CN113109026A - 一种cos老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明属于COS测试技术领域,公开了一种COS老化测试装置;其包括:冷却件;测试机构,其包括固定板和多个加电针组件,加电针组件用于将COS固定在固定板上,并为COS加电;积分球,其设置在冷却件上,且与测试机构对应设置,COS的光源能够射入积分球内;检测组件,其设置在积分球内,用于光检测COS。加电针组件将COS固定在固定板上,并为COS加电;COS加电之后发出光亮,COS的光源能够射入积分球内,积分球内的检测组件光检测COS,确定COS的光学性能;COS的光能量被积分球所吸收,然后将热量传递至冷却件;积分球可以对COS的光能量进行冷却散热,提高了COS的散热效率,保证了老化测试结果的准确性。
Description
技术领域
本发明属于COS测试技术领域,尤其涉及一种COS老化测试装置。
背景技术
半导体激光器在通讯、军事和医疗等领域越来越广泛,半导体激光器(chip onsubmount,简称COS)作为一种半导体激光器的核心元器件,一般在制作过程中需要经过可靠性的验证,让半导体激光器COS加速老化,并且通过COS老化测试获取相关技术参数。
因此,很多厂家都要提前通过电应力或者电应力与热应力同时作用下,需要把生产中的半导体激光器的COS潜在的缺陷和一些性能指标达不到要求的提前暴露出来,通过老化测试把最佳的半导体激光器的COS提前筛选出来,这就是半导体激光器生产过程中的COS的老化测试。
通过半导体激光器COS的长期可靠性验证,可以判断COS的失效机制,进而优化产品性能和改进工艺,要对半导体泵浦定时且长期的多种COS老化测试是必须要做的。
但是,目前的半导体激光器COS老化测试的系统的散热均是使COS产生的热量传递至下方的盛放件内,然后对盛放件进行散热。但是COS产生的是光能量,这种散热方式未对光能量产生的热量进行散热,导致其散热效率低,不宜进行长期的老化测试。而且,无法对COS进行光检测,确定其性能。
因此,亟需一种COS老化测试装置,以解决上述技术问题。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种COS老化测试装置,其既可以进行老化测试,又可以检测其光学性能,还能够对COS的光能量进行冷却散热,保证了老化测试结果的准确性。
为达此目的,本发明采用以下技术方案:
一种COS老化测试装置,包括:
冷却件;
测试机构,其包括固定板和多个加电针组件,所述加电针组件用于将COS固定在所述固定板上,并为所述COS加电;
积分球,其设置在所述冷却件上,且与所述测试机构对应设置,所述COS的光源能够射入所述积分球内;
检测组件,其设置在所述积分球内,用于光检测所述COS。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述积分球上设置有多个入光孔,所述入光孔与所述加电针组件一一对应设置。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述冷却件内设置有水冷回路,所述水冷回路内流通有冷却液。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述测试机构和所述积分球均为多个,所述冷却件上设置有定位销,所述定位销用于定位所述测试机构。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述测试机构还包括金属块,其固定在所述固定板上,所述金属块上设置有与所述加电针组件对应设置的容纳槽,所述COS放置在所述容纳槽内,所述加电针组件至少部分位于所述容纳槽内。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述加电针组件包括导电插针组件和压板,所述压板用于驱使所述导电插针组件抵接于所述COS,以使所述导电插针组件与所述COS电连接。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述导电插针组件包括基板和两个导电插针,所述导电插针至少部分设置在所述基板内,所述导电插针能够与所述COS电连接。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述压板和所述基板通过固定件固定在所述固定板上,以使所述压板驱使所述导电插针与所述COS相抵接。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,所述测试机构还包括插针连接座,所述导电插针远离所述COS的一端连接于所述插针连接座。
作为一种COS老化测试装置的优选技术方案,还包括夹持机构,其设置中所述冷却件上,用于将所述测试机构夹持在所述冷却件上。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
加电针组件将COS固定在固定板上,并为COS加电,对COS进行老化测试;COS加电之后发出光亮,COS的光源能够射入积分球内,积分球内的检测组件光检测COS,确定COS的光学性能;COS的光能量被积分球所吸收,然后将热量传递至冷却件;积分球可以对COS的光能量进行冷却散热,提高了COS的散热效率,保证了老化测试结果的准确性。
附图说明
图1为本发明提供的COS老化测试装置的结构示意图;
图2是图1中A处的局部放大视图;
图3是本发明提供的测试机构的结构示意图。
其中,1、冷却件;11、定位销;
2、测试机构;21、固定板;22、加电针组件;221、导电插针组件;2211、导电插针;2212、基板;222、压板;2221、主体部;2222、压条;223、固定件;
23、金属块;231、容纳槽;24、插针连接座;
3、积分球;31、入光孔;4、夹持机构;41、四连杆夹具;42、夹持垫块;100、COS。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。本领域技术人员应该明了,所述具体实施方式仅仅是帮助理解本发明,不应视为对本发明的具体限制。
实施例1
如图1至图3所示,本实施例公开了一种COS老化测试装置,其包括冷却件1、测试机构2、积分球3和检测组件。
测试机构2包括固定板21和多个加电针组件22,加电针组件22用于将COS100固定在固定板21上,并为COS100加电,以对COS100进行老化测试。积分球3设置在冷却件1上,且与测试机构2对应设置,COS100的光源能够射入积分球3内。检测组件设置在积分球3内,用于光检测COS100,以确定COS100的光学性能,检测组件具体为PD传感器,可以将光信号转换至电信号,以对COS100的光学性能进行测试。
加电针组件22将COS100固定在固定板21上,并为COS100加电,对COS100进行老化测试;COS100加电之后发出光亮,COS100的光源能够射入积分球3内,检测组件光检测COS100,确定COS100的光学性能;COS100的光能量被积分球3所吸收,然后将热量传递至冷却件1;积分球3可以对COS100的光能量进行冷却散热,提高了COS100的散热效率,保证了老化测试结果的准确性。
具体地,测试机构2和积分球3均为多个,且测试机构2和积分球3一一对设置。冷却件1上设置有定位销11,定位销11用于定位测试机构2,每个固定板21的两端均有一个定位销11,可以使测试机构2和与之对应的积分球3相对应。
积分球3上设置有多个入光孔31,入光孔31与加电针组件22一一对应设置,本实施例中,测试机构2包括四个加电针组件22,积分球3的侧壁上与之对应的设置有四个入光孔31。
冷却件1具体为板状物,其内设置有水冷回路,水冷回路内流通有冷却液,冷却液可以将冷却件1的热量带走,以对积分球3测试机构2进行冷却。
测试机构2还包括金属块23,金属块23具体为铜块。金属块23固定在固定板21上,金属块23上设置有与加电针组件22对应设置的容纳槽231,COS100放置在容纳槽231内,具体地,在固定板21上设置有与容纳槽231相对应的凸台,凸台伸入于容纳槽231内,COS100放置在凸台上,位于容纳槽231内。
加电针组件22包括导电插针2211组件221和压板222,导电插针2211组件221包括基板2212和两个并排设置的导电插针2211,导电插针2211至少部分设置在基板2212内。本实施例中,基板2212为陶瓷板,导电插针2211部分预埋在陶瓷板内,导电插针2211的两端均外露于陶瓷板设置。导电插针2211整体位于容纳槽231内,第一端外露于陶瓷板的部分比较长,第二端外露于陶瓷板的部分较短。导电插针2211的第一端能够抵接于COS100,以与COS100电连接。
测试机构2还包括插针连接座24,导电插针2211远离COS100的一端连接于插针连接座24,也即导电插针2211的第二端连接于插针连接座24,具体可以通过导线连接。插针连接座24由塑料绝缘防静电材料制得,插针连接座24内预埋有连接套,导线部分内置于连接套内。
压板222和基板2212通过固定件223固定在固定板21上,使压板222驱使导电插针2211与COS100相抵接,以使导电插针2211与COS100电连接。压板222包括主体部2221和自主体部2221延伸的两个压条2222,主体部2221与基板2212相对应设置,压条2222与导电插针2211对应设置。固定件223具体为螺钉,其穿设于压板222和基板2212,在固定板21上设置有螺纹孔,将COS100放置在凸台上之后,将导电插针2211组件221和压板222放置在COS100上之后,然后螺钉穿设于压板222和基板2212之后,将COS100压装在凸台上。
COS老化测试装置还包括夹持机构4,其设置中冷却件1上,用于将测试机构2夹持在冷却件1上。夹持机构4包括四连杆夹具41、夹持压片和夹持垫块42。
测试机构2的两端均设置有四连杆夹具41,四连杆夹具41固定在冷却件1上,在测试机构2长度方向相邻的两个测试机构2共用一个四连杆夹具41,两个测试机构2上搭接有夹持垫块42,四连杆夹具41作用于夹持垫块42上,下压夹持垫块42,以使测试机构2的一端被固定在冷却件1上。测试机构2未被夹持垫块42下压的一端,在金属块23上放置于夹持压片,四连杆夹具41作用在夹持压片上,下压夹持压片使测试机构2的端部被固定在冷却件1上,此处的端部指的是未被夹持垫块42所固定的端部。测试机构2的两端被两个夹持垫块42,或,夹持垫块42和夹持压片相配合下压固定在冷却件1上,以便对COS100进行老化测试。夹持压片、夹持垫块42和四连杆夹具41均采用导热性能较好的金属材质,COS100加电后产生的热量传递至金属块23,然后经夹持压片或夹持垫块42,以及四连杆夹具41传递至冷却件1,热量被冷却液带走。
虽然,上文中已经用一般性说明、具体实施方式及试验,对本发明作了详尽的描述,但在本发明基础上,可以对之作一些修改或改进,这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此,在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进,均属于本发明要求保护的范围。
Claims (10)
1.一种COS老化测试装置,其特征在于,包括:
冷却件(1);
测试机构(2),其包括固定板(21)和多个加电针组件(22),所述加电针组件(22)用于将COS(100)固定在所述固定板(21)上,并为所述COS(100)加电;
积分球(3),其设置在所述冷却件(1)上,且与所述测试机构(2)对应设置,所述COS(100)的光源能够射入所述积分球(3)内;
检测组件,其设置在所述积分球(3)内,用于光检测所述COS(100)。
2.根据权利要求1所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述积分球(3)上设置有多个入光孔(31),所述入光孔(31)与所述加电针组件(22)一一对应设置。
3.根据权利要求1所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述冷却件(1)内设置有水冷回路,所述水冷回路内流通有冷却液。
4.根据权利要求1所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述测试机构(2)和所述积分球(3)均为多个,所述冷却件(1)上设置有定位销(11),所述定位销(11)用于定位所述测试机构(2)。
5.根据权利要求1所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述测试机构(2)还包括金属块(23),其固定在所述固定板(21)上,所述金属块(23)上设置有与所述加电针组件(22)对应设置的容纳槽(231),所述COS(100)放置在所述容纳槽(231)内,所述加电针组件(22)至少部分位于所述容纳槽(231)内。
6.根据权利要求1所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述加电针组件(22)包括导电插针(2211)组件(221)和压板(222),所述压板(222)用于驱使所述导电插针(2211)组件(221)抵接于所述COS(100),以使所述导电插针(2211)组件(221)与所述COS(100)电连接。
7.根据权利要求6所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述导电插针(2211)组件(221)包括基板(2212)和两个导电插针(2211),所述导电插针(2211)至少部分设置在所述基板(2212)内,所述导电插针(2211)能够与所述COS(100)电连接。
8.根据权利要求7所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述压板(222)和所述基板(2212)通过固定件(223)固定在所述固定板(21)上,以使所述压板(222)驱使所述导电插针(2211)与所述COS(100)相抵接。
9.根据权利要求7所述的COS老化测试装置,其特征在于,所述测试机构(2)还包括插针连接座(24),所述导电插针(2211)远离所述COS(100)的一端连接于所述插针连接座(24)。
10.根据权利要求1所述的COS老化测试装置,其特征在于,还包括夹持机构(4),其设置中所述冷却件(1)上,用于将所述测试机构(2)夹持在所述冷却件(1)上。
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