CN113326334B - 一种数据库与设备同步的控制系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种数据库与设备同步的控制系统及方法,属于半导体生产技术领域。测试机将扫描枪读取到的随工单信息与第一数据库进行对比,将比对后的批次号信息反馈给编带机,编带机将测试机传送的批次号信息与第二数据库进行对比,信息对比正确后,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,并将被提取的编带参数回传给测试机,实现自动选择数据库进行对比,防止在执行测试模块的开启过程中,出现漏测的情况,减少了不良产品的流出,并且降低了人工成本。
Description
技术领域
本发明涉及半导体生产技术领域,特别涉及一种数据库与设备同步的控制系统及方法。
背景技术
随着半导体制造行业的不断发展,客户对产品的品质要求越来越高,客户总希望生产的产品不会出现质量问题,特别是漏测的情况。对于测试站点开启或关闭通过人工核对执行,导致人工成本的增加,并且在执行测试模块的开启情况时,可能存在漏开的情况,这样会导致产品对应功能项目没有测试,最终会有不良产品流出给客户,导致客户购买和使用产品的体验降低。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中所存在的增加人工成本和不良产品流出导致客户的购买是使用产品的体验降低的不足,提供一种数据库与设备同步控制的系统及方法。
为了实现上述发明目的,本发明提供了以下技术方案:
一种数据库与设备同步的控制系统,包括扫描枪、测试机、外观检测设备、编带机、第一数据库和第二数据库;
所述扫描枪与所述测试机之间通信连接,所述测试机与所述第一数据库和所述编带机之间通信连接,所述编带机与所述第二数据库和所述外观检测设备之间通信连接;
扫描枪:用于扫描随工单,将读取到的随工单信息反馈到所述测试机;
测试机:用于将所述随工单信息与所述第一数据库中的信息进行对比,并将对比正确的批次号信息调用给所述编带机;并且还用于将所述编带机回传的编带参数与所述第一数据库中的信息进行对比,比对结果一致时控制编带机工作;
编带机:用于接收测试机反馈的产品批次号信息,与所述第二数据库中的信息进行对比,当对比结果一致时,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,将所述被提取的编带参数回传到所述测试机;
外观检测设备:用于对生成出的产品的外观进行检测;
第一数据库:包括产品批次号信息、型号和芯片信息;
第二数据库:包括产品的编带参数,所述编带参数包括产品的批次号信息、编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数。
通过上述技术方案,能够防止在执行测试模块的开启过程中,出现漏测的情况,减少了不良产品的流出,并且降低了人工成本。
作为本发明的优选方案,所述测试机与所述编带机之间通过RS232数据线进行通信。
一种数据库与设备同步的控制方法,包括以下步骤:
S1:使用扫描枪读取随工单信息;
S2:将读取的随工单信息反馈到测试机,将所述随工单信息与所述第一数据库中的信息进行对比,并将对比正确的批次号信息调用给所述编带机,用于确保随工单信息里的批次号信息与所述第一数据库里的批次号信息一致;
S3:所述测试机将与所述第一数据库对比正确的批次号信息调用给编带机;
S4:所述编带机接收到所述测试机传送的所述批次号信息后,并将所述批次号信息与所述第二数据库进行信息对比,当对比结果一致时,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,将所述被提取的编带参数回传到所述测试机;
S5:所述测试机接收到所述编带机回传的所述编带参数信息后,所述测试机再次将所述被提取的编带参数的产品批次号信息与所述第一数据库中的产品批次号信息进行对比,对比结果正确则进行生产,否则做出报警处理。
通过上述技术方案,能够防止在执行测试模块的开启过程中,出现漏测的情况,减少了不良产品的流出,并且降低了人工成本。
作为本发明的优选方案,所述测试机与所述第一数据库对比的信息包括产品批次号信息、型号和芯片信息。
作为本发明的优选方案,所述编带机与所述第二数据库对比的信息包括产品的编带参数,所述编带参数包括产品的批次号信息、编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数。
作为本发明的优选方案,所述步骤S5还包括,对比结果正确,所述测试机启动生产,所述编带机根据产品批次号信息对应的被提取的编带参数进行参数设定。
作为本发明的优选方案,所述步骤S5还包括,生产过程中,所述编带机通知外观检测设备工作,所述外观检测设备自动加载检测模块,检测产品表面是否有缺陷或不对称,并将检测信息回传给所述编带机,所述编带机筛选出不合格产品以及对需要转向的产品进行转向;所述编带机将无法通过所述外观检测设备检测的产品信息反馈给所述测试机,所述测试机对所述产品的芯片进行方向测试,来判断产品是否需要转向。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:
1.编带机根据产品批次号信息对应的被提取的编带参数设定产品的编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数量这些参数,替代了以前人工手动修改参数,防止发生错误;
2.通过测试机将扫描枪读取到的随工单信息与第一数据库进行对比,将比对后的批次号信息反馈给编带机,编带机将测试机传送的批次号信息与第二数据库进行对比,信息对比正确后,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,并将被提取的编带参数回传给测试机,实现自动选择数据库进行对比,防止在执行测试模块的开启过程中,出现漏测的情况,减少了不良产品的流出,并且降低了人工成本。
附图说明
图1为本发明实施例1所述的一种数据库与设备同步的控制系统的结构图;
