CN111444068B - 系统性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

系统性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请属于测试技术领域,具体而言,涉及一种系统性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。其中,一种系统性能测试方法,包括:获取指定条件下系统的压测数据,其中,所述压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据;聚合所述压测数据,计算所述系统指定条件下的测试结果;基于所述测试结果,确定所述系统的性能。基于实际需求,通过获取指定条件下系统的至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据进行性能测试,可以覆盖实际复杂(如多个生产压测和或多个消费压测)的测试场景,进而,通过综合复杂压测场景的测试结果作为最终的测试结果,可以提高系统测试的准确率。

Description

系统性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
本申请属于测试技术领域,具体而言,涉及一种系统性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
随着互联网“微架构”模式兴起,原有的大型集中式的IT服务因为各种弊端,通常被拆封成细粒度的多个“微服务”,这些微服务可以在一个局域网内,也可以跨机房部署。一方面对服务之间松耦合的要求越来越高,另一方面,服务之间的联系越来越紧密,对通信质量的要求也越来越高,进而所覆盖的性能测试场景更加复杂多样。
性能测试是通过自动化的测试工具模拟多种正常、峰值以及异常负载条件来对系统的各项性能指标进行测试。目前,官方开源的基础压测脚本只能满足单个生产者和/或单个消费者场景的测试,而无法覆盖实际复杂的测试场景。
发明内容
本申请实施例提供一种系统性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质,可以满足系统多种复杂场景的性能测试需求。
第一方面,本申请实施例提供一种系统性能测试方法,其特征在于,包括:
获取指定条件下系统的压测数据,其中,所述压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据;
聚合所述压测数据,计算所述系统指定条件下的测试结果;
基于所述测试结果,确定所述系统的性能。
第二方面,本申请实施例提供一种系统性能测试装置,包括:
数据获取单元,用于获取指定条件下系统的压测数据,其中,所述压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据;
数据聚合单元,用于聚合所述压测数据,计算所述系统指定条件下的测试结果;
性能确定单元,用于基于所述测试结果,确定所述系统的性能。
第三方面,本申请实施例提供一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的方法。
第四方面,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述任一项所述的方法。
第五方面,本申请实施例提供一种计算机程序产品,其中,上述计算机程序产品包括存储计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。
在本申请实施例中,通过获取指定条件下系统的压测数据,其中,压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据,聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果,可以基于测试结果,确定系统的性能。基于实际需求,通过获取指定条件下系统的至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据进行性能测试,可以覆盖实际复杂(如多个生产压测和或多个消费压测)的测试场景,进而,通过综合复杂压测场景的测试结果作为最终的测试结果,可以提高系统测试的准确率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了可以应用于本申请的系统性能测试方法或系统性能测试装置的背景流程图;
图2示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图;
图3示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图;
图4示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图;
图5示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图;
图6示出本申请实施例的计算机设备的界面示意图;
图7示出本申请实施例的系统性能测试装置的结构示意图;
图8示出本申请实施例的一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅为本申请实施例的一部分,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
