CN112997213A - 图像校正 - Google Patents
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Abstract
在一个实施例中，公开了一种用于利用X射线检查货物的方法，包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描货物，其中，货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射，并且与第一X射线脉冲相对应的辐射由矩阵的第一行检测，并且与至少一个第二脉冲相对应的辐射由矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位来确定所述货物与所述矩阵之间的局部相互寄生移位；通过对所确定的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的总相互寄生移位，生成没有相互寄生移位的货物的校正图像。
Description
技术领域
本公开涉及但不限于一种利用X射线检查货物的方法。本公开还涉及但不限于相应的检查系统和相应的计算机产品或计算机程序。
背景技术
利用X射线检查货物可以通过以下方式进行：使货物和包括检测器的扫描仪相互移位一相互扫描移位来扫描货物，并且利用扫描仪检测在相互扫描移位期间由照射货物的多个连续X射线脉冲产生的辐射。
在移动模式中，使货物和扫描仪相互移位包括在相互扫描移位期间使货物相对于地面保持静止并且使扫描仪相对于地面移位。
在通过式或门式模式中，使货物和扫描仪相互移位包括在扫描移位期间使扫描仪相对于地面保持静止并且使货物相对于地面移位。
在移动模式中，即使在平坦地面上，检测器也可能具有垂直和纵向(例如，在相互扫描移位的方向上)寄生移位(例如，诸如垂直移位、旋转移位和/或钟摆移位)，这可能导致图像伪影(artefact)并降低图像质量。检测器的寄生移位可能产生波，使得大多数真实直线可能不会在基于检查而产生的图像上表现为直线。
在通过式模式中，货物的速度可能是不规则的，这也可能导致图像伪影并降低图像质量。速度的不均匀性可能导致图像上的水平拉伸或压缩。这些伪影表现为局部水平寄生移位。
发明内容
本发明的方面和实施例在所附权利要求中阐述。本发明的这些和其它方面和实施例也在此描述。
附图说明
现在将参考附图通过示例的方式描述本公开的实施例，其中：
图1示出了示出根据本公开的示例方法的流程图；
图2示意性地示出了被配置为至少部分地实现图1的示例方法的示例系统；
图3示出了根据本公开的示例矩阵；
图4示意性地示出了由第一X射线脉冲P1和由至少一个第二X射线脉冲(即脉冲P2、P3、P4和P5)辐射的货物的示例区域Z1；
图5示意性地示出了叠加在相互扫描移位SD上的示例性相互寄生垂直移位PDy；
图6A和6B示意性地示出了不同行的简化图像的示例，其中图6A示意性地示出了没有对扫描移位SD进行校正的图像，并且图6B示意性地示出了具有对扫描移位SD进行校正的图像；
图7示意性地示出了来自两个不同检测行(例如，行1和行5)的两个图像之间的移位场和瞬时移位场的估计；
图8A示意性地示出了所获取的图像的坐标；
图8B示意性地示出了图8A的所获取图像的实际位置的坐标；以及
图9A和9B示意性地示出了对于给定像素(i'，j')，如何确定其图像由于失真而重叠(i'，j')的像素(i，j)。
在附图中，类似的元件具有相同的附图标记。
具体实施方式
概述
