CN113242156B

CN113242156B - 一种芯片验证方法、装置及系统

Info

Publication number: CN113242156B
Application number: CN202110481154.7A
Authority: CN
Inventors: 付博雅
Original assignee: New H3C Semiconductor Technology Co Ltd
Current assignee: New H3C Semiconductor Technology Co Ltd
Priority date: 2021-04-30
Filing date: 2021-04-30
Publication date: 2022-05-27
Anticipated expiration: 2041-04-30
Also published as: CN113242156A

Abstract

本申请提供了一种芯片验证方法、装置及系统，该方法应用于分析设备中，分析设备与测试设备相连，测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，被测芯片包括流量管理模块。该方法包括：获取测试设备在采样周期开始时测试设备所统计的第一累计流量；获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

Description

一种芯片验证方法、装置及系统

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种芯片验证方法、装置及系统。

背景技术

随着通信网络的不断发展，用于网络设备中处理数据报文的网络处理器(NetworkProcessor，NP)也逐渐向着超大规模的专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit，ASIC)演进。其中，芯片内用于提供服务质量(QoS)服务的主要模块，以及对NP进行流量管理的流量管理(TM)模块也日益复杂。对于这种大规模的芯上系统(System Of Chip，SOC)，通常在芯片验证阶段，将芯片运行仿真平台上，以对芯片进行仿真验证，评估芯片的设计方案与实现手段的正确性，然后通过外接测试设备(Tester)进行网络流量的构造与分析。上述Tester与实际芯片测试时采用的测试设备规格相同，通过构造各种流量场景在Tester上进行收发流量的观测，以判断TM是否符合功能特性及性能规格。然而仿真平台与实际芯片相比，频率是比较低的，无法处理实际芯片所能处理的网络流量，因此需要对Tester发出的流量与观测到的结果进行换算处理。

因此，如何准确地对Tester发出的流量与观测到的结果进行换算处理，以得到准确地芯片验证结果是值得考虑的技术问题之一。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种芯片验证方法、装置及系统，用以准确地对Tester发出的流量与观测到的结果进行换算处理，以得到准确地芯片验证结果。

具体地，本申请是通过如下技术方案实现的：

根据本申请的第一方面，提供一种芯片验证方法，应用于分析设备中，所述分析设备与测试设备相连，所述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，所述被测芯片包括流量管理模块，其中所述测试设备将流量通过所述速率转换设备转发至所述被测芯片中的流量管理模块，所述测试设备通过所述速率转换设备接收所述流量管理模块转发的流量；所述方法包括：

获取所述测试设备在采样周期开始时所述测试设备所统计的第一累计流量；

获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；

根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；

根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；

若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求；

其中，所述第一累计流量和所述第二累计流量为所述测试设备对所述被测芯片中的流量管理模块进行测试时所处理的流量。

根据本申请的第二方面，提供一种芯片验证装置，设置于分析设备中，所述分析设备与测试设备相连，所述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，所述被测芯片包括流量管理模块，其中所述测试设备将流量通过所述速率转换设备转发至所述被测芯片中的流量管理模块，所述测试设备通过所述速率转换设备接收所述流量管理模块转发的流量；所述装置包括：

获取模块，用于获取所述测试设备在采样周期开始时所述测试设备所统计的第一累计流量；

所述获取模块，还用于获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；

第一计算模块，用于根据所述采样周期和降频比，确定所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；

第二计算模块，用于根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；

确认模块，用于若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求；

根据本申请的第三方面，提供一种芯片验证系统，包括分析设备、测试设备、速率转换设备和运行被测芯片的仿真平台；其中：

所述测试设备，与所述速率转换设备相连，用于在采样周期内对被测芯片进行测试时，将流量发送给速率转换设备；

所述速率转换设备，与所述仿真平台相连，用于对所述测试设备发送的流量进行速率转换处理，将转换后的流量发送给所述被测芯片中的流量管理模块；

所述被测芯片，用于在接收到所述转换后的流量后，对所述转换后的流量进行流量调度，将调度的流量转发至所述速率转换设备；

所述速率转换设备，还用于对接收到的调度流量进行速率恢复处理，并将恢复的流量转发给所述测试设备；

所述测试设备，还用于接收所述恢复的流量并进行流量统计；

所述分析设备，用于在所述测试设备在采样周期内对被测芯片进行测试时，获取所述测试设备在采样周期开始时所述测试设备所统计的第一累计流量；获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