随着科学技术的发展,用户对系统性能的要求越来越高,因此用户需要对设计的较为复杂的系统进行性能测试,以便用户实际使用中满足用户需求。例如用户可以使用RocketMQ作为开源的分布式消息队列中间件。其中,消息队列就是基础数据结构中“先进先出”的一种数据结构,但是由于现在互联网“微架构”模式兴起,原有的大型集中式的IT服务因为各种弊端,通常被拆封成细粒度的多个“微服务”,这些微服务可以在一个局域网内,也可能跨机房部署。一方面由于用户对服务之间松耦合的要求越来越高,另一方面,各个服务之间的联系却越来越紧密,用户对通信质量的要求也越来越高,而分布式消息队列可以提供应用解耦,流量消峰,消息分发等功能,因此RocketMQ已经成为大型互联网服务架构里标配的中间件。
根据一些实施例,当用户完成系统的配置时,需要对系统进行性能测试。当系统的性能符合预设要求时,用户可以将该系统投入到实际生产生活中。例如用户把RocketMQ投入到生产环境之前需要对RocketMQ进行性能测试。用户对RocketMQ进行性能测试时,可以通过通过自动化的测试工具模拟多种正常、峰值以及异常负载条件来对系统的各项性能指标进行测试。
易于理解的是,图1示出应用于本申请的系统性能测试方法或系统性能测试装置的背景流程图。用户对系统进行性能测试时,用户可以指定固定生产者。当该生产者对该系统发起请求时,计算机设备可以获取到该生产者的请求数量。基于该请求数量,计算机设备可以判断系统的性能是不是符合用户要求。例如当用户对RocketMQ进行性能测试时,计算机设备可以获取RocketMQ中A生产者的请求数量。当计算机设备判断到A生产者的请求数量符合预设要求时,确定系统的性能符合要求,此时用户可以将RocketMQ投入到实际生产生活中。
可选的,在用户对系统进行性能测试时,用户需要对系统的各个实际应用场景进行测试,例如计算机设备可以对只生产消息、只消费消息或者边生产边消费消息的各个场景进行系统性能测试。但是目前用户对系统测试时,无法指定压测时长,因此用户对多个场景的系统进行测试时,用户只能对每个生产者或者每个消费者的请求数据进行处理,得到单个场景下的压测结果,并不能对多个场景同时进行测试。本申请实施例提供一种系统性能测试方法,当系统进行性能测试时,计算机设备可以设置指定条件,获取指定条件的压测数据,由于该压测数据为多种复杂场景下的压测数据,计算机设备可以聚合多种复杂场景下的压测数据,确定系统的性能,不需要用户对每个场景下的全部压测数据进行再处理,可以满足系统多种复杂场景的性能测试需求。
图2示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图。
如图2所示,该系统性能测试方法包括:
S201,获取指定条件下系统的压测数据。
根据一些实施例,压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据。其中,生产者压测数据为一个生产者从客户端向消息队列发送的数据。例如生产者压测数据为一个生产者从客户端向RocketMQ消息队列发送的数据。消费者压测数据为一个消费者从客户端从消息队列读取的数据。例如消费者压测数据为一个消费者者从客户端从RocketMQ消息队列读取的数据。
易于理解的是,压测数据可以只包括至少一个生产压测数据、只包括至少一个消费压测数据或者包括至少一个生产压测数据和至少一个消费压测数据。压测数据例如可以是两个生产压测数据,压测数据例如还可以是两个消费压测数据,压测数据例如还可以是两个生产压测数据和两个消费压测数据。
可选的,当用户对系统进行性能测试时,用户可以发送测试指令至系统。其中,该测试指令包括但不限于触控指令、语音指令以及文字指令等。当系统接收到用户发送的测试指令时,计算机设备可以获取指定条件下系统的压测数据。其中,指定条件下可以是指定测试时长和指定请求数量中的其中一个。
根据一些实施例,当指定条件是指定测试时长时,计算机设备获取到的压测数据可以是生产压测数据和消费压测数据,该生产压测数据和消费压测数据例如可以是两个指定测试时长的生产压测数据和两个指定测试时长的消费压测数据。该压测数据例如可以是每秒事务数(TPS)和/或响应时间(RT),包括但不限于平均TPS和/或RT、中值TPS和/或RT、加权平均TPS和/或RT等。
易于理解的是,当指定测试时长为5分钟时,计算机设备获取到的压测数据例如可以是Q生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、W生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、E消费压测的第一中值TPS和第一中值RT以及R消费压测的第一中值TPS和第一中值RT。
S202,聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果。
根据一些实施例,当计算机设备获取到指定条件下的压测数据时,计算机设备可以聚合该压测数据。例如当指定条件是指定测试时长时,计算机设备获取到的压测数据可以是生产压测数据和消费压测数据,该生产压测数据和消费压测数据例如可以是两个指定测试时长的生产压测数据和两个指定测试时长的消费压测数据时,计算机设备可以将两个指定测试时长的生产压测数据和两个指定测试时长的消费压测数据进行聚合。
易于理解的是,当计算机设备将压测数据进行聚合之后,计算机设备可以计算出系统在指定条件下的压测结果。例如当指定测试时长为5分钟时,计算机设备获取到的压测数据例如可以是Q生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、W生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、E消费压测的第一中值TPS和第一中值RT以及R消费压测的第一中值TPS和第一中值RT,当计算机设备将压测数据进行聚合之后,计算机设备计算出指定测试时长的测试结果例如可以是第二中值TPS和第二中值RT。此时,计算机设备计算系统指定条件下的测试结果的流程示意图可以如图3所示。
