CN113311962A - 触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备,包括:获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于显示测试图像确定被测触摸屏的故障发光组;其中,被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管;在被测触摸屏处于显示状态时,采集故障发光组的发光组图像;其中,发光组图像包含故障发光组对应的至少一个光斑区域;基于发光组图像包含的光斑区域,从故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管;根据目标二极管确定故障发光组对应的故障信息。本发明可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题。
Description
技术领域
本发明涉及故障定位技术领域,尤其是涉及一种触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备。
背景技术
目前市场上随着自助服务设备各种设备应用日益广泛,红外触摸屏应用的越来越多,其中,触摸不灵为红外触摸屏的常见故障。然而,相关技术中提供的故障检测方法无法快速定位故障所在位置,导致红外触摸屏处理维修难度较大,不仅致使维修成本较高,而且还严重影响了维修效率。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备,可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题。
第一方面,本发明实施例提供了一种触摸屏故障的确定方法,包括:获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于所述显示测试图像确定所述被测触摸屏的故障发光组;其中,所述被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管;在所述被测触摸屏处于显示状态时,采集所述故障发光组的发光组图像;其中,所述发光组图像包含所述故障发光组对应的至少一个光斑区域;基于所述发光组图像包含的所述光斑区域,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管;根据所述目标二极管确定所述故障发光组对应的故障信息。
在一种实施方式中,所述获取被测触摸屏的显示测试图像的步骤,包括:接收被测触摸屏发送的显示测试图像;其中,所述被测触摸屏提供图形用户界面,所述显示测试图像是所述被测触摸屏基于针对所述图形用户界面的滑动操作生成的,所述显示测试图像用于体现所述滑动操作对应的滑动轨迹。
在一种实施方式中,所述基于所述显示测试图像确定所述被测触摸屏的故障发光组的步骤,包括:判断所述显示测试图像中的滑动轨迹是否存在断续部分;如果是,将所述断续部分对应的发光组,确定为所述被测触摸屏的故障发光组。
在一种实施方式中,所述在所述被测触摸屏处于显示状态时,采集所述故障发光组的发光组图像的步骤,包括:在所述被测触摸屏处于显示状态时,通过红外摄像设备采集所述故障发光组的发光组图像。
在一种实施方式中,所述基于所述发光组图像包含的所述光斑区域,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管的步骤,包括:确定与所述故障发光组内每个发光二极管分别对应的光斑区域;根据每个光斑区域的亮度值,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管。
在一种实施方式中,所述根据每个光斑区域的亮度值,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管的步骤,包括:对于每个光斑区域,判断该光斑区域的亮度值是否小于预设亮度阈值;如果是,确定该光斑区域对应的发光二极管为目标二极管。
在一种实施方式中,每个所述发光组还包括PNP三极管、NPN三极管和控制芯片,所述NPN三极管的数量与所述发光二极管的数量相同,所述PNP三极管和所述控制芯片的数量均为一个;所述PNP三极管的集电极与每个所述发光二极管的正极电连接,每个所述发光二极管的负极分别与每个所述NPN三极管的集电极电连接,每个所述NPN三极管的基极与所述控制芯片电连接;所述根据所述目标二极管确定所述故障发光组对应的故障信息的步骤,包括:确定所述故障发光组对应的故障信息为所述目标二极管损坏;或,确定所述故障发光组对应的故障信息为与所述目标二极管电连接的NPN三极管损坏;或,确定所述故障发光组对应的故障信息为所述控制芯片损坏。
第二方面,本发明实施例还提供一种触摸屏故障的确定装置,包括:第一故障确定模块,用于获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于所述显示测试图像确定所述被测触摸屏的故障发光组;其中,所述被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管;图像采集模块,用于在所述被测触摸屏处于显示状态时,采集所述故障发光组的发光组图像;其中,所述发光组图像包含所述故障发光组对应的至少一个光斑区域;二极管确定模块,用于基于所述发光组图像包含的所述光斑区域,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管;第二故障确定模块,用于根据所述目标二极管确定所述故障发光组对应的故障信息。
第三方面,本发明实施例还提供一种电子设备,包括处理器和存储器;所述存储器上存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理器运行时执行如第一方面提供的任一项所述的方法。
