CN113340724B - 一种发光二极管拉力测试设备 - Google Patents

一种发光二极管拉力测试设备 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种发光二极管拉力测试设备，涉及发光二极管测试设备的领域，其包括底板，底板上滑动连接有拉力计与测试块，且拉力计与测试块滑动方向相反，拉力计上设置有夹紧组件；夹紧组件包括连接块、插接块、夹紧块，连接块固定连接于拉力计靠近测试块一侧，连接块远离拉力计一侧依次开设有夹紧槽、插接槽，夹紧槽与插接槽连通，沿着远离插接槽方向夹紧槽的内壁向靠近夹紧槽中部的方向逐渐延伸；插接块插设于插接槽内，插接块远离拉力计一侧开设有放置槽，插接块两侧开设有连通槽，连通槽延伸方向垂直于放置槽，连通槽连通于放置槽，夹紧块插设于连通槽内；测试块上设置有同样的夹紧组件。本申请具有提高工作效率的效果。

Description

一种发光二极管拉力测试设备
技术领域
本申请涉及发光二极管测试设备的领域，尤其是涉及一种发光二极管拉力测试设备。
背景技术
发光二极管是最常用的电子元件之一，其最大的特性就是单向导电，二极管的作用有整流电路，检波电路，稳压电路，各种调制电路，二极管因此也被广泛应用于各种电子设备中。发光二极管外观类似圆柱体，包括主体和引脚，二极管制作完成后需要测试主体和引脚之间的焊接拉力是否满足要求。
一般，二极管引脚拉力测试的步骤如下：先在二极管两端连接夹紧工装，再把一端的夹紧工装固定，另一端的夹紧工装连接测力计。
针对上述中的相关技术，发明人认为现有的夹紧工装结构复杂，操作费时费力，测试的工作效率较低。
发明内容
为了提高工作效率，本申请提供一种发光二极管拉力测试设备。
本申请提供的一种发光二极管拉力测试设备采用如下的技术方案：
一种发光二极管拉力测试设备，包括底板，底板上滑动连接有拉力计与测试块，且拉力计与测试块滑动方向相反，拉力计上设置有夹紧组件；夹紧组件包括连接块、插接块、夹紧块，连接块固定连接于拉力计靠近测试块一侧，连接块远离拉力计一侧依次开设有夹紧槽、插接槽，夹紧槽与插接槽连通，沿着远离插接槽方向夹紧槽的内壁向靠近夹紧槽中部的方向逐渐延伸；插接块穿过夹紧槽插设于插接槽内，插接块远离拉力计一侧开设有放置槽，插接块两侧分别开设有连通槽，连通槽延伸方向垂直于放置槽，连通槽连通于放置槽，夹紧块插设于连通槽内；测试块上设置有同样的夹紧组件。
通过采用上述技术方案，进行发光二极管拉力测试时，先将发光二极管插设于放置槽内；然后用手轻拉两个插接块，驱动拉力计与测试块移动，从而带动连接块移动，因为夹紧槽的结构形状，随着连接块的移动，夹紧槽内壁逐渐挤压夹紧块，使得夹紧块向靠近彼此的方向移动，两个夹紧块配合将发光二极管夹紧；发光二极管被夹紧后，随着连接块的继续移动，插接块以及发光二极管开始受到拉力，此时放松作用于插接块的外力，进行发光二极管的拉拔，方便快捷，有效提高工作效率。
可选的，所述夹紧块靠近彼此的侧面，沿着远离拉力计的方向向远离彼此的方向逐渐延伸。
通过采用上述技术方案，将发光二极管插设于放置槽内时，如果两个夹紧块处于抵接状态，此时由于夹紧块两个侧面的倾斜角度，使得两个夹紧块之间形成一个豁口，以方便将发光二极管插入放置槽内并置于两个夹紧块之间。
可选的，所述夹紧块靠近彼此的侧面开设有卡槽，卡槽为圆弧形。
通过采用上述技术方案，卡槽增大夹紧块与发光二极管之间的接触面积，从而增大夹紧块与发光二极管之间的摩擦力，有利于保证夹紧块对发光二极管的夹紧作用。
可选的，所述卡槽内设置有防滑纹。
通过采用上述技术方案，防滑纹进一步提高夹紧块与发光二极管之间的摩擦力，有利于保证夹紧块对发光二极管的夹紧作用。
可选的，所述夹紧块为棱柱形结构，且夹紧块侧壁与连通槽内壁抵接。