可选的,当计算机设备对压测数据聚合之后,计算机设备还可以对压测数据进行筛选,以便可以剔除压测数据中的异常数据,提高系统性能测试的准确性。例如,当计算机设备对Q生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、W生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、E消费压测的第一中值TPS和第一中值RT以及R消费压测的第一中值TPS和第一中值RT之后,计算机设备采用数据筛选算法,确定R消费压测的第一中值TPS和第一中值RT为异常数据时,可以将R消费压测的第一中值TPS和第一中值RT剔除。
S203,基于测试结果,确定系统的性能。
根据一些实施例,当计算机设备计算得到系统指定条件下的测试结果时,计算机设备可以将该测试结果与预设性能结果进行比对,当计算机设备确定该测试结符合预设性能测试结果时,确定系统的性能符合预设要求,可以将该系统用于实际生产生活中。当计算机设备确定该测试结不符合预设性能测试结果时,确定系统的性能不符合预设要求,用户需要对该系统进行改进,以便改善系统性能,使该系统可以使用于实际生产生活中。
易于理解的是,当指定测试时长为5分钟时,计算机设备获取到的压测数据为Q生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、W生产压测的第一中值TPS和第一中值RT、E消费压测的第一中值TPS和第一中值RT以及R消费压测的第一中值TPS和第一中值RT,当计算机设备将压测数据进行聚合之后,计算机设备计算出指定测试时长的测试结果例如可以是第二中值TPS和第二中值RT。计算机设备可以将第二中值TPS和第二中值RT和预设测试结果进行比对,当第二中值TPS和第二中值RT符合预设测试结果时,计算机设备可以确定该系统符合预设要求。
本申请实施例提供一种系统性能测试方法,通过获取指定条件下系统的压测数据,计算机设备可以聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果,并基于测试结果,确定系统的性能。因此当系统进行性能测试时,计算机设备可以设置指定条件,并获取指定条件的压测数据,由于该压测数据包括实际复杂(如多个生产压测和或多个消费压测)测试场景下的压测数据,相比于将单个场景的测试结果作为系统的测试结果,基于聚合的多种场景下的压测数据,计算机设备可以确定系统的性能,可以提高系统测试的准确率。
图4示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图。
如图4所示,该系统性能测试方法包括:
S401,获取指定测试时长内系统的生产者请求数量和/或消费者请求数量。
根据一些实施例,本实施例的指定条件包括指定测试时长,即当系统接收到测试指令时,系统获取指定条件下系统的压测数据可以是获取指定测试时长的压测数据。其中该压测数据可以包括生产压测数据和/或消费压测数据。因此计算机设备可以获取到指定测试时长内的系统的生产者请求数量和/或消费者请求数量。
易于理解的是,当计算机设备设置的指定测试时长为3分钟时,计算机设备可以获取3分钟的生产压测数据和/或消费压测数据,此时计算机设备获取到的生产压测数据和/或消费压测数据例如可以是3分钟内的系统生产者请求数量为500。计算机设备获取到的生产压测数据和/或消费压测数据例如还可以是3分钟内的系统消费者请求数量为400。
S402,基于指定测试时长以及生产者请求数量和/或消费者请求数量,计算系统的第一平均TPS和第一平均RT。
根据一些实施例,当计算机设备获取到指定测试时长内系统的生产者请求数量和/或消费者请求数量时,计算机设备可以计算在指定测试时长内每个单位时长的TPS和RT。当计算机设备计算得到指定测试时长内每个单位时长的TPS和RT时,计算机设备可以在指定测试时长内系统的第一平均TPS和第一平均RT。
易于理解的是,计算机设备获取到的生产压测数据和/或消费压测数据例如可以是3分钟内的系统生产者请求数量为500。计算机设备计算得到每分钟的TPS和RT。当计算机设备计算得到每分钟的TPS和RT时,计算机设备可以计算系统每分钟的TPS的均值得到系统的第一平均TPS以及计算系统每分钟的RT的均值得到系统的第一平均RT。
S403,聚合第一平均TPS和第一平均RT,计算系统的第二平均TPS和第二平均RT。
根据一些实施例,第一平均TPS包括至少一个,第一平均RT包括至少一个。例如第一平均TPS可以是三个,可以分别为系统在3分钟内的T第一平均TPS、Y第一平均TPS以及U第一平均TPS。第一平均RT也可以是3个,可以分别为系统在3分钟内的T第一平均RT、Y第一平均RT以及U第一平均RT。其中,T第一平均TPS、Y第一平均TPS以及U第一平均TPS分别对应不同的生产者。
易于理解的是,当计算机设备计算得到系统的第一平均TPS和第一平均RT时,计算机设备可以采用数据聚合算法聚合至少一个第一平均TPS和至少一个第一平均RT。当计算机设备将至少一个第一平均TPS和至少一个第一平均RT聚合完成时,计算机设备可以计算系统的第二平均TPS和第二平均RT。
可选的,例如当计算机设备采用数据聚合算法将T第一平均TPS、Y第一平均TPS以及U第一平均TPS聚合完成时,计算机设备可以采用均值算法计算T第一平均TPS、Y第一平均TPS以及U第一平均TPS的均值得到第二平均TPS。计算机设备还可以采用均值算法计算T第一平均RT、Y第一平均RT以及U第一平均RT得到第二平均RT。
