CN113124908A - 一种提高仪器测量精度的方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种提高仪器测量精度的方法和系统，其中，所述方法包括：获得传感器的传输类型；获得其使用环境的图像信息；由图像信息获得使用环境对于传感器的第一影响系数；由干扰检测装置获得使用环境内的干扰信息；将传输类型和干扰信息输入至评估模型，获得所述干扰信息对于传感器的第二影响系数；由第一影响系数和第二影响系数获得对于传感器输出信号的第一调整值；依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。解决了现有技术中工作环境对于仪器测量精度的影响较大，难以通过降低环境影响来提高仪器使用精度的技术问题。

Description

一种提高仪器测量精度的方法和系统

技术领域

本发明涉及测量仪器领域，尤其涉及一种提高仪器测量精度的方法和系统。

背景技术

在精密和超精密加工技术迅猛发展的今天，测量技术水平、测量精度的不断提高已显得尤为重要，在高质量产品的制造和高效率生产环境的构建中，测量技术起到了很大的作用，其重要性与日俱增。在测量仪器的工作过程中，工作环境对测量精度会有较大的影响。工作环境可能会带来不可避免的干扰，因此对工作环境中的干扰加以控制，是提高仪器测量精度的方法之一。

本申请发明人在实现本申请实施例中发明技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：

工作环境对于仪器测量精度的影响较大，难以通过降低环境影响来提高仪器使用精度。

发明内容

本申请实施例通过提供一种提高仪器测量精度的方法和系统，解决了现有技术中工作环境对于仪器测量精度的影响较大，难以通过降低环境影响来提高仪器使用精度的技术问题。实现了通过对传感器工作环境中的各影响因素进行准确评估，从而对传感器的输出信号进行修正，从而提高传感器测量精度的技术目的。

鉴于上述问题，本申请实施例提供一种提高仪器测量精度的方法和系统。

第一方面，本申请提供了一种提高仪器测量精度的方法，其中，所述方法包括：获得第一传感器的第一传输类型；获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；获得第一干扰检测装置；由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；获得所述第一传感器的第一输出信号；由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

另一方面，本申请还提供了一种提高仪器测量精度的系统，其中，所述系统包括：第一获得单元，所述第一获得单元用于获得第一传感器的第一传输类型；第二获得单元，所述第二获得单元用于获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；第三获得单元，所述第三获得单元用于由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；第四获得单元，所述第四获得单元用于获得第一干扰检测装置；第五获得单元，所述第五获得单元用于由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；第一输入单元，所述第一输入单元将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；第六获得单元，所述第六获得单元用于获得所述第一传感器的第一输出信号；第七获得单元，所述第七获得单元用于由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；第八获得单元，所述第八获得单元用于获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

另一方面，本申请实施例还提供了一种提高仪器测量精度的系统，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述程序时实现上述第一方面所述方法的步骤。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

由于采用了通过图像捕捉装置对传感器的工作环境进行评估，获得所处环境对于传感器正常使用的影响程度；通过干扰检测装置对传感器所处环境中的干扰信息进行检测，从而获得环境干扰对于传感器使用的影响程度；综合传感器所处环境的各影响因素，对传感器的输出信号值进行修正，从而获得更为准确的输出信号，提高传感器测量精度。实现了通过对传感器工作环境中的各影响因素进行准确评估，从而对传感器的输出信号进行修正，从而提高传感器测量精度的技术目的。

上述说明是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

图1为本申请实施例一种提高仪器测量精度的方法的流程示意图；

图2为本申请实施例一种提高仪器测量精度的系统的结构示意图；

图3为本申请实施例示例性电子设备的结构示意图。

附图标记说明：第一获得单元11，第二获得单元12，第三获得单元13，第四获得单元14，第五获得单元15，第一输入单元16，第六获得单元17，第七获得单元18，第八获得单元19，总线300，接收器301，处理器302，发送器303，存储器304，总线接口305。

具体实施方式

本申请实施例通过提供一种提高仪器测量精度的方法和系统，解决了现有技术中工作环境对于仪器测量精度的影响较大，难以通过降低环境影响来提高仪器使用精度的技术问题。实现了通过对传感器工作环境中的各影响因素进行准确评估，从而对传感器的输出信号进行修正，从而提高传感器测量精度的技术目的。

