CN113113295B - 一种片上硫系材料填充结构的制备方法 - Google Patents
一种片上硫系材料填充结构的制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113113295B CN113113295B CN202110369274.8A CN202110369274A CN113113295B CN 113113295 B CN113113295 B CN 113113295B CN 202110369274 A CN202110369274 A CN 202110369274A CN 113113295 B CN113113295 B CN 113113295B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- film
- electron beam
- sample
- chalcogenide
- glue
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 title claims abstract description 43
- 238000011049 filling Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 29
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 75
- 239000003292 glue Substances 0.000 claims description 49
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 8
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 6
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 claims description 5
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 claims description 3
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 3
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910000618 GeSbTe Inorganic materials 0.000 claims description 2
- VDDXNVZUVZULMR-UHFFFAOYSA-N germanium tellurium Chemical compound [Ge].[Te] VDDXNVZUVZULMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000011068 loading method Methods 0.000 claims description 2
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000007888 film coating Substances 0.000 claims 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 abstract description 7
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012782 phase change material Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- YPMOSINXXHVZIL-UHFFFAOYSA-N sulfanylideneantimony Chemical compound [Sb]=S YPMOSINXXHVZIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/26—Bombardment with radiation
- H01L21/263—Bombardment with radiation with high-energy radiation
- H01L21/2636—Bombardment with radiation with high-energy radiation for heating, e.g. electron beam heating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/26—Bombardment with radiation
- H01L21/263—Bombardment with radiation with high-energy radiation
- H01L21/265—Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation
- H01L21/266—Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation using masks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
本发明涉及片上微纳光电子器件制备技术领域,更具体地,涉及一种片上硫系材料填充结构的制备方法。通过电子束曝光、深反应离子体反应刻蚀、热蒸镀生长硫系薄膜以及三步去胶流程,实现在片上填充较软的硫系薄膜结构,并与传统的填充结构制备作比较,提供了一种高精度易实现的片上硫系材料填充结构的制备方法。
Description
技术领域
本发明涉及片上微纳光电子器件制备技术领域,更具体地,涉及一种片上硫系材料填充结构的制备方法。
背景技术