S404,将第二平均TPS以及第二平均RT确定为系统在指定测试时长内的测试结果。
根据一些实施例,当计算机设备采用数据聚合算法聚合完成第一平均TPS和第一平均RT,计算机设备计算得到系统的第二平均TPS和第二平均RT,计算机设备可以将第二平均TPS以及第二平均RT确定为系统在指定测试时长内的测试结果。例如当计算机设备采用数据聚合算法将T第一平均TPS、Y第一平均TPS以及U第一平均TPS、T第一平均RT、Y第一平均RT以及U第一平均RT聚合完成时,计算机设备可以采用均值算法计算得到第二平均TPS和第二平均RT时,可以将第二平均TPS和第二平均RT作为系统在3分钟内的测试结果。
S405,将测试结果与预设性能结果进行比对,确定系统的性能。
根据一些实施例,当计算机设备得到系统在指定测试时长内的测试结果时,可以将该结果与预设性能结果进行比对,从而确定系统的性能是否符合预设要求。当计算机设备确定系统在指定测试时长内的测试结果符合预设性能结果时,计算机设备可以确定系统的性能符合预设要求。当计算机设备确定系统在指定测试时长内的测试结果不符合预设性能结果时,计算机设备确定系统的性能不符合预设要求。例如,计算机设备可以将第二平均TPS和第二平均RT与预设性能结果进行比对,确定第二平均TPS和第二平均RT符合预设性能结果时,计算机设备确定系统的性能符合预设要求。
S406,生成性能对应的性能测试报告。
根据一些实施例,当计算机设备将指定测试时长内的测试结果与预设性能结果进行比对,确定系统的性能是否符合预设要求之后,计算机设备可以生成性能对应的性能测试报告。当计算机设备确定系统系统在指定测试时长内的测试结果符合预设性能结果,确定系统的性能符合预设要求时,计算机设备生成的与性能对应的性能测试报告可以让用户明确知道该系统的性能复合预设要求,方便用户对该系统进行应用。当计算机设备确定系统系统在指定测试时长内的测试结果不符合预设性能结果,确定系统的性能不符合预设要求时,计算机设备生成的与性能对应的性能测试报告可以让用户明确知道系统不符合要求,方便用户对系统改进。
易于理解的是,当计算机设备生成性能对应的性能测试报告,计算机设备可以将该测试报告发送至用户所在终端。当用户所在终端接收到该性能测试报告时,终端可以将该报告显示在终端的显示界面上。例如用户所在终端的邮箱接收该性能测试报告时,终端可以将该报告显示在终端的显示界面上,此时用户所在终端显示的性能测试报告可以如图5所示。
本申请实施例提供一种系统性能测试方法,通过获取指定测试时长内系统的生产者请求数量和/或消费者请求数量,计算系统的第一平均TPS和第一平均RT,聚合第一平均TPS和第一平均RT,计算系统的第二平均TPS和第二平均RT,将第二平均TPS以及第二平均RT确定为系统在指定测试时长内的测试结果,将测试结果与预设性能结果进行比对,确定系统的性能。因此当系统进行性能测试时,计算机设备可以获取指定测试时长多个复杂场景下的压测数据,因此计算机设备可以将多个复杂场景下的第二平均TPS和第二平均RT作为系统的测试结果,可以提高系统性能测试的准确度。另外由于计算机设备可以指定测试时长,可以减少系统测试时间,可以提高系统性能测试的效率。
图6示出本申请实施例的系统性能测试方法的流程示意图。
如图6所示,该系统性能测试方法包括:
S501,获取指定请求数量的系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长。
根据一些实施例,本申请实施例的指定条件包括指定请求数量,其中该请求数量包括生产者请求数量和/或消费者请求数量。系统获取指定条件下的压测数据时,计算机设备可以获取指定请求数量的系统中至少一个生产者的生产压测时长和/或至少一个消费者的消费压测时长。
易于理解的是,指定请求数量例如可以是1000,生产者数量为5个时,计算机设备可以获取请求数量为1000的5个生产者的5个生产压测时长。系统获取到的5个生产压测时长例如可以分别是2s、5s、1s、2.5s和4s。
S502,基于请求数量和每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果。
根据一些实施例,当计算机设备获到指定请求数量的系统中至少一个生产者的生产压测时长和/或至少一个消费者的消费压测时长时,可以计算得到系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果。该压测结果例如可以是每秒钟的请求数量以及响应时间。该压测结果例如可以是至少一个生产者每秒钟的请求数量,即至少一个生产者的TPS。该压测结果例如还可以包括响应时间。
易于理解的是,当指定请求数量是1000,生产者数量为5个时,计算机设备获取请求数量为1000的5个生产者的5个生产压测时长是2s、5s、1s、2.5s和4s时,计算机设备计算得到的多个生产压测结果例如可以是TPS,5个TPS可以分别为500、200、1000、400和250。
S503,聚合系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果。
根据一些实施例,当计算机设备得到计算系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果,计算机设备可以采用数据聚合算法将至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果聚合在一起。例如计算机设备获取到5个TPS和5个生产压测时长时,计算机设备可以采用数据聚合算法将5个TPS和5个生产压测时长进行聚合。