下面，将参考附图详细的描述本申请的示例实施例，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是本申请的全部实施例，应理解，本申请不受这里描述的示例实施例的限制。

申请概述

在测量仪器的工作过程中，工作环境对测量精度会有较大的影响。工作环境可能会带来不可避免的干扰，因此对工作环境中的干扰加以控制，是提高仪器测量精度的方法之一。现有技术中还存在着工作环境对于仪器测量精度的影响较大，难以通过降低环境影响来提高仪器使用精度的技术问题。

针对上述技术问题，本申请提供的技术方案总体思路如下：

本申请提供了一种提高仪器测量精度的方法，其中，所述方法包括：获得第一传感器的第一传输类型；获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；获得第一干扰检测装置；由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；获得所述第一传感器的第一输出信号；由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

在介绍了本申请基本原理后，下面将结合说明书附图来具体介绍本申请的各种非限制性的实施方式。

实施例一

如图1所示，本申请实施例提供了一种提高仪器测量精度的方法，其中，所述方法包括：

步骤S100：获得第一传感器的第一传输类型；

具体而言，所述第一传感器应用于电力系统中，实现电力系统信息快速准确获取及后续控制策略的及时执行，主要传感器类型包括功率传感器、电流电压传感器、热电阻传感器、霍尔传感器等。所述第一传输类型包括模拟量型、网络型、无线电型。不同传输类型的传感器对于电路类型、外界干扰的受干扰程度不同，因此首先确定所述第一传输类型，为后续对环境对于传感器的影响程度评估奠定了基础。

步骤S200：获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；

步骤S300：由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；

具体而言，所述第一图像信息由所述第一传感器所在电路中的图像捕捉装置获得，所述第一图像信息包括所述第一传感器所处位置的线路情况、传感器的破损情况、传感器的安装情况等。通过对所述第一图像信息中传感器工作环境的优劣情况进行分析，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的影响程度。所述第一影响系数用于评估所述第一使用环境对于所述第一传感器的影响程度，所述第一影响系数越大，所述第一使用环境对于所述第一传感器的影响程度越大。举例而言，若通过图像识别及分析，判断传感器安装位置处于风口位置，则传感器在测量时的温度波动变大，从而影响其测量精度。

步骤S400：获得第一干扰检测装置；

步骤S500：由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；

具体而言，通过所述第一干扰检测装置对所述第一使用环境中所述第一传感器所受的干扰信息进行检测，工作环境所带来的不可避免的干扰，例如：高低频噪声干扰，电网谱波干扰，人体静电干扰，空间的电磁干扰等许多干扰源，致使测量仪器在工作时的稳定性下降，因为传感器是通过改变电感量来实现信号的输人，而外界的干扰将直接影响到电感量的变化，直接影响仪器的测量精度。因此通过所述第一干扰检测装置进行干扰检测，获得所述第一干扰信息，为后续确定所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的影响程度奠定了基础。

步骤S600：将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；

具体而言，所述第一评估模型为一神经网络模型，具有不断学习、获取经验来处理数据的特点，通过将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，所述第一评估模型通过监督训练，从而输出准确的所述第二影响系数，所述第二影响系数用于评估所述第一使用环境中的干扰信息对于所述传感器的影响程度。

步骤S700：获得所述第一传感器的第一输出信号；

步骤S800：由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；

步骤S900：获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号，获得第二输出信号。

具体而言，通过所述第一影响系数和所述第二影响系数，获得所述第一使用环境中环境因素和干扰因素对于所述第一传感器使用影响程度所占的比重，影响系数数值越大，对传感器的输出信号影响程度越大。获得各环境因素以及干扰因素对于传感器输出信号影响的对应关系，结合影响程度的表征值，获得对于所述第一输出信号的调整值，从而依据所述第一调整值对所述第一调整信号进行修正，获得所述第二输出信号，通过获得所述第二输出信号，进一步提高了传感器的测量精度。

