CN113325015A - 劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法 - Google Patents

劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113325015A
CN113325015A CN202110520233.4A CN202110520233A CN113325015A CN 113325015 A CN113325015 A CN 113325015A CN 202110520233 A CN202110520233 A CN 202110520233A CN 113325015 A CN113325015 A CN 113325015A
Authority
CN
China
Prior art keywords
diffraction
peak
sub
peaks
diffraction sub
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110520233.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113325015B (zh
Inventor
陈凯
寇嘉伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Jiaotong University
Original Assignee
Xian Jiaotong University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Jiaotong University filed Critical Xian Jiaotong University
Priority to CN202110520233.4A priority Critical patent/CN113325015B/zh
Publication of CN113325015A publication Critical patent/CN113325015A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113325015B publication Critical patent/CN113325015B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/2055Analysing diffraction patterns

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

公开了一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法,方法包括以下步骤:在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算衍射亚峰的积分强度,将衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;将在未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;对序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据各衍射亚峰Pi的积分强度,计算各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离为εi,在所有不属于序列L的未归类衍射亚峰中,寻找与序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其加入序列L;将序列L的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰。

Description

劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法
技术领域
本发明属于X射线衍射图谱分析领域,特别是一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法。
背景技术
作为一种高效的材料表征手段,X射线劳厄衍射被广泛用于多种材料的表征。基于劳厄衍射图谱,能够通过分析计算得到材料的取向、组成相和应变等各种信息。由于劳厄衍射原理简单,在进行衍射实验时无需转动样品、X射线光源或探测器的空间位置,从而能够实现劳厄图谱的快速采集,相比其他相似的表征手段,在速度上具有极大的优势。而在对劳厄衍射图谱进行标定后,通过对衍射峰位置的回归拟合,可以求解包括三维晶体取向,二阶应力应变张量等信息。使用诸如传统的X射线衍射技术、电子衍射技术等方法,都无法实现同时对这些材料信息的高精度表征。进而在材料表征领域,劳厄衍射有其不可替代的优势。
由于劳厄衍射的高角分辨率,有较大变形的实验材料所获得的衍射峰往往会劈裂成多个衍射亚峰。公知的在劳厄衍射图谱上寻峰的方法此时寻到的实际上就是衍射峰劈裂得到的多个衍射亚峰。在后续的对衍射亚峰的标定中,由于衍射亚峰实际上是一个衍射峰劈裂而来,且数量众多,会极大地干扰标定过程,标定过程往往会延长至少一倍以上,且常常会出现无法标定和标定错误的情况。对于一般的个人电脑,以现有的算法和商用化的软件,标定一张劈裂严重的石英的劳厄衍射图谱往往耗时会长达数分钟。而对于同样实验条件下,在没有变形的石英晶体上获得的劳厄衍射图谱,其标定时间往往仅有数秒。因此,如果可以自动化地识别同一个衍射峰所劈裂的衍射亚峰,并将其作为一个整体进行标定,可以大幅提高现有标定方法对于存在劈裂的衍射图谱的适用性。考虑到在实际实验中,多数材料都是存在变形的,识别同一衍射峰所劈裂的衍射亚峰对于提高衍射图谱标定分析效率十分重要。
在背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解,因此可能包含不构成在本国中本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提出一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法,提前处理存在劈裂的劳厄衍射图谱,将劈裂自同一衍射峰的衍射亚峰视为一个衍射峰进行标定,可以极大地降低劳厄衍射图谱分析的计算量,以大幅提高分析效率。
本发明的目的是通过以下技术方案予以实现:
一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法包括以下步骤:
第一步骤中,在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算所述衍射亚峰的积分强度,将所述衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;
第二步骤中,输入角度常量ε0。定义空序列L,将所述序列L中衍射亚峰记为Pi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第三步骤中,将在所述未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;
第四步骤中,对所述序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据所述各衍射亚峰Pi的积分强度,计算所述各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离εi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第五步骤中,在所有不属于所述序列L的所述未归类衍射亚峰中,寻找与所述序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于所述衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其加入所述序列L;
第六步骤中,如果第五步骤中有新的衍射亚峰被加入所述序列L,则跳至第四步骤;否则,将所述序列L中的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将所述序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰;
第七步骤中,清空所述序列L;
第八步骤中,如果还有所述未归类衍射亚峰未被重新标记为已归类衍射亚峰,则跳至第三步骤;否则,整个流程结束。
所述的方法中,所述衍射亚峰Pi对应的临界偏差距离为εi为:
Figure BDA0003062911280000031
Figure BDA0003062911280000032
其中Ii为所述衍射亚峰Pi的积分强度,Imax为所述衍射亚峰Pi所属的所述序列L中积分强度最大的衍射亚峰的积分强度。
所述的方法中,所述偏差距离Δε的计算方法如下,在探测器坐标系下,使用公知的方法计算两个衍射亚峰对应的单位衍射矢量并分别记为
Figure BDA0003062911280000033
Figure BDA0003062911280000034
两个衍射亚峰之间的所述偏差距离Δε为单位衍射矢量
Figure BDA0003062911280000035
Figure BDA0003062911280000036
之间的夹角。
所述的方法中,探测器坐标系为三维直角坐标系。
