CN113064046A - 一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于耦合器技术领域，具体的说是一种光电耦合器辐射效应测试设备，包括护壳；所述护壳侧壁固接有多组银纤维防辐射材料；所述护壳内部固接有滑轨；所述滑轨上滑动连接有支撑平台；所述支撑平台顶部固接有承载平台；一种光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法，将检测设备内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台的顶部，插好通电，然后打开检测设备内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据。

Description

一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法

技术领域

本发明属于耦合器技术领域，具体的说是一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法。

背景技术

光电耦合器是以光为媒介传输电信号的一种电一光一电转换器件。它由发光源和受光器两部分组成。把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内，彼此间用透明绝缘体隔离。发光源的引脚为输入端，受光器的引脚为输出端，常见的发光源为发光二极管，受光器为光敏二极管、光敏三极管等等。

现有技术中也出现了一些关于耦合器的技术方案，如申请号为2019107125547的一项中国专利公开了一种光电耦合器辐射效应测试系统及测试方法，包括光耦固定模块、源表测量模块和PC控制模块；光耦固定模块包括电路板，电路板上设置有源表输入端接口和插座，插座上设置有光电耦合器引脚接口，用于固定连接光电耦合器，源表测量模块与源表输入端接口连接。

现有技术中也出现了一些关于耦合器的技术方案，如申请号为2018115356233的一项中国专利公开了长爬电光电耦合器电流传输比中档率控制方法和制作方法，包括：根据光电耦合器的发光源的辐射通量进行分档获得第一分档值；根据光电耦合器的受光器的电流增益进行分档获得第二分档值；根据所述第一分档值和第二分档值进行配对以满足预设置的配对范围以控制所述电流传输比。

目前现有技术中，光电耦合器辐射效应测试设备在对光电耦合器进行辐射效应检测时，检测设备周围会有另外的感应设备会发出辐射，进而对设备内部辐射发生器所发出的辐射造成影响，降低测试设备的结果准确性。

发明内容

为了弥补现有技术的不足，解决光电耦合器辐射效应测试设备在对光电耦合器进行辐射效应检测时，检测设备周围会有另外的感应设备会发出辐射，进而对设备内部辐射发生器所发出的辐射造成影响，降低测试设备的结果准确性的问题，本发明提出的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：本发明所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，包括护壳；所述护壳侧壁固接有多组银纤维防辐射材料；所述护壳内部固接有滑轨；所述滑轨上滑动连接有支撑平台；所述支撑平台顶部固接有承载平台；在使用时,先将护壳内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台的顶部，插好通电，然后打开护壳内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据，在检测时，因护壳的侧壁安装有多组银纤维防辐射材料，所以在检测时，护壳附近的辐射不易进入到护壳的内部，该操作可降低外界环境对护壳内部的辐射环境造成影响，同时可避免护壳内部的辐射穿透侧壁而发散到护壳周围，而影响外界环境的问题。

进一步，所述护壳的底部内侧壁固接有导流块；所述护壳底部内侧壁在位于导流块内部固接有电机；所述电机输出轴中部固接有涡轮风扇；所述护壳的顶部开设有多组进风口；所述护壳的顶部内侧壁与进风口对应位置处铰接有挡风板；所述挡风板端部与护壳内侧壁之间连接有第一弹性绳；所述挡风板端部固接有第二磁铁；所述护壳内侧壁与第二磁铁对应位置处固接有第一磁铁；所述护壳的底部侧壁处开设有多组出风口；所述电机的输出轴顶端固接有凸轮；所述支撑平台底部与凸轮对应位置处固接有多组挡块；在静态的实验完成之后，就可打开护壳底部的电机，使其带动输出端的凸轮旋转，进而与支撑平台的配合下会，使承载平台发生晃动，该操作可模拟光电耦合器在使用中的环境，进而可得到晃动时，光电耦合器所受到辐射时，其会产生的后果数据，同时涡轮风扇会被电机带动，使护壳内部有气体从上向下流动，此时护壳顶部的挡风板会因护壳内部的气压过低而被打开，此时第二磁铁脱离第一磁铁，而且拉伸第一弹性绳，然后就会有护壳附近的气体从进风口处进入，该操作可降低护壳内部的温度，而且可使护壳附近物体所发生的辐射进入到护壳的内部，与护壳内部辐射发生器所发出的辐射混合对光电耦合器进行照射，进一步模拟了光电耦合器在正常使用中，会有不同的辐射对耦合器造成影响的环境，可记录下更为全面的试验检测数据。