S504,聚合系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的平均RT。
根据一些实施例,当计算机设备聚合系统中至少一个生产者的生产压测时长和/或至少一个消费者的消费压测时长之后,计算机设备可以计算系统的平均RT。例如计算机设备获取到5个TPS和5个生产压测时长时,计算机设备可以采用数据聚合算法将5个TPS和5个生产压测时长进行聚合之后,计算机设备可以计算5个生产压测时长的平均生产压测时长,即计算机设备可以计算系统的平均RT。例如计算机设备聚合的5个生产压测时长是2s、5s、1s、2.5s和4s时,计算机设备计算得到的平均RT可以是2.9s。
S505,基于平均RT以及指定请求数量,计算系统的平均TPS。
根据一些实施例,当计算机设备聚合系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算得到系统的平均RT时,计算机设备可以基于指定请求数量,计算得到系统的平均TPS。例如计算机设备聚合的5个生产压测时长是2s、5s、1s、2.5s和4s,计算得到的平均RT是2.9s时,计算机设备计算得到的系统的平均TPS可以是345。
易于理解的是,当计算机设备聚合系统中多个生产者的生产压测结果和/或多个消费者的消费压测结果,还可以直接计算系统的平均TPS。计算机设备计算得到的多个生产压测结果例如可以是5个TPS,5个TPS可以分别为500、200、1000、400和250,计算机设备计算得到系统的平均TPS可以是470。
S506,将平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量内的测试结果。
易于理解的是,当计算机设备计算得到系统的平均TPS之后,可以将平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量内的测试结果。例如计算机设备根据5个生产压测时长是2s、5s、1s、2.5s和4s,计算得到的平均RT是2.9s和系统的平均TPS是345时,可计算机设备以将该平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量为1000的测试结果。
S507,将测试结果与预设性能结果进行比对,确定系统的性能。
根据一些实施例,当计算机设备获取到测试结果时,可以将测试结果与预设性能结果进行比对,计算机设备可以确定系统的性能。例如计算机设备计算得到的平均RT是2.9s和系统的平均TPS是345,并将该平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量为1000的测试结果时,计算机设备确定该测试结果符合预设要求时,可以确定系统的性能符合预设要求。
本申请实施例提供一种系统性能测试方法,通过获取指定请求数量的系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,可以计算系统的多个生产压测结果和/或多个消费压测结果,聚合系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的平均RT,并基于平均RT以及指定请求数量,计算系统的平均TPS,将平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量内的测试结果,可以确定系统的性能。由于系统进行性能测试时,计算机设备可以获取指定请求数量的压测数据,因此计算机设备可以获取并聚合多个复杂场景下的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果,将系统的平均TPS和平均RT作为系统的测试结果,可以提高系统性能测试的效率。另外由于计算机设备可以指定请求数量,可以减少系统测试时间,可以提高系统性能测试的效率。
下述为本申请装置实施例,可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节,请参照本申请方法实施例。
请参见图7,其示出本申请实施例的系统性能测试装置的结构示意图。该系统性能测试装置700可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为用户终端的全部或一部分。该系统性能测试装置700包括数据获取单元701、数据聚合单元702和性能确定单元703,其中:
数据获取单元701,用于获取指定条件下系统的压测数据,其中,压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据;
数据聚合单元702,用于聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果;
性能确定单元703,用于基于测试结果,确定系统的性能。
根据一些实施例,数据获取单元701,还用于获取指定测试时长内系统的生产者请求数量和/或消费者请求数量;
基于指定测试时长以及生产者请求数量和/或消费者请求数量,计算系统的第一平均TPS和第一平均RT。
根据一些实施例,数据聚合单元702,还用于聚合第一平均TPS和第一平均RT,计算系统的第二平均TPS和第二平均RT,第一平均TPS包括至少一个,第一平均RT包括至少一个;
将第二平均TPS以及第二平均RT确定为系统在指定测试时长内的测试结果。
根据一些实施例,指定条件包括指定请求数量,请求数量包括生产者请求数量和/或消费者请求数量,数据获取单元701,还用于获取指定请求数量的系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长;
