CN113358707B - 基板的裂纹检测结构、显示面板的裂纹检测结构及裂纹检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种基板的裂纹检测结构、显示面板的裂纹检测结构及裂纹检测方法，显示面板的裂纹检测方法中，先在显示面板中阵列基板的非显示区设置环绕显示区的第一检测线、第二检测线和第三检测线，然后在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接；最后测量所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线的总体阻值，判断显示面板是否产生裂纹。本申请通过同时在显示面板中两个基板的非显示区设置多条检测线来检测两个基板中是否有裂纹产生，并通过检测电阻的方式来提高检测精准度。

Description

基板的裂纹检测结构、显示面板的裂纹检测结构及裂纹检测 方法

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种基板的裂纹检测结构、显示面板的裂纹检测结构及裂纹检测方法。

背景技术

随着显示技术不断发展，显示面板的应用领域越来越广泛。当前主流显示面板是在母板上制作后再进行母板切割得到的，在切割工艺中，可能会在显示基板的边缘产生裂纹，当使用时间不断增加，裂纹可能会向显示面板内部蔓延，从而影响显示面板的使用寿命。

因此检测显示面板中是否产生裂纹成为急需解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种能够检测裂纹的基板的裂纹检测结构、显示面板的裂纹检测结构及裂纹检测方法。

本申请公开了一种显示面板的裂纹检测方法，包括步骤：

在显示面板中阵列基板的非显示区设置环绕显示区的第一检测线、第二检测线和第三检测线，使所述第二检测线的一端与信号输入端电连接，另一端与所述第一检测线中第一输入检测线的第一端电连接；并使所述第三检测线的一端与信号输出端电连接，另一端与所述第一检测线中第一输出检测线的第一端电连接；

在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接；以及

接通所述信号输入端和信号输出端，使所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线导通，并测量所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线的总体阻值，若所述总体阻值等于预设值，则判断所述显示面板的边缘没有裂纹产生；若所述总体阻值大于预设值，则判断所述显示面板的边缘有裂纹产生；

其中，所述预设值为所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线在无损状态下的阻值。

可选的，在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接的步骤之前，包括：

在所述第一输入检测线的第二端和所述第一输出检测线的第二端分别设置银胶，并使所述银胶垂直于所述阵列基板；

在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接的步骤中，所述第四检测线的两端分别与对应的所述银胶垂直电连接。

本申请还公开了一种显示面板的裂纹检测结构，所述裂纹检测结构包括第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线，所述第一检测线设置在显示面板中阵列基板的非显示区，环绕所述阵列基板的显示区设置，包括第一输入检测线和第一输出检测线；

所述第二检测线设置在所述阵列基板的非显示区，且位于所述第一检测线的外围，所述第二检测线的一端电连接于所述第一输入检测线的第一端，另一端设置有一信号输入端；所述第三检测线设置在所述阵列基板的非显示区，且位于所述第一检测线的外围，所述第三检测线的一端电连接于所述第一输出检测线的第一端，另一端设置有一信号输出端；所述第四检测线设置在显示面板中彩膜基板的非显示区，环绕所述彩膜基板的显示区设置，所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，所述第四检测线的另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接。

可选的，所述第四检测线包括第四输入检测线和第四输出检测线，所述第四输入检测线的第一端与所述第一输出检测线的第二端电连接，所述第四输出检测线的第一端与所述第一输入检测线的第二端电连接；所述第四输入检测线的第二端与所述第四输出检测线的第二端设有缺口，所述缺口处设有平行设置的第一金属线和第二金属线；所述裂纹检测结构还包括第五检测线，所述第五检测线设置在所述彩膜基板的非显示区，环绕所述彩膜基板的显示区设置，且位于所述第四检测线与所述彩膜基板的显示区之间；所述第五检测线的一端通过所述第一金属线与所述第四输入检测线的第二端电连接，所述第五检测线的另一端通过所述第二金属线与所述第四输出检测线的第二端电连接。

可选的，所述第四检测线通过银胶分别与所述第一输入检测线的第二端、所述第一输出检测线的第二端电连接；所述银胶设置在所述框胶内，所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线与所述框胶的正投影重叠。