进一步，所述承载平台的顶部铰接有弹性稳定板；所述承载平台底部内侧壁固接有第一气囊；所述弹性稳定板与承载平台内侧壁之间固接有第二气囊；所述第二气囊与第一气囊之间连通有导气管；在光电耦合器安装到承载平台顶部时，第一气囊会受到挤压，其内部的气体就会通过导气管进入到第二气囊内部，此时第二气囊就会膨胀，将弹性稳定板推向光电耦合器，进而光电耦合器在承载平台上就不会轻易出现晃动的问题，在承载平台被凸轮和支撑平台的配合带动晃动的环境下，也不易出现松动的问题。

进一步，两个所述弹性稳定板相靠近的一侧固接有防滑弹性条；所述防滑弹性条在弹性稳定板上设有多组；所述防滑弹性条上开设有通孔；在弹性稳定板被压向光电耦合器上时，防滑弹性条会贴合在耦合器上，通过多个防滑弹性条与耦合器接触，可增加防滑弹性条与耦合器的摩擦力，进一步增加了耦合器在承载平台上的稳定性。

进一步，所述弹性稳定板上靠近承载平台内侧壁的一侧固接有散热片；所述散热片内部开设有空腔；所述防滑弹性条底部固接有导热管；所述导热管与空腔相连通；所述导热管在防滑弹性条底部设有多组；在防滑弹性条与耦合器接触时，导热管会先与耦合器接触，此时耦合器上的热量会被传导在导热管内部的冷却液内部，通过导热管与空腔相连通，可使耦合器的热量被传导至散热片内部，然后从散热片上散掉，避免在长时间的检测过程中，因护壳内部环境过于封闭而导致的耦合器发热严重问题。

进一步，所述防滑弹性条端部设有防滑吸盘；所述防滑吸盘固接在防滑弹性条上；在防滑弹性条接触耦合器时，防滑吸盘也会与耦合器进行接触，在防滑吸盘受到防滑弹性条和耦合器的挤压，吸附在耦合器表面上，该操作增加了耦合器在承载平台上的稳定性，进一步减少了耦合器会出现松动的问题。

进一步，所述防滑吸盘内部开设有通气道，且贯穿防滑弹性条；所述通气道端部设有挡风球；所述挡风球与通气道内侧壁之间连接有第二弹性绳；所述挡风球内部固接有第三磁铁；所述弹性稳定板上与第三磁铁对应位置处固接有第四磁铁；在防滑弹性条受到耦合器挤压时，互相弹性稳定板的侧壁靠近，同时弹性稳定板侧壁上的第四磁铁会与挡风球内部的第三磁铁相斥，会将挡风球紧紧压在通气道的端部，将通气道堵住，此时因防滑吸盘与耦合器挤压，防滑吸盘内部的气体只会从通气道内靠近挡风球的端部排出，该操作会使防滑吸盘紧密的吸附在耦合器的表面，进一步提升防滑吸盘与耦合器的吸附力度，进一步避免了耦合器在承载平台上出现晃动的问题。

进一步，所述通气道内部开设有凹槽；所述凹槽上固接有防漏气垫圈；所述防漏气垫圈与凹槽之间固接有弹性囊；通过在通气道端部设有凹槽和防漏气垫圈，可使挡风球被按压在通气道端部时，通过防漏气垫圈的形变，增加防滑吸盘的气密性，而且在凹槽与防漏气垫圈之间设有弹性囊，可在挡风球离开通气道端部时，使防漏气垫圈快速复位，进而使防漏气垫圈可多次与挡风球相配合，对通气道进行密封。

一种光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法，该测试方法适用于上述的光电耦合器辐射效应测试设备，且使用方法包括以下步骤：

S1：将检测设备内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台的顶部，插好通电，然后打开检测设备内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据；

S2：在S1中静态的实验结束后，就可将测试设备底部的电机打开，通过凸轮与支撑平台的配合，带动承载平台上的光电耦合器同步晃动，电机的转动速率为500-800r/min，此时对检测设备的数据进行记录；