本公开的实施例提供了一种用于检查货物的方法。货物的检查包括使用包括检测器矩阵的扫描仪扫描货物，检测器矩阵包括至少两行检测器。在一些示例中，扫描器还可以包括辐射源。扫描还包括使货物和矩阵相互移位。在扫描期间，货物的区域被若干X射线脉冲照射，并且相应的辐射被若干行检测。该方法还包括为每行检测器生成货物的图像，并且确定所生成的图像的对应像素之间的局部相互寄生移位(例如，预期相互扫描移位与实际相互扫描移位之间的任何局部差异)。该方法还包括使用一个或多个所产生的图像产生校正图像，而没有对应于局部相互寄生移位的总和的总相互寄生移位。相互寄生移位可以对应于矩阵的寄生运动，例如当矩阵安装在移动检查系统的悬臂上时的垂直移位、旋转移位和/或钟摆移位，或者对应于货物的寄生运动，例如在矩阵前面经过的货物的速度不均匀性。
本公开的实施例可以实现基于检查生成的图像的质量的改进。本公开的实施例可以不涉及专用于抑制(例如，减少)矩阵的寄生运动(例如，当矩阵安装在检查系统的悬臂上时)的昂贵且笨重的机械补偿设备。本公开的实施例可以不涉及基于先前假设的图像处理，所述先前假设可能不是真实的或者影响不需要校正的图像的其他部分。
具体实施方式的详细描述
图1示出了示出根据本公开的示例方法100的流程图。结合图2图1中示出了方法100，图2示出了用于利用X射线检查货物11的检查系统10，检查系统10可以用于至少部分地执行方法100。图3示意性地示出了系统10的矩阵12的细节。在图2中，检查系统10包括悬臂14，矩阵12可以安装在该悬臂上。在图2和3所示的示例中，矩阵12在其他常规电气元件中包括辐射检测线，例如X射线检测线。
如图1所示以及下面更详细地讨论的，方法100可以包括：
在S1，利用包括至少两行121检测器122的矩阵12扫描货物11；
在S2，生成针对矩阵12的第一行121-1的货物11的第一图像和针对矩阵12的至少一个第二行121-2的货物的至少一个第二图像；
在S3，例如通过使用至少两个图像，确定货物11和矩阵12之间的局部相互寄生移位；
在S4，通过对所确定的照射区域的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及
在S5，基于所确定的总相互寄生移位，生成货物的校正图像。
如图1所示，方法100可包括在S1利用包括至少两行121检测器122的矩阵12扫描货物11。
在一些示例中，在S1的扫描可包括：
使货物11和矩阵12相互移位一相互扫描移位SD(例如图4所示)；
以及
在相互扫描移位SD期间，利用矩阵12检测由照射货物11的多个连续X射线脉冲产生的辐射13。
辐射13可由X射线源15产生，在一些实例中，该X射线源可刚性地连接到矩阵12。源15可与矩阵12一起移动。
在图2所示的实例中，检查系统10可以是可移动的，并可从一个位置运输到另一位置(系统10可包括机动车辆)。替代地或附加地，检查系统可以相对于地面静止并且不能移位。
在图2所示的示例中，系统10还可包括电动液压悬臂14，其可在运输模式(图中未示出)中在缩回位置中操作，并且在检查位置(图2)中操作。悬臂14可由液压致动器(例如液压缸)操作。
矩阵12可以安装在悬臂14上，面向在货物11另一侧的源15。
在一些示例中，在S1扫描货物可以包括以移动模式扫描货物11。在这种情况下，使货物11和矩阵12相互移位可包括在扫描移位SD期间使货物相对于地面保持静止以及使矩阵12相对于地面移位。在一些示例中，扫描货物可包括将矩阵12安装在移动检查系统10的悬臂14上。在这种情况下，在S5生成校正图像可包括校正悬臂移动伪影，该伪影在移动模式中通过矩阵12安装在其上的悬臂14的移动而生成(例如寄生移位，例如垂直移位、旋转移位和/或钟摆移位)。