第四方面,本发明实施例还提供一种计算机存储介质,用于储存为第一方面提供的任一项所述方法所用的计算机软件指令。
本发明实施例提供的一种触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备,首先获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于显示测试图像确定被测触摸屏的故障发光组,其中,上述被测触摸屏配置有多个发光组,且每个发光组均包括多个发光二极管,在被测触摸屏处于显示状态时,采集故障发光组的发光组图像(包含故障发光组对应的至少一个光斑区域),然后基于发光组图像包含的光斑区域,从故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管,以根据目标二极管确定故障发光组对应的故障信息。上述方法首先基于显示测试图像粗略确定存在故障的故障发光组,然后基于故障发光组对应的发光组图像包含的光斑区域进一步确定目标二极管,从而在目标二极管的基础上快速确定故障信息,本发明实施例可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种触摸屏故障的确定方法的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的一种显示测试图像的示意图;
图3为本发明实施例提供的一种被测触摸屏的电路结构;
图4为本发明实施例提供的一种触摸屏故障的确定装置的结构示意图;
图5为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
目前,相关技术提供的一种故障检测方法中,需要控制红外触摸屏上第n个红外发射管发射红外线,第n个红外发射管所发射的红外线将覆盖对端的至少两个红外接收管,检测被第n个红外发射管发射的红外线所覆盖的红外接收管是否接收到第n个红外发射管发射的红外线,根据检测结果判断第n个红外发射管以及被其发射的红外线所覆盖对端红外接收管是否正常。上述故障检测方法需要依次检测红外触摸屏内每个红外发射管,无法快速定位故障所在位置,导致红外触摸屏处理维修难度较大,不仅致使维修成本较高,而且还严重影响了维修效率。基于此,本发明实施提供了一种触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备,可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题。
为便于对本实施例进行理解,首先对本发明实施例所公开的一种触摸屏故障的确定方法进行详细介绍,参见图1所示的一种触摸屏故障的确定方法的流程示意图,该方法主要包括以下步骤S102至步骤S108:
步骤S102,获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于显示测试图像确定被测触摸屏的故障发光组。其中,被测触摸屏可以为红外触摸屏,被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管。在一种实施方式中,可以接受被测触摸屏发送的显示测试图像,也可以通过图像采集设备采集被测触摸屏的显示测试图像,显示测试图像可以用于体现被测触摸屏存在显示故障的区域,从而将该区域对应的发光组确定为故障发光组,故障发光组的数量可以为一个或多个。
步骤S104,在被测触摸屏处于显示状态时,采集故障发光组的发光组图像。其中,发光组图像包含故障发光组对应的至少一个光斑区域,假设发光二极管可以正常发光时,此时采集该发光二极管的图像,图像中将包括该发光二极管对应的光斑区域。在一种可选的实施方式中,如果被测触摸屏为红外触摸屏,被测触摸屏内的发光二极管将发射红外光,此时可以通过红外摄像设备采集发光组图像。
步骤S106,基于发光组图像包含的光斑区域,从故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管。在被测触摸屏无故障的情况下,发光组图像将包含于每个发光二极管分别对应的光斑区域,且发光组图像内光斑区域的亮度值通常高于发光组图像内其它区域的亮度值;在被测触摸屏存在故障的情况下,由于故障二极管不发光或发光亮度较低,因此发光组图像内将不存在该故障二极管对应的光斑区域,或发光组图像内与该故障二极管对应的光斑区域的亮度值小于预设亮度阈值。基于此,可以基于每个光斑区域的亮度值从故障发光组内的发光二极管中确定存在故障的目标二极管。
步骤S108,根据目标二极管确定故障发光组对应的故障信息。其中,故障发光组对应的故障信息可以包括目标二极管损坏、与目标二极管电连接的NPN(Negative-Positive-Negative)三极管损坏、控制芯片损坏等多种情况,可以根据与目标二极管相连的NPN三极管或目标二极管所在的发光组,确定具体的故障信息。
本发明实施例提供的上述触摸屏故障的确定方法,首先基于显示测试图像粗略确定存在故障的故障发光组,然后基于故障发光组对应的发光组图像包含的光斑区域进一步确定目标二极管,从而在目标二极管的基础上快速确定故障信息,本发明实施例可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题。
为便于对上述步骤S102进行理解,本发明实施例提供了一种获取被测触摸屏的显示测试图像的实施方式,可以接收被测触摸屏发送的显示测试图像。其中,被测触摸屏提供图形用户界面,显示测试图像是被测触摸屏基于针对图形用户界面的滑动操作生成的,显示测试图像用于体现滑动操作对应的滑动轨迹。为便于理解,参见图2所示的一种显示测试图像的示意图,被测触摸屏响应打开触摸屏网格测试界面的操作,通过图形用户界面显示触摸屏网格测试界面,被测触摸屏再响应作用于该触摸屏网格测试界面的滑动操作,通过图形用户界面显示滑动操作对应的滑动轨迹,即可得到显示测试图像。例如,工程师在被测触摸屏上画出“X”型滑动轨迹,触摸屏网格测试界面将以指定颜色(诸如红色)显示该“X”型滑动轨迹。
在上述图2的基础上,本发明实施例还提供了一种基于显示测试图像确定被测触摸屏的故障发光组的实施方式,可以判断显示测试图像中的滑动轨迹是否存在断续部分,并在判断结果为是时,将断续部分对应的发光组,确定为被测触摸屏的故障发光组。请继续参见图2,图2还示意出了显示测试图像中的“X”型滑动轨迹存在断续部分1和断续部分2,此时可以将断续部分1和断续部分2各自对应的发光组确定为故障发光组,从而初步判断被测触摸屏中存在故障的区域。
在另一种可选的实施方式中,也可以通过图像采集设备拍摄触摸屏网格测试界面的图像,并将该图像作为显示测试图像,从而根据显示测试图像中包含的滑动轨迹确定故障发光组。在另一种可选的实施方式中,可以由工程师人为观察触摸屏网格测试界面,再人为确定故障发光组。具体可基于实际需求选择所需的方式确定被测触摸屏的故障发光组,本发明实施例对此不进行限制。
另外,在执行上述步骤S104时,可以在被测触摸屏处于显示状态时,通过红外摄像设备采集故障发光组的发光组图像。其中,红外摄像设备可以包括红外摄像探头或手机摄像头等,由于红外摄像设备可以采集到发光二极管发射的红外光,因此可以得到光斑效果较好的发光组图像,从而提高确定存在故障的目标二极管的可靠程度。
考虑到在被测触摸屏处于显示状态时,正常情况下被测触摸屏内每个发光二极管均应发出红外光,发光组图像中应包含每个发光二极管对应的光斑区域,且每个光斑区域的亮度值均应高于预设亮度阈值,基于此,本发明实施例提供了一种基于发光组图像包含的光斑区域从故障发光组内进一步确定存在故障的目标二极管的实施方式,(1)确定与故障发光组内每个发光二极管分别对应的光斑区域。其中,光斑区域可以理解为发光二极管发光时在红外摄像设备中的成像。(2)根据每个光斑区域的亮度值,从故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管。在一种实施方式中,对于每个光斑区域,判断该光斑区域的亮度值是否小于预设亮度阈值,并在判断结果为是时,确定该光斑区域对应的发光二极管为目标二极管。在实际应用中,如果某发光二极管存在故障,则该发光二极管在发光组图像中将不存在对应的光斑区域,也可理解为该发光二极管在发光组图像中对应的光斑区域的亮度值为0;或者该发光二极管在发光组图像中对应的光斑区域的亮度值较低。例如,假设一组发光二极管ED3001至ED3008,根据发光组图像从上组发光二极管中确定可正常发光的发光二极管,以及不可正常发光的发光二极管(例如,ED3003、ED3004、ED3005),其中,不可正常发光的发光二极管即为目标二极管。
可选的,故障发光组对应的故障信息可以包括目标二极管损坏、与目标二极管电连接的NPN三极管损坏、控制芯片损坏等多种情况。在一种实施方式中,每个发光组还包括PNP(Positive-Negative-Positive)三极管、NPN三极管和控制芯片,NPN三极管的数量与发光二极管的数量相同,PNP三极管和控制芯片的数量均为一个;PNP三极管的集电极与每个发光二极管的正极电连接,每个发光二极管的负极分别与每个NPN三极管的集电极电连接,每个NPN三极管的基极与控制芯片电连接。
为便于理解,本发明实施例提供了一种被测触摸屏的具体结构,参见图3所示的一种被测触摸屏的电路结构,图3中示意出PNP三极管HQ3001的基极与控制芯片U3001(HC164)电连接,PNP三极管HQ3001的发射集与控制芯片U3003电连接,PNP三极管HQ3001的集电极与发光二极管ED3001至ED3008的正极电连接,发光二极管ED3001至ED3008的负极分别与NPN三极管LQ3001至LQ3008的集电极电连接,例如,发光二极管ED3001的负极与NPN三极管LQ3001电连接,发光二极管ED3002的负极与NPN三极管LQ3002电连接,NPN三极管LQ3001至LQ3008的基极均与控制芯片U3002(HC238)电连接,NPN三极管LQ3001至LQ3008的发射集均接地。
在图3的基础上,本发明实施例提供了一种触摸屏故障的确定方法的具体应用示例,由于根据发光二极管的正极和负极连接方式得知,发光二极管ED3001至ED3008de正极均连接PNP三极管HQ3001的集电极,该PNP三极管控制ED3001至ED3008的正极,该组发光二极管的正极都是相通的,因为ED3001、ED3002、ED3006、ED3007、ED3008可以发光,说明其正极电路未发生故障,因此推断发光二极管的负极发生故障。其中,该组发光二极管中的ED3003、ED3004、ED3005负极受控于NPN三极管LQ3003、LQ3004、LQ3005,因此,可以得知故障原因可能为发光二极管ED3003、ED3004、ED3005,还可能为NPN三极管LQ3003、LQ3004、LQ3005,还可能为控制芯片U3002。一般情况下三个NPN三极管同时损坏的几率很小,因此直接更换U3002即可解决问题。
综上所述,本发明实施例可以在触摸屏网格测试界面的基础上初步确定存在故障的故障发光组,并对该故障发光组的发光组图像进行采集,从而进一步从故障发光组图像中确定存在问题的目标二极管,依次快速定位被测触摸屏的故障原因,本发明实施例可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题,进而增加维修收入。
对于前述实施例提供的触摸屏故障的确定方法,本发明实施例提供了一种触摸屏故障的确定装置,参见图4所示的一种触摸屏故障的确定装置的结构示意图,该装置主要包括以下部分:
第一故障确定模块402,用于获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于显示测试图像确定被测触摸屏的故障发光组;其中,被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管。
图像采集模块404,用于在被测触摸屏处于显示状态时,采集故障发光组的发光组图像;其中,发光组图像包含故障发光组对应的至少一个光斑区域。
二极管确定模块406,用于基于发光组图像包含的光斑区域,从故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管。
第二故障确定模块408,用于根据目标二极管确定故障发光组对应的故障信息。
本发明实施例提供的上述触摸屏故障的确定装置,首先基于显示测试图像粗略确定存在故障的故障发光组,然后基于故障发光组对应的发光组图像包含的光斑区域进一步确定目标二极管,从而在目标二极管的基础上快速确定故障信息,本发明实施例可以有效降低触摸屏的维修难度,显著改善了维修成本较高、维修效率较低的问题。
在一种实施方式中,第一故障确定模块402还用于:接收被测触摸屏发送的显示测试图像;其中,被测触摸屏提供图形用户界面,显示测试图像是被测触摸屏基于针对图形用户界面的滑动操作生成的,显示测试图像用于体现滑动操作对应的滑动轨迹。
在一种实施方式中,第一故障确定模块402还用于:判断显示测试图像中的滑动轨迹是否存在断续部分;如果是,将断续部分对应的发光组,确定为被测触摸屏的故障发光组。
在一种实施方式中,图像采集模块404还用于:在被测触摸屏处于显示状态时,通过红外摄像设备采集故障发光组的发光组图像。
在一种实施方式中,二极管确定模块406还用于:确定与故障发光组内每个发光二极管分别对应的光斑区域;根据每个光斑区域的亮度值,从故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管。
在一种实施方式中,二极管确定模块406还用于:对于每个光斑区域,判断该光斑区域的亮度值是否小于预设亮度阈值;如果是,确定该光斑区域对应的发光二极管为目标二极管。
在一种实施方式中,每个发光组还包括PNP三极管、NPN三极管和控制芯片,NPN三极管的数量与发光二极管的数量相同,PNP三极管和控制芯片的数量均为一个;PNP三极管的集电极与每个发光二极管的正极电连接,每个发光二极管的负极分别与每个NPN三极管的集电极电连接,每个NPN三极管的基极与控制芯片电连接;第二故障确定模块408还用于:确定故障发光组对应的故障信息为目标二极管损坏;或,确定故障发光组对应的故障信息为与目标二极管电连接的NPN三极管损坏;或,确定故障发光组对应的故障信息为控制芯片损坏。
本发明实施例所提供的装置,其实现原理及产生的技术效果和前述方法实施例相同,为简要描述,装置实施例部分未提及之处,可参考前述方法实施例中相应内容。
本发明实施例提供了一种电子设备,具体的,该电子设备包括处理器和存储装置;存储装置上存储有计算机程序,计算机程序在被所述处理器运行时执行如上所述实施方式的任一项所述的方法。
图5为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图,该电子设备100包括:处理器50,存储器51,总线52和通信接口53,所述处理器50、通信接口53和存储器51通过总线52连接;处理器50用于执行存储器51中存储的可执行模块,例如计算机程序。
其中,存储器51可能包含高速随机存取存储器(RAM,Random Access Memory),也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatile memory),例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个通信接口53(可以是有线或者无线)实现该系统网元与至少一个其他网元之间的通信连接,可以使用互联网,广域网,本地网,城域网等。
总线52可以是ISA总线、PCI总线或EISA总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图5中仅用一个双向箭头表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
其中,存储器51用于存储程序,所述处理器50在接收到执行指令后,执行所述程序,前述本发明实施例任一实施例揭示的流过程定义的装置所执行的方法可以应用于处理器50中,或者由处理器50实现。
处理器50可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤可以通过处理器50中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器50可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)、网络处理器(Network Processor,简称NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessing,简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成,或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器,闪存、只读存储器,可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器51,处理器50读取存储器51中的信息,结合其硬件完成上述方法的步骤。
本发明实施例所提供的可读存储介质的计算机程序产品,包括存储了程序代码的计算机可读存储介质,所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法,具体实现可参见前述方法实施例,在此不再赘述。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本发明的具体实施方式,用以说明本发明的技术方案,而非对其限制,本发明的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种触摸屏故障的确定方法,其特征在于,包括:
获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于所述显示测试图像确定所述被测触摸屏的故障发光组;其中,所述被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管;
在所述被测触摸屏处于显示状态时,采集所述故障发光组的发光组图像;其中,所述发光组图像包含所述故障发光组对应的至少一个光斑区域;
基于所述发光组图像包含的所述光斑区域,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管;
根据所述目标二极管确定所述故障发光组对应的故障信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取被测触摸屏的显示测试图像的步骤,包括:
接收被测触摸屏发送的显示测试图像;其中,所述被测触摸屏提供图形用户界面,所述显示测试图像是所述被测触摸屏基于针对所述图形用户界面的滑动操作生成的,所述显示测试图像用于体现所述滑动操作对应的滑动轨迹。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述显示测试图像确定所述被测触摸屏的故障发光组的步骤,包括:
判断所述显示测试图像中的滑动轨迹是否存在断续部分;
如果是,将所述断续部分对应的发光组,确定为所述被测触摸屏的故障发光组。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述被测触摸屏处于显示状态时,采集所述故障发光组的发光组图像的步骤,包括:
在所述被测触摸屏处于显示状态时,通过红外摄像设备采集所述故障发光组的发光组图像。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述发光组图像包含的所述光斑区域,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管的步骤,包括:
确定与所述故障发光组内每个发光二极管分别对应的光斑区域;
根据每个光斑区域的亮度值,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据每个光斑区域的亮度值,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管的步骤,包括:
对于每个光斑区域,判断该光斑区域的亮度值是否小于预设亮度阈值;
如果是,确定该光斑区域对应的发光二极管为目标二极管。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个所述发光组还包括PNP三极管、NPN三极管和控制芯片,所述NPN三极管的数量与所述发光二极管的数量相同,所述PNP三极管和所述控制芯片的数量均为一个;所述PNP三极管的集电极与每个所述发光二极管的正极电连接,每个所述发光二极管的负极分别与每个所述NPN三极管的集电极电连接,每个所述NPN三极管的基极与所述控制芯片电连接;
所述根据所述目标二极管确定所述故障发光组对应的故障信息的步骤,包括:
确定所述故障发光组对应的故障信息为所述目标二极管损坏;
或,确定所述故障发光组对应的故障信息为与所述目标二极管电连接的NPN三极管损坏;
或,确定所述故障发光组对应的故障信息为所述控制芯片损坏。
8.一种触摸屏故障的确定装置,其特征在于,包括:
第一故障确定模块,用于获取被测触摸屏的显示测试图像,并基于所述显示测试图像确定所述被测触摸屏的故障发光组;其中,所述被测触摸屏配置有多个发光组,每个发光组均包括多个发光二极管;
图像采集模块,用于在所述被测触摸屏处于显示状态时,采集所述故障发光组的发光组图像;其中,所述发光组图像包含所述故障发光组对应的至少一个光斑区域;
二极管确定模块,用于基于所述发光组图像包含的所述光斑区域,从所述故障发光组内的发光二极管中确定目标二极管;
第二故障确定模块,用于根据所述目标二极管确定所述故障发光组对应的故障信息。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器;
所述存储器上存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理器运行时执行如权利要求1至7任一项所述的方法。
10.一种计算机存储介质,其特征在于,用于储存为权利要求1至7任一项所述方法所用的计算机软件指令。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110596854.0A CN113311962B (zh) | 2021-05-28 | 2021-05-28 | 触摸屏故障的确定方法、装置及电子设备 |
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113311962A true CN113311962A (zh) | 2021-08-27 |
CN113311962B CN113311962B (zh) | 2022-10-28 |
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113311962B (zh) |
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