本申请实施例的有益效果：

通过新增分析设备，由分析设备获取测试设备在对被测芯片进行测试的采样周期开始时所统计的第一累计流量和获取采样周期结束时所统计的第二累计流量，然后基于采样周期和降频比换算得到仿真环境下被测芯片的流量管理模块的实际测试周期，然后基于上述第一累计流量和第二累计流量和实际测试周期计算流量管理模块的流量转发能力，由于实际测试周期与仿真平台的时间尺度是一致的，使得基于上述确定出的流量转发能力是否符合被测芯片在仿真环境下的转发能力，进而可以准确的衡量被测芯片的流量管理模块在实际环境下是否符合设计要求。

附图说明

图1a是本申请提供的一种芯片验证方案的结构示意图；

图1b是本申请提供的图1a所示的芯片验证方案中测试设备显示的流量示意图；

图2是本申请实施例提供的一种芯片验证方法的流程流程图；

图3是本申请实施例提供的一种芯片验证系统的结构示意图；

图4是本申请实施例提供的芯片验证方法中测试设备显示的流量示意图；

图5是本申请实施例提供的一种芯片验证装置的结构示意图；

图6是本申请实施例提供的一种实施芯片验证方法的电子设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相对应的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

在对芯片进行验证时，目前提供的芯片验证方案是在仿真平台与测试设备Tester之间增加一个速率转换设备，参考图1a所示，该速率转换设备用于分别与测试设备和仿真平台上的以太网接口(eth)建立连接，并缓冲从测试设备Tester发送的高速流量，使得进入仿真平台的流量处于受限的低速范围。在此种场景下，由于仿真环境中所运行的被测芯片每时钟脉冲的流量处理能力与在实际环境中运行的实际芯片每时钟脉冲的流量处理能力相同，而流量转发能力仅取决于单位时间内的时钟脉冲数量；就是说，单位时间的流量转发能力与运行频率成正比，参考下述公式所示：

由此引入了降频比的概念，

则被测芯片的等效实际转发能力为：

因此，需要按照仿真平台的降频比对被测芯片的测试流量进行换算。例如降频比为1/2400，从仿真平台传出的流量为170Kbps，则按照上述方法可以得到流量管理模块TM传出的实际流量为170Kbpa*2400＝408Mbps，然后以此实际流量对TM的设计是否符合设计要求进行度量。

然而，发明人发现，该方案只适用于简单的逐包或逐字节处理的平滑模型，但是由于TM作为大规模队列的流量管理模块与QoS服务的提供者，其行为有诸多特性，其中之一就是在进行整形调度时，对于大量队列具有较长的令牌刷新间隔。例如，在TM维护几十万甚至上百万队列的令牌授权刷新时，为了避免过多占用DDR(双倍速率)带宽，每个队列每秒约刷新31.25次令牌，即32ms刷新一次。在一个周期之内，若某个队列的令牌已耗尽，则只能停止调度，等待下一次补充。而在仿真平台的低频仿真环境下，仍以上述降频比计算，则需要等待76.8秒才能获得一次令牌补充机会，从而导致在测试设备Tester上观测到的现象会出现剧烈的流量突发，然后下降到0，周期往复，参考图1b所示。由此就会导致无法通过观察测试设备Tester上的速率示数来判断当前从被测设备中转发出去的流量速率。原因在于，测试设备Tester仍然以测量实际芯片时的周期测量流量速率，但是以实际芯片的测量周期测试对于降频后的仿真平台而言，相当于将时间尺度放大了2400倍，测试设备Tester会观察到原本瞬时发生而无法察觉到的现象，与实际芯片环境中的采样方式是不等效的。因此，上述芯片验证方法对于测试设备Tester来说，会出现不稳定的流量速率，这样就无法准确地评估被测芯片中的TM模块是否能够达到设计预期。

