CN216560703U

CN216560703U - Ssd用flash颗粒高温老化柜

Info

Publication number: CN216560703U
Application number: CN202123267034.1U
Authority: CN
Inventors: 涂晶
Original assignee: Shenzhen Fanxiang Information Technology Co ltd
Current assignee: Shenzhen Fanxiang Information Technology Co ltd
Priority date: 2021-12-23
Filing date: 2021-12-23
Publication date: 2022-05-17
Anticipated expiration: 2031-12-23

Abstract

本实用新型公开了一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，包括柜体，柜体内设置有多组空腔和多组托盘，柜体的表面开设有与空腔相连通的开口，托盘容置于空腔内；开口的周围还设置有电性装置，托盘设置有与电性装置相连的感电装置，托盘在空腔内滑出的时形成电性连接状态；每组空腔还设置有用于进行恒定保温的热处理模块，托盘与靠近空腔中心的一面设置有的多组用于与SSD进行固定的装插接口；SSD通过装插接口固定在托盘上，备用的托盘可另外对SSD进行装插以备用，进而缩短工作时间；老化处理结束后，将托盘进行局部拖出，将电性装置和感电装置通过导电线材实现电性连接，托盘实现通电，通过指示灯对老化处理结合指示灯得到的检测结果。

Description

SSD用FLASH颗粒高温老化柜

技术领域

本实用新型属于颗粒高温老化柜领域，具体为一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜。

背景技术

固态硬盘（Solid State Disk或Solid State Drive，简称SSD），又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘；而基于闪存的固态硬盘采用FLASH颗粒作为存储介质，而且数据保护不受电源控制，能适应于各种环境，适合于个人用户使用及移动设备的发展；但是FLASH颗粒作为存储介质作为储存媒介会出现老化现象，导致内存性能降低和读写不稳定，容易出现宕机和部分业务不能正常运行的问题；所有有必要对其FLASH颗粒进行仿真的老化实验；

现有技术中，采用仿真老化柜对FLASH颗粒进行老化测试，但是现有仿真老化箱柜中，需要将SSD单独逐一安装到检测温室中，检测数量少导致工作效率低下，且不能在老化处理结束后不能第一时间对主要测量信息进行获取，需要经过后续电脑端才能获取信息，工作时间流程长且步骤繁多；因此，亟需一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，解决上述以上工作效率不佳的问题。

实用新型内容

针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型提供一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，柜体内设有多组独立加热的空腔，可分体式的托盘，托盘上设有多组中装插接口，SSD通过装插接口固定在托盘上，托盘进入空腔内通过加热模块进行恒温高温的老化处理，此时，可以再对另外的托盘的进行SSD的安装以备进行老化测试；待老化完成后，托盘通过开口滑出，通过线材连接电性装置和感电装置，对经过老化处理的SSD上的FLASH颗粒进行电性连接，对其进行老化参数的检测。

为实现上述目的，本实用新型提供一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，包括柜体，柜体内设置有多组空腔和多组托盘，柜体的表面开设有与空腔相连通的开口，托盘容置于空腔内；开口的周围还设置有电性装置，托盘设置有与电性装置相连的感电装置，托盘在空腔内滑出的时形成电性连接状态；每组空腔还设置有用于进行恒定保温的热处理模块，托盘与靠近空腔中心的一面设置有的多组用于与SSD进行固定的装插接口。

作为优选，电性装置包括电性接口，电性口通过导电线材与感电装置连接。

作为优选，感电装置与装插接口电性连接，感电装置设有与电性接口匹配连接的感电接口。

作为优选，托盘还设有多组与接口数量适配的指示灯，指示灯位于装插接口相邻一侧，且与装插接口电性连接。

作为优选，柜体还内设有鼓风装置，鼓风装置在空腔的内壁形成鼓风口。

作为优选，每组开口的周围还设有控制装置，控制装置与热处理模块电箱连接。

作为优选，柜体位于开口的一面还设有数量与开口匹配的封盖，封盖通过铰链结构与开口盖合。

作为优选，封盖还设有用于观察空腔内部的玻璃视窗。

本实用新型的有益效果是：与现有技术相比，本实用新型提供的一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，包括柜体，柜体内设置有多组空腔和多组托盘；柜体的表面具开设有与空腔相连通的开口，托盘容置于空腔内；开口的周围还设置有电性装置，托盘设置有与电性装置相连的感电装置，托盘在空腔内滑出的时形成电性连接状态；每组空腔还设置有用于进行恒定保温的热处理模块，托盘与靠近空腔中心的一面设置有的多组用于与SSD进行固定的装插接口；SSD通过装插接口固定在托盘上，托盘的数量大于柜体的空腔的数量，可另外对SSD进行装插以备用，进而缩短工作时间，且托盘上可容纳多个SSD，一次性的老化测处理得到较大提升；老化处理结束后，将托盘进行局部拖出，将电性装置和感电装置通过导电线材实现电性连接，托盘实现通电，通过指示灯对老化处理结合指示灯得到的检测结果。

附图说明

图1为本实用新型的立体图；

图2为本实用新型的正面图；

图3为本实用新型的托盘图立体图；

图4为本实用新型的A区域放大图。

主要元件符号说明如下：

1、柜体；2、空腔；21、开口；3、托盘；31、感电装置；32、装插接口；

33、感电接口；34、指示灯；4、电性装置；41、电性接口；5、控制装置；

6、封盖；61、视窗。

具体实施方式

为了更清楚地表述本实用新型，下面结合附图对本实用新型作进一步地描述。

现有技术中，采用仿真老化柜对FLASH颗粒进行老化测试，但是现有仿真老化箱柜中，需要将SSD单独逐一安装到检测温室中，检测数量少导致工作效率低下，且不能在老化结束后不能第一时间对主要测量信息进行获取，需要经过后续电脑端才能获取信息；因此，亟需一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，解决上述以上工作效率不佳的问题。

为了解决上述问题的不足，本实用新型提供了一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，请参阅图1至图4，包括柜体1，柜体1内设置有多组空腔2和多组托盘3，托盘3的数量大于空腔2数；柜体1的表面开设有与空腔2相连通的开口21，托盘3容置于空腔2内；开口21的周围还设置有电性装置4，托盘3设置有与电性装置4相连的感电装置31，托盘3在空腔2内滑出的时形成电性连接状态；每组空腔2还设置有用于进行恒定保温的热处理模块，托盘与靠近空腔3中心的一面设置有的多组用于与SSD进行固定的装插接口32；具体的，装插接口32的类型不做限定，可根据实际检测的SSD连接插口进行适配，电性装置4包括电性接口41，电性接口41通过导电线材与感电装置31连接；感电装置3与装插接口32电性连接，感电装置31设有与电性接口41匹配连接的感电接口33；托盘3还设有多组与接口数量适配的指示灯34，指示灯34位于装插接口32相邻一侧，且与装插接口32电性连接；SSD通过装插接口32固定在托盘3上，托盘3的数量大于柜体的空腔2的数量，在对安装好SSD的托盘3实现进行老化处理时，可另外对SSD进行装插以备用，待第一组老化处理结束后马上更换托盘3即可对SSD进行老化处理，缩短工作时间；且托盘3上可容纳多个SSD，一次性的老化测处理得到较大提升，且每组空腔2内都独立设置有对应的加热模块，每组空腔2之间的温度互不干扰；老化处理结束后，将托盘3进行局部拖出，将电性装置4和感电装置31通过导电线材实现电性连接，托盘3实现通电并电性联通装插接口32，托盘3通过安装在内的处理模块对数据进行收集，通过指示灯34对老化处理结合得到通电性，写入速度的是否达到设定的计量值，进而得到初步的检测结果，若老化结束后，在保持温室的关闭状态下对位于托盘上的进行检测，温室内的热量第一时间得不到散发，造成温度继续上升，造成FLASH颗粒过老化现象，干扰测量结果，现将托盘3在通过开口拖出，托盘3局部抵接在空腔2内，空腔2处于散热状态，再通过导电线材的将电性装置4与感电装置31进行连接，防止过老化影响测量参数；具体的，托盘3上的指示灯34设有三组，第一组指示灯为对SSD接触电性问题进行检测，若发亮光则表示接触电性良好；第二组指示灯为对SSD的FLASH颗粒的读写速度是满足预期值，若发亮光则表示读写速度满足设定值；第三组指示灯为对SSD的FLASH的发热情况进行检测，若亮灯则表示工作温度在正常的区间内；进而对检测状态得到初步的结果，待托盘3上的SSD冷却至常温，后续再通过连接电脑终端对的读写速度做出参数几率，进而对老化测试做出更详细的参数分析。

本实施例中，柜体1还内设有鼓风装置，鼓风装置在空腔2的内壁形成鼓风口；热处理模块将空腔的温度进行提高，再通过鼓风装置将热量在空腔内进行扩散，使得空腔内的热量更均匀，老化处理效果更佳，进而提高检测效率；每组开口的周围还设有控制装置5，控制装置5与热处理模块电性连接；通过控制装置5对加热模块的时间、温度和鼓风进行控制，启动时，当温度达到预设值时计时器自动开动，计时器结束计时时介绍保温状态，可单独设置鼓风对空腔进行散热，避免高温对工作人员带来的不适。

本实施例中，柜体1位于开口的一面还设有数量与开口匹配的封盖6，封盖6通过铰链结构与开口盖合；封盖61还设有用于观察空腔内部的玻璃视窗61；通过盖合状态使得空腔2内的温度迅速上升，且空腔2的开口都相适配有封盖6，多组空腔2同时使用时，不影响单独对任一空腔2的开启；为了加强盖合的密封性，还设置有密封圈对盖合进行密封性加固。

本实用新型的优势在于：

1）多个空腔之间的可互相独立进行老化处理的工作，温度互不影响，搭配多组托盘可灵活制定检测计划和检测方案；

2）老化处理结束后，将托盘进行局部拖出，将电性装置和感电装置通过导电线材实现电性连接，托盘实现通电，通过指示灯对老化处理结合指示灯得到的检测结果。

以上公开的仅为本实用新型的几个具体实施例，但是本实用新型并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护范围。

Claims

1.一种SSD用FLASH颗粒高温老化柜，包括柜体，其特征在于，柜体内设置有多组空腔和多组托盘，柜体的表面开设有与空腔相连通的开口，托盘容置于空腔内；开口的周围还设置有电性装置，托盘设置有与电性装置相连的感电装置，托盘在空腔内滑出的时形成电性连接状态；每组空腔还设置有用于进行恒定保温的热处理模块，托盘与靠近空腔中心的一面设置有的多组用于与SSD进行固定的装插接口。

2.根据权利要求1所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，电性装置包括电性接口，电性口通过导电线材与感电装置连接。

3.根据权利要求2所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，感电装置与装插接口电性连接，感电装置设有与电性接口匹配连接的感电接口。

4.根据权利要求1所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，托盘还设有多组与接口数量适配的指示灯，指示灯位于装插接口相邻一侧，且与装插接口电性连接。

5.根据权利要求1所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，柜体还内设有鼓风装置，鼓风装置在空腔的内壁形成鼓风口。

6.根据权利要求1所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，每组开口的周围还设有控制装置，控制装置与热处理模块电箱连接。

7.根据权利要求1所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，柜体位于开口的一面还设有数量与开口匹配的封盖，封盖通过铰链结构与开口盖合。

8.根据权利要求7所述的SSD用FLASH颗粒高温老化柜，其特征在于，封盖还设有用于观察空腔内部的玻璃视窗。