所述的方法中,常量ε0一般为0.7°。
和现有技术相比,本发明具有以下优点:本发明在处理数据时花费时间少,将劈裂自同一衍射峰的衍射亚峰视为一个衍射峰进行标定,可以极大地降低劳厄衍射图谱分析的计算量,以大幅提高分析效率。
附图说明
通过阅读下文优选的具体实施方式中的详细描述,本发明各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。说明书附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。显而易见地,下面描述的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。而且在整个附图中,用相同的附图标记表示相同的部件。
在附图中:
图1是本发明的劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法的劳厄衍射图谱示意图。
以下结合附图和实施例对本发明作进一步的解释。
具体实施方式
下面将参照附图1更详细地描述本发明的具体实施例。虽然附图中显示了本发明的具体实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明,并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。
需要说明的是,在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可以理解,技术人员可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名词的差异来作为区分组件的方式,而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”或“包括”为一开放式用语,故应解释成“包含但不限定于”。说明书后续描述为实施本发明的较佳实施方式,然所述描述乃以说明书的一般原则为目的,并非用以限定本发明的范围。本发明的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。
为便于对本发明实施例的理解,下面将结合附图以具体实施例为例做进一步的解释说明,且各个附图并不构成对本发明实施例的限定。
一个具体的劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法实施例包括以下步骤:
第一步骤S4中,在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算所述衍射亚峰的积分强度,将所述衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;
第二步骤S5中,输入角度常量ε0。定义空序列L,将所述序列L中衍射亚峰记为Pi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第三步骤S3中,将在所述未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;
第四步骤S4中,对所述序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据所述各衍射亚峰Pi的积分强度,计算所述各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离εi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第五步骤S5中,在所有不属于所述序列L的所述未归类衍射亚峰中,寻找与所述序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于所述衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其加入所述序列L;
第六步骤S6中,如果第五步骤S5中有新的衍射亚峰被加入所述序列L,则跳至第四步骤S4;否则,将所述序列L中的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将所述序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰;
第七步骤S7中,清空所述序列L;
第八步骤S8中,如果还有所述未归类衍射亚峰未被重新标记为已归类衍射亚峰,则跳至第三步骤S6;否则,整个流程结束。
所述的方法,其中,所述衍射亚峰Pi对应的临界偏差距离为εi为:
Figure BDA0003062911280000051
其中Ii为所述衍射亚峰Pi的积分强度,Imax为所述衍射亚峰Pi所属的所述序列L中积分强度最大的衍射亚峰的积分强度。
所述的方法的优选实施方式中,所述偏差距离Δε计算如下,在探测器坐标系下,计算两个衍射亚峰对应的单位衍射矢量并分别记为
Figure BDA0003062911280000052
Figure BDA0003062911280000053
两个衍射亚峰之间的所述偏差距离Δε为单位衍射矢量
Figure BDA0003062911280000054
Figure BDA0003062911280000055
之间的夹角。
所述的方法的优选实施方式中,探测器坐标系为三维直角坐标系。
所述的方法的优选实施方式中,常量ε0一般为0.7°。
为使对本发明的叙述更为清晰明了,现使用石英的劳厄衍射图谱为例具体描述本发明的具体实施步骤与技术细节。本具体实施方法中使用的劳厄衍射图谱如图1所示。方法为:
步骤1:在图1所示劳厄衍射图谱中寻衍射亚峰,共寻到衍射亚峰399个。计算这399个衍射亚峰的积分强度。将这399个衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰。
步骤2:输入常量ε0,这里ε0=0.7°。定义空序列L,将所述序列L中衍射亚峰记为Pi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列中衍射亚峰的数量。
步骤3:将所述未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L。
步骤4:对所述序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据所述各衍射亚峰Pi的积分强度,计算所述各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离εi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量。
步骤5:在所有不属于所述序列的所述未归类衍射亚峰中,寻找与所述序列L中任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于所述衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其将入所述序列L。
步骤6:如果步骤5中有新的衍射亚峰被加入所述序列L,则跳至步骤4;否则,将所述序列L中的所有衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将所述序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰。
步骤7:清空所述序列L。
步骤8:如果还有所述未归类衍射亚峰未被重新标记为已归类衍射亚峰,则跳至步骤3;否则流程结束。
本具体实施例步骤4中,基于衍射亚峰的积分强度Ii,衍射亚峰对应的临界偏差距离为εi可根据公式
Figure BDA0003062911280000061
计算,Imax为所述衍射亚峰Pi所属的所述序列L中积分强度最大的衍射亚峰的积分强度。
本具体实施例步骤5中,计算两个衍射亚峰之间偏差距离Δε的方法为:
在探测器坐标系下,计算两个衍射亚峰对应的单位衍射矢量并分别记为
Figure BDA0003062911280000062
Figure BDA0003062911280000063
这里
Figure BDA0003062911280000064
Figure BDA0003062911280000065
的具体计算方法为:读取两个衍射亚峰在探测器上的位置坐标,分别为(x1,y1)和(x2,y2)。建立探测器坐标系。读取探测器的空间转角α、β和γ,有
Figure BDA0003062911280000066
得到矩阵A后,读取该点样品上照射点到探测器平面的距离d,利用公式可得两个衍射亚峰对应X射线出射束kout,1和kout,2在探测器坐标系下为
Figure BDA0003062911280000071
又有入射X射线在探测器坐标系下为kin。则各衍射峰的衍射矢量
Figure BDA0003062911280000072
Figure BDA0003062911280000073
Figure BDA0003062911280000074
两个衍射亚峰之间的偏差距离Δε为单位衍射矢量
Figure BDA0003062911280000075
Figure BDA0003062911280000076
之间的夹角。
尽管以上结合附图对本发明的实施方案进行了描述,但本发明并不局限于上述的具体实施方案和应用领域,上述的具体实施方案仅仅是示意性的、指导性的,而不是限制性的。本领域的普通技术人员在本说明书的启示下和在不脱离本发明权利要求所保护的范围的情况下,还可以做出很多种的形式,这些均属于本发明保护之列。