有鉴于此，本申请提供了一种芯片验证方法，应用于分析设备中，该分析设备设置于芯片验证系统中，该芯片验证系统包括分析设备、测试设备、速率转换设备和运行被测芯片的仿真平台，该分析设备与测试设备相连，上述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，上述被测芯片包括流量管理模块，其中上述测试设备将流量通过上述速率转换设备转发至上述被测芯片中的流量管理模块，上述测试设备通过上述速率转换设备接收上述流量管理模块转发的流量；在此基础上，分析设备获取上述测试设备在采样周期开始时上述测试设备所统计的第一累计流量；获取上述测试设备在采样周期结束时上述测试设备所统计的第二累计流量；根据上述采样周期和降频比，计算上述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；根据第一累计流量、第二累计流量和上述实际测试周期，计算上述流量管理模块的流量转发能力；若上述流量转发能力在设定能力范围内，则确认上述被测芯片的流量管理模块符合设计要求；从而完成了芯片的验证，由于本申请在原有的验证方案中新增了分析设备，由分析设备基于降频比对测试设备的采样周期进行转换处理，以转换成与仿真平台的时间相匹配的实际测试周期，进而基于实际测试周期计算被测芯片中流量管理模块的流量转发能力，这样一来，可以保证计算得到的流量管理模块的流量转发的准确性，也即达到了准确地对Tester发出的流量与观测到的结果进行换算处理，以得到准确地芯片验证结果的目的。

需要说明的是，上述仿真平台可以为Emulator或者FPGA等等，以及上述速率转换设备可以为Speed Bridge。

下面对本申请提供的芯片验证方法进行详细地说明。

参见图2，图2是本申请提供的一种芯片验证方法的流程图，该方法应用于分析设备中，该分析设备设置于芯片验证系统中，参考图3所示，该芯片验证系统还包括测试设备、速率转换设备和运行被测芯片的仿真平台；其中：测试设备，与上述速率转换设备相连，用于在采样周期内对被测芯片进行测试时，将流量发送给速率转换设备；该速率转换设备，与上述仿真平台相连，用于对上述测试设备发送的流量进行速率转换处理，将转换后的流量发送给上述被测芯片中的流量管理模块；该被测芯片，用于在接收到所述转换后的流量后，对转换后的流量进行流量调度，将调度的流量转发至上述速率转换设备；该速率转换设备，还用于对接收到的调度流量进行速率恢复处理，并将恢复的流量转发给上述测试设备；该测试设备，还用于接收所述恢复的流量并进行流量统计；在此基础上，分析设备在实施上述芯片验证方法时，可包括如下所示步骤：

S201、获取测试设备在采样周期开始时所述测试设备所统计的第一累计流量。

其中，上述第一累计流量为测试设备对所述被测芯片中的流量管理模块进行测试时所处理的流量。

本步骤中，在对芯片进行测试时，测试设备会产生用于进行芯片测试的流量，然后经过速率转换设备传送给仿真平台中的被测芯片，而被测芯片中芯片管理模块用于进行流量调度，因此，流量管理模块会根据自身的调度逻辑对流量进行调度，然后将调度的流量通过速率转换设备转发到测试设备。

基于上述原理，为了方便显示测试情况，测试设备上会显示当前累计处理的流量情况。基于此情况，分析设备可以在测试设备的采样周期开始时获取测试设备当前所统计的第一累计流量。

需要说明的是，实际应用中，第一累计流量可以用字节数表征，例如，可以获取测试设备在采用周期开始时所统计的第一累计字节数。

S202、获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量。

其中，上述第二累计流量为测试设备对所述被测芯片中的流量管理模块进行测试时所处理的流量。

参考步骤S201中的描述，当测试设备在采样周期结束时，分析设备可以捕获该测试设备此时所统计的第二累计流量。

需要说明的是，实际应用中，第二累计流量可以用字节数来表征，例如，可以获取测试设备在采用周期结束时所统计的第二累计字节数。

S203、根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。

本步骤中，由于测试设备与实际芯片在实际环境下的测试设备是一致的，因此，而仿真平台中被测芯片的时间尺度与该测试设备的采用周期是不一致的，因此，为了能够准确地得到被测芯片中流量管理模块的流量转发能力，本步骤提出对采样周期进行转换处理，即，基于采样周期和降频比得到实际测试周期，使得得到的实际测试周期与被测芯片的时间尺度一致。

可选地，分析设备可以按照下述过程执行步骤S203：将所述采样周期与所述降频比之间的比值确定为所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。

具体地，由于降频比是由仿真运行频率与实际芯片的运行频率之间的比值得到的，也就是仿真环境与实际环境的转换，而测试设备的采样周期是实际环境下的周期，而周期是频率的倒数，因此，基于降频比和采样周期可以换算得到被测芯片在仿真环境下的实际测试周期，即，实际测试周期＝采样周期/降频比。

