动方法
CN101266348A (zh) * 2007-03-13 2008-09-17 精工爱普生株式会社 液晶装置、电子仪器和位置确定方法
EP2012298A2 (en) * 2007-07-02 2009-01-07 Silicon Touch Technology, Inc. Method for detecting pixel status of flat panel display and display driver thereof
CN101364370A (zh) * 2007-08-09 2009-02-11 点晶科技股份有限公司 检测平板显示器的像素状态的方法及其显示驱动器
CN101388169A (zh) * 2007-09-12 2009-03-18 索尼株式会社 显示面板和面板检查装置
US20100066383A1 (en) * 2008-09-12 2010-03-18 Te-Chen Chung Array substrate and defect-detecting method thereof
TW201145102A (en) * 2010-06-04 2011-12-16 Benq Corp Touch display system and method for operating the same
CN103309065A (zh) * 2013-06-06 2013-09-18 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的测试线路及其测试方法
US20140375347A1 (en) * 2013-06-20 2014-12-25 Honghui Wang Line detecting apparatus and method for array substrate
CN105185346A (zh) * 2015-10-23 2015-12-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置
CN105575301A (zh) * 2015-12-18 2016-05-11 上海天马微电子有限公司 阵列基板、信号线检测方法、显示面板及显示装置
WO2016074292A1 (zh) * 2014-11-14 2016-05-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种阵列基板及其检测方法
CN207529639U (zh) * 2016-03-28 2018-06-22 株式会社日本显示器 显示装置
CN109188743A (zh) * 2018-11-14 2019-01-11 惠科股份有限公司 显示面板的制作方法及显示装置
CN109887461A (zh) * 2019-03-29 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及显示方法
CN110428760A (zh) * 2019-06-27 2019-11-08 重庆惠科金渝光电科技有限公司 一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置
CN112331114A (zh) * 2020-11-05 2021-02-05 北海惠科光电技术有限公司 液晶面板和液晶面板扫描线电压检测方法

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH055866A (ja) * 1991-06-28 1993-01-14 Sharp Corp アクテイブマトリクス基板の検査方法
CN101136172A (zh) * 2006-08-30 2008-03-05 三星Sdi株式会社 显示器的驱动方法
CN101266348A (zh) * 2007-03-13 2008-09-17 精工爱普生株式会社 液晶装置、电子仪器和位置确定方法
EP2012298A2 (en) * 2007-07-02 2009-01-07 Silicon Touch Technology, Inc. Method for detecting pixel status of flat panel display and display driver thereof
CN101364370A (zh) * 2007-08-09 2009-02-11 点晶科技股份有限公司 检测平板显示器的像素状态的方法及其显示驱动器
CN101388169A (zh) * 2007-09-12 2009-03-18 索尼株式会社 显示面板和面板检查装置
US20100066383A1 (en) * 2008-09-12 2010-03-18 Te-Chen Chung Array substrate and defect-detecting method thereof
TW201145102A (en) * 2010-06-04 2011-12-16 Benq Corp Touch display system and method for operating the same
CN103309065A (zh) * 2013-06-06 2013-09-18 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的测试线路及其测试方法
US20140375347A1 (en) * 2013-06-20 2014-12-25 Honghui Wang Line detecting apparatus and method for array substrate
WO2016074292A1 (zh) * 2014-11-14 2016-05-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种阵列基板及其检测方法
CN105185346A (zh) * 2015-10-23 2015-12-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置
CN105575301A (zh) * 2015-12-18 2016-05-11 上海天马微电子有限公司 阵列基板、信号线检测方法、显示面板及显示装置
CN207529639U (zh) * 2016-03-28 2018-06-22 株式会社日本显示器 显示装置
CN109188743A (zh) * 2018-11-14 2019-01-11 惠科股份有限公司 显示面板的制作方法及显示装置
CN109887461A (zh) * 2019-03-29 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及显示方法
CN110428760A (zh) * 2019-06-27 2019-11-08 重庆惠科金渝光电科技有限公司 一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置
CN112331114A (zh) * 2020-11-05 2021-02-05 北海惠科光电技术有限公司 液晶面板和液晶面板扫描线电压检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114758629A (zh) * 2022-06-16 2022-07-15 惠科股份有限公司 背光模组及其点亮方法
US11915662B2 (en) 2022-06-16 2024-02-27 HKC Corporation Limited Backlight module of display and lighting method thereof

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