进一步而言，本申请实施例步骤S300还包括：

步骤S301：由所述第一图像信息获得所述第一传感器的第一安装位置；

步骤S302：获得所述第一安装位置处的第一线路；

步骤S303：获得所述第一线路的第一老化程度和第一传输长度；

步骤S304：由所述第一老化程度和所述第一传输长度获得所述第一线路的第一线路损耗值；

步骤S305：由所述第一线路损耗值确定所述第一影响系数。

具体而言，由图像捕捉装置获得所述第一传感器安装位置处的图像信息，由图像获得传感器周围线路的老化程度以及线路长度，线路老化越严重，线路越长，信号传输过程中信号的损耗程度越大。因此通过对所述第一老化程度和所述第一传输长度进行分析，从而对所述第一线路的线路损耗值进行评估，依据评估结果确定所述第一线路损耗值，线路损耗对于传感器的测量精度的影响程度较大，因此通过确定所述第一线路损耗值即可确定所述第一影响系数。

进一步而言，本申请实施例步骤S305还包括：

步骤S3051：获得所述第一线路的第一材质信息；

步骤S3052：由所述第一材质信息获得第一预设工作条件阈值；

步骤S3053：获得所述第一线路的第一工作条件；

步骤S3054：判断所述第一工作条件是否满足所述第一预设工作条件阈值；

步骤S3055：若所述第一工作条件不满足所述第一预设工作条件阈值，获得所述第一工作条件下所述第一线路的第二电路损耗值；

步骤S3056：依据所述第一电路损耗值和所述第二电路损耗值确定所述第一影响系数。

具体而言，线路在传输信号的过程中，线路工作过程中的工作温度、湿度等多方面因素的变化都会影响信号传输，从而影响传感器测量的精度及测量稳定性。通过分析所述第一线路的材质，确定所述第一线路所适宜的工作条件，从而确定所述第一预设工作条件阈值；由各类传感器获得所述第一线路周围的温度、湿度，判断所述第一线路的实时工作条件，继而判断所述第一工作条件是否满足所述第一预设工作条件阈值，若不满足，则获得所述第一工作条件下所述第一线路的电路损耗值，即所述第二电路损耗值，继而依据所述第一电路损耗值和所述第二电路损耗值确定所述第一影响系数，通过获得所述第二电路损耗值使得所述第一影响系数更为准确。

进一步而言，本申请实施例步骤S900还包括：

步骤S901：获得第一仿真分析软件；

步骤S902：将第一电路输入至所述第一仿真分析软件进行仿真分析，获得第一修正系数；

步骤S903：依据所述第一修正系数对所述第二输出信号进行修正处理，获得第三输出信号。

具体而言，电路设计的重要一步是原理图完成之后的电路仿真，通过仿真结果分析电路的设计指标是否满足设计要求，该如何修改等。将理论分析与仿真结果相结合，才能高效地设计电路。因此在确定所述第一传感器所在的电路原理图之后，将所述第一电路输入至所述第一仿真分析软件对电路进行仿真分析，从而获得对于电路中传感器的理论输出信号值，依据仿真分析的结果对所述第二输出信号进行修正，从而获得更为准确的所述第三输出信号。

进一步而言，本申请实施例步骤S500还包括：

步骤S501：由所述第一干扰信息获得第一干扰类型和第一干扰来源；

步骤S502：获得所述第一线路的第一线路敏感度；

步骤S503：依据所述第一干扰类型和所述第一线路敏感度获得对于所述第一干扰来源的第一干预力度；

步骤S504：依据所述第一干预力度制定第一干预措施。

具体而言，由所述第一干扰检测装置获得所述第一传感器所处环境中的干扰信息之后，依据所述第一干扰信息分析干扰来源及类型。传感器的干扰来源主要有两种途径：一是由电路感应产生干扰，如静电感应干扰、电磁感应干扰、漏电流感应干扰等；二是由大型电路设备以及通信线路的感应引入干扰，如射频干扰等。在获得干扰来源及干扰类型之后，具体分析所处环境的干扰来源以及信号传输线路的敏感度，举例而言，依据干扰类型及线路敏感度，检查接地处理和传感器信号线屏蔽措施是否到位，是否附近安装有大型动力设备。并依据线路敏感度，确定对于干扰来源的干预措施，从而提高干预效率，保护线路。

进一步而言，本申请实施例步骤S100还包括：

步骤S101：获得所述第一传感器的第一输入信号；

步骤S102：由所述第一传输类型获得第一数据处理算法；

步骤S103：依据所述第一数据处理算法建立第一算法处理模型；

步骤S104：将所述第一输入信号输入至所述第一算法处理模型进行处理，获得第二输入信号；

步骤S105：将所述第二输入信号输入至所述第一传感器。

具体而言，在采集控制系统的模拟量输入信号中，或多或少的含有各种干扰，这些干扰来自被检测信号源本身、传感器、外界干扰等几个方面。要提高传感器测量的准确度，必须消除信号中的干扰，需要有效的对采集的数据进行算法处理，从而保证测量的准确性。因此依据所述第一传感器的传输类型确定对于其输入信号进行算法处理的具体算法，并建立算法处理模型，将所述第一传感器的输入信号输入至算法处理模型进行处理，从而得到更为精确地输入信号，继而以所述第二输入信号为新的输入信号，由传感器进行信号处理。

进一步而言，本申请实施例步骤S600还包括：

步骤S601：将所述第一传输类型和所述第一干扰信息作为输入数据输入至第一评估模型，所述第一评估模型通过多组训练数据训练获得，其中，所述多组训练数据均包含所述第一传输类型、所述第一干扰信息和所述第二影响系数的标识信息；

步骤S602：获得所述第一评估模型的第一输出结果，所述第一输出结果包括所述第二影响系数。

具体而言，所述第一评估模型为一神经网络模型，所述神经网络模型通过多组训练数据训练获得，所述神经网络模型即机器学习中的神经网络模型，它反映了人脑功能的许多基本特征，是一个高度复杂的非线性动力学习系统。所述神经网络模型通过训练数据训练的过程本质上为监督学习的过程。所述多组中的训练数据中的每一组训练数据均包括所述第一传输类型、所述第一干扰信息和所述第二影响系数的标识信息；在获得所述第一传输类型、所述第一干扰信息的情况下，神经网络模型会输出所述第二影响系数的标识信息来对神经网络模型输出的所述第二影响系数进行校验，如果输出的所述第二影响系数同标识的所述第二影响系数相一致，则本数据监督学习完成，则进行下一组数据监督学习；如果输出的所述第二影响系数同标识的所述第二影响系数不一致，则神经网络模型自身进行调整，直到神经网络模型达到预期的准确率后，进行下一组数据的监督学习。通过训练数据使神经网络模型自身不断地修正、优化，通过监督学习的过程来提高神经网络模型处理所述数据的准确性，进而使得所述第二影响系数更加准确。

综上所述，本申请实施例所提供的一种提高仪器测量精度的方法具有如下技术效果：

1、由于采用了通过图像捕捉装置对传感器的工作环境进行评估，获得所处环境对于传感器正常使用的影响程度；通过干扰检测装置对传感器所处环境中的干扰信息进行检测，从而获得环境干扰对于传感器使用的影响程度；综合传感器所处环境的各影响因素，对传感器的输出信号值进行修正，从而获得更为准确的输出信号，提高传感器测量精度。实现了通过对传感器工作环境中的各影响因素进行准确评估，从而对传感器的输出信号进行修正，从而提高传感器测量精度的技术目的。

2、由于采用了将所述第一传输类型和所述第一干扰信息作为输入数据输入所述第一评估模型，所述第一评估模型通过训练数据对输出结果进行训练，从而依据输出结果进一步获得所述第二影响系数，基于训练模型能够不断学习、获取经验来处理数据的特点，使得所获得的所述第二影响系数更为准确。

实施例二

基于与前述实施例中一种提高仪器测量精度的方法同样发明构思，本发明还提供了一种提高仪器测量精度的系统，如图2所示，所述系统包括：

第一获得单元11，所述第一获得单元11用于获得第一传感器的第一传输类型；

第二获得单元12，所述第二获得单元12用于获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；

第三获得单元13，所述第三获得单元13用于由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；

第四获得单元14，所述第四获得单元14用于获得第一干扰检测装置；

第五获得单元15，所述第五获得单元15用于由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；

第一输入单元16，所述第一输入单元16将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；

第六获得单元17，所述第六获得单元17用于获得所述第一传感器的第一输出信号；

第七获得单元18，所述第七获得单元18用于由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；

第八获得单元19，所述第八获得单元19用于获得第一调整指令，依据所述第一调整指令对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