例如，测试设备的采样周期为0.5s，在1/2400的降频比下，可以计算出被测芯片在仿真环境下的实际测试周期为0.5与1/2400的比值，也即，实际测试周期＝0.5*2400＝1200s。

S204、根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力。

本步骤中，根据采样周期内从测试设备内分别获取采样周期开始和结束时测试设备累计处理的流量情况，再结合实际测试周期就可以计算出流量管理模块的流量转发能力。

可选地，上述流量转发能力包括流量转发速率，则在此基础上，分析设备可以按照下述过程执行步骤S204：确定所述第二累计流量与所述第一累计流量之间的流量差值；将所述流量差值与所述实际测试周期之间的比值确定为所述流量管理模块的流量转发速率。

具体地，上述第二累计流量与第一累计流量之间的差值即为被测芯片中流量管理转发到测试设备的流量，记为转发流量，然后确定转发流量与实际测试周期之间的比值，就可以得到被测芯片中流量管理模块的流量转发速率。

当第一累计流量与第二累计流量分别用第一累计字节数和第二累计字节数表征时，可以确定第二累计字节数与第一累计字节数之间的差值，记为转发流量的字节数；然后确定转发流量的字节数与实际测试周期之间的比值，该比值记为被测芯片中流量管理模块的流量转发速率。由此即可准确地确定出被测芯片中流量管理模块的流量转发能力。

S205、判断所述流量转发能力是否在设定能力范围内；若在，则执行步骤S206；若不在，则执行步骤S207。

本步骤中，当流量转发能力为流量转发速率时，可以判断确定出的流量转发速率是否在设定速率范围内，如果在，则确认被测芯片的流量管理模块符合设计要求，即执行步骤S206；如果不在设定速率范围内，则表明流量管理模块的流量转发能力不满足设计要求，进而表明流量管理模块不符合设计要求，即执行步骤S207。由此，实现了对被测芯片的验证，即对被测芯片的流量管理模块的验证。

需要说明的是，上述设定速率范围可以根据实际情况来设定。本申请不对此范围的取值进行限定。

S206、确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

S207、确认所述被测芯片的流量管理模块不符合设计要求。

通过实施本申请提供的芯片验证方法，通过新增分析设备，由分析设备获取测试设备在对被测芯片进行测试的采样周期开始时所统计的第一累计流量和获取采样周期结束时所统计的第二累计流量，然后基于采样周期和降频比换算得到仿真环境下被测芯片的流量管理模块的实际测试周期，然后基于上述第一累计流量和第二累计流量和实际测试周期计算流量管理模块的流量转发能力，由于实际测试周期与仿真平台的时间尺度是一致的，使得基于上述确定出的流量转发能力是否符合被测芯片在仿真环境下的转发能力，进而可以准确的衡量被测芯片的流量管理模块在实际环境下是否符合设计要求。

可选地，本实施例提供的分析设备具有至少秒级精度的时钟，此外分析设备可以通过管理口从测试设备获取第一累计流量和第二累计流量。在分析设备计算出被测芯片中流量管理模块的流量转发能力以及流量管理模块的验证结果时，就可以输出展示给用户，参考图3所示，用户就可以基于展示结果判断是否需要对被测芯片内的流量管理模块的设计进行调整。

为了更好地理解本实施例提供的芯片验证方法，通过适配仿真环境降频比对流量进行处理，可以均匀分摊微观效应带来的流量突发，避免无意义读数，从而获取芯片对应实际环境下的表现，参考图4所示，可以看到，经过适配采样周期进行数据处理后，周期之间的数据差异较小，此时获取的读数便于观测TM的仿真表现，与图1b相比，本申请提供的芯片验证方法不会存在流量突发的情况，能够准备地确定出流量管理模块的流量转发能力，从而为被测芯片的验证提供了良好的数据基础。

基于同一发明构思，本申请还提供了与上述芯片验证方法对应的芯片验证装置。该芯片验证装置的实施具体可以参考上述分析设备对芯片验证方法的描述，此处不再一一论述。

参见图5，图5是本申请一示例性实施例提供的一种芯片验证装置，设置于分析设备中，上述分析设备与测试设备相连，上述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，上述被测芯片包括流量管理模块，其中上述测试设备将流量通过上述速率转换设备转发至上述被测芯片中的流量管理模块，上述测试设备通过上述速率转换设备接收上述流量管理模块转发的流量；上述装置包括：