替代地或附加地，在S1扫描货物11可包括以通过式模式扫描货物11。在这种情况下，使货物11和矩阵12相互移位可包括在扫描移位SD期间保持矩阵12相对于地面静止以及货物11相对于地面移位。在一些示例中，扫描货物11包括将矩阵12安装在静态检查系统10的悬臂14上。在这种情况下，在S5生成校正的图像可以包括校正在通过式模式中生成的货物速度不均匀性(诸如货物11的速度不均匀性)。
在本说明书中，所有附图都描绘了例如在移动模式中的垂直悬臂移动的情况。应当理解，对于速度不均匀性，例如在通过式模式下，参考具有水平寄生移位而不是垂直寄生移位的类似附图，所有的解释将保持类似。
如图4所示，在一些示例中，货物11的由第一X射线脉冲Pi照射的每个区域Zi由至少一个第二X射线脉冲Pj(j≠i)照射。
作为替代或补充，如图4所示，对应于第一X射线脉冲Pi的辐射13由矩阵12的第一行121-i检测，对应于至少一个第二脉冲Pj(j≠i)的辐射13由矩阵12的至少一个第二行121-j(j≠i)检测。
在本公开的示例中，相互扫描移位SD的速度使得在两个脉冲Pi和Pi+1之间，货物11相对于矩阵12的相互移位可以低于矩阵12的行121-i的宽度(例如，大约2mm，但是可以设想其它尺寸)。在一些示例中，被脉冲Pi照射的货物11的任何区域Zi将被矩阵12的所有行121-i检测。如图4所示，矩阵12可过取样(oversample)货物11。在一些例子中，货物11的区域Z1出现若干次，在不同的行(例如，图4例子中的121-1、121-2、121-3、121-4和121-5)。
如图1所示，方法100还可包括，在S2，针对矩阵12的第一行121-i生成货物11的第一图像，以及针对矩阵12的至少一个第二行121-j(j≠i)生成货物11的至少一个第二图像。在一些示例中，可从矩阵12提供的数据，针对矩阵12的每一行121生成图像。
在一些示例中，每个图像包括与针对每个X射线脉冲Pi的探测器122的行121-i相对应的像素。
在一些示例中，如图5A和5B所示，在第一脉冲Pi和至少一个第二X射线脉冲Pj(j≠i)之间可能发生局部相互寄生移位。应当理解，局部相互寄生移位不同于在第一脉冲Pi和至少一个第二脉冲Pj(j≠i)之间发生的相互扫描移位SD(如图4所示)。
在一些示例中，在第一脉冲Pi和至少一个第二脉冲Pj(j≠i)之间发生的相互扫描移位SD可对应于矩阵12的移动可能仅是沿水平轴的恒定速度的平移(translation)的情况(图4)。在这种示例中，所生成的图像可以仅在它们之间平移，该平移对应于矩阵12相对于货物11在两个脉冲Pi和Pj(j≠i)之间行进的距离。
如图5所示，矩阵12可以具有相互寄生移位PD(例如，当矩阵12安装在检查系统10的悬臂14上时)，该相互寄生移位PD叠加到相互扫描移位SD上。在图5的示例中，相互寄生移位PD可以包括垂直移动PDy。相互寄生移位的其他示例可以包括旋转移位和/或钟摆移位和/或速度不均匀性。
为了清楚起见，在图5中，两个脉冲Pi之间的垂直寄生移动PDy和扫描移位SD正好是一个像素。
在一些示例中，垂直寄生移动PDy的速度可以被认为在图5中所示的四个脉冲P1、P2、P3和P4的持续时间中是恒定的，因为大多数寄生移动具有典型周期为大约一秒(在0.5至1.5秒的范围内，取决于检查系统10)的频率。脉冲Pi的频率可以包括在例如100Hz和300Hz之间，并且通常可以是200Hz。在频率为200Hz的情况下，在矩阵12的一个机械振荡期间存在大约200个脉冲。
图6A和6B示意性地示出了不同行121-i的简化图像的例子。图6A示意性地示出了没有针对扫描移位SD进行校正的图像。扫描移位SD是已知的，因此可以被校正。图6B示意性地示出了具有针对扫描移位SD校正的图像。