本申请还公开了一种基板的裂纹检测结构，所述裂纹检测结构设置在所述基板的非显示区，所述裂纹检测结构包括第一检测线、第二检测线和第三检测线，所述第一检测线环绕所述基板的显示区设置，所述第二检测线设置在所述第一检测线的外围，一端电连接于所述第一检测线的第一端，另一端设置有一信号输入端；所述第三检测线设置在所述第一检测线的外围，一端电连接于所述第一检测线的第二端，另一端设置有一信号输出端。

可选的，所述第一检测线的第一端和第二端之间设置有缺口，所述缺口处设置有第一金属线和第二金属线，所述第一检测线的第一端通过所述第一金属线与所述第二检测线电连接，所述第一检测线的第二端通过所述第二金属线与所述第三检测线电连接。

可选的，所述第二金属线与所述第一金属线都为折线型，且平行设置，并沿垂直于与所述第一金属线的方向，所述第一金属线与所述第二金属线重叠。

可选的，所述第三检测线包括第三输入检测线和第三输出检测线，所述第三输入检测线的一端电连接于所述第一检测线的第二端；所述第三输出检测线设置在所述第三输入检测线的外围，环绕所述基板的显示区设置，且所述第三输出检测线的一端与所述第三输入检测线电连接，另一端设有信号输出端。

可选的，所述基板为阵列基板，所述阵列基板包括依次堆叠设置的第一衬底、缓冲层、栅极、栅极绝缘层、半导体层、源极、漏极和钝化层，所述第一检测线、第二检测线和第三检测线与所述栅极同制程形成。

可选的，所述基板为彩膜基板，所述彩膜基板包括依次堆叠设置的第二衬底、色阻层、遮光层和平坦层，所述第一检测线、第二检测线和第三检测线设置在所述第二衬底朝向所述色阻层的一侧。

本申请在显示面板中两个基板的非显示区设置检测线，通过检测两个基板上检测线的阻值，判断出显示面板中是否出现裂纹，当检测线的阻值与预设值之间的差值越大，说明裂纹的程度越严重；另外，本申请还在阵列基板中设置多道环绕显示区的检测线来进一步检测阵列基板中是否有裂纹产生，提高检测精准度。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请一实施例提供的一种基板的裂纹检测结构的平面示意图；

图2是本申请一实施例提供的另一种基板的裂纹检测结构的平面示意图；

图3是本申请一实施例提供的另一种基板的裂纹检测结构的平面示意图；

图4是基板为阵列基板时裂纹检测结构的截面示意图；

图5是基板为彩膜基板时裂纹检测结构的截面示意图；

图6是本申请一实施例提供的一种显示面板的裂纹检测结构的平面示意图；

图7是本申请一实施例提供的另一种显示面板的裂纹检测结构的平面示意图；

图8是本申请另一实施例提供的一种显示面板的裂纹检测结构的平面示意图；

图9是本申请一实施例提供的一种显示面板的裂纹检测结构的截面示意图；

图10是本申请另一实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的流程图。

其中，100、显示面板；200、阵列基板；210、第一衬底；220、缓冲层；230、栅极；240、栅极绝缘层；250、半导体层；260、源极；270、漏极；280、钝化层；300、彩膜基板；310、第二衬底；320、色阻层；330、遮光层；340、平坦层；400、框胶、500裂纹检测结构；510、第一检测线；511、第一检测线的第一端；512、第一检测线的第二端；513、第一输入检测线；514、第一输入检测线的第一端；515、第一输入检测线的第二端；516、第一输出检测线；517、第一输出检测线的第一端；518、第一输出检测线的第二端；520、第二检测线；530、第三检测线；531、第三输入检测线；532、第三输出检测线；540、缺口；550、第一金属线；560、第二金属线；570、第四检测线；571、第四输入检测线；572、第四输入检测线的第一端；573、第四输入检测线的第二端；574、第四输出检测线；575、第四输出检测线的第一端；576、第四输出检测线的第二端；580、第五检测线；590、银胶；600、信号输入端；700、信号输出端。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明，需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