通过采用上述技术方案，棱柱形状的夹紧块，使得夹紧块不易在连接块的带动作用下发生转动，从而保证夹紧块的稳定性，保证卡槽与发光二极管正对，从而保证发光二极管可以卡设于卡槽内。
可选的，所述夹紧槽内壁设置有推挤组件，推挤组件设置于夹紧块远离拉力计一侧，夹紧组件包括固定块、推挤块、弹簧，固定块固定连接于夹紧槽内壁，推挤块两端分别滑动连接于夹紧槽内壁以及插接块，推挤块滑动方向平行于拉力计滑动方向，推挤块位于固定块靠近夹紧块一侧，推挤块长度可调节，弹簧固定连接于推挤块与固定块之间。
通过采用上述技术方案，夹紧块对发光二极管夹紧后，插接块与连接块初步连接在一起，连接块移动带动固定块移动，固定块移动挤压弹簧，弹簧被压缩，弹簧挤压推挤块，推挤块挤压夹紧块，从而使得夹紧块随连接块移动，夹紧块带动插接块移动，进一步提高插接块与连接块的连接性，保证插接块随连接块一起移动，实现对发光二极管的拉拔。
可选的，所述推挤块包括外框、内板，外框滑动连接于夹紧槽内壁，内板滑动连接于插接块，外框为靠口朝向内板内部中空的结构，内板插设于外框内，弹簧固定连接于内板。
通过采用上述技术方案，夹紧块对发光二极管的夹紧过程中，弹簧推挤内板，使得内板移动，内板带动外框移动，同时内板在外框内移动，保证推挤块两端始终与连接块以及插接块抵接，从而保证推挤块移动过程中的稳定性。
可选的，所述外框与内板远离彼此一侧均固定连接有第一滑块，夹紧槽内壁以及连接块侧壁开设有第一滑槽，第一滑块位于第一滑槽内。
通过采用上述技术方案，第一滑块与第一滑槽配合保证内板以及外框移动过程中的稳定性，进而保证推挤块移动过程中的稳定性。
可选的，所述插接块侧壁固定连接有挡块，挡块与夹紧块远离移动块的一侧抵接。
通过采用上述技术方案，挡块对夹紧块起到一定的支撑作用，降低夹紧块在推挤块作用下发生偏斜的几率，保证夹紧块状态的稳定性，从而保证夹紧块对发光二极管的夹紧作用。
可选的，所述底板上设置有驱动拉力计以及测试块移动的移动组件，移动组件包括移动块、双向丝杠、电机，移动块滑动连接于底板，移动块设置有两个，拉力计以及测试块分别固定连接于一个移动块，双向丝杠转动连接于底板，双向丝杠转动轴线平行于移动块滑动方向，双向丝杠螺纹连接于移动块，电机固定连接于双向丝杠一端。
通过采用上述技术方案，启动电机，电机驱动双向丝杠转动，因为双向丝杠与移动块之间螺纹连接的关系，双向丝杠转动驱动移动块移动，移动块带动拉力计与测试块移动，实现对拉力计以及测试块移动的驱动，方便快捷。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
1.通过设置夹紧组件，使得拉力计与测试块移动过程中即可实现对发光二极管的夹紧作用，使得对发光二极管的夹紧操作更加便捷，提高工作效率；
2.通过设置推挤组件，保证插接块与连接块运动的一致性，进而保证对发光二极管的拉扯过程顺利进行；
3.通过设置驱动组件，实现对拉力计以及测试块移动的快速驱动。
附图说明
图1是本申请实施例整体结构示意图；
图2是为展示连接块内部的剖视图；
图3是图2中A部放大图；
图4是夹紧块结构示意图；
图5是推挤块结构示意图。
附图标记说明：1、底板；11、拉力计；12、测试块；13、第二滑槽；2、夹紧组件；21、连接块；211、夹紧槽；212、插接槽；213、第一滑槽；22、插接块；221、放置槽；222、连通槽；223、挡块；23、夹紧块；231、卡槽；232、防滑纹；3、移动组件；31、移动块；311、第二滑块；32、双向丝杠；33、电机；4、推挤组件；41、固定块；42、推挤块；421、外框；4211、第一滑块；422、内板；43、弹簧。
具体实施方式