进一步的，所述系统还包括：

第九获得单元，所述第九获得单元用于由所述第一图像信息获得所述第一传感器的第一安装位置；

第十获得单元，所述第十获得单元用于获得所述第一安装位置处的第一线路；

第十一获得单元，所述第十一获得单元用于获得所述第一线路的第一老化程度和第一传输长度；

第十二获得单元，所述第十二获得单元用于由所述第一老化程度和所述第一传输长度获得所述第一线路的第一线路损耗值；

第十三获得单元，所述第十三获得单元用于由所述第一线路损耗值确定所述第一影响系数。

进一步的，所述系统还包括：

第十四获得单元，所述第十四获得单元用于获得所述第一线路的第一材质信息；

第十五获得单元，所述第十五获得单元用于由所述第一材质信息获得第一预设工作条件阈值；

第十六获得单元，所述第十六获得单元用于获得所述第一线路的第一工作条件；

第一判断单元，所述第一判断单元用于判断所述第一工作条件是否满足所述第一预设工作条件阈值；

第十七获得单元，所述第十七获得单元用于若所述第一工作条件不满足所述第一预设工作条件阈值，获得所述第一工作条件下所述第一线路的第二电路损耗值；

第十八获得单元，所述第十八获得单元用于依据所述第一电路损耗值和所述第二线路损耗值确定所述第一影响系数。

进一步的，所述系统还包括：

第十九获得单元，所述第十九获得单元用于获得第一仿真分析软件；

第二输入单元，所述第二输入单元用于将第一电路输入至所述第一仿真分析软件进行仿真分析，获得第一修正系数；

第一修正单元，所述第一修正单元用于依据所述第一修正系数对所述第二输出信号进行修正处理，获得第三输出信号。

进一步的，所述系统还包括：

第二十获得单元，所述第二十获得单元用于由所述第一干扰信息获得第一干扰类型和第一干扰来源；

第二十一获得单元，所述第二十一获得单元用于获得所述第一线路的第一线路敏感度；

第二十二获得单元，所述第二十二获得单元用于依据所述第一干扰类型和所述第一线路敏感度获得对于所述第一干扰来源的第一干预力度；

第二十三获得单元，所述第二十三获得单元用于依据所述第一干预力度制定第一干预措施。

进一步的，所述系统还包括：

第二十四获得单元，所述第二十四获得单元用于获得所述第一传感器的第一输入信号；

第二十五获得单元，所述第二十五获得单元用于由所述第一传输类型获得第一数据处理算法；

第二十六获得单元，所述第二十六获得单元用于依据所述第一数据处理算法建立第一算法处理模型；

第二十七获得单元，所述第二十七获得单元用于将所述第一输入信号输入至所述第一算法处理模型进行处理，获得第二输入信号；

第三输入单元，所述第三输入单元用于将所述第二输入信号输入至所述第一传感器。

进一步的，所述系统还包括：

第四输入单元，所述第四输入单元用于将所述第一传输类型和所述第一干扰信息作为输入数据输入至第一评估模型，所述第一评估模型通过多组训练数据训练获得，其中，所述多组训练数据均包含所述第一传输类型、所述第一干扰信息和所述第二影响系数的标识信息；

第二十八获得单元，所述第二十八获得单元用于获得所述第一评估模型的第一输出结果，所述第一输出结果包括所述第二影响系数。

前述图1实施例一中的一种提高仪器测量精度的方法和具体实例同样适用于本实施例的一种提高仪器测量精度的系统，通过前述对一种提高仪器测量精度的方法的详细描述，本领域技术人员可以清楚的知道本实施例中一种提高仪器测量精度的系统，所以为了说明书的简洁，在此不再详述。

示例性电子设备

下面参考图3来描述本申请实施例的电子设备。

图3图示了根据本申请实施例的电子设备的结构示意图。

基于与前述实施例一种提高仪器测量精度的方法的发明构思，本发明还提供一种提高仪器测量精度的系统，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现前文所述一种提高仪器测量精度的方法的任一方法的步骤。

