CN113447236A - 一种光电模块检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种光电模块检测方法，包括以下步骤：S1、构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配；S2、关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0；S3、开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1。通过采用本发明设计的检测方法，能够不需要安装光纤网卡，直接将光电模块本身作为测试对象，可以直接对光电模块进行单体检测，从而既可以核实光电模块的出厂信息、基本工作参数、光电模块自身异常，也可以对光电模块进行性能检测，提高了检测效率。
Description
技术领域
本发明涉及光电模块技术领域，具体为一种光电模块检测方法。
背景技术
目前针对光电模块，服务器厂商多采用系统级的检验测试，即在服务器整机中安装光纤网卡，将待测的光电模块插入光纤网卡中，针对网卡进行性能、兼容性、连通性、可靠性等测试，然而，现有技术中检验测试对象是配置光电模块的光纤网卡，而不是光电模块本身，所以无法进行光电模块的单体检测，进而无法核实光电模块出厂信息、基本工作参数和光电模块自身异常，所以亟需一种光电模块检测方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光电模块检测方法，具备高效的优点，解决了现有技术中检验测试对象是配置光电模块的光纤网卡，而不是光电模块本身，所以无法进行光电模块的单体检测，进而无法核实光电模块出厂信息、基本工作参数和光电模块自身异常，所以亟需一种光电模块检测方法的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种光电模块检测方法，包括以下步骤：
S1、构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配；
S2、关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0；
S3、开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1；
S4、若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测；
S5、当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
优选的，所述步骤一中光电模块检测电路包括高清摄像头和图像文字提取模块。
优选的，所述步骤二中检测参数包括产品参数信息和基本信息，产品参数信息以产品标签的形式存在，基本信息存储于光电模块中的存储器中。
优选的，所述产品参数信息包括光电模块的温度、工作电压、激光偏置电流、发射光功率和接收光功率。
优选的，所述基本信息包括光电模块的串行ID、规格型号和出厂信息。
与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
通过采用本发明设计的检测方法，能够不需要安装光纤网卡，直接将光电模块本身作为测试对象，可以直接对光电模块进行单体检测，从而既可以核实光电模块的出厂信息、基本工作参数、光电模块自身异常，也可以对光电模块进行性能检测，提高了检测效率。
具体实施方式
下面将结合本发明中的实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
一种光电模块检测方法，包括以下步骤：
S1、构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配；
S2、关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0；
S3、开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1；
S4、若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测；
S5、当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
实施例一
首先构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配，然后关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0，然后开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1，若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测，当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
实施例二
在实施例一中加入以下步骤：
所述步骤一中光电模块检测电路包括高清摄像头和图像文字提取模块。
首先构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配，然后关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0，然后开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1，若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测，当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
实施例三
在实施例二中加入以下步骤：
所述步骤二中检测参数包括产品参数信息和基本信息，产品参数信息以产品标签的形式存在，基本信息存储于光电模块中的存储器中。
首先构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配，然后关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0，然后开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1，若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测，当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
实施例四
在实施例三中加入以下步骤：
所述产品参数信息包括光电模块的温度、工作电压、激光偏置电流、发射光功率和接收光功率。
首先构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配，然后关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0，然后开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1，若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测，当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
实施例五
在实施例四中加入以下步骤：
所述基本信息包括光电模块的串行ID、规格型号和出厂信息。
首先构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配，然后关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0，然后开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1，若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测，当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种光电模块检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1、构建光电模块检测电路，控制器初始化并与光电模块检测电路适配；
S2、关闭光电模块检测电路的采样端，启动控制器，控制器获得当前光电模块的检测参数，对当前的输入值进行预处理，记为W0；
S3、开启光电模块检测电路的采样端；控制器获得当前光电模块的输入值，对当前的输入值进行预处理，记为W1；
S4、若W1≠W0表示不合格，触发报警，标记处理，若W1=W0，则返回上一步骤继续进行下一步的检测；
S5、当W2、W3、......Wn=W0中的检测参数，则表示光电模块为合格品。
2.根据权利要求1所述的一种光电模块检测方法，其特征在于：所述步骤一中光电模块检测电路包括高清摄像头和图像文字提取模块。
3.根据权利要求1所述的一种光电模块检测方法，其特征在于：所述步骤二中检测参数包括产品参数信息和基本信息，产品参数信息以产品标签的形式存在，基本信息存储于光电模块中的存储器中。
4.根据权利要求3所述的一种光电模块检测方法，其特征在于：所述产品参数信息包括光电模块的温度、工作电压、激光偏置电流、发射光功率和接收光功率。
5.根据权利要求3所述的一种光电模块检测方法，其特征在于：所述基本信息包括光电模块的串行ID、规格型号和出厂信息。
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| CN202110025429.6A CN113447236A (zh) | 2021-01-08 | 2021-01-08 | 一种光电模块检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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ID=77808836
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|---|---|---|---|---|
| CN202696605U (zh) * | 2012-04-27 | 2013-01-23 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种pon光模块检测装置 |
| CN202856737U (zh) * | 2012-08-09 | 2013-04-03 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 一种10g epon olt光模块测试仪 |
| CN105547643A (zh) * | 2015-12-14 | 2016-05-04 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 光电模块检测方法 |
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2021
- 2021-01-08 CN CN202110025429.6A patent/CN113447236A/zh active Pending
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| CN202856737U (zh) * | 2012-08-09 | 2013-04-03 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 一种10g epon olt光模块测试仪 |
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