以下结合附图1-5对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种发光二极管拉力测试设备。参照图1与图2,，一种发光二极管拉力测试设备包括底板1。底板1上表面滑动连接有拉力计11与测试块12，拉力计11与测试块12滑动方向相反，拉力计11靠近测试块12一侧以及测试块12靠近拉力计11一侧均设置有对发光二极管进行夹紧的夹紧组件2。通过夹紧组件2实现对发光二极管的夹持，然后驱动拉力计11以及测试块12滑动即可实现对发光二极管拉力的测定，简单快捷，提高工作效率。
参照图2与图3，夹紧组件2包括连接块21、插接块22、夹紧块23，拉力计11上夹紧组件2的连接块21固定连接于拉力计11靠近测试块12一侧，连接块21远离拉力计11的一侧依次开设有夹紧槽211、插接槽212，且夹紧槽211与插接槽212相连通，夹紧槽211呈大口朝向插接槽212的圆锥形；插接块22穿过夹紧槽211插设于插接槽212内，且插接块22一端位于夹紧槽211外，插接块22远离拉力计11一侧开设有放置槽221，插接块22左右两侧开设有连通槽222，连通槽222与放置槽221连通，夹紧块23设置有两个，夹紧块23插设于连通槽222内，夹紧块23靠近彼此的侧面沿着远离拉力计11的方向向远离彼此的方向逐渐延伸。测试块12上的夹紧组件2与拉力计11上的夹紧组件2对称，测试块12上夹紧组件2的连接块21固定连接于测试块12靠近拉力计11的一侧，且位于测试块12一侧的插接块22上放置槽221的长度大于位于拉力计11一侧的插接块22上放置槽221的长度。
参照图2与图3，进行发光二极管的拉力测试时，将发光二极管两端分别插入两个插接块22上的放置槽221内，并用手轻轻拉住插接块22，然后驱动拉力计11以及测试块12移动，拉力计11与测试块12移动带动连接块21移动，因为夹紧槽211的形状原因，随着连接块21的移动，夹紧槽211内壁逐渐挤压夹紧块23，使得夹紧块23向靠近彼此的方向移动，两个夹紧块23配合将发光二极管夹紧，实现对发光二极管的夹紧，此时将插接块22放松，拉力计11与测试块12移动对发光二极管进行拉力测试，方便快捷，提高工作效率。
参照图1，底板1上设置有驱动拉力计11与测试块12移动的移动组件3，移动组件3包括移动块31、双向丝杠32、电机33，移动块31滑动连接于底板1上表面，移动块31设置有两个，两个移动块31滑动方向相反，移动块31底部固定连接有第二滑块311，第二滑块311为“T”形块，底板1上表面开设有第二滑槽13，第二滑块311位于第二滑槽13内；拉力计11固定连接于其中一个移动块31上表面，测试块12固定连接于另一个移动块31；双向丝杠32转动连接于底板1，双向丝杠32转动轴线平行于移动块31滑动方向，移动块31螺纹连接于双向丝杠32，驱动双向丝杠32转动的电机33固定连接于双向丝杠32一端，电机33固定连接于底板1。启动电机33，电机33带动双向丝杠32转动，双向丝杠32转动驱动移动块31相相反方向移动，移动块31带动拉力计11与测试块12移动，拉力计11与测试块12移动拉拔发光二极管，对发光二极管进行拉力测试。
参照图4，夹紧块23为长方体结构，夹紧块23靠近彼此的侧面开设有卡槽231，卡槽231为与发光二极管适配的圆弧状结构，发光二极管开设在卡槽231内，且卡槽231内壁开设有防滑纹232。发光二极管卡设在卡槽231内，增大发光二极管与夹紧块23的接触面积，另外卡槽231内的防滑纹232增大发光二极管与夹紧块23之间的摩擦力，有利于提高夹紧块23对发光二极管的夹紧作用；而长方体状的夹紧块23则可以降低在夹紧槽211内壁的挤压带动作用下，夹紧块23发生转动的几率，保证发光二极管可以卡设在卡槽231内。