微纳加工技术是指尺度为毫米、微米和纳米量级的零件,以及由这些零件构成的部件或系统的设计、加工、组装、集成与应用技术。微纳制造包括微制造和纳制造两个方面。其中纳制造是指具有特定功能的纳米尺度的结构、器件和系统的制造技术,光刻是一种重要的纳制造。在硅等基体材料上涂覆光致抗蚀剂,然后用极限分辨率极高的能量束来通过掩模对光致抗蚀剂层进行曝光。经显影后,在光致抗蚀剂层上获得与掩模图形相同的及微细的几何图形,再利用刻蚀等方法,在工件材料上制造出微型结构。
填充结构对片上动态光器件十分重要,然而,利用光刻对较软的硫系材料制备填充结构存在一些困难:材料较软,很难进行传统的填充后抛光处理。
发明内容
本发明为克服上述现有技术中的至少一个缺陷,提供一种高精度易实现的片上硫系材料填充结构的制备方法。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种片上硫系材料填充结构的制备方法,包括以下步骤:
S1.旋涂电子束胶:薄膜样品由下至上依次为衬底、缓冲层、刻蚀层;在所述的刻蚀层上表面旋涂电子束胶;
S2.电子束曝光:
S21.将旋涂有电子束胶的薄膜样品固定在电子束曝光的样品台上,调整好薄膜样品相对高度,并记录下薄膜样品的相对坐标;最后,将薄膜样品装入送样台内;
S22.对所想要曝光的图案进行处理,转化为控制电子束设备的程序文件,并输入步骤S21中记录的相对坐标;然后,将薄膜样品送入曝光腔室;最后,运行程序控制电子束对电子束胶选择性曝光;
S23.曝光完成后,将薄膜样品放入显影液内进行显影去除曝光区域变性后的电子束胶,直到形成所需要的电子束胶图案层;
S3.深反应离子刻蚀:将显影后,含有电子束胶图案层的薄膜样品放置于载盘上,利用深反应离子刻蚀机,对薄膜样品进行离子轰击及离子反应刻蚀,在刻蚀过程中,覆盖有电子束胶图案层的薄膜区域没有接触到刻蚀离子而被保留,其他薄膜区域经过离子反应刻蚀而被刻蚀;刻蚀完成后,形成凹槽及残留电子束胶图案;
S4.热蒸镀硫系薄膜:将步骤S3中的薄膜样品放在样品台上,经过等离子体表面活化,使硫系薄膜在蒸发过程中均匀生长在薄膜样品上;
S5.电子胶及其表面上硫系薄膜的剥离:
S51.将镀膜后含有硫系薄膜的样品放入剥离液中水浴,初步去除样品上残留的电子束胶,以及电子束胶表面上的硫系薄膜;
S52.利用粘性胶多次粘贴样品表面进一步去除残留的电子束胶;
S53.最后,利用化学物理平坦化机对样品进行短暂的研磨抛光,实现片上硫系材料填充结构的制备。
在其中一个实施例中,所述的硫系材料包括硫化碲、锗碲硫或锗锑碲。
在其中一个实施例中,旋涂的电子束胶层的抗刻蚀性高于薄膜层。
在其中一个实施例中,所述的电子书胶层的厚度为400nm~800nm。
在其中一个实施例中,所述的步骤S3中刻蚀的凹槽的深度为80nm~400nm;填充结构的形状包括圆形、多边形;填充结构的边长或半径不小于150nm;相邻填充结构之间的间隔不小于100nm。
在其中一个实施例中,所述的剥离液水浴温度为20℃~70℃。
在其中一个实施例中,在所述的步骤S52中,利用粘性胶粘贴的次数不高于5次;利用化学物理平坦化机的势场不超过1min,压力低于0.5psi。
在其中一个实施例中,所述的粘性胶为蓝膜。
在其中一个实施例中,所述的缓冲层为氧化硅薄膜、掺锡氧化铟薄膜、非晶硅薄膜、氮化硅薄膜或石墨烯薄膜。
在其中一个实施例中,所述的刻蚀层为氧化硅薄膜、非晶硅薄膜、氮化硅薄膜或硫系薄膜。
与现有技术相比,有益效果是:本发明提供的一种片上硫系材料填充结构的制备方法,通过电子束曝光、深反应离子体反应刻蚀、热蒸镀生长硫系薄膜以及三步去胶流程,实现在片上填充较软的硫系薄膜结构,并与传统的填充结构制备作比较,提供了一种高精度易实现的硫系材料填充结构的制备方法。
附图说明
图1是本发明的制备流程示意图。
图2是本发明镀膜后样品的表面电镜图。
图3是本发明初步去胶后样品表面的电镜图。
图4是本发明制备完成后样品的电镜图。
附图标记:1、衬底;2、缓冲层;3、刻蚀层;4、电子束胶;5、电子束胶图案层;6、凹槽;7、残留电子束胶图案;8、硫系薄膜。
具体实施方式
附图仅用于示例性说明,不能理解为对本发明的限制;为了更好说明本实施例,附图某些部件会有省略、放大或缩小,并不代表实际产品的尺寸;对于本领域技术人员来说,附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。附图中描述位置关系仅用于示例性说明,不能理解为对本发明的限制。
硫系材料是以硫元素结合锗、砷、锑等形成的一种非晶材料,具有较高的折射率(在2.1-2.8之间),和较高的非线性系数(是氧化硅材料的100倍),它具有相对于硅等平台材料在通信波段具有可以忽略的双光子吸收收,折射率温度系数低(比硅小1-2个数量级),可在低温下实现薄膜沉积,兼容CMOS工艺;而且,其中硫化物相变材料相变响应速度快,相变前后折射率相差较大(通常在1-2之间)。因此,硫系材料8是实现片上动态光器件的理想材料平台。
如图1和图2所示,一种片上硫系材料8填充结构的制备方法,包括以下步骤:
步骤1:薄膜样品表面旋涂电子束胶4:薄膜样品由下至上依次为衬底1、掺锡氧化铟层、二氧化硅层;在所述的二氧化硅层上表面旋涂电子束胶4;
步骤2:电子束曝光:
S21.将旋涂有电子束胶4的薄膜样品固定在电子束曝光的样品台的卡槽中,通过相关设备将样品调整为水平,相对高度调成-50um~50um,并通过显微镜及相关设备记录下样品的相对坐标;最后,将所述的薄膜样品装在送样台上;
S22.通过电子束曝光相关软件对所想要曝光的图案进行处理,转化为控制电子束设备的程序文件,并输入步骤S21中记录的相对坐标;然后,将薄膜样品送入曝光腔室;最后,运行程序控制电子束对电子束胶4选择性曝光;
S23.曝光完成之后,将薄膜样品放入显影液内进行显影去除曝光区域的电子束胶4,直到形成所需要的电子束胶4图案层。
步骤3:深反应离子刻蚀:将显影过后含有电子束胶4图案层的薄膜样品放置于载盘上,利用深反应离子刻蚀机,对薄膜样品进行离子轰击及离子反应刻蚀,在刻蚀过程中,覆盖有电子束胶4图案层的薄膜区域没有接触到刻蚀离子而被保留,其他薄膜区域经过离子反应刻蚀被去除,由于暴露在离子下的区域面积足够大,在图案的各个部分反应离子的浓度一致,因此刻蚀速率均一致,刻蚀形成的凹槽6深度一致;刻蚀完成后,形成圆形凹槽6阵列,及残留电子束胶4图案。
步骤4:热蒸镀硫系薄膜:将步骤S3制备完成的样品放在样品台上,经过等离子体表面活化,清洁样品表面且使样品表面粘附性更好;由于蒸发腔室高度以及蒸发速率合适,硫系薄膜8可以均匀充分的填充进刻蚀后的圆形凹槽6中,以及残留电子束胶4上,使硫系薄膜8在蒸发过程中均匀生长在上述样品上,所述的硫系薄膜8选用硫化锑。