如图1所示，作为本申请的一实施例，公开了一种基板的裂纹检测结构500，所述裂纹检测结构500设置在所述基板的非显示区，所述裂纹检测结构500包括第一检测线510、第二检测线520和第三检测线530，所述第一检测线510环绕所述基板的显示区设置，所述第二检测线520设置在所述第一检测线510的外围，一端电连接于所述第一检测线的第一端511，另一端设置有一信号输入端600；所述第三检测线530设置在所述第一检测线510的外围，一端电连接于所述第一检测线的第二端512，另一端设置有一信号输出端700。

本申请在基板的非显示区设置裂纹检测结构500，通过基板出现裂纹时对检测线的影响，从而测出不同于基板正常时的电性结果，判断出基板是否出现裂纹；另外，本申请还设置多道环绕基板显示区的检测线来检测基板中是否有裂纹产生，提高整个裂纹检测结构的检测精准度。

具体的，信号输入端600和信号输出端700出对应设有银胶，外接的检测器通过银胶对第二检测线520的信号输入端600输入检测信号，检测信号沿着第二检测线520、第一检测线510和第三检测线530传递，然后从第三检测线530的信号输出端700输出，重新回到外接的检测器中，检测器可以检测出经过所有检测线的电学参数，得出基板的裂纹情况。

需要说明的是，检测器用来检测所有检测线的阻值，检测器可以是测电压或电流的装置，通过对信号输入恒定的电压或电流，然后根据公式计算出对应的检测线阻值；也可以是直接检测电阻阻值的装置；检测器事先检测出所有检测线的阻值之和，将其设为一阈值，此阈值为定值。当对基板进行检测时，比较检测器测出的检测结果和阈值，当检测结果和阈值相等时，判断基板没有裂纹产生；当检测结果大于阈值时，判断基板上有裂纹产生，这是因为基板若产生裂纹时，裂纹会开裂到检测线上，使得检测线开裂，导致检测线的横截面积变小，由电阻公式可知这样会导致检测线的电阻变大；且检测结果与阈值的差值越大，说明基板的裂纹情况越严重，从而准确地得出基板中裂纹的严重程度；另外，若检测器无法检测出检测线的阻值，那就说明检测线发生完全断裂，信号无法顺利传递，此时裂纹情况最为严重。

在图1对应的实施例中，裂纹检测结构500中的检测线有两层，第一层是环绕显示区设置的第一检测线510，第二层是位于一个矩形轮廓中的第二检测线520和第三检测线530；相对于裂纹检测结构500只有一道检测线的情况来说，两道检测线能够有效提高检测的面积，防止出现漏检的情况发生；另外，通过检测线的阻值变化来检测基板裂纹的方式，裂纹的大小以及裂纹的数量均能够影响到检测出的最终阻值，因此这种测阻值的方式能够精准测出基板的裂纹程度。

如图2所示，所述第一检测线的第一端511和第二端之间设置有缺口540，所述缺口540处设置有第一金属线550和第二金属线560，所述第一检测线的第一端511通过所述第一金属线550与所述第二检测线520电连接，所述第一检测线的第二端512通过所述第二金属线560与所述第三检测线530电连接。而且，信号输入端600和信号输出端700位于基板的同一侧，缺口540位于基板的另一侧；第二检测线520和第三检测线530之间同样设有缺口540，通过对两层检测线的缺口540设置，防止线路之间产生干扰，甚至导致短路的情况。

而且，所述第二金属线560与所述第一金属线550平行设置，且所述第一金属线550在其垂直方向上与所述第二金属线560重叠。此时，裂纹在沿垂直于基板边缘的方向分布时，裂纹即使沿着第二检测线520与第三检测线530之间的缺口540进入，也会与第一检测线510相交，从而能够被检测到。这样设计使得两道检测线可以形成一个封闭的距形，防止裂纹出现在缺口540处，导致不能检测出该处的裂纹情况；通过对检测线的分布设计，本申请中的裂纹检测结构500可以无死角的检测基板中出现的裂纹情况。