参照图3与图5，夹紧槽211内设置有对夹紧块23进行推挤的推挤组件4，推挤组件4包括固定块41、推挤块42、弹簧43，固定块41固定连接于夹紧槽211内壁，固定块41位于夹紧块23远离拉力计11一侧；推挤块42包括外框421、内板422，外框421滑动连接于夹紧槽211内壁，外框421位于固定块41靠近夹紧块23的一侧，外框421滑动方向平行于移动块31移动方向，外框421为开口朝向夹紧块23内部中部的结构，内板422滑动连接于夹紧块23，且内板422插设于外框421内，外框421与内板422远离彼此一侧均固定连接有第一滑块4211，第一滑块4211为“T”形块，夹紧槽211内壁以及连接块21侧壁开设有第一滑槽213，第一滑块4211位于第一滑槽213内；弹簧43一端固定连接于固定块41靠近外框421的一侧，弹簧43另一端固定连接于内板422靠近固定块41一侧。
参照图3与图5，推挤块42与夹紧块23抵接，连接块21刚开始运动时，因为用手轻拉插接块22，使得插接块22保持不动，连接块21移动带动固定块41移动，弹簧43被压缩，连接块21移动至一定位置后两个夹紧块23将发光二极管夹紧，使得插接块22与连接块21之间产生一定的连接关系，此时放松对插接块22的外力，固定块41通过弹簧43对推挤块42产生一定的推力，推挤块42推动夹紧块23，使得夹紧块23带动插接块22随连接块21一起移动，进一步保证插接块22随连接块21一起运动，实现对发光二极管拉力的测试。
参照图3，插接块22的侧壁还固定连接有挡块223，挡块223位于夹紧块23远离推挤块42一侧，且挡块223与夹紧块23抵接，挡块223对夹紧块23起到一定的支撑作用，使得挡块223与推挤块42配合将夹紧块23夹紧以保证夹紧块23的稳定性，降低夹紧块23在推挤块42作用下发生偏斜的几率，保证夹紧块23状态的稳定性，从而保证夹紧块23对发光二极管的夹紧作用。
本申请实施例一种发光二极管拉力测试设备的实施原理为：进行发光二极管拉力测试时，先将发光二极管插设于位于测试块12一侧的插接块22的放置槽221内，然后移动发光二极管使得发光二极管另一端插设于位于拉力计11一侧的放置槽221内至发光二极管与此放置槽221的内壁抵接；然后用手轻拉两个插接块22，启动电机33，电机33带动双向丝杠32转动，双向丝杠32转动驱动移动块31向远离彼此的方向移动，移动块31带动拉力计11与测试块12移动，从而带动连接块21移动；随着连接块21的移动，夹紧槽211内部逐渐挤压夹紧块23，使得夹紧块23向靠近彼此的方向移动，两个夹紧块23配合将发光二极管夹紧；发光二极管被夹紧后，随着连接块21的继续移动，插接块22以及发光二极管开始受到拉力，此时放松作用于插接块22的外力，当拉力计11上的读数达到设定值时，停止电机33，实现发光二极管的拉拔，方便快捷，有效提高工作效率。而且，固定块41随连接块21一起运动，弹簧43被压缩，弹簧43通过推挤块42推挤夹紧块23移动，夹紧块23带动插接块22移动，保证插接块22与连接块21运动的一致性。
拉拔完成后，启动电机33带动双向丝杠32转动，驱动移动块31相互靠近，移动块31带动拉力计11与测试块12移动，从而带动连接块21移动，夹紧槽211内壁对夹紧块23的挤压作用逐渐减小，夹紧块23失去对发光二极管的夹紧作用，将发光二极管向靠近测试块12一侧移动至发光二极管一端离开位于拉力计11一侧的放置槽221内至发光二极管与此放置槽221，然后将整个发光二极管抽出，观察主体和引脚之间的焊接处的损坏程度，以判断发光二极管主体和引脚之间的焊接处的焊接力是否满足要求。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：包括底板(1)，底板(1)上滑动连接有拉力计(11)与测试块(12)，且拉力计(11)与测试块(12)滑动方向相反，拉力计(11)上设置有夹紧组件(2)；夹紧组件(2)包括连接块(21)、插接块(22)、夹紧块(23)，连接块(21)固定连接于拉力计(11)靠近测试块(12)一侧，连接块(21)远离拉力计(11)一侧依次开设有夹紧槽(211)、插接槽(212)，夹紧槽(211)与插接槽(212)连通，沿着远离插接槽(212)方向夹紧槽(211)的内壁向靠近夹紧槽(211)中部的方向逐渐延伸；插接块(22)穿过夹紧槽(211)插设于插接槽(212)内，插接块(22)远离拉力计(11)一侧开设有放置槽(221)，插接块(22)两侧分别开设有连通槽(222)，连通槽(222)延伸方向垂直于放置槽(221)，连通槽(222)连通于放置槽(221)，夹紧块(23)插设于连通槽(222)内；测试块(12)上设置有同样的夹紧组件(2)；