步骤5:电子胶及其表面上硫系薄膜的玻璃:将镀膜后含有硫系薄膜8的样品放入剥离液中水浴60摄氏度维持30分钟,初步去除样品上残留的电子束胶4,以及电子束胶4表面上的硫系薄膜8;利用粘性胶反复粘贴样品表面4次,进一步去除残留的电子束胶4;最后,利用化学物理平坦化机对样品进行30秒的研磨抛光,实现片上硫系材料8填充结构的制备。
观测结果过程为,通过SEM电镜进行观察,图2为在五千伏高压、17.6k倍下观察未去胶时的形貌;图3为在三千伏高压、31.6k倍下观察初步去胶时的形貌;图4为在五千伏高压、46.3k倍下观察完全去胶时的形貌。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.旋涂电子束胶(4):薄膜样品由下至上依次为衬底(1)、缓冲层(2)、刻蚀层(3);在所述的刻蚀层(3)上表面旋涂电子束胶(4);
S2.电子束曝光:
S21.将旋涂有电子束胶(4)的薄膜样品固定在电子束曝光的样品台上,调整好薄膜样品相对高度,并记录下薄膜样品的相对坐标;最后,将薄膜样品装入送样台内;
S22.对所想要曝光的图案进行处理,转化为控制电子束设备的程序文件,并输入步骤S21中记录的相对坐标;然后,将薄膜样品送入曝光腔室;最后,运行程序控制电子束对电子束胶(4)选择性曝光;
S23.曝光完成后,将薄膜样品放入显影液内进行显影去除曝光区域变性后的电子束胶(4),直到形成所需要的电子束胶(4)图案层;
S3.深反应离子刻蚀:将显影后,含有电子束胶(4)图案层的薄膜样品放置于载盘上,利用深反应离子刻蚀机,对薄膜样品进行离子轰击及离子反应刻蚀,在刻蚀过程中,覆盖有电子束胶(4)图案层的薄膜区域没有接触到刻蚀离子而被保留,其他薄膜区域经过离子反应刻蚀而被刻蚀;刻蚀完成后,形成凹槽(6)及残留电子束胶(4)图案;
S4.热蒸镀硫系薄膜(8):将步骤S3中的薄膜样品放在样品台上,经过等离子体表面活化,使硫系薄膜(8)在蒸发过程中均匀生长在薄膜样品上;
S5.电子胶及其表面上硫系薄膜(8)的剥离:
S51.将镀膜后含有硫系薄膜(8)的样品放入剥离液中水浴,初步去除样品上残留的电子束胶(4),以及电子束胶(4)表面上的硫系薄膜(8);
S52.利用粘性胶多次粘贴样品表面进一步去除残留的电子束胶(4);
S53.最后,利用化学物理平坦化机对样品进行短暂的研磨抛光,实现片上硫系材料填充结构的制备。
2.根据权利要求1所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的硫系材料包括硫化碲、锗碲硫或锗锑碲。
3.根据权利要求1所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,旋涂的电子束胶(4)层的抗刻蚀性高于薄膜层。
4.根据权利要求3所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的电子束胶层的厚度为400nm~800nm。
5.根据权利要求4所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的步骤S3中刻蚀的凹槽(6)的深度为80nm~400nm;填充结构的形状包括圆形、多边形;填充结构的边长或半径不小于150nm;相邻填充结构之间的间隔不小于100nm。
6.根据权利要求1所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的剥离液水浴温度为20℃~70℃。
7.根据权利要求1所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,在所述的步骤S52中,利用粘性胶粘贴的次数不高于5次;利用化学物理平坦化机的势场不超过1min,压力低于0.5psi。
8.根据权利要求7所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的粘性胶为蓝膜。
9.根据权利要求1所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的缓冲层(2)为氧化硅薄膜、掺锡氧化铟薄膜、非晶硅薄膜、氮化硅薄膜或石墨烯薄膜。
10.根据权利要求1所述的片上硫系材料填充结构的制备方法,其特征在于,所述的刻蚀层(3)为氧化硅薄膜、非晶硅薄膜、氮化硅薄膜或硫系薄膜(8)。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110369274.8A CN113113295B (zh) | 2021-04-06 | 2021-04-06 | 一种片上硫系材料填充结构的制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110369274.8A CN113113295B (zh) | 2021-04-06 | 2021-04-06 | 一种片上硫系材料填充结构的制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113113295A CN113113295A (zh) | 2021-07-13 |
CN113113295B true CN113113295B (zh) | 2023-03-28 |
Family
ID=76714167
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110369274.8A Active CN113113295B (zh) | 2021-04-06 | 2021-04-06 | 一种片上硫系材料填充结构的制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113113295B (zh) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103928311A (zh) * | 2014-05-08 | 2014-07-16 | 西安电子科技大学 | Hemt器件的欧姆接触电极制作方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100542388B1 (ko) * | 2003-07-18 | 2006-01-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 금속배선 형성방법 |