Claims (5)

1.一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法,所述方法包括以下步骤:
第一步骤(S1)中,在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算所述衍射亚峰的积分强度,将所述衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;
第二步骤(S2)中,输入角度常量ε0,定义空序列L,将所述序列L中衍射亚峰记为Pi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第三步骤(S3)中,将在所述未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;
第四步骤(S4)中,对所述序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据所述各衍射亚峰Pi的积分强度,计算所述各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离εi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第五步骤(S5)中,在所有不属于所述序列L的所述未归类衍射亚峰中,寻找与所述序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于所述衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其加入所述序列L;
第六步骤(S6)中,如果第五步骤(S5)中有新的衍射亚峰被加入所述序列L,则跳至第四步骤(S4);否则,将所述序列L中的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将所述序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰;
第七步骤(S7)中,清空所述序列L;
第八步骤(S8)中,如果还有所述未归类衍射亚峰未被重新标记为已归类衍射亚峰,则跳至第三步骤(S3);否则,整个流程结束。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,优选的,所述衍射亚峰Pi对应的临界偏差距离为εi为:
Figure FDA0003062911270000011
其中Ii为所述衍射亚峰Pi的积分强度,Imax为所述衍射亚峰Pi所属的所述序列L中积分强度最大的衍射亚峰的积分强度。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述偏差距离Δε的计算如下,在探测器坐标系下,计算两个衍射亚峰对应的单位衍射矢量并分别记为
Figure FDA0003062911270000021
Figure FDA0003062911270000022
两个衍射亚峰之间的所述偏差距离Δε为单位衍射矢量
Figure FDA0003062911270000023
Figure FDA0003062911270000024
之间的夹角。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,探测器坐标系为三维直角坐标系。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,常量ε0为0.7°。
CN202110520233.4A 2021-05-12 2021-05-12 劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法 Active CN113325015B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110520233.4A CN113325015B (zh) 2021-05-12 2021-05-12 劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110520233.4A CN113325015B (zh) 2021-05-12 2021-05-12 劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113325015A true CN113325015A (zh) 2021-08-31
CN113325015B CN113325015B (zh) 2022-05-06