S3：在电机转动的过程中，电机会带动涡轮风扇同步转动，此时检测设备顶部的进风口就会开始进气，而且顶部的挡风板会打开，使检测设备附近的辐射进入到检测设备内部，模拟自然环境中，有不同物体发出的辐射对光电耦合器进行照射产生的影响，记录下检测设备的实验数据，即可完成本光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法。

本发明的有益效果是：

1.本发明提供一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，通过在光电耦合器辐射效应测试设备的壁体内部增加有一层银纤维防辐射材料，可降低检测设备外界的辐射穿透设备侧壁的通过量，进而降低外界环境对检测设备内部辐射环境造成影响，同时可避免设备内部的辐射穿透侧壁而发散到设备周围，而影响外界环境的问题。

2.本发明中，通过在光电耦合器的底部增加有电机和凸轮，可在转动时，使光电耦合器在检测设备内部晃动，进而模拟光电耦合器的使用环境，进而可模拟在使用时，光电耦合器在晃动时会遇到的问题，进一步可记录得到更加全面的检测结果。

3.本发明中，通过在光电耦合器的安装平台上，增加有稳定结构，可在承载平台晃动时，对光电耦合器进行良好的固定，可降低光电耦合器在承载平台上同步晃动时，会出现的松动问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明的立体视图；

图2是本发明的剖视图；

图3是图2中A处局部放大图；

图4是图2中B处局部放大图；

图5是弹性稳定板的局部剖视图；

图6是防滑吸盘的局部放大图；

图7是本发明中的测试方法流程图；

图例说明：

1、护壳；11、银纤维防辐射材料；12、滑轨；13、支撑平台；14、承载平台；2、导流块；21、电机；22、凸轮；23、涡轮风扇；24、进风口；25、挡风板；26、第一弹性绳；27、第一磁铁；28、第二磁铁；29、出风口；3、弹性稳定板；31、第一气囊；32、第二气囊；33、导气管；4、防滑弹性条；41、通孔；5、散热片；51、空腔；52、导热管；6、防滑吸盘；61、通气道；62、挡风球；63、第二弹性绳；64、第三磁铁；65、第四磁铁；7、凹槽；71、防漏气垫圈；8、弹性囊。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

下面给出具体实施例。

实施例一

请参阅图1-图4，本发明提供一种光电耦合器辐射效应测试设备，包括护壳1；所述护壳1侧壁固接有多组银纤维防辐射材料11；所述护壳1内部固接有滑轨12；所述滑轨12上滑动连接有支撑平台13；所述支撑平台13顶部固接有承载平台14；在使用时,先将护壳1内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台14的顶部，插好通电，然后打开护壳1内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据，在检测时，因护壳1的侧壁安装有多组银纤维防辐射材料11，所以在检测时，护壳1附近的辐射不易进入到护壳1的内部，该操作可降低外界环境对护壳1内部的辐射环境造成影响，同时可避免护壳1内部的辐射穿透侧壁而发散到护壳1周围，而影响外界环境的问题。

进一步为了实现测试装置可模拟光电耦合器的使用环境，所述护壳1的底部内侧壁固接有导流块2；所述护壳1底部内侧壁在位于导流块2内部固接有电机21；所述电机21输出轴中部固接有涡轮风扇23；所述护壳1的顶部开设有多组进风口24；所述护壳1的顶部内侧壁与进风口24对应位置处铰接有挡风板25；所述挡风板25端部与护壳1内侧壁之间连接有第一弹性绳26；所述挡风板25端部固接有第二磁铁28；所述护壳1内侧壁与第二磁铁28对应位置处固接有第一磁铁27；所述护壳1的底部侧壁处开设有多组出风口29；所述电机21的输出轴顶端固接有凸轮22；所述支撑平台13底部与凸轮22对应位置处固接有多组挡块；在静态的实验完成之后，就可打开护壳1底部的电机21，使其带动输出端的凸轮22旋转，进而与支撑平台13的配合下会，使承载平台14发生晃动，该操作可模拟光电耦合器在使用中的环境，进而可得到晃动时，光电耦合器所受到辐射时，其会产生的后果数据，同时涡轮风扇23会被电机21带动，使护壳1内部有气体从上向下流动，此时护壳1顶部的挡风板25会因护壳1内部的气压过低而被打开，此时第二磁铁28脱离第一磁铁27，而且拉伸第一弹性绳26，然后就会有护壳1附近的气体从进风口24处进入，该操作可降低护壳1内部的温度，而且可使护壳1附近物体所发生的辐射进入到护壳1的内部，与护壳1内部辐射发生器所发出的辐射混合对光电耦合器进行照射，进一步模拟了光电耦合器在正常使用中，会有不同的辐射对耦合器造成影响的环境，可记录下更为全面的试验检测数据。

进一步为了实现光电耦合器的固定效果，所述承载平台14的顶部铰接有弹性稳定板3；所述承载平台14底部内侧壁固接有第一气囊31；所述弹性稳定板3与承载平台14内侧壁之间固接有第二气囊32；所述第二气囊32与第一气囊31之间连通有导气管33；在光电耦合器安装到承载平台14顶部时，第一气囊31会受到挤压，其内部的气体就会通过导气管33进入到第二气囊32内部，此时第二气囊32就会膨胀，将弹性稳定板3推向光电耦合器，进而光电耦合器在承载平台14上就不会轻易出现晃动的问题，在承载平台14被凸轮22和支撑平台13的配合带动晃动的环境下，也不易出现松动的问题。

实施例二

根据图5-图6，作为本发明的一种实施方式，两个所述弹性稳定板3相靠近的一侧固接有防滑弹性条4；所述防滑弹性条4在弹性稳定板3上设有多组；所述防滑弹性条4上开设有通孔41；在弹性稳定板3被压向光电耦合器上时，防滑弹性条4会贴合在耦合器上，通过多个防滑弹性条4与耦合器接触，可增加防滑弹性条4与耦合器的摩擦力，进一步增加了耦合器在承载平台14上的稳定性。

进一步为了解决耦合器的散热能力，所述弹性稳定板3上靠近承载平台14内侧壁的一侧固接有散热片5；所述散热片5内部开设有空腔51；所述防滑弹性条4底部固接有导热管52；所述导热管52与空腔51相连通；所述导热管52在防滑弹性条4底部设有多组；在防滑弹性条4与耦合器接触时，导热管52会先与耦合器接触，此时耦合器上的热量会被传导在导热管52内部的冷却液内部，通过导热管52与空腔51相连通，可使耦合器的热量被传导至散热片5内部，然后从散热片5上散掉，避免在长时间的检测过程中，因护壳1内部环境过于封闭而导致的耦合器发热严重问题。

进一步为了实现耦合器的松动问题，所述防滑弹性条4端部设有防滑吸盘6；所述防滑吸盘6固接在防滑弹性条4上；在防滑弹性条4接触耦合器时，防滑吸盘6也会与耦合器进行接触，在防滑吸盘6受到防滑弹性条4和耦合器的挤压，吸附在耦合器表面上，该操作增加了耦合器在承载平台14上的稳定性，进一步减少了耦合器会出现松动的问题。

为了解决耦合器在被测试时出现的晃动问题，所述防滑吸盘6内部开设有通气道61，且贯穿防滑弹性条4；所述通气道61端部设有挡风球62；所述挡风球62与通气道61内侧壁之间连接有第二弹性绳63；所述挡风球62内部固接有第三磁铁64；所述弹性稳定板3上与第三磁铁64对应位置处固接有第四磁铁65；在防滑弹性条4受到耦合器挤压时，互相弹性稳定板3的侧壁靠近，同时弹性稳定板3侧壁上的第四磁铁65会与挡风球62内部的第三磁铁64相斥，会将挡风球62紧紧压在通气道61的端部，将通气道61堵住，此时因防滑吸盘6与耦合器挤压，防滑吸盘6内部的气体只会从通气道61内靠近挡风球62的端部排出，该操作会使防滑吸盘6紧密的吸附在耦合器的表面，进一步提升防滑吸盘6与耦合器的吸附力度，进一步避免了耦合器在承载平台14上出现晃动的问题。

为了进一步增加耦合器与吸盘6的吸附力，所述通气道61内部开设有凹槽7；所述凹槽7上固接有防漏气垫圈71；所述防漏气垫圈71与凹槽7之间固接有弹性囊8；通过在通气道61端部设有凹槽7和防漏气垫圈71，可使挡风球62被按压在通气道61端部时，通过防漏气垫圈71的形变，增加防滑吸盘6的气密性，而且在凹槽7与防漏气垫圈71之间设有弹性囊8，可在挡风球62离开通气道61端部时，使防漏气垫圈71快速复位，进而使防漏气垫圈71可多次与挡风球62相配合，对通气道61进行密封。

一种光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法，该测试方法适用于上述的光电耦合器辐射效应测试设备，且使用方法包括以下步骤：

S1：将检测设备内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台的顶部，插好通电，然后打开检测设备内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据；

S2：在S1中静态的实验结束后，就可将测试设备底部的电机打开，通过凸轮与支撑平台的配合，带动承载平台上的光电耦合器同步晃动，电机的转动速率为500-800r/min，此时对检测设备的数据进行记录；

S3：在电机转动的过程中，电机会带动涡轮风扇同步转动，此时检测设备顶部的进风口就会开始进气，而且顶部的挡风板会打开，使检测设备附近的辐射进入到检测设备内部，模拟自然环境中，有不同物体发出的辐射对光电耦合器进行照射产生的影响，记录下检测设备的实验数据，即可完成本光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法。

工作原理：在使用时,先将护壳1内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台14的顶部，插好通电，然后打开护壳1内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据，在检测时，因护壳1的侧壁安装有多组银纤维防辐射材料11，所以在检测时，护壳1附近的辐射不易进入到护壳1的内部，该操作可降低外界环境对护壳1内部的辐射环境造成影响，同时可避免护壳1内部的辐射穿透侧壁而发散到护壳1周围，而影响外界环境的问题；在静态的实验完成之后，就可打开护壳1底部的电机21，使其带动输出端的凸轮22旋转，进而与支撑平台13的配合下会，使承载平台14发生晃动，该操作可模拟光电耦合器在使用中的环境，进而可得到晃动时，光电耦合器所受到辐射时，其会产生的后果数据，同时涡轮风扇23会被电机21带动，使护壳1内部有气体从上向下流动，此时护壳1顶部的挡风板25会因护壳1内部的气压过低而被打开，此时第二磁铁28脱离第一磁铁27，而且拉伸第一弹性绳26，然后就会有护壳1附近的气体从进风口24处进入，该操作可降低护壳1内部的温度，而且可使护壳1附近物体所发生的辐射进入到护壳1的内部，与护壳1内部辐射发生器所发出的辐射混合对光电耦合器进行照射，进一步模拟了光电耦合器在正常使用中，会有不同的辐射对耦合器造成影响的环境，可记录下更为全面的试验检测数据；在弹性稳定板3被压向光电耦合器上时，防滑弹性条4会贴合在耦合器上，通过多个防滑弹性条4与耦合器接触，可增加防滑弹性条4与耦合器的摩擦力，进一步增加了耦合器在承载平台14上的稳定性；在防滑弹性条4与耦合器接触时，导热管52会先与耦合器接触，此时耦合器上的热量会被传导在导热管52内部的冷却液内部，通过导热管52与空腔51相连通，可使耦合器的热量被传导至散热片5内部，然后从散热片5上散掉，避免在长时间的检测过程中，因护壳1内部环境过于封闭而导致的耦合器发热严重问题；在防滑弹性条4接触耦合器时，防滑吸盘6也会与耦合器进行接触，在防滑吸盘6受到防滑弹性条4和耦合器的挤压，吸附在耦合器表面上，该操作增加了耦合器在承载平台14上的稳定性，进一步减少了耦合器会出现松动的问题；在防滑弹性条4受到耦合器挤压时，互相弹性稳定板3的侧壁靠近，同时弹性稳定板3侧壁上的第四磁铁65会与挡风球62内部的第三磁铁64相斥，会将挡风球62紧紧压在通气道61的端部，将通气道61堵住，此时因防滑吸盘6与耦合器挤压，防滑吸盘6内部的气体只会从通气道61内靠近挡风球62的端部排出，该操作会使防滑吸盘6紧密的吸附在耦合器的表面，进一步提升防滑吸盘6与耦合器的吸附力度，进一步避免了耦合器在承载平台14上出现晃动的问题；通过在通气道61端部设有凹槽7和防漏气垫圈71，可使挡风球62被按压在通气道61端部时，通过防漏气垫圈71的形变，增加防滑吸盘6的气密性，而且在凹槽7与防漏气垫圈71之间设有弹性囊8，可在挡风球62离开通气道61端部时，使防漏气垫圈71快速复位，进而使防漏气垫圈71可多次与挡风球62相配合，对通气道61进行密封。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。

Claims (10)

1.一种光电耦合器辐射效应测试设备，其特征在于：包括护壳（1）；所述护壳（1）侧壁固接有多组银纤维防辐射材料（11）；所述护壳（1）内部固接有滑轨（12）；所述滑轨（12）上滑动连接有支撑平台（13）；所述支撑平台（13）顶部固接有承载平台（14）。

2.根据权利要求1所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述护壳（1）的底部内侧壁固接有导流块（2）；所述护壳（1）底部内侧壁在位于导流块（2）内部固接有电机（21）；所述电机（21）输出轴中部固接有涡轮风扇（23）；所述护壳（1）的顶部开设有多组进风口（24）；所述护壳（1）的顶部内侧壁与进风口（24）对应位置处铰接有挡风板（25）；所述挡风板（25）端部与护壳（1）内侧壁之间连接有第一弹性绳（26）；所述挡风板（25）端部固接有第二磁铁（28）；所述护壳（1）内侧壁与第二磁铁（28）对应位置处固接有第一磁铁（27）；所述护壳（1）的底部侧壁处开设有多组出风口（29）。

3.根据权利要求2所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述电机（21）的输出轴顶端固接有凸轮（22）；所述支撑平台（13）底部与凸轮（22）对应位置处固接有多组挡块。

4.根据权利要求3所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述承载平台（14）的顶部铰接有弹性稳定板（3）；所述承载平台（14）底部内侧壁固接有第一气囊（31）；所述弹性稳定板（3）与承载平台（14）内侧壁之间固接有第二气囊（32）；所述第二气囊（32）与第一气囊（31）之间连通有导气管（33）。

5.根据权利要求4所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：两个所述弹性稳定板（3）相靠近的一侧固接有防滑弹性条（4）；所述防滑弹性条（4）在弹性稳定板（3）上设有多组；所述防滑弹性条（4）上开设有通孔（41）。

6.根据权利要求5所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述弹性稳定板（3）上靠近承载平台（14）内侧壁的一侧固接有散热片（5）；所述散热片（5）内部开设有空腔（51）；所述防滑弹性条（4）底部固接有导热管（52）；所述导热管（52）与空腔（51）相连通；所述导热管（52）在防滑弹性条（4）底部设有多组。

7.根据权利要求6所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述防滑弹性条（4）端部设有防滑吸盘（6）；所述防滑吸盘（6）固接在防滑弹性条（4）上。

8.根据权利要求7所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述防滑吸盘（6）内部开设有通气道（61），且贯穿防滑弹性条（4）；所述通气道（61）端部设有挡风球（62）；所述挡风球（62）与通气道（61）内侧壁之间连接有第二弹性绳（63）；所述挡风球（62）内部固接有第三磁铁（64）；所述弹性稳定板（3）上与第三磁铁（64）对应位置处固接有第四磁铁（65）。

9.根据权利要求8所述的一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法，其特征在于：所述通气道（61）内部开设有凹槽（7）；所述凹槽（7）上固接有防漏气垫圈（71）；所述防漏气垫圈（71）与凹槽（7）之间固接有弹性囊（8）。

10.一种光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法，其特征在于：该测试方法适用于权利要求1-9中任意一项所述的光电耦合器辐射效应测试设备，且使用方法包括以下步骤：

S1：将检测设备内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台的顶部，插好通电，然后打开检测设备内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据；

S2：在S1中静态的实验结束后，就可将测试设备底部的电机打开，通过凸轮与支撑平台的配合，带动承载平台上的光电耦合器同步晃动，电机的转动速率为500-800r/min，此时对检测设备的数据进行记录；

S3：在电机转动的过程中，电机会带动涡轮风扇同步转动，此时检测设备顶部的进风口就会开始进气，而且顶部的挡风板会打开，使检测设备附近的辐射进入到检测设备内部，模拟自然环境中，有不同物体发出的辐射对光电耦合器进行照射产生的影响，记录下检测设备的实验数据，即可完成本光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法。

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