图2为本发明实施例2所述的一种数据库与设备同步的控制方法的流程图。
具体实施方式
下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例,凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。
实施例1
如图1所示,一种数据库与设备同步的控制系统,包括扫描枪、测试机、外观检测设备、编带机、第一数据库和第二数据库;
所述扫描枪与所述测试机之间通信连接,所述测试机与所述第一数据库和所述编带机之间通信连接,所述编带机与所述第二数据库和所述外观检测设备之间通信连接;
扫描枪:用于扫描随工单,将读取到的随工单信息反馈到所述测试机;
测试机:用于将所述随工单信息与所述第一数据库中的信息进行对比,并将对比正确的批次号信息调用给所述编带机;并且还用于将所述编带机回传的编带参数与所述第一数据库中的信息进行对比,比对结果一致时控制编带机工作;
编带机:用于接收测试机反馈的产品批次号信息,与所述第二数据库中的信息进行对比,当对比结果一致时,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,将所述被提取的编带参数回传到所述测试机;
外观检测设备:用于对生成出的产品的外观进行检测;
第一数据库:包括产品批次号信息、型号和芯片信息;
第二数据库:包括产品的编带参数,所述编带参数包括产品的批次号信息、编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数。
所述测试机与所述编带机之间通过RS232数据线进行通信。
采用上述技术方案,使用编带机自动设定参数信息,替代了以前人工手动修改参数,防止发生错误。
实施例2
如图2所示,一种数据库与设备同步的控制方法,包括以下步骤:
S1:使用扫描枪读取随工单信息;
S2:将读取的随工单信息反馈到测试机,将所述随工单信息与所述第一数据库中的信息进行对比,并将对比正确的批次号信息调用给所述编带机,用于确保随工单信息里的批次号信息与所述第一数据库里的批次号信息一致;
S3:所述测试机将与所述第一数据库对比正确的批次号信息调用给编带机;
S4:所述编带机接收到所述测试机传送的所述批次号信息后,并将所述批次号信息与所述第二数据库进行信息对比,当对比结果一致时,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,将所述被提取的编带参数回传到所述测试机;
S5:所述测试机接收到所述编带机回传的所述编带参数信息后,所述测试机再次将所述被提取的编带参数的产品批次号信息与所述第一数据库中的产品批次号信息进行对比,对比结果正确则进行生产,否则做出报警处理。
所述测试机与所述第一数据库对比的信息包括产品批次号信息、型号和芯片信息。
所述编带机与所述第二数据库对比的信息包括产品的编带参数,所述编带参数包括产品的批次号信息、编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数。
所述步骤S5还包括,对比结果正确,所述测试机启动生产,所述编带机根据产品批次号信息对应的被提取的编带参数进行参数设定。
所述步骤S5还包括,生产过程中,所述编带机通知外观检测设备工作,所述外观检测设备自动加载检测模块,检测产品表面是否有缺陷或不对称,并将检测信息回传给所述编带机,所述编带机筛选出不合格产品以及对需要转向的产品进行转向;所述编带机将无法通过所述外观检测设备检测的产品信息反馈给所述测试机,所述测试机对所述产品的芯片进行方向测试,来判断产品是否需要转向。
通过外观检测设备检测出的需要转向的产品,可直接通过编带机进行转向,无法通过所述外观检测设备检测出是否合格的产品,通过编带机将所述产品信息反馈给所述测试机,通过测试机测试产品内部的电参数,并判断产品的电极性,若判断出所述电极性与所述编带机预先设定的产品编带方向的电极性不同,则判断产品的转向角度,并将所述判断结果返回给所述编带机,所述编带机根据所述判断结果来执行产品的转向,转向之后产品会按照要求排成一致,然后进行打印,包装。
通过上述技术方案,能够防止在执行测试模块的开启过程中,出现漏测的情况,减少了不良产品的流出,并且降低了人工成本。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种数据库与设备同步的控制系统,其特征在于,包括扫描枪、测试机、外观检测设备、编带机、第一数据库和第二数据库;
所述扫描枪与所述测试机之间通信连接,所述测试机与所述第一数据库和所述编带机之间通信连接,所述编带机与所述第二数据库和所述外观检测设备之间通信连接;
扫描枪:用于扫描随工单,将读取到的随工单信息反馈到所述测试机;
测试机:用于将所述随工单信息与所述第一数据库中的信息进行对比,并将对比正确的批次号信息调用给所述编带机;并且还用于将所述编带机回传的编带参数与所述第一数据库中的信息进行对比,比对结果一致时控制编带机工作;
编带机:用于接收测试机反馈的产品批次号信息,与所述第二数据库中的信息进行对比,当对比结果一致时,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,将所述被提取的编带参数回传到所述测试机;
外观检测设备:用于对生成出的产品的外观进行检测;
第一数据库:包括产品批次号信息、型号和芯片信息;
第二数据库:包括产品的编带参数,所述编带参数包括产品的批次号信息、编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数。
2.根据权利要求1所述的一种数据库与设备同步的控制系统,其特征在于,所述测试机与所述编带机之间通过RS232数据线进行通信。
3.一种数据库与设备同步的控制方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:使用扫描枪读取随工单信息;
S2:将读取的随工单信息反馈到测试机,将所述随工单信息与第一数据库中的信息进行对比,并将对比正确的批次号信息调用给编带机,用于确保随工单信息里的批次号信息与所述第一数据库里的批次号信息一致;
S3:所述测试机将与所述第一数据库对比正确的批次号信息调用给编带机;
S4:所述编带机接收到所述测试机传送的所述批次号信息后,并将所述批次号信息与第二数据库进行信息对比,当对比结果一致时,获取对比结果正确的产品批次号信息对应的被提取的编带参数,将所述被提取的编带参数回传到所述测试机;
S5:所述测试机接收到所述编带机回传的所述编带参数信息后,所述测试机再次将所述被提取的编带参数的产品批次号信息与所述第一数据库中的产品批次号信息进行对比,对比结果正确则进行生产,否则做出报警处理。
4.根据权利要求3所述的一种数据库与设备同步的控制方法,其特征在于,所述测试机与所述第一数据库对比的信息包括产品批次号信息、型号和芯片信息。
5.根据权利要求3所述的一种数据库与设备同步的控制方法,其特征在于,所述编带机与所述第二数据库对比的信息包括产品的编带参数,所述编带参数包括产品的批次号信息、编带数量、产品编带方向,产品编带后前后空格数。
6.根据权利要求3所述的一种数据库与设备同步的控制方法,其特征在于,所述步骤S5还包括,对比结果正确,所述测试机启动生产,所述编带机根据产品批次号信息对应的被提取的编带参数进行参数设定。
7.根据权利要求3所述的一种数据库与设备同步的控制方法,其特征在于,所述步骤S5还包括,生产过程中,所述编带机通知外观检测设备工作,所述外观检测设备自动加载检测模块,检测产品表面是否有缺陷或不对称,并将检测信息回传给所述编带机,所述编带机筛选出不合格产品以及对需要转向的产品进行转向;所述编带机将无法通过所述外观检测设备检测的产品信息反馈给所述测试机,所述测试机对产品进行方向测试,并判断产品是否需要转向。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002284113A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-10-03 | Nippon Ritoru Kk | テーピング機 |
CN103645403A (zh) * | 2013-12-17 | 2014-03-19 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 一种半导体生产中电子元件测试系统及方法 |
CN103761187A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-04-30 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 一种基于编带转向的自动控制方法 |
CN106950937A (zh) * | 2017-05-10 | 2017-07-14 | 翁茂静 | 生产状况监控方法及系统 |
CN111252327A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-09 | 深圳赛意法微电子有限公司 | 一种卷盘自动包装生产线及卷盘包装方法 |
CN112382582A (zh) * | 2020-10-28 | 2021-02-19 | 海光信息技术股份有限公司 | 一种晶圆测试分类方法及系统 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3555859B2 (ja) * | 2000-03-27 | 2004-08-18 | 広島日本電気株式会社 | 半導体生産システム及び半導体装置の生産方法 |
-
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002284113A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-10-03 | Nippon Ritoru Kk | テーピング機 |
CN103645403A (zh) * | 2013-12-17 | 2014-03-19 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 一种半导体生产中电子元件测试系统及方法 |
CN103761187A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-04-30 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 一种基于编带转向的自动控制方法 |
CN106950937A (zh) * | 2017-05-10 | 2017-07-14 | 翁茂静 | 生产状况监控方法及系统 |
CN111252327A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-09 | 深圳赛意法微电子有限公司 | 一种卷盘自动包装生产线及卷盘包装方法 |
CN112382582A (zh) * | 2020-10-28 | 2021-02-19 | 海光信息技术股份有限公司 | 一种晶圆测试分类方法及系统 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
LED芯片分选机测试机构分析与改进设计;李莲喜;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20180715;I135-186 * |
半导体器件测试逃逸问题研究;许中华;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20170215;I135-330 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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