Family

ID=77415457

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110520233.4A Active CN113325015B (zh) 2021-05-12 2021-05-12 劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113325015B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040103130A1 (en) * 2002-08-06 2004-05-27 Igor Ivanisevic System and method for matching diffraction patterns
JP2010044002A (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 結晶の構造解析方法
CN106950237A (zh) * 2017-03-10 2017-07-14 西安交通大学 一种基于峰间夹角比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法
CN106950234A (zh) * 2017-03-10 2017-07-14 西安交通大学 一种劳厄衍射扫描数据的衍射峰空间分布比对分析法
CN106959312A (zh) * 2017-03-10 2017-07-18 西安交通大学 一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法
CN107817258A (zh) * 2017-10-24 2018-03-20 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种基于x射线衍射图谱分峰拟合的液体硅橡胶老化程度评估方法
CN109507219A (zh) * 2018-10-24 2019-03-22 西安交通大学 一种自动分析扫描式劳厄衍射图谱中衍射峰峰形的方法
WO2019220737A1 (ja) * 2018-05-14 2019-11-21 株式会社リガク グラフェン前駆体の判別方法、判別装置および判別プログラム
CN110927190A (zh) * 2019-12-18 2020-03-27 西安交通大学 在劳厄衍射图谱中识别同一晶带轴衍射峰的方法
CN111398324A (zh) * 2020-03-31 2020-07-10 深圳晶泰科技有限公司 一种粉末x射线衍射图谱的衍射峰定标方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040103130A1 (en) * 2002-08-06 2004-05-27 Igor Ivanisevic System and method for matching diffraction patterns
JP2010044002A (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 結晶の構造解析方法
CN106950237A (zh) * 2017-03-10 2017-07-14 西安交通大学 一种基于峰间夹角比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法
CN106950234A (zh) * 2017-03-10 2017-07-14 西安交通大学 一种劳厄衍射扫描数据的衍射峰空间分布比对分析法
CN106959312A (zh) * 2017-03-10 2017-07-18 西安交通大学 一种基于峰位比对的扫描式劳厄衍射图谱分析方法
CN107817258A (zh) * 2017-10-24 2018-03-20 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种基于x射线衍射图谱分峰拟合的液体硅橡胶老化程度评估方法
WO2019220737A1 (ja) * 2018-05-14 2019-11-21 株式会社リガク グラフェン前駆体の判別方法、判別装置および判別プログラム
CN109507219A (zh) * 2018-10-24 2019-03-22 西安交通大学 一种自动分析扫描式劳厄衍射图谱中衍射峰峰形的方法
CN110927190A (zh) * 2019-12-18 2020-03-27 西安交通大学 在劳厄衍射图谱中识别同一晶带轴衍射峰的方法
CN111398324A (zh) * 2020-03-31 2020-07-10 深圳晶泰科技有限公司 一种粉末x射线衍射图谱的衍射峰定标方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HEMANT SHARMA等: "A fast methodology to determine the characteristics of thousands of grains using three-dimensional X-ray diffraction. I. Overlapping diffraction peaks and parameters of the experimental setup", 《JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY》 *
JIAWEI KOU等: "A peak position comparison method for high-speed quantitative Laue microdiffraction data processing", 《SCRIPTA MATERIALIA》 *
潘志豪等: "晶体材料微观结构的同步辐射白光劳厄微衍射研究", 《中国材料进展》 *
王兆伟等: "XtalCAMP:同步辐射微衍射成像的软件开发及应用", 《失效分析与预防》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN113325015B (zh) 2022-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Burssens et al. Variability of OB stars from TESS southern Sectors 1–13 and high-resolution IACOB and OWN spectroscopy
Richard et al. Mass and magnification maps for the Hubble Space Telescope Frontier Fields clusters: implications for high-redshift studies
Orlova et al. Structural analysis of macromolecular assemblies by electron microscopy
Healey et al. CRATES: an all-sky survey of flat-spectrum radio sources
Gildea et al. New methods for indexing multi-lattice diffraction data
Brand et al. The Chandra xboötes survey. III. Optical and near-infrared counterparts
Orkisz et al. A dynamically young, gravitationally stable network of filaments in Orion B
Carroll et al. A high reliability survey of discrete Epoch of Reionization foreground sources in the MWA EoR0 field
Snellen et al. The CORALZ sample–I. Young radio-loud active galactic nuclei at low redshift
He et al. Full-length de novo protein structure determination from cryo-EM maps using deep learning
CN113325015B (zh) 劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法
Benaglia et al. Cygnus survey with the Giant Metrewave Radio Telescope at 325 and 610 MHz: the catalog
Chen et al. An intelligent vision recognition method based on deep learning for pointer meters
Morawiec Indexing of diffraction patterns for determination of crystal orientations
CN109346125B (zh) 一种快速精确的蛋白质绑定口袋结构对齐方法
Gallegos et al. Unsupervised learning methods to perform material identification tasks on spectral computed tomography data
Lotz et al. Comparison of consecutive and restained sections for image registration in histopathology
CN110927191B (zh) 劳厄衍射图谱的标定方法
Machalski The revised GB/GB2 sample of extragalactic radio sources
Kolesnikova et al. New variable stars on digitized Moscow collection plates. The field of 66 Ophiuchi
Broersen et al. Automated, feature-based image alignment for high-resolution imaging mass spectrometry of large biological samples
CN113325016B (zh) 存在衍射峰劈裂的劳厄衍射图谱中标定多个亚晶的方法
CN110927190A (zh) 在劳厄衍射图谱中识别同一晶带轴衍射峰的方法
Bob et al. Locality-sensitive hashing enables efficient and scalable signal classification in high-throughput mass spectrometry raw data
Chionh et al. Augmenting SSEs with structural properties for rapid protein structure comparison

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant