CN113281768A - 一种激光测量系统 - Google Patents

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王伟毅
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Hangzhou Great Star Tools Co Ltd
Hangzhou Great Star Industrial Co Ltd
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Hangzhou Great Star Tools Co Ltd
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    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
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Abstract

本发明公开了一种激光测量系统,包括:第一发射模块,发射激光;第二发射模块,发射激光,与第一发射模块的出射方向不同;分光模块,设置于两束激光的反射光路的交汇区域,并汇总光束;接收模块,接收分光模块汇总光束并转换为电信号。本发明的实质性效果包括:仅使用一个分光模块和接收模块实现双激光的测距,只需要一套控制电路,节省了材料成本,降低了功耗,生产组装更简单。

Description

一种激光测量系统
技术领域
本发明涉及激光测距领域,特别涉及一种激光测量系统。
背景技术
激光测距已经广泛应用在建筑、装修、家居、生产制造等专业和非专业领域,给消费者以更快捷方便准确的测绘信息获取和拓展性开发做数据和信息支撑。如公开号CN203535218U的实用新型公开了一种激光测距光路装置。大部分通用激光测距仪器,都是点对点、一对一测试,随着专业和特殊应用领域分支的场景细分,市面上涌现了一些双激光测量方案和产品,例如垂直激光测距,方便更快速和精准的获取面积和体积数据,方便装修工程的涂层和铺装材料计算。例如双向激光测距,对测距基准位置的选择有更多的灵活性和便捷性。又如角度可调的双激光测量,集合了角度和激光测距信息数据的复合场景运用和运算,满足了更多的使用场景。
但是市面上多数的双激光测距方案,都是两个激光测距模块的简单叠加,也就是两个激光测距仪的1+1拼接,这样制造成本和材料成本都是成倍的增加,并且在产品能耗上面也是两个测距仪的需求,这就需要外挂更大的电源驱动,可以理解为现有技术仍然停留在将两个测距仪一起使用的阶段,而非真正意义上的双激光测距。
发明内容
针对现有技术缺少真正双激光测距系统的问题,本发明提供了一种激光测量系统,合理利用光学分光光路,利用同一套系统实现两个不同方向的测量。
以下是本发明的技术方案。
一种激光测量系统,包括:第一发射模块,发射激光;第二发射模块,发射激光,与第一发射模块的出射方向不同;分光模块,设置于两束激光的反射光路的交汇区域,并汇总光束;接收模块,接收分光模块汇总光束并转换为电信号。
本发明仅使用一个分光模块和接收模块实现双激光的测距,只需要一套控制电路,节省了材料成本,降低了功耗,生产组装更简单。
作为优选,所述第一发射模块的出射方向与第二发射模块的出射方向垂直。
作为优选,所述分光模块包括分光镜,所述分光镜包括透射面以及半反半透面,所述第一发射模块和第二发射模块之一的反射光经过透射面以及半反半透面透射至接收模块,另一束反射光经过半反半透面反射后进入接收模块。分光镜一般为三棱柱。
作为优选,所述第一发射模块的出射方向与第二发射模块的出射方向相反。
作为优选,所述分光模块包括分光镜,所述分光镜包括透射面、第一半反半透面以及第二半反半透面,所述第一发射模块和第二发射模块之一的反射光经过透射面后经过第一半反半透面反射,再经过第二半反半透面透射后进入接收模块,另一束反射光经过第二半反半透面反射后进入接收模块。分光镜一般为三棱柱。
作为优选,还包括第三发射模块,发射模块之间出射方向呈十字形,所述分光模块包括四锥镜,所述四锥镜表面镀有反射膜,发射模块出射的激光反回后分别经过四锥镜的不同反射膜反射至接收模块。根据需求还可以增加第四发射模块,以完全利用四锥镜多个面的反射膜。
作为优选,所述透射面包括AR增透膜。AR增透膜是镀在分光镜表面。
本发明的实质性效果包括:使用一个分光模块和接收模块实现多激光的测距,只需要一套控制电路,节省了材料成本,降低了功耗,生产组装更简单。
附图说明
图1是本发明实施例1的示意图;
图2是本发明实施例2的示意图;
图3是本发明实施例3的示意图;
图中包括:1-第一发射模块、2-第二发射模块、3-分光模块、4-接收模块。
具体实施方式
下面将结合实施例,对本申请的技术方案进行描述。另外,为了更好的说明本发明,在下文中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解,没有某些具体细节,本发明同样可以实施。在一些实例中,对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未做详细描述,以便于凸显本发明的主旨。
实施例1:
一种激光测量系统,如图1所示,包括:第一发射模块1,发射激光;第二发射模块2,发射激光,与第一发射模块的出射方向不同;分光模块3,设置于两束激光的反射光路的交汇区域,并汇总光束;接收模块4,接收分光模块汇总光束并转换为电信号。
本实施例仅使用一个分光模块和接收模块实现双激光的测距,只需要一套控制电路,节省了材料成本,降低了功耗,生产组装更简单。
本实施例的第一发射模块的出射方向与第二发射模块的出射方向垂直。
其中分光模块包括分光镜,分光镜包括透射面以及半反半透面,第一发射模块和第二发射模块之一的反射光经过透射面以及半反半透面透射至接收模块,另一束反射光经过半反半透面反射后进入接收模块。分光镜一般为三棱柱。透射面包括AR增透膜。AR增透膜是镀在分光镜表面。
实施例2:
如图2所示,本实施例与上一实施例的区别在于,第一发射模块的出射方向与第二发射模块的出射方向相反。
其中分光模块包括分光镜,分光镜包括透射面、第一半反半透面以及第二半反半透面,第一发射模块和第二发射模块之一的反射光经过透射面后经过第一半反半透面反射,再经过第二半反半透面透射后进入接收模块,另一束反射光经过第二半反半透面反射后进入接收模块。分光镜一般为三棱柱。
实施例3:
如图3所示,本实施例与上一实施例的区别在于,还包括第三发射模块,发射模块之间出射方向呈十字形,所述分光模块包括四锥镜,所述四锥镜表面镀有反射膜,发射模块出射的激光反回后分别经过四锥镜的不同反射膜反射至接收模块。
上述实施例的实质性效果包括:使用一个分光模块和接收模块实现多激光的测距,只需要一套控制电路,节省了材料成本,降低了功耗,生产组装更简单。
通过以上实施方式的描述,所属领域的技术人员可以了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将具体装置的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是一个物理单元或多个物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个不同地方。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中
以上内容,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种激光测量系统,其特征在于,包括:
第一发射模块,发射激光;
第二发射模块,发射激光,与第一发射模块的出射方向不同;
分光模块,设置于两束激光的反射光路的交汇区域,并汇总光束;
接收模块,接收分光模块汇总光束并转换为电信号。
2.根据权利要求1所述的一种激光测量系统,其特征在于,所述第一发射模块的出射方向与第二发射模块的出射方向垂直。
3.根据权利要求2所述的一种激光测量系统,其特征在于,所述分光模块包括分光镜,所述分光镜包括透射面以及半反半透面,所述第一发射模块和第二发射模块之一的反射光经过透射面以及半反半透面透射至接收模块,另一束反射光经过半反半透面反射后进入接收模块。
4.根据权利要求1所述的一种激光测量系统,其特征在于,所述第一发射模块的出射方向与第二发射模块的出射方向相反。
5.根据权利要求4所述的一种激光测量系统,其特征在于,所述分光模块包括分光镜,所述分光镜包括透射面、第一半反半透面以及第二半反半透面,所述第一发射模块和第二发射模块之一的反射光经过透射面后经过第一半反半透面反射,再经过第二半反半透面透射后进入接收模块,另一束反射光经过第二半反半透面反射后进入接收模块。
6.根据权利要求1所述的一种激光测量系统,其特征在于,还包括第三发射模块,发射模块之间出射方向呈十字形,所述分光模块包括四锥镜,所述四锥镜表面镀有反射膜,发射模块出射的激光反回后分别经过四锥镜的不同反射膜反射至接收模块。
7.根据权利要求3或5所述的一种激光测量系统,其特征在于,所述透射面包括AR增透膜。
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US20040051860A1 (en) * 2002-06-25 2004-03-18 Matsushita Electric Works, Ltd. Laser distance measuring apparatus
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CN108957471A (zh) * 2018-06-22 2018-12-07 杭州电子科技大学 基于调频连续波激光测距的三维测量系统

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