CN113155028A - 一种适用于多规格3c产品盖板的检测载台及检测系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种适用于多规格3C产品盖板的检测载台及检测系统，检测载台包括转接底板、支撑柱、调平板、载物底板、调高螺丝、弹簧螺栓组件和锁紧销；载物底板相对于下方调平板的高度和水平度通过调高螺丝和弹簧螺栓组件调节，待测件通过锁紧销调整定位。检测系统包括检测台座、光源投影模组和图像光学采集模组，系统使用条纹反射法，通过投影和采集条纹图像计算曲率实现对于待测件的尺寸测量和缺陷检测。本检测载台可以适用于多种规格的3C产品的玻璃盖板的量检测，同时设置多个载板及载台，可以提高检测效率，本系统的结构简单，模块化设计，降低了成本提高了扩展适配性。
Description
技术领域
本发明涉及基于图像数据处理的量检测技术，具体涉及一种适用于多规格3C产品盖板的检测载台及检测系统。
背景技术
随着3C产品(计算机-Computer、通信-Communication和消费类电子产品-Consumer Electronics)的普及，产品表面的waviness的量检测显得越来越重要。
然而，现有的检测设备或系统，存在结构复杂，不宜调整，且适应的待测件单一等问题。具体的，对于玻璃盖板等待测件，存在多种规格，长度宽度不同，而现有的都是固定的载台，对不同类型和规格的待测件，此类载台和系统适配性不够。
因此，需简要一个高效、结构简单且能调整的量检测系统。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种适用于多规格3C产品盖板的检测载台及检测系统，其能解决上述问题。
一种适用于多规格3C产品盖板的检测载台，所述检测载台包括转接底板、支撑柱、调平板、载物底板、调高螺丝、弹簧螺栓组件和锁紧销；所述载物底板相对于下方调平板的高度和水平度通过所述调高螺丝和弹簧螺栓组件调节，待测件通过所述锁紧销调整定位。
优选的，所述检测载台还包括载物垫板和推块；其中，所述载物垫板采用PEEK塑料制造用以支撑和匹配不同型号的待测件底面；其中，所述推块设置在非基准边侧以对待测件靠位定位，以适应不同宽度的待测件定位。
本发明还提供了一种检测系统，检测系统包括检测台座、光源投影模组和图像光学采集模组，在所述检测台座的上表面上水平的并排设置多个前述的检测载台，所述光源投影模组角度可调的设置在多个所述检测载台上方，且光源投影模组投射的多频条纹图覆盖所述检测载台；所述图像光学采集模组角度和间距可调的设置在多个所述检测载台上方，且与所述光源投影模组邻接设置，所述图像光学采集模组的相机个数与检测载台的载物底板个数相等；系统使用条纹反射法，通过投影和采集条纹图像计算曲率实现对于待测件的尺寸测量和缺陷检测。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：通过本发明的检测载台，可以适用于多种规格的3C产品的玻璃盖板的量检测，同时设置多个载板及载台，可以提高检测效率，本系统的结构简单，模块化设计，降低了成本提高了扩展适配性。
附图说明
图1为本发明检测载台的结构示意图；
图2为两检测载台四载物底板俯视示意图；
图3为检测系统的示意图；
图4为光源投影模组、检测台座及图像光学采集模组的角度布置关系图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
第一实施例
一种适用于多规格3C产品盖板的检测载台，参见图1，检测载台10包括转接底板11、支撑柱12、调平板13、载物底板14、调高螺丝15、弹簧螺栓组件16和锁紧销17；所述载物底板14相对于下方调平板13的高度和水平度通过所述调高螺丝15和弹簧螺栓组件16调节，待测件通过所述锁紧销17调整定位。
进一步的，为了更好的支撑和定位待测件，检测载台10还包括载物垫板18和推块19；其中，所述载物垫板18采用PEEK塑料制造用以支撑和匹配不同型号的待测件底面；其中，所述推块19设置在非基准边侧以对待测件靠位定位，以适应不同宽度的待测件定位，参见图1中，待测件A、待测件B和待测件C的大小依次变大，则对应推块19向内或朝向基准边侧的距离逐渐变大，
进一步的，对应每个载物底板14设置两个推块19，一个设置在自由长边处的非基准边侧，一个设置在自由短边处的非基准边侧，推块19通过滑道(开设在载物底板14上，也可单独设置)与螺栓定位或滑道与弹簧定位的方式实现对待测件长度和宽度方向的定位。
当然，推块19的数量也可以在每个自由边设置两个，共计四个，以适应大长边的待测件，且推块19的形状和材质也可以根据实际需要进行设计，如带橡胶片等弹性层的推块，再如整体呈扁平而非长条状推块，这些都在本申请的考虑范围。