所述夹紧槽(211)内壁设置有推挤组件(4)，推挤组件(4)设置于夹紧块(23)远离拉力计(11)一侧，夹紧组件(2)包括固定块(41)、推挤块(42)、弹簧(43)，固定块(41)固定连接于夹紧槽(211)内壁，推挤块(42)两端分别滑动连接于夹紧槽(211)内壁以及插接块(22)，推挤块(42)滑动方向平行于拉力计(11)滑动方向，推挤块(42)位于固定块(41)靠近夹紧块(23)一侧，推挤块(42)长度可调节，弹簧(43)固定连接于推挤块(42)与固定块(41)之间。
2.根据权利要求1所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述夹紧块(23)靠近彼此的侧面，沿着远离拉力计(11)的方向向远离彼此的方向逐渐延伸。
3.根据权利要求1所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述夹紧块(23)靠近彼此的侧面开设有卡槽(231)，卡槽(231)为圆弧形。
4.根据权利要求3所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述卡槽(231)内设置有防滑纹(232)。
5.根据权利要求3所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述夹紧块(23)为棱柱形结构，且夹紧块(23)侧壁与连通槽(222)内壁抵接。
6.根据权利要求1所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述推挤块(42)包括外框(421)、内板(422)，外框(421)滑动连接于夹紧槽(211)内壁，内板(422)滑动连接于插接块(22)，外框(421)为靠口朝向内板(422)内部中空的结构，内板(422)插设于外框(421)内，弹簧(43)固定连接于内板(422)。
7.根据权利要求6所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述外框(421)与内板(422)远离彼此一侧均固定连接有第一滑块(4211)，夹紧槽(211)内壁以及连接块(21)侧壁开设有第一滑槽(213)，第一滑块(4211)位于第一滑槽(213)内。
8.根据权利要求1所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述插接块(22)侧壁固定连接有挡块(223)，挡块(223)与夹紧块(23)远离移动块(31)的一侧抵接。
9.根据权利要求1所述的一种发光二极管拉力测试设备，其特征在于：所述底板(1)上设置有驱动拉力计(11)以及测试块(12)移动的移动组件(3)，移动组件(3)包括移动块(31)、双向丝杠(32)、电机(33)，移动块(31)滑动连接于底板(1)，移动块(31)设置有两个，拉力计(11)以及测试块(12)分别固定连接于一个移动块(31)，双向丝杠(32)转动连接于底板(1)，双向丝杠(32)转动轴线平行于移动块(31)滑动方向，双向丝杠(32)螺纹连接于移动块(31)，电机(33)固定连接于双向丝杠(32)一端。
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