基于请求数量和每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果。
根据一些实施例,数据聚合单元702,还用于聚合系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果;
聚合系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的平均RT;
基于平均RT以及指定请求数量,计算系统的平均TPS;
将平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量内的测试结果。
根据一些实施例,性能确定单元703,还用于将测试结果与预设性能结果进行比对,确定系统的性能。
根据一些实施例,系统性能测试装置700还包括报告生成单元704,用于生成性能对应的性能测试报告。
本申请实施例提供一种系统性能测试装置,通过数据获取单元获取指定条件下系统的压测数据,其中,压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据,数据聚合单元聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果,性能确定单元可以基于测试结果,确定系统的性能。当系统性能测试装置接收到测试指令时,系统性能测试装置可以获取指定条件下系统多个复杂场景下的压测数据,并将计算得到多个场景下的测试结果作为系统的性能,可以提高系统性能测试的效率。另外,由于系统性能测试装置可以设置指定条件,可以系统性能测试装置获取压测数据的时间,可以减少系统测试时间,进而可以提高系统性能测试的效率。
请参见图8,为本申请实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。如图8所示,所述计算机设备800可以包括:至少一个处理器801,至少一个网络接口804,用户接口803,存储器805,至少一个通信总线802。
其中,通信总线802用于实现这些组件之间的连接通信。
其中,用户接口803可以包括显示屏(Display)和GPS,可选用户接口803还可以包括标准的有线接口、无线接口。
其中,网络接口804可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。
其中,处理器801可以包括一个或者多个处理核心。处理器801利用各种借口和线路连接整个计算机设备800内的各个部分,通过运行或执行存储在存储器805内的指令、程序、代码集或指令集,以及调用存储在存储器805内的数据,执行计算机设备800的各种功能和处理数据。可选的,处理器801可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing,DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable Logic Array,PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器801可集成中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit,GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中,CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等;GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制;调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调器也可以不集成到处理器801中,单独通过一块芯片进行实现。
其中,存储器805可以包括随机存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的,该存储器805包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器805可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器805可包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等;存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器805可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器801的存储装置。如图8所示,作为一种计算机存储介质的存储器805中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及用于系统性能测试的应用程序。
在图8所示的计算机设备800中,用户接口803主要用于为用户提供输入的接口,获取用户输入的数据;而处理器801可以用于调用存储器805中存储的系统性能测试方法的应用程序,并具体执行以下操作:
获取指定条件下系统的压测数据,其中,压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据;
聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果;
基于测试结果,确定系统的性能。