如图1所示的示例中，每个检测载台10包括两个相邻设置的载物底板14，即，双载台四载板的四工位其可对应三种不同大小规格的待测件，参见图2，从左至右依次为待测件A检测、待测件B检测、待测件C检测、无待测件空载的检测载台10。
进一步的，载物底板14也可以进行变体，如一个载物底板14上可供两个待测件，即图1中的两个载物底板14合并为一，可减少装配量。
上述检测载台10，实现了模块化设计和配置，针对不同的检测环境，可适配性的增加和选用不同数量和规格。以此适用于多规格3C产品盖板的高效承载、定位和量检测。
第二实施例
一种检测系统，参见图3，检测系统包括检测台座1、光源投影模组2和图像光学采集模组3。
在检测台座1的上表面上水平的并排设置多个第一实施例的检测载台10(图示优选为2个)，所述光源投影模组2角度可调的设置在多个所述检测载台10上方，且光源投影模组2投射的多频条纹图覆盖所述检测载台10；所述图像光学采集模组3角度和间距可调的设置在多个所述检测载台10上方，且与所述光源投影模组2邻接设置，所述图像光学采集模组3的相机个数与检测载台10的载物底板14个数相等。
检测台座1包括多个检测载台10、底座20和位于底座20底面的多个防滑地脚30；多个所述检测载台10位置可调的设置在所述底座20上表面离后边缘1/4～1/2的宽度距离。
光源投影模组2的投影方向与检测台座1的水平面的夹角为投影角α，所述图像光学采集模组3的图像采集方向与检测台座1的水平面的夹角为采集角β，参见图4，投影角α与采集角β角度相同，45°≤α＝β≤75°，优选的，α＝β＝60°。
系统的每个相机镜头组件同时进行两个待测件进行数据采集，通过双目重建方法实现对待测件的尺寸测量和缺陷检测。系统使用条纹反射法，通过投影和采集条纹图像计算曲率实现对于待测件的尺寸测量和缺陷检测。
需要说明的是，不同实施例可能产生的有益效果不同，在不同的实施例里，可能产生的有益效果可以是以上任意一种或几种的组合，也可以是其他任何可能获得的有益效果。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (7)
1.一种适用于多规格3C产品盖板的检测载台，其特征在于：检测载台(10)包括转接底板(11)、支撑柱(12)、调平板(13)、载物底板(14)、调高螺丝(15)、弹簧螺栓组件(16)和锁紧销(17)；所述载物底板(14)相对于下方调平板(13)的高度和水平度通过所述调高螺丝(15)和弹簧螺栓组件(16)调节，待测件通过所述锁紧销(17)调整定位。
2.根据权利要求1所述的检测载台，其特征在于：所述检测载台(10)还包括载物垫板(18)和推块(19)；其中，所述载物垫板(18)采用PEEK塑料制造用以支撑和匹配不同型号的待测件底面；其中，所述推块(19)设置在非基准边侧以对待测件靠位定位，以适应不同宽度的待测件定位。
3.根据权利要求2所述的检测载台，其特征在于：对应每个载物底板(14)设置两个推块(19)，一个设置在自由长边处的非基准边侧，一个设置在自由短边处的非基准边侧，推块(19)通过滑道与螺栓定位或滑道与弹簧定位的方式实现对待测件长度和宽度方向的定位。
4.根据权利要求1所述的检测载台，其特征在于：每个所述检测载台(10)包括两个相邻设置的载物底板(14)。
5.一种检测系统，包括检测台座(1)、光源投影模组(2)和图像光学采集模组(3)，其特征在于：在所述检测台座(1)的上表面上水平的并排设置多个如权利要求1-4任一项所述的检测载台(10)，所述光源投影模组(2)角度可调的设置在多个所述检测载台(10)上方，且光源投影模组(2)投射的多频条纹图覆盖所述检测载台(10)；所述图像光学采集模组(3)角度和间距可调的设置在多个所述检测载台(10)上方，且与所述光源投影模组(2)邻接设置；系统使用条纹反射法，通过投影和采集条纹图像计算曲率实现对于待测件的尺寸测量和缺陷检测。
6.根据权利要求5所述的检测系统，其特征在于：所述检测台座(1)包括多个检测载台(10)、底座(20)和位于底座(20)底面的多个防滑地脚(30)；多个所述检测载台(10)位置可调的设置在所述底座(20)上表面离后边缘1/4～1/2的宽度距离。
7.根据权利要求5所述的检测系统，其特征在于：所述光源投影模组(2)的投影方向与检测台座(1)的水平面的夹角为投影角α，所述图像光学采集模组(3)的图像采集方向与检测台座(1)的水平面的夹角为采集角β，投影角α与采集角β角度相同，45°≤α＝β≤75°；系统的每个相机镜头组件(31)同时进行两个待测件进行数据采集，通过双目重建方法实现对待测件的尺寸测量和缺陷检测。
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