应当理解，因为假定速度在图6A和6B的示例中是恒定的，针对不同行121-i货物11的图像局部相似。这意味着，在局部，可以通过平移矢量将图像变换成另一图像。平移矢量在时间上(即，沿着水平方向)和/或在垂直方向上的变化取决于寄生移位的性质(例如，垂直、旋转和/或摆动)。
因此，方法100可以进一步包括，在S3，对于由第一X射线脉冲Pi和由至少一个第二X射线脉冲Pj(j≠i)照射的货物11的每个区域Zi，确定货物11和矩阵12之间的局部相互寄生移位。
应当理解，所有不同的图像都被寄生移位PD扭曲，并且没有图像可以被认为是参考。然而，在一些示例中，在S3确定局部相互寄生移位可包括确定第一图像和至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位。在一些示例中，瞬时和局部移位向量可以被确定并且被用来校正图像中的寄生移位。
在以下发展中将使用以下惯例：
I1(x,y)可以是如果没有寄生移位将由第一行121-1获取的图像；
In(x,y)可以是如果没有寄生移位将由第n行121-n获取的图像；
x是水平坐标，即扫描方向(Ox)；以及
y是垂直方向
In(x,y)＝I1(x-(n-1).Δ,y) (公式1)
x和y是距离，并且Δ是在货物11处两个相邻行121-i和121-i+l之间的距离。
(n-1).Δ是扫描方向(Ox)的恒定偏移，并且因为扫描速度是已知的，所以是已知的。在一些示例中，(n-1).Δ可以通过水平移动图像(并且在图像的末端用0填充缺失的行)来消除。在一些例子中，In(x,y)可以被已转换的In(x+(n-1)Δ,y)替换。
轻微的立体效果也可以被忽略，并且转换的图像可以是这样的：
In(x,y)＝I1(x,y).(公式1')
In(x,y)可以是利用寄生移位获取的图像。对于第一行：
I1(x,y)＝I1(x+Δx(t1(x)，y)，y+Δy(t1(x),y)) (公式2)
其中：
t1(x)是第一行图像坐标x的时间；以及
Δx(t1(x),y)和Δy(t1(x),y)分别是由于在时间t1(x)的矩阵相互移动而引起的x和y中的寄生移位。
公式2对于连续模型(例如，图像可以是连续变量的函数)可以是有效的。然而，货物图像是作为离散变量的x和y的函数，并且可以假设货物的图像是带宽受限的，并且像素尺寸允许例如使用Nyquist-Shannon定理来重建连续函数。
对于第n行，由于扫描SD引起的恒定平移被抑制：
In(x,y)＝In(x+Δx(tn(x),y),y+Δy(tn(x),y))＝I1(x+Δx(tn(x),y),y+Δy(tn(x),y))
其中：
tn(x)是第n行图像坐标x的时间；以及
Δx(tn(x),y)和Δy(tn(x),y)是由于矩阵在时间tn(x)的矩阵移动而引起的图像移位。
为了清楚起见，对于I1，可以使用tn(x)代替t1(x)，因为图像是从恒定扫描移位SD校正的。这些瞬间被以nδ/v分开，v是扫描速度。
时间和平均位置(即，没有矩阵相互移动的位置)是成比例的(x＝vt，其中v是扫描速度)。因此，去除时间并将公式2表示如下是更方便的：
In(x,y)＝I1(x+Δnx(x,y),y+Δny(x,y))(公式3)
下面的发展将描述如何确定任意图像对之间的局部移位矢量。
图7示意性地示出了来自两个不同检测行(例如，行121-1和行121-5)的两个图像之间的移位场DF和瞬时移位场的估计。在本公开的上下文中，瞬时移位与两个连续脉冲Pi之间的移位相关联。
如图7所示，可以估计与矩阵12的行121-p和121-q相对应的两个图像Ip(x，y)和Iq(x，y)之间的移位场DF，使得：
Δpx(x，y)-Δqx(x，y)；以及
Δpy(x，y)-Δqy(x，y)。
假设两行121-i和121-i+1之间的矩阵移动的速度恒定，可以使用第一行121-1和第五行121-5，通过将上述移位场除以p-q来确定瞬时移位场IF，如图7所示，其中简单的情况是仅垂直移位。
如图1所示，方法100还可以包括在S4，从与货物扫描开始相关的X射线脉冲到与货物扫描结束相关的X射线脉冲，通过将针对被照射区域Zi的确定的局部相互移位求和，来确定总相互寄生移位。
在一些示例中，上述瞬时移位场IF可用于确定如下所述的图像失真。
如图8A和8B所示，根据x和y上的瞬时移位δx(x,y)和δy(x,y)，实际位置x'和y'可以被定义使得：
公式4中的计算式描述了在所获取的图像的坐标(x和y)和实际位置(x和y′)之间的映射。可以水平地、逐行地执行映射，因为在相邻行之间计算瞬时移位δx(x,y)和δy(x,y)。图8A和8B示意性地表示了公式4的几何表示，图8A示意性地示出了所获取的图像的坐标。图8B示意性地示出了图8A的所获取图像的实际位置的坐标。在图8A和8B中，矩阵移动将灰度级从(x′，y′)移动到(x，y)。
在图8A和8B中，水平直线被变换成曲线CL，该曲线CL也是x的函数。如图8B所示，曲线CL的切向量V的分量是(1+δx(x,y)，δy(x,y))。注意，x和y是不对称的，因为移位不是x和y的实函数，而是时间t和y的函数。然而时间t可以被x代替，因为时间t和x是成比例的关系。在(1+δx(x,y))中，1来自时间流。
在上述公式4中，积分(和)的下限是零，但是应当理解，下限可以是任何值x0，即来自与货物扫描的开始相关联的X射线脉冲。在这种情况下，方程为：
在上面的公式4中，积分(和)的上限可以与可以被选为参考的行相关联。需要确定图像的每个点相对于其没有任何移位的位置的总移位。因此，假设参考行可以对应于矩阵的静止位置。参考行可以与关联于货物扫描结束的X射线脉冲相关联。
上述理论发展的大部分是利用连续模型进行的。更实际的离散等价方程将是(以第一列作为参考)：
Xij和yij是整数(因为i和j是像素坐标)，而x′ij、y′ij不是整数(在一般情况下，检测器空间中的寄生移位不是行宽的倍数)。
在一些示例中，确定整数配对值x'和y'的灰度级，因为它们对应于像素的坐标。存在若干数值方式来确定整数配对值x'和y'的灰度级，例如使用变形。图9A和9B示意性地示出了该原理，其中示出了反向映射。在图9A和9B中，对于给定的像素(i'，j')，可以确定其图像由于失真而重叠(i'，j')的像素(i，j)。(i'，j')中的灰度级可以通过由重叠率加权的像素(i，j)的灰度级的总和来计算。
在最简单的情况下，矩阵移动可以通过垂直平移来近似(δx＝0，δy仅取决于x)：
x′ij＝i和
如图1所示，方法100还可以包括在S5基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一个并且基于所确定的总相互寄生移位来生成货物11的校正图像。
在一些示例中，计算校正图像可以通过将每个列平移量D来执行，量D等于：
如上所述，上述D的结果校正了主要是垂直平移运动的悬臂运动(例如，旋转的影响被认为是非常小)。
在一般情况下，在x和y中：
因此，P图像可以按照以下公式校正：
Icn(x,y)＝In(x-Dx(x,y),y-Dy(x,y))
其中Icn(x,y)是校正的第n个图像。
最后的计算可以不对所有图像执行，因为校正的图像可以被假定为相似的。
如以下关于图2进一步详细解释的，检查系统10被配置为检查货物11，在一些非限制性示例中，可以通过将检查辐射13从检查辐射源15穿过货物11传输到矩阵12来执行检查。
在图2所示的示例中，系统10还可包括控制器16，其被配置为经由可以是有线和/或可以是无线的通信网络与矩阵12通信，以根据从矩阵12接收的数据生成一个或多个图像，控制器16至少包括处理器和存储器，以便例如在系统10上本地地至少部分地执行根据本公开的示例方法100。