获取模块501，用于获取上述测试设备在采样周期开始时上述测试设备所统计的第一累计流量；

上述获取模块501，还用于获取上述测试设备在采样周期结束时上述测试设备所统计的第二累计流量；

第一计算模块502，用于根据上述采样周期和降频比，确定上述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；

第二计算模块503，用于根据上述第一累计流量、上述第二累计流量和上述实际测试周期，计算上述流量管理模块的流量转发能力；

确认模块504，用于若上述流量转发能力在设定能力范围内，则确认上述被测芯片的流量管理模块符合设计要求；

其中，上述第一累计流量和上述第二累计流量为上述测试设备对上述被测芯片中的流量管理模块进行测试时所处理的流量。

可选地，上述流量转发能力包括流量转发速率；则

上述第二计算模块503，具体用于确定上述第二累计流量与上述第一累计流量之间的流量差值；将上述流量差值与上述实际测试周期之间的比值确定为上述流量管理模块的流量转发速率；

上述确认模块504，具体用于若上述流量转发速率在设定速率范围内，则确认上述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

可选地，上述第一计算模块502，具体用于将上述采样周期与上述降频比之间的比值确定为上述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。

可选地，上述第一累计流量和上述第二累计流量用字节数表征。

基于同一发明构思，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备可以为上述分析设备。如图6所示，该电子设备包括处理器601和机器可读存储介质602，机器可读存储介质602存储有能够被处理器601执行的计算机程序，处理器601被计算机程序促使执行本申请实施例所提供的芯片验证方法。

上述计算机可读存储介质可以包括RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)、DDR SRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory，双倍速率同步动态随机存储器)，也可以包括NVM(Non-volatile Memory，非易失性存储器)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，计算机可读存储介质还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。

上述处理器可以是通用处理器，包括CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、NP(Network Processor，网络处理器)等；还可以是DSP(Digital Signal Processor，数字信号处理器)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)、FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

另外，本申请实施例提供了一种机器可读存储介质，机器可读存储介质存储有计算机程序，在被处理器调用和执行时，计算机程序促使处理器执行本申请实施例所提供的芯片验证方法。

对于电子设备以及机器可读存储介质实施例而言，由于其涉及的方法内容基本相似于前述的方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

上述装置中各个单元/模块的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程，在此不再赘述。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元/模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元/模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元/模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元/模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元/模块来实现本申请方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请保护的范围之内。

Claims

1.一种芯片验证方法，其特征在于，应用于分析设备中，所述分析设备与测试设备相连，所述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，所述被测芯片包括流量管理模块，其中所述测试设备将流量通过所述速率转换设备转发至所述被测芯片中的流量管理模块，所述测试设备通过所述速率转换设备接收所述流量管理模块转发的流量；所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述流量转发能力包括流量转发速率；则

根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力，包括：

确定所述第二累计流量与所述第一累计流量之间的流量差值；

将所述流量差值与所述实际测试周期之间的比值确定为所述流量管理模块的流量转发速率；

以及，若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求，包括：

若所述流量转发速率在设定速率范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期，包括：

将所述采样周期与所述降频比之间的比值确定为所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一累计流量和所述第二累计流量用字节数表征。

5.一种芯片验证装置，其特征在于，设置于分析设备中，所述分析设备与测试设备相连，所述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，所述被测芯片包括流量管理模块，其中所述测试设备将流量通过所述速率转换设备转发至所述被测芯片中的流量管理模块，所述测试设备通过所述速率转换设备接收所述流量管理模块转发的流量；所述装置包括：

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述流量转发能力包括流量转发速率；则

所述第二计算模块，具体用于确定所述第二累计流量与所述第一累计流量之间的流量差值；将所述流量差值与所述实际测试周期之间的比值确定为所述流量管理模块的流量转发速率；

所述确认模块，具体用于若所述流量转发速率在设定速率范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述第一计算模块，具体用于将所述采样周期与所述降频比之间的比值确定为所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。

8.一种芯片验证系统，其特征在于，包括分析设备、测试设备、速率转换设备和运行被测芯片的仿真平台；其中：

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述流量转发能力包括流量转发速率；则

所述分析设备，具体用于确定所述第二累计流量与所述第一累计流量之间的流量差值；将所述流量差值与所述实际测试周期之间的比值确定为所述流量管理模块的流量转发速率；

所述分析设备，还用于若所述流量转发速率在设定速率范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，

所述分析设备，具体用于将所述采样周期与所述降频比之间的比值确定为所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。