CN100423232C (zh) * | 2006-06-02 | 2008-10-01 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 用电子束曝光和化学机械抛光工艺制备纳电子存储器的方法 |
TWI321819B (en) * | 2006-11-27 | 2010-03-11 | Innolux Display Corp | Metal line damascene structure and fabricating method for the same |
CN109188607B (zh) * | 2018-10-11 | 2020-10-23 | 宁波大学 | 一种具有保护层的SiO2沟道型硫系波导及其制备方法 |
CN110596988B (zh) * | 2019-08-29 | 2020-10-13 | 中山大学 | 一种片上高品质因子硫系微环谐振腔的制备方法 |
-
2021
- 2021-04-06 CN CN202110369274.8A patent/CN113113295B/zh active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103928311A (zh) * | 2014-05-08 | 2014-07-16 | 西安电子科技大学 | Hemt器件的欧姆接触电极制作方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
折射型红外微透镜阵列器件的发展及制备;刘丰 等;《激光与光电子学进展》;20200430;第57卷(第7期);071607(1-4)页 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113113295A (zh) | 2021-07-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4945460B2 (ja) | 反射防止構造の形成方法および反射防止構造 | |
US7037639B2 (en) | Methods of manufacturing a lithography template | |
CN108710267B (zh) | 基于光刻和化学机械抛光的薄膜微光学结构的制备方法 | |
US10336023B2 (en) | Method for creating patterns | |
US20030136759A1 (en) | Microlens array fabrication using CMP | |
US7008737B2 (en) | Gray scale x-ray mask | |
JP2005515617A (ja) | 非粘着性のモールドを使用する、パターン化された構造の複製 | |
CN101710228A (zh) | 平版印刷术的工艺和系统 | |
US20100086877A1 (en) | Pattern forming method and pattern form | |
KR102010702B1 (ko) | 다중 유도된 자기 조립 패터닝 프로세스 | |
CN110828375B (zh) | 一种快速、无刻蚀的转移二维材料和制备异质结的方法 | |
CN111505767A (zh) | 基于氧化硅掩膜的铌酸锂光子芯片制备方法 | |
US20130140269A1 (en) | Method and mechanism of photoresist layer structure used in manufacturing nano scale patterns | |
CN105589131A (zh) | 一种用于光波导的硅片沟槽刻蚀方法 | |
CN109437091A (zh) | 一种在弹性衬底上制备微纳结构的方法 | |
US7124994B2 (en) | Silicon micro-mold | |
CN113113295B (zh) | 一种片上硫系材料填充结构的制备方法 | |
US20080223295A1 (en) | METHOD FOR PRODUCING A TOOL WHICH CAN BE USED TO CREATE OPTICALLY ACTIVE SURFACE STRUCTRES IN THE SUB-nuM RANGE AND A CORRESPONDING TOOL | |
US20030038033A1 (en) | Process for fabricating high aspect ratio embossing tool and microstructures | |
KR101652342B1 (ko) | 태양전지 표면의 택스처링 방법 | |
CN106206284B (zh) | 改进型蚀刻工艺 | |
JP6268137B2 (ja) | 凹型レンズの製造方法 | |
CN118145593A (zh) | 基于软纳米压印的tmdc材料图案化方法 | |
US20200033656A1 (en) | Method for forming pattern for liquid crystal orientation of zenithal bi-stable liquid crystal panel, liquid crystal orientation substrate including pattern formed thereby, and mask substrate used for forming pattern | |
JP5890150B2 (ja) | 凹型レンズの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |