CN113093056B - 电芯内短路点位置确定方法 - Google Patents

Abstract

本公开涉及电池技术领域，具体地，涉及一种电芯内短路点位置确定方法。该方法包括：将待检测电芯划分为至少两个待检测区；对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点，其中，所述电性特征为电流值、电阻值、电压值或电压下降速率。本公开提供的技术方案，对待检测电芯进行划分，依次对每个待检测区进行电排查，可以在不完全拆解电芯的情况下将短路点位置确定在某个待检测区，以避免直接完全拆解电芯带来的引入较多异物、需快速检查极组而导致漏检和氧化严重而导致再次查看困难的问题。

Description

电芯内短路点位置确定方法

技术领域

本公开涉及电池技术领域，具体地，涉及一种电芯内短路点位置确定方法。

背景技术

电动汽车的电池包热失控是新能源汽车最危险一种失效模式，电池包热失控往往是由电芯失效导致，所以电芯失效点分析是行业内研究重点。电芯失效真因是：由于电芯内部正极材料、负极材料发生变化（比如有金属析出）或因机械结构变化而导致电芯内部或外部短路，而使电芯生热、温度升高、电解液泄露、电解液汽化等导致电芯起火、爆炸，从而导致电池包热失控。电芯发生热失控后，往往无法保持电芯的完整性，所以热失控前的电芯失效分析尤为重要。

传统方法是观察电芯外观，确认有无异常，然后直接对电芯进行完全拆解，并从电芯外壳、极组内外等位置查找异物或者微短路点。传统方法基本上就是直接拆解电芯的外壳，拆解整个外壳过程中容易引入异物；且将极组拆开，正负极片和隔膜翻看查找，因电解液挥发和极片涂料氧化，在排查过程中需要快速的检查，往往因为时间短，无法有效地找到短路点，出现漏检和忽略等现象；再次查看也是困难很大，因为涂料已出现氧化，极片大面积出现深褐色，且陶瓷隔膜沾染异物，给排查短路点增添了很大的麻烦。

发明内容

本公开的目的是提供一种能在不完全拆解电芯的情况下确定短路点大概位置的电芯内短路点位置确定方法，以避免直接完全拆解电芯带来的引入较多异物、需快速检查极组而导致漏检和氧化严重而导致再次排查困难的问题。

为了实现上述目的，本公开提供一种电芯内短路点位置确定方法，所述方法包括：

将待检测电芯划分为至少两个待检测区；

对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点，其中，所述电性特征为电流值、电阻值、电压值或电压下降速率。

可选地，所述待检测电芯的外壳包括容纳极组的壳体和盖合于所述壳体之上的上盖，所述将待检测电芯划分为至少两个待检测区的步骤包括：将所述待检测电芯划分为第一待检测区和第一待检测区以外的待检测区，其中，所述第一待检测区为所述极组与所述壳体之间；

所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤包括：

断开所述上盖与所述壳体的连接，测量所述上盖和所述壳体之间的电流值；

在所述电流值大于第一预设阈值时，确定所述第一待检测区内存在短路点；

在所述电流值小于或等于所述第一预设阈值时，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内。

可选地，所述待检测电芯的外壳包括容纳极组的壳体和盖合于所述壳体上的上盖，所述将待检测电芯划分为至少两个待检测区的步骤包括：将所述待检测电芯划分为第一待检测区和第一待检测区以外的待检测区，其中，所述第一待检测区为所述极组与所述壳体之间；

所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤包括：

断开所述上盖与壳体的连接，静置第一预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；

在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第一待检测区内存在短路点；

在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内。

可选地，所述判断所述电压下降速率异常的步骤包括：

在所述电压下降速率大于第二预设阈值时，判断所述电压下降速率异常；或

比较所述电压下降速率，将多个所述电压下降速率中最大的电压下降速率判断为异常。

可选地，所述第一待检测区以外的待检测区包括第二待检测区和第三待检测区，其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组；

在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤还包括：

断开所述上盖与所述极组的连接，测量所述上盖的正极柱和负极柱之间的电阻值；

在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱不绝缘时，确定所述第二待检测区内存在短路点；

在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱绝缘时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

可选地，所述第一待检测区以外的待检测区包括第二待检测区和第三待检测区，其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组；

在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤还包括：

断开所述上盖与所述极组的连接，静置第二预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；

在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第二待检测区内存在短路点；

在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

可选地，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，所述方法还包括：

断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；

将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组。

可选地，在确定所述异常极组后，所述方法还包括：

将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；

静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；

将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体。

可选地，在确定所述异常单体后，所述方法还包括：

取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

可选地，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，所述方法还包括：

断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；

将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组；

将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；

静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；

将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体；

取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

通过上述技术方案，对待检测电芯进行待检测区划分，针对每个待检测区依次进行电排查，可以在不完全拆解电芯的情况下确定短路点大概位置，即在不完全拆解电芯的情况下将短路点位置确定在某个待检测区，缩小检测范围和降低拆解程度。因此，相对完全拆解，本公开提供的技术方案可以减少异物的引入量；由于检测范围减小，该检测范围（待检测区）能用的检测时间相对增加，降低了漏检概率；对于其排查出的不存在短路点的待检测区，可以不拆解，则该待检测区氧化程度低，可以再次查看；对于其排查出的存在短路点的待检测区，相对完全拆解，检测范围较小，检测耗时较短，与空气的接触时间较少，从而该待检测区氧化程度较低，因此降低了再次查看困难程度。

本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1是本公开实施例提供的一种电芯内短路点位置确定方法的流程图。

图2是本公开实施例提供的一种待检测电芯的结构示意图。

图3是图2中正极片和负极片的结构示意图。

图4是本公开实施例提供的断开上盖与壳体后的示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。

电芯热失控从产生、发展到发生是一个变化过程，是电芯内部的短路电阻由大到小、短路电流由小到大、温度随短路电流的增加而升高过程。电芯两端电压（电芯正极到负极之间）随着短路电流增加而减小，电芯正极到负极两端的电压下降速率随着短路电流的增大而增大。

基于上述原理，本公开实施例提供一种电芯内短路点位置确定方法。图1示出了所述电芯内短路点位置确定方法的流程图。如图1所示，所述方法包括：

步骤S11, 将待检测电芯划分为至少两个待检测区。

其中，对所述待检测电芯进行划分，可以是由外到内，根据排查情况动态划分。

步骤S12, 对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点。

其中，所述电性特征为电流值、电阻值、电压值或电压下降速率。即所述电性特征为电流值，或所述电性特征为电阻值，或所述电性特征为电压值，或所述电性特征为电压下降速率。

通过上述技术方案，对待检测电芯进行待检测区划分，针对每个待检测区依次进行电排查，可以在不完全拆解电芯的情况下确定短路点大概位置，即在不完全拆解电芯的情况下将短路点位置确定在某个待检测区，缩小检测范围和降低拆解程度。因此，相对完全拆解，本公开提供的技术方案可以减少异物的引入量；由于检测范围减小，该检测范围（待检测区）能用的检测时间相对增加（例如，极组完全拆解时，检测工作量大，为了避免先拆解的正负极片和隔膜氧化和电解液挥发过多，需快速检测，平摊到每个极组或正负极片、隔膜检测时间短；而只拆解部分极组，检测工作量减小，平摊到每个极组或正负极片、隔膜检测时间相对增加），降低了漏检概率；对于其排查出的不存在短路点的待检测区，可以不拆解，则该待检测区氧化程度低，可以再次查看；对于其排查出的存在短路点的待检测区，相对完全拆解，检测范围较小，检测耗时较短，与空气的接触时间较少，从而该待检测区氧化程度较低，因此降低了再次查看困难程度。

并且，传统方法通过观察电芯外观确认有无异常，拆解过程中，无法保留有效的数据，仅仅依靠照片或者视频无法对以后拆解起到指导性的作用。而本公开实施例对待检测区依次进行电排查，能保留电性特征（如电流值、电阻值、电压值或电压下降速率），可以建立电性特征（如电流值、电阻值、电压值或电压下降速率）与短路点位置或短路点数量的关系，对以后电排查和拆解起到指导性的作用。

上述待检测电芯可以是方壳（铝壳）电芯、软包电芯和圆柱电芯。如图2所示，图2示出了一种方壳叠片电芯的结构，其可以应用本公开实施例提供的方法进行短路点位置确定。图2中，负极片10通过中间填充陶瓷隔膜20包覆正极片30；多个叠加的极片通过极耳40并联成组，形成极组1；多个极组1通过软连接并联，焊接至上盖3的正极柱4和负极柱5分别形成正极和负极；通过外壳的上盖3和壳体2（铝壳）封装，形成该方壳叠片电芯。图3为图2中，正极片30和负极片10的结构图。

可选地，在一实施方式中，步骤S11包括：将所述待检测电芯划分为第一待检测区和第一待检测区以外的待检测区，其中，所述第一待检测区为所述极组与所述壳体之间。步骤S12包括：断开所述上盖与所述壳体的连接，测量所述上盖和所述壳体之间的电流值；在所述电流值大于第一预设阈值时，确定所述第一待检测区内存在短路点；在所述电流值小于或等于所述第一预设阈值时，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内。

其中，断开上盖3与壳体2的连接，可以是用刀具进行环形切割，将待检测电芯分为两部分，一部分是上盖3，一部分是容纳极组的壳体2，如图4所示。图4中，断开上盖3与壳体2的连接后，测量所述上盖3和所述壳体2之间的电流值（例如，可以通过电流表或万能电表等连接C点和D点进行测量）；若短路点仅存在所述极组与所述壳体2之间，如短路点A，短路点A形成的电流路径I_A，则所述上盖3和所述壳体2之间的电流值大于第一预设阈值；若短路点不是存在极组与所述壳体2之间而是存在于电芯其他地方，如短路点B, 短路点B形成的电流路径I_B，所述上盖3和所述壳体2之间不会有电流通过，则所述上盖3和所述壳体2之间的电流值小于或等于第一预设阈值。其中，所述第一预设阈值可以是0，或者是表征所述上盖3和所述壳体2之间有电流通过的一个值。

可选地，在另一实施方式中，步骤S11包括：将所述待检测电芯划分为第一待检测区和第一待检测区以外的待检测区，其中，所述第一待检测区为所述极组与所述壳体之间。步骤S12包括：断开所述上盖与壳体的连接，静置第一预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第一待检测区内存在短路点；在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内。

请再次参阅图4，断开上盖3与壳体2的连接，也可以是用刀具进行环形切割，将待检测电芯分为两部分，一部分是上盖3，一部分是容纳极组的壳体2。图4中，若短路点仅存在极组与所述壳体2之间，如短路点A，短路点A形成的电流路径I_A，断开上盖3与壳体2的连接后，电流路径I_A断开，内短路消失，则测得的待检测电芯的电压下降速率正常。若短路点不是存在极组与所述壳体2之间而是存在于电芯其他地方，如短路点B, 断开上盖3与壳体2的连接后，短路点B形成的电流路径I_B不会断开，内短路仍然存在，则测得的待检测电芯的电压下降速率异常。其中，电压下降速率可以通过测量静置第一预设时长之前和静置第一预设时长之后的电压，结合第一预设时长进行计算获得。

可选地，所述判断所述电压下降速率异常的步骤包括：在所述电压下降速率大于第二预设阈值时，判断所述电压下降速率异常。

所述第二预设阈值可以根据待检测电芯的情况灵活设置，如可以是2mV/d或0.08mV/h。在所述电压下降速率小于或等于第二预设阈值时，判断所述电压下降速率正常。

可选地，当同时对多个待检测电芯进行检测，所述判断所述电压下降速率异常的步骤包括：比较所述电压下降速率，将多个所述电压下降速率中最大的电压下降速率判断为异常。

同一种型号的多个电芯，电压下降速率越大的电芯漏电越严重，短路越严重。因而，可以根据电芯的电压下降速率对电芯的漏电程度进行排序，根据电压下降速率的从大到小的顺序对电芯进行短路点位置检查，优先选择电压下降速率最大的电芯进行短路点位置检查，即优先选择漏电最严重的电芯进行短路点位置检查。

可选地，进一步将所述第一待检测区以外的待检测区划分为第二待检测区和第三待检测区。其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组。在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，步骤S12还包括：断开所述上盖与所述极组的连接，测量所述上盖的正极柱和负极柱之间的电阻值；在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱不绝缘时，确定所述第二待检测区内存在短路点；在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱绝缘时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

上述过程即为，断开所述上盖与所述壳体的连接后，通过测量所述上盖和所述壳体之间的电流值，或者通过静置第一预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率确定短路点，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在第二待检测区或第三待检测区后；再断开所述上盖与所述极组的连接，测量所述上盖的正极柱和负极柱之间的电阻值；在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱不绝缘时，确定所述第二待检测区内存在短路点；在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱绝缘时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

请再次参阅图2，多个极组1通过软连接并联，焊接至上盖3的正极柱4和负极柱5形成正负极。断开所述上盖与所述壳体的连接后，再断开所述上盖与所述极组的连接，即，使上盖独立出来。通过万能电表的电阻（欧姆）档或电阻表测量所述上盖的正极柱和负极柱之间的电阻值，在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱不绝缘时，确定所述第二待检测区内存在短路点；在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱绝缘时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。其中，表征所述正极柱和负极柱绝缘时的电阻值可以是无限大（∞）。

可选地，在另一实施方式中，进一步将所述第一待检测区以外的待检测区划分为第二待检测区和第三待检测区。其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组。在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，步骤S12还包括：断开所述上盖与所述极组的连接，静置第二预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第二待检测区内存在短路点；在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

上述过程即为，断开所述上盖与所述壳体的连接后，通过测量所述上盖和所述壳体之间的电流值，或者通过静置第一预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率确定短路点，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在第二待检测区或第三待检测区后；再断开所述上盖与所述极组的连接，静置第二预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第二待检测区内存在短路点；在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

请再次参阅图2，多个极组1通过软连接并联，焊接至上盖3的正极柱4和负极柱5形成正负极。断开所述上盖与所述壳体的连接后，再断开所述上盖与所述极组的连接，即，使上盖独立出来。在将上盖撇开后，静置第二预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；若所述待检测电芯的电压下降速率正常，则证明所述待检测电芯的异常是上盖引起的，确定所述第二待检测区（上盖）内存在短路点；若所述待检测电芯的电压下降速率依然异常，则证明所述待检测电芯的异常不是上盖引起的，确定所述第二待检测区（上盖）内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区（极组）内。

可选地，通过上述方法，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，即在确定短路点在所述极组内后，所述方法还包括：断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组。

一般电芯是通过多个极组并联而成，断开每个所述极组之间的电连接，即，使每个极组相互独立不并联。由于初始时，每个极组之间并联，则电压值相同；断开每个极组之间的电连接，静置第三预设时长后，每个所述极组的电压值或电压下降速率会因为是否存在短路点及存在短路点多少的不同而不同。静置第三预设时长后，每个所述极组的电压值越低或电压下降速率越大，则漏电越严重。根据此原理，电压值或电压下降速率异常的极组，即，相对其他极组，电压值明显偏低或电压下降速率明显偏大的极组。

可选地，通过上述方法，在确定所述异常极组后，所述方法还包括：将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体。

一般极组是通过多个单体并联而成，将所述异常极组拆分为多个单体，即断开每个所述单体之间的电连接。由于初始时，每个单体之间并联，则电压值相同；断开每个单体之间的电连接，静置第四预设时长后，每个所述单体的电压值或电压下降速率会因为是否存在短路点及存在短路点多少的不同而不同。静置第四预设时长后，每个所述单体的电压值越低或电压下降速率越大，则漏电越严重。根据此原理，电压值或电压下降速率异常的单体，即，相对其他单体，电压值明显偏低或电压下降速率明显偏大的单体。

需要说明的是，上述方法中，第一预设时长、第二预设时长、第三预设时长、第四预设时长可以根据实际情况，灵活设置，在此不做限制。以及，上述方法在实施过程中，通过电压表、电流表或万能电表测量电性特征（电流值、电阻值、电压值或电压下降速率）时，均未完全拆解电芯，极组始终在壳体中，正极片、负极片和隔膜也始终在极组中，氧化程度低，电解液挥发少，便于再次查看。

可选地，在确定所述异常单体后，所述方法还包括：取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

在对拆出的所述正极片、负极片和隔膜进行短路点排查时，可以通过肉眼观察。由于本公开提供的技术方案，将短路点的位置缩小到了某个单体，检测范围减小，因而也可以通过显微镜进行更细致地观察，以避免或减少漏检。

可选地，在步骤S11之前，所述方法还包括：获得所述待检测电芯的SOC值；在所述待检测电芯的SOC值小于第三预设阈值时，对所述待检测电芯进行充电，以使所述待检测电芯的SOC值大于或等于所述第三预设阈值。

由于在待检测电芯的SOC值过小时，可能会影响测量的电性特征的准确性。因此，可以通过充电的方式，使待检测电芯的SOC值大于或等于所述第三预设阈值。可选地，所述第三预设阈值可以根据实际情况灵活设置，例如可以是50%、60%、70%、80%等。

以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (15)

1.一种电芯内短路点位置确定方法，其特征在于，所述方法包括：

将待检测电芯划分为至少两个待检测区；

对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点，其中，所述电性特征为电流值、电阻值、电压值或电压下降速率；

其中，所述待检测电芯的外壳包括容纳极组的壳体和盖合于所述壳体之上的上盖，所述将待检测电芯划分为至少两个待检测区的步骤包括：将所述待检测电芯划分为第一待检测区和第一待检测区以外的待检测区，其中，所述第一待检测区为所述极组与所述壳体之间；

所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤包括：

断开所述上盖与所述壳体的连接，测量所述上盖和所述壳体之间的电流值；

在所述电流值大于第一预设阈值时，确定所述第一待检测区内存在短路点；

在所述电流值小于或等于所述第一预设阈值时，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一待检测区以外的待检测区包括第二待检测区和第三待检测区，其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组；

在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤还包括：

断开所述上盖与所述极组的连接，测量所述上盖的正极柱和负极柱之间的电阻值；

在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱不绝缘时，确定所述第二待检测区内存在短路点；

在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱绝缘时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一待检测区以外的待检测区包括第二待检测区和第三待检测区，其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组；

在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤还包括：

断开所述上盖与所述极组的连接，静置第二预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；

在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第二待检测区内存在短路点；

在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，所述方法还包括：

断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；

将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在确定所述异常极组后，所述方法还包括：

将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；

静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；

将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在确定所述异常单体后，所述方法还包括：

取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，所述方法还包括：

断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；

将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组；

将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；

静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；

将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体；

取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

8.一种电芯内短路点位置确定方法，其特征在于，所述方法包括：

将待检测电芯划分为至少两个待检测区；

对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点，其中，所述电性特征为电流值、电阻值、电压值或电压下降速率；

其中，所述待检测电芯的外壳包括容纳极组的壳体和盖合于所述壳体上的上盖，所述将待检测电芯划分为至少两个待检测区的步骤包括：将所述待检测电芯划分为第一待检测区和第一待检测区以外的待检测区，其中，所述第一待检测区为所述极组与所述壳体之间；

所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤包括：

断开所述上盖与壳体的连接，静置第一预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；

在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第一待检测区内存在短路点；

在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第一待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述判断所述电压下降速率异常的步骤包括：

在所述电压下降速率大于第二预设阈值时，判断所述电压下降速率异常；或

比较所述电压下降速率，将多个所述电压下降速率中最大的电压下降速率判断为异常。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述第一待检测区以外的待检测区包括第二待检测区和第三待检测区，其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组；

在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤还包括：

断开所述上盖与所述极组的连接，测量所述上盖的正极柱和负极柱之间的电阻值；

在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱不绝缘时，确定所述第二待检测区内存在短路点；

在所述电阻值表征所述正极柱和负极柱绝缘时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

11.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述第一待检测区以外的待检测区包括第二待检测区和第三待检测区，其中，所述第二待检测区为所述上盖，所述第三待检测区为所述极组；

在确定短路点在所述第一待检测区以外的待检测区内的情况下，所述对所述至少两个待检测区进行依次排查，根据每个所述待检测区的电性特征确定每个所述待检测区内是否存在短路点的步骤还包括：

断开所述上盖与所述极组的连接，静置第二预设时长后，测量所述待检测电芯的电压下降速率；

在判断所述电压下降速率正常时，确定所述第二待检测区内存在短路点；

在判断所述电压下降速率异常时，确定所述第二待检测区内不存在短路点及确定短路点在所述第三待检测区内。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，所述方法还包括：

断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；

将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，在确定所述异常极组后，所述方法还包括：

将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；

静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；

将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，在确定所述异常单体后，所述方法还包括：

取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

15.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述极组有多个，在确定短路点在所述第三待检测区内后，所述方法还包括：

断开每个所述极组之间的电连接，静置第三预设时长后，测量每个所述极组的电压值或电压下降速率；

将多个所述极组中电压值或电压下降速率异常的极组确定为异常极组，所述异常极组即为存在短路点的极组；

将所述异常极组拆分为多个单体，每个所述单体包括一个正极片、与所述正极片相邻的一个负极片和位于所述正极片和负极片之间的隔膜；

静置第四预设时长后，测量每个所述单体的电压值或电压下降速率；

将多个所述单体中电压值或电压下降速率异常的单体确定为异常单体，所述异常单体即为存在短路点的单体；

取出所述异常单体，通过显微镜对所述异常单体的正极片、负极片和隔膜进行观察，将位于所述正极片、负极片和隔膜上的异物、变色点或所述隔膜上的孔洞所在的位置确定为短路点的位置。

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