根据一些实施例,处理器801用于指定条件包括指定测试时长,获取指定条件下系统的压测数据时,具体执行以下操作:
获取指定测试时长内系统的生产者请求数量和/或消费者请求数量;
基于指定测试时长以及生产者请求数量和/或消费者请求数量,计算系统的第一平均TPS和第一平均RT。
根据一些实施例,处理器801用于聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果时,具体执行以下操作:
聚合第一平均TPS和第一平均RT,计算系统的第二平均TPS和第二平均RT,第一平均TPS包括至少一个,第一平均RT包括至少一个;
将第二平均TPS以及第二平均RT确定为系统在指定测试时长内的测试结果。
根据一些实施例,处理器801用于指定条件包括指定请求数量,请求数量包括生产者请求数量和/或消费者请求数量,获取指定条件下系统的压测数据时,具体执行以下操作:
获取指定请求数量的系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长;
基于请求数量和每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果。
根据一些实施例,处理器801用于聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果时,具体执行以下操作:
聚合系统的至少一个生产压测结果和/或至少一个消费压测结果;
聚合系统中每个生产者的生产压测时长和/或每个消费者的消费压测时长,计算系统的平均RT;
基于平均RT以及指定请求数量,计算系统的平均TPS;
将平均TPS以及平均RT确定为系统在指定请求数量内的测试结果。
根据一些实施例,处理器801用于基于测试结果,确定系统的性能时,具体执行以下操作:
将测试结果与预设性能结果进行比对,确定系统的性能。
根据一些实施例,处理器801用基于测试结果,确定系统的性能之后,还具体执行以下操作:
生成性能对应的性能测试报告。
本申请实施例提供一种计算机设备,通过获取指定条件下系统的压测数据,计算机设备可以聚合压测数据,计算系统指定条件下的测试结果,并基于测试结果,确定系统的性能。因此当系统进行性能测试时,计算机设备可以设置指定条件,获取指定条件的压测数据,由于该压测数据为多种复杂场景的压测数据,计算机设备可以聚合多种复杂场景下的压测数据,确定系统的性能,因此该技术方案可以应用于多种复杂场景的系统性能测试,可以满足系统多种复杂场景的性能测试需求,可以提高系统性能测试的效率。另外,由于计算机设备可以设置指定条件,可以系统性能测试装置获取压测数据的时间,可以减少系统测试时间,进而可以提高系统性能测试的效率。
本申请还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。其中,计算机可读存储介质可以包括但不限于任何类型的盘,包括软盘、光盘、DVD、CD-ROM、微型驱动器以及磁光盘、ROM、RAM、EPROM、EEPROM、DRAM、VRAM、闪速存储器设备、磁卡或光卡、纳米系统(包括分子存储器IC),或适合于存储指令和/或数据的任何类型的媒介或设备。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品,该计算机程序产品包括存储计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,该计算机程序可操作来使计算机执行如上述方法实施例中记载的任何一种系统性能测试方法的部分或全部步骤。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请的技术方案可借助软件和/或硬件来实现。本说明书中的“单元”和“模块”是指能够独立完成或与其他部件配合完成特定功能的软件和/或硬件,其中硬件例如可以是现场可编程门阵列(Field-ProgrammaBLE GateArray,FPGA)、集成电路(Integrated Circuit,IC)等。
需要说明的是,对于前述的各方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本申请并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本申请,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置,可通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些服务接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储器中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括:U盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通进程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一计算机可读存储器中,存储器可以包括:闪存盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取器(Random AccessMemory,RAM)、磁盘或光盘等。
以上所述者,仅为本公开的示例性实施例,不能以此限定本公开的范围。即但凡依本公开教导所作的等效变化与修饰,皆仍属本公开涵盖的范围内。本领域技术人员在考虑说明书及实践这里的公开后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未记载的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的范围和精神由权利要求限定。

Claims (6)

1.一种系统性能测试方法,其特征在于,包括:
获取指定条件下系统的压测数据,其中,所述压测数据包括至少一个生产压测数据和至少一个消费压测数据,所述生产压测数据为一个生产者从客户端向所述系统发送的数据,所述消费压测数据为一个消费者从客户端从所述系统读取的数据;
聚合所述压测数据,计算所述系统在所述指定条件下的测试结果;
基于所述测试结果,确定所述系统的性能;
其中,所述聚合所述压测数据,计算所述系统在所述指定条件下的测试结果,包括:采用数据聚合算法将所述至少一个生产压测数据进行聚合计算,以及采用数据聚合算法将所述至少一个消费压测数据进行聚合计算,得到所述系统在所述指定条件下的测试结果;
其中,所述指定条件包括指定测试时长或指定请求数量;
在所述指定条件包括指定测试时长的情况下,所述获取指定条件下系统的压测数据,包括:获取所述指定测试时长内所述系统的生产者请求数量和消费者请求数量;基于所述指定测试时长以及所述生产者请求数量以及所述消费者请求数量,计算所述系统的第一平均每秒事务数和第一平均响应时间;
所述聚合所述压测数据,计算所述系统在所述指定条件下的测试结果,包括:聚合所述第一平均每秒事务数和第一平均响应时间,计算所述系统的第二平均每秒事务数和第二平均响应时间,所述第一平均每秒事务数包括至少一个,所述第一平均响应时间包括至少一个;将所述第二平均每秒事务数以及所述第二平均响应时间确定为所述系统在所述指定测试时长内的测试结果;
在所述指定条件包括指定请求数量的情况下,所述指定请求数量包括生产者请求数量和消费者请求数量,所述获取指定条件下系统的压测数据,包括:获取所述指定请求数量的所述系统中每个生产者的生产压测时长以及每个消费者的消费压测时长;基于所述请求数量和所述每个生产者的生产压测时长以及所述每个消费者的消费压测时长,计算所述系统的至少一个生产压测结果和至少一个消费压测结果;
所述聚合所述压测数据,计算所述系统在所述指定条件下的测试结果,包括:聚合所述系统的至少一个生产压测结果和至少一个消费压测结果;聚合所述系统中每个生产者的生产压测时长和每个消费者的消费压测时长,计算所述系统的平均响应时间;基于所述平均响应时间以及所述指定请求数量,计算所述系统的平均每秒事务数;将所述平均每秒事务数以及所述平均响应时间确定为所述系统在所述指定请求数量内的测试结果。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测试结果,
确定所述系统的性能,包括:
将所述测试结果与预设性能结果进行比对,确定所述系统的性能。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测试结果,确定所述系统的性能之后,还包括:
生成所述性能对应的性能测试报告。
4.一种系统性能测试装置,其特征在于,包括:
数据获取单元,用于获取指定条件下系统的压测数据,其中,所述压测数据包括至少一个生产压测数据和/或至少一个消费压测数据,所述生产压测数据为一个生产者从客户端向所述系统发送的数据,所述消费压测数据为一个消费者从客户端从所述系统读取的数据;
数据聚合单元,用于聚合所述压测数据,计算所述系统在所述指定条件下的测试结果;
性能确定单元,用于基于所述测试结果,确定所述系统的性能;
其中,所述数据聚合单元,具体用于:采用数据聚合算法将所述至少一个生产压测数据进行聚合计算,和/或采用数据聚合算法将所述至少一个消费压测数据进行聚合计算,得到所述系统在所述指定条件下的测试结果;
其中,所述指定条件包括指定测试时长或指定请求数量;
在所述指定条件包括指定测试时长的情况下,所述数据获取单元,具体用于:获取所述指定测试时长内所述系统的生产者请求数量和消费者请求数量;基于所述指定测试时长以及所述生产者请求数量以及所述消费者请求数量,计算所述系统的第一平均每秒事务数和第一平均响应时间;
所述数据聚合单元,具体用于:聚合所述第一平均每秒事务数和第一平均响应时间,计算所述系统的第二平均每秒事务数和第二平均响应时间,所述第一平均每秒事务数包括至少一个,所述第一平均响应时间包括至少一个;将所述第二平均每秒事务数以及所述第二平均响应时间确定为所述系统在所述指定测试时长内的测试结果;
在所述指定条件包括指定请求数量的情况下,所述指定请求数量包括生产者请求数量和消费者请求数量,所述数据获取单元,具体用于:获取所述指定请求数量的所述系统中每个生产者的生产压测时长以及每个消费者的消费压测时长;基于所述请求数量和所述每个生产者的生产压测时长以及所述每个消费者的消费压测时长,计算所述系统的至少一个生产压测结果和至少一个消费压测结果;
所述数据聚合单元,具体用于:聚合所述系统的至少一个生产压测结果和至少一个消费压测结果;聚合所述系统中每个生产者的生产压测时长和每个消费者的消费压测时长,计算所述系统的平均响应时间;基于所述平均响应时间以及所述指定请求数量,计算所述系统的平均每秒事务数;将所述平均每秒事务数以及所述平均响应时间确定为所述系统在所述指定请求数量内的测试结果。
5.一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,处理器执行计算机程序时实现上述权利要求1-3中任一项所述方法。
6.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现上述权利要求1-3中任一项所述方法。
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