进一步的，所述第一金属线550和所述第二金属线560都为折线型。通过增加第一金属线550和第二金属线560的复杂程度，能够减小使裂纹漏检的程度。当然第一金属线550和第二金属线560还可以都是斜线或其它形状。

当然，本申请还可以设置三道及三道以上的裂纹检测线，如图3所示，是一种裂纹检测结构500有三道检测线时的示意图，所述第三检测线530包括第三输入检测线531和第三输出检测线532，所述第三输入检测线531的一端电连接于所述第一检测线的第二端512；所述第三输出检测线532设置在所述第三输入检测线531的外围，环绕所述基板的显示区设置，且所述第三输出检测线532的一端与所述第三输入检测线531电连接，另一端设有信号输出端700。

图3中，在原有两道检测线的基础上，将第三检测线530继续延长并环绕基板的显示区设置一圈，使得第三检测线530形成第三输入检测线531和第三输出检测线532；通过朝基板的边缘方向增加一圈检测线，能够进一步检测出只出现在基板边缘处的细微裂纹，提高检测的精准度。

需要说明的是，上述基板可以是阵列基板200也可以是彩膜基板300，当所述基板为阵列基板200时，如图4所示，所述阵列基板200包括依次堆叠设置的第一衬底210、缓冲层220、栅极230、栅极绝缘层240、半导体层250、源极260、漏极270和钝化层280，所述第一检测线510、第二检测线520和第三检测线530与所述栅极230同制程形成。这样能够提高制程效率，减少额外设计检测线的制程步骤；当然第一检测线510、第二检测线520和第三检测线530和可以设置在其它膜层，例如可以和源极260、漏极270同制程形成，还可以设置在缓冲层220和第一衬底210之间；而且第一检测线510、第二检测线520和第三检测线530还可以设置在不同层。

当所述基板为彩膜基板300时，如图5所示，所述基板为彩膜基板300，所述彩膜基板300包括依次堆叠设置的第二衬底310、色阻层320、遮光层330和平坦层340，所述第一检测线510、第二检测线520和第三检测线530设置在所述第二衬底310朝向所述色阻层320的一侧。此时第一检测线510、第二检测线520和第三检测线530直接设置在第一衬底210上，也即衬底玻璃上，由于裂纹主要产生在玻璃衬底上，因此将检测线直接坐到与玻璃衬底相贴，能够精确反应出玻璃衬底的裂纹情况，防止受到其它膜层的干扰。

作为本申请的另一实施例，如图6-9所示，还公开了一种显示面板100的裂纹检测结构500，所述显示面板100包括相对设置的彩膜基板300和阵列基板200，以及设置在所述彩膜基板300和阵列基板200之间，连接所述彩膜基板300和阵列基板200的框胶400，所述裂纹检测结构500包括第一检测线510、第二检测线520、第三检测线530和第四检测线570，所述第一检测线510设置在所述阵列基板200的非显示区，环绕所述阵列基板200的显示区设置，包括第一输入检测线513和第一输出检测线516；

所述第二检测线520设置在所述阵列基板200的非显示区，且位于所述第一检测线510的外围，所述第二检测线520的一端电连接于所述第一输入检测线的第一端514，另一端设置有一信号输入端600；所述第三检测线530设置在所述阵列基板200的非显示区，且位于所述第一检测线510的外围，所述第三检测线530的一端电连接于所述第一输出检测线的第一端517，另一端设置有一信号输出端700；所述第四检测线570设置在所述彩膜基板300的非显示区，环绕所述彩膜基板300的显示区设置，所述第四检测线570的一端与所述第一输入检测线的第二端515电连接，所述第四检测线570的另一端与所述第一输出检测线的第二端518电连接。

前面的实施例中，裂纹检测结构500可以精准地检测显示面板100中任意一块基板的裂纹情况，但是当要检测显示面板100的裂纹情况时，需要分两次对彩膜基板300和阵列基板200进行检测，这样的检测效率较低。而在本实施例中，可以直接对显示面板100的裂纹情况进行检测，有利于提高检测效率。

本申请可以同时只在彩膜基板300和阵列基板200上设置一层检测线，这样能够检测出显示面板100中绝大部分的裂纹，但是仍有部分裂纹可能出现在信号输入端600和信号输出端700之间，导致无法检测。因此本申请将阵列基板200上的检测线设为两层，由于阵列基板200的面积比彩膜基板300的面积大，因此阵列基板200上的检测线相对于彩膜基板300上的检测线，更加靠近显示面板100的边缘，这样能够提高显示面板100的检测精准度。

当然，彩膜基板300上的检测线同样可以设为两层，具体的，如图7所示，所述第四检测线570包括第四输入检测线571和第四输出检测线574，所述第四输入检测线的第一端572与所述第一输出检测线的第二端518电连接，所述第四输出检测线的第一端575与所述第一输入检测线的第二端515电连接；所述第四输入检测线的第二端573与所述第四输出检测线的第二端576设有缺口540，所述缺口540处设有平行设置的第一金属线550和第二金属线560；所述裂纹检测结构500还包括第五检测线580，所述第五检测线580设置在所述彩膜基板300的非显示区，环绕所述彩膜基板300的显示区设置，且位于所述第四检测线570与所述彩膜基板的显示区之间；所述第五检测线580的一端通过所述第一金属线550与所述第四输入检测线的第二端573电连接，所述第五检测线580的另一端通过所述第二金属线560与所述第四输出检测线的第二端576电连接。

图7对应的实施例中，不论裂纹出现在彩膜基板300上还是阵列基板200上，都有两道检测线进行对应检测，极大地防止漏检的情况发生；当然，彩膜基板300或阵列基板200上的检测线还可以继续增加，以提高检测的检测精准度。而且，彩膜基板300和阵列基板200上的检测线可以按照如图1-5对应的实施例进行排布，在此不一一赘述。

在图7的基础上，还可以将彩膜基板300中对应的缺口540与阵列基板200对应的缺口540设在不重叠的位置，也可以将信号输入端600和信号输出端700之间的空白区域设置到与第一检测线510重叠的位置，具体如图8所示，通过这样的设计进一步防止裂纹漏检的情况发生。

如图9所示，是一种含有裂纹检测结构500的显示面板100的截面示意图，所述第四检测线570通过银胶590分别与所述第一输入检测线的第二端515、所述第一输出检测线的第二端518电连接；所述银胶590设置在所述框胶400内，所述第一检测线510、第二检测线520、第三检测线530和第四检测线570与所述框胶400的正投影重叠。

通过将检测线都设置在框胶400涂布的区域，并将电连接两块基板中检测线的银胶590设在框胶400中，提高整个裂纹检测结构500的稳定性，这样当显示面板100在成型后，仍然可以对显示面板100的裂纹情况进行检测，从而可以在任何时候对显示面板100进行补检，使得对显示面板100的裂纹检测不需要固定在某一时间段，因此能够提高适用性。

如图10所示，是一种显示面板的裂纹检测方法，作为本申请的另一实施例，还公开了一种显示面板的裂纹检测方法，适用于上述显示面板的裂纹检测结构，所述裂纹检测方法包括步骤：

S1：在显示面板中阵列基板的非显示区设置环绕显示区的第一检测线、第二检测线和第三检测线，使所述第二检测线的一端与信号输入端电连接，另一端与所述第一检测线中第一输入检测线的第一端电连接；并使所述第三检测线的一端与信号输出端电连接，另一端与所述第一检测线中第一输出检测线的第一端电连接；

S2：在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接；

S3：接通所述信号输入端和信号输出端，使所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线导通，并测量所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线的总体阻值，若所述总体阻值等于预设值，则判断所述显示面板的边缘没有裂纹产生；若所述总体阻值大于预设值，则判断所述显示面板的边缘有裂纹产生；

其中，所述预设值为所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线在无损状态下的阻值。

本实施例中，同时在显示面板的两个基板上都设置检测线，可以同时检测两个基板中是否有裂纹产生，提高检测效率；而且通过检测所有检测线的总体阻值来判断显示面板中是否有裂纹产生，当总体阻值与预设阻值相同时，说明所有检测线都完好无损，显示面板中两个基板都没有裂纹产生；当检测线的总体阻值大于预设阻值时，说明显示面板中有裂纹产生，因为当检测线中产生裂纹或者破损时，会导致检测线的横截面积变小，由电阻公式可知会导致检测线的阻值变大；其中检测线的总体阻值与预设阻值之间的差值越大，说明裂纹的严重程度越大，若未检测出检测线的阻值，说明检测线断裂，导致电路未导通，此时裂纹最为严重。

而且，阵列基板上至少设置两圈环绕显示区的检测线，这样增加了检测线的长度，也使检测线更加靠近阵列基板的边缘，从而进一步提高检测的精准度。

本实施例中，阵列基板上的检测线最少设置有两圈，彩膜基板上的检测线至少设置一圈，根据检测需要进行设置。

具体的，在S1步骤中，所述第一检测线、第二检测线和第三检测线与阵列基板中的栅极同制程形成。这样能够提高制程效率，减少额外设计检测线的制程步骤；当然第一检测线、第二检测线和第三检测线和可以设置在其它膜层，例如可以和阵列基板的源极、漏极同制程形成，还可以设置在玻璃衬底之间；而且第一检测线、第二检测线和第三检测线还可以设置在不同层。

在S2步骤之前，包括步骤：在所述第一输入检测线的第二端和所述第一输出检测线的第二端分别设置银胶，并使所述银胶垂直于所述阵列基板。

在S2步骤中，第四检测线直接设置在衬底玻璃上，由于裂纹主要产生在玻璃衬底上，因此将检测线直接坐到与玻璃衬底相贴，能够精确反应出玻璃衬底的裂纹情况，防止受到其它膜层的干扰。并且第四检测线的两端分别与对应的所述银胶垂直电连接，银胶在框胶中，能够提高银胶的稳定性，防止银胶与检测线的连接位置脱落。

在S3中，信号输入端和信号输出端为两个引脚(PIN)，两个引脚突出于框胶，检测时外接电阻检测装置将两个引脚连通即可。

需要说明的是，本方案中涉及到的各步骤的限定，在不影响具体方案实施的前提下，并不认定为对步骤先后顺序做出限定，写在前面的步骤可以是在先执行的，也可以是在后执行的，甚至也可以是同时执行的，只要能实施本方案，都应当视为属于本申请的保护范围。

而且,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果。

以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (9)

1.一种显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，包括步骤：

在显示面板中阵列基板的非显示区设置环绕显示区的第一检测线、第二检测线和第三检测线，使所述第二检测线的一端与信号输入端电连接，另一端与所述第一检测线中第一输入检测线的第一端电连接；并使所述第三检测线的一端与信号输出端电连接，另一端与所述第一检测线中第一输出检测线的第一端电连接；

所述第一检测线的第一端和第二端之间设置有缺口，所述缺口处设置有第一金属线和第二金属线，所述第二金属线与所述第一金属线平行设置，且所述第一金属线在其垂直方向上与所述第二金属线重叠；所述第一检测线的第一端通过所述第一金属线与所述第二检测线电连接，所述第一检测线的第二端通过所述第二金属线与所述第三检测线电连接；信号输入端和信号输出端位于基板的同一侧，缺口位于基板的另一侧；

在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接；以及

接通所述信号输入端和信号输出端，使所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线导通，并测量所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线的总体阻值，若所述总体阻值等于预设值，则判断所述显示面板的边缘没有裂纹产生；若所述总体阻值大于预设值，则判断所述显示面板的边缘有裂纹产生；

其中，所述预设值为所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线在无损状态下的阻值。

2.如权利要求1所述的显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接的步骤之前，包括：

在所述第一输入检测线的第二端和所述第一输出检测线的第二端分别设置银胶，并使所述银胶垂直于所述阵列基板；

在显示面板中彩膜基板的非显示区设置环绕显示区的第四检测线，使所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接的步骤中，所述第四检测线的两端分别与对应的所述银胶垂直电连接。

3.一种显示面板的裂纹检测结构，其特征在于，包括：

第一检测线，设置在显示面板中阵列基板的非显示区，环绕所述阵列基板的显示区设置，包括第一输入检测线和第一输出检测线；

第二检测线，设置在所述阵列基板的非显示区，且位于所述第一检测线的外围，所述第二检测线的一端电连接于所述第一输入检测线的第一端，另一端设置有一信号输入端；

第三检测线，设置在所述阵列基板的非显示区，且位于所述第一检测线的外围，所述第三检测线的一端电连接于所述第一输出检测线的第一端，另一端设置有一信号输出端；以及

第四检测线，设置在显示面板中彩膜基板的非显示区，环绕所述彩膜基板的显示区设置，所述第四检测线的一端与所述第一输入检测线的第二端电连接，所述第四检测线的另一端与所述第一输出检测线的第二端电连接；

所述第一检测线的第一端和第二端之间设置有缺口，所述缺口处设置有第一金属线和第二金属线，所述第二金属线与所述第一金属线平行设置，且所述第一金属线在其垂直方向上与所述第二金属线重叠；所述第一检测线的第一端通过所述第一金属线与所述第二检测线电连接，所述第一检测线的第二端通过所述第二金属线与所述第三检测线电连接；信号输入端和信号输出端位于基板的同一侧，缺口位于基板的另一侧。

4.如权利要求3所述显示面板的裂纹检测结构，其特征在于，所述第四检测线包括第四输入检测线和第四输出检测线，所述第四输入检测线的第一端与所述第一输出检测线的第二端电连接，所述第四输出检测线的第一端与所述第一输入检测线的第二端电连接；

所述第四输入检测线的第二端与所述第四输出检测线的第二端设有缺口，所述缺口处设有平行设置的第一金属线和第二金属线；

所述裂纹检测结构还包括第五检测线，所述第五检测线设置在所述彩膜基板的非显示区，环绕所述彩膜基板的显示区设置，且位于所述第四检测线与所述彩膜基板的显示区之间；所述第五检测线的一端通过所述第一金属线与所述第四输入检测线的第二端电连接，所述第五检测线的另一端通过所述第二金属线与所述第四输出检测线的第二端电连接。

5.如权利要求3-4任意一项所述显示面板的裂纹检测结构，其特征在于，所述第四检测线通过银胶分别与所述第一输入检测线的第二端、所述第一输出检测线的第二端电连接；

所述银胶设置在框胶内，所述第一检测线、第二检测线、第三检测线和第四检测线与所述框胶的正投影重叠。

6.一种基板的裂纹检测结构，所述裂纹检测结构设置在所述基板的非显示区，其特征在于，所述裂纹检测结构包括：

第一检测线，环绕所述基板的显示区设置；

第二检测线，设置在所述第一检测线的外围，一端电连接于所述第一检测线的第一端，另一端设置有一信号输入端；以及

第三检测线，设置在所述第一检测线的外围，一端电连接于所述第一检测线的第二端，另一端设置有一信号输出端；

所述第一检测线的第一端和第二端之间设置有缺口，所述缺口处设置有第一金属线和第二金属线，所述第一检测线的第一端通过所述第一金属线与所述第二检测线电连接，所述第一检测线的第二端通过所述第二金属线与所述第三检测线电连接。

7.如权利要求6所述基板的裂纹检测结构，其特征在于，所述第二金属线与所述第一金属线都为折线型，且平行设置，并沿垂直于与所述第一金属线的方向，所述第一金属线与所述第二金属线重叠。

8.如权利要求6所述基板的裂纹检测结构，其特征在于，所述基板为阵列基板，所述阵列基板包括依次堆叠设置的第一衬底、缓冲层、栅极、栅极绝缘层、半导体层、源极、漏极和钝化层，所述第一检测线、第二检测线和第三检测线与所述栅极同制程形成。

9.如权利要求6所述基板的裂纹检测结构，其特征在于，所述基板为彩膜基板，所述彩膜基板包括依次堆叠设置的第二衬底、色阻层、遮光层和平坦层，所述第一检测线、第二检测线和第三检测线设置在所述第二衬底朝向所述色阻层的一侧。

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