其中，在图3中，总线架构(用总线300来代表)，总线300可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线300将包括由处理器302代表的一个或多个处理器和存储器304代表的存储器的各种电路链接在一起。总线300还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口305在总线300和接收器301和发送器303之间提供接口。接收器301和发送器303可以是同一个元件，即收发机，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。

处理器302负责管理总线300和通常的处理，而存储器304可以被用于存储处理器302在执行操作时所使用的数据。

本申请提供了一种提高仪器测量精度的方法，其中，所述方法包括：获得第一传感器的第一传输类型；获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；获得第一干扰检测装置；由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；获得所述第一传感器的第一输出信号；由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的系统。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令系统的制造品，该指令系统实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种提高仪器测量精度的方法，其中，所述方法包括：

获得第一传感器的第一传输类型；

获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；

由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；

获得第一干扰检测装置；

由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；

将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；

获得所述第一传感器的第一输出信号；

由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；

获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

由所述第一图像信息获得所述第一传感器的第一安装位置；

获得所述第一安装位置处的第一线路；

获得所述第一线路的第一老化程度和第一传输长度；

由所述第一老化程度和所述第一传输长度获得所述第一线路的第一线路损耗值；

由所述第一线路损耗值确定所述第一影响系数。

3.如权利要求2所述的方法，其中，所述方法包括：

获得所述第一线路的第一材质信息；

由所述第一材质信息获得第一预设工作条件阈值；

获得所述第一线路的第一工作条件；

判断所述第一工作条件是否满足所述第一预设工作条件阈值；

若所述第一工作条件不满足所述第一预设工作条件阈值，获得所述第一工作条件下所述第一线路的第二电路损耗值；

依据所述第一电路损耗值和所述第二线路损耗值确定所述第一影响系数。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

获得第一仿真分析软件；

将第一电路输入至所述第一仿真分析软件进行仿真分析，获得第一修正系数；

依据所述第一修正系数对所述第二输出信号进行修正处理，获得第三输出信号。

5.如权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

由所述第一干扰信息获得第一干扰类型和第一干扰来源；

获得所述第一线路的第一线路敏感度；

依据所述第一干扰类型和所述第一线路敏感度获得对于所述第一干扰来源的第一干预力度；

依据所述第一干预力度制定第一干预措施。

6.如权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

获得所述第一传感器的第一输入信号；

由所述第一传输类型获得第一数据处理算法；

依据所述第一数据处理算法建立第一算法处理模型；

将所述第一输入信号输入至所述第一算法处理模型进行处理，获得第二输入信号；

将所述第二输入信号输入至所述第一传感器。

7.如权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

将所述第一传输类型和所述第一干扰信息作为输入数据输入至第一评估模型，所述第一评估模型通过多组训练数据训练获得，其中，所述多组训练数据均包含所述第一传输类型、所述第一干扰信息和所述第二影响系数的标识信息；

获得所述第一评估模型的第一输出结果，所述第一输出结果包括所述第二影响系数。

8.一种提高仪器测量精度的系统，其中，所述系统包括：

第一获得单元，所述第一获得单元用于获得第一传感器的第一传输类型；

第二获得单元，所述第二获得单元用于获得所述第一传感器的第一使用环境的第一图像信息；

第三获得单元，所述第三获得单元用于由所述第一图像信息获得所述第一使用环境对于所述第一传感器使用的第一影响系数；

第四获得单元，所述第四获得单元用于获得第一干扰检测装置；

第五获得单元，所述第五获得单元用于由所述第一干扰检测装置获得所述第一使用环境的第一干扰信息；

第一输入单元，所述第一输入单元将所述第一传输类型和所述第一干扰信息输入至第一评估模型，获得所述第一使用环境对于所述第一传感器的第二影响系数；

第六获得单元，所述第六获得单元用于获得所述第一传感器的第一输出信号；

第七获得单元，所述第七获得单元用于由所述第一影响系数和所述第二影响系数获得对于所述第一输出信号的第一调整值；

第八获得单元，所述第八获得单元用于获得第一调整指令，所述第一调整指令用于依据所述第一调整值对所述第一传感器进行调整，获得第二输出信号。

9.一种提高仪器测量精度的系统，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-7任一项所述方法的步骤。

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