在图2所示的示例中，系统10还可以包括分析器17，其被配置成例如通过通信网络从控制器16接收一个或多个图像，该通信网络可以是有线的和/或无线的。分析器17至少包括处理器和存储器，以便例如远离系统10至少部分地执行根据本公开的示例方法100。
在一些示例中，在S3确定局部相互寄生移位可包括使用以下至少一个：图像交叉相关技术和能量最小化技术。
图像的交叉相关对于本领域技术人员来说是已知的，用于确定图像序列中的移位场。现在将简要描述交叉相关技术。
可以使用傅立叶变换来局部地找到移位向量。如果Ip和Iq是对应于行p和q的两个图像，则Fp和Fq是2D傅立叶变换。
可以计算归一化交叉(cross)功率谱R，使得：
其中，
是矩阵运算(entry-wise product)，并且*是复共轭。
如果Ip和Iq是移位(δx,δy)的相同图像，则交叉功率谱是：
为了得到交叉相关，可以确定现在是(δx,δy)中定位的狄拉克δ函数的交叉功率谱的逆傅立叶变换。找到(δx,δy)可能需要计算R，并且可以定位R的傅立叶变换的最大值。
为了确定移位场，可以对以像素为中心的小正方形窗口(n×n像素)上的每个像素(x，y)应用上述方法，并且结果可以被认为是局部移位(δx(x,y),δy(x,y))。所获得的局部移位可以除以(q-p)以得到局部瞬时移位。
能量最小化对于本领域技术人员也是已知的。现在将简要描述能量最小化技术。
建立以瞬时移位矢量为变量的凸或伪凸函数，确定该函数的最小值。这种功能的通常的基本项是“一致性项”。总是考虑如上所述的Ip和Iq(p＞q)，该第一基本项是使得：
EC((δx)ij，(δy)ij)＝∑ij(Ip(i-(p-q)·(δx)ij，j-(p-q).(δy)ij)-Iq(x，y))2 (公式7)
为了清楚起见，在公式7中使用了离散形式的函数。上面的“一致性项”可以是偏移图像(项Ip)和目标图像(项Iq)之间的差的平方。该算法主要在于确定最小化Ec的(δx)ij和(δy)ij的值。所确定的值对应于使图像Ip看起来与图像Iq尽可能相似的移位值。
规范化的其它项可以被添加到公式7以稳定所获得的结果：
这里，梯度被计算为两个相邻像素之间的δx和δy的差。系数a(正)表示ET的两项之间的平衡。a越高，变换越平滑。要确定的移位不是整数，并且扭曲/内插算法可以用于计算项Ec。
在如上所述的恒定速度假设下，对所有可能的图像对进行整合的函数可以是使得：
其中，EC(n，p，(δx)ij，(δy)ij)＝∑ij(Ip(i-(p-n)·(δx)ij，j-(p-n).(δy)ij)-Iq(x，y))2
梯度下降技术可用于最小化ET。
在图2所示的示例中，检查辐射源15可以包括X射线发生器。X射线的能量可以在100keV和15MeV之间，并且在距源一米处剂量率可以在每分钟2mGy和20Gy(Gray，灰度)之间。在图2所示的示例中，对于钢穿透能力例如在40mm至400mm之间，通常例如300mm(12英寸)，X射线源15的最大X射线能量可以例如在100keV和9.0MeV之间，通常例如2MeV、3.5MeV、4MeV或6MeV。在图2所示的实施例中，剂量可以是例如20mGy至120mGy。在其它示例中，对于钢穿透能力，例如在300mm至450mm之间，通常例如410mm(16.1英寸)，X射线源15的最大X射线能量可以例如在4MeV和10MeV之间，通常例如9MeV。在一些实例中，剂量可以是17Gy。
系统10还可以包括其它类型的检测器，例如可选的伽马和/或中子检测器，例如适于例如在X射线检查的同时检测货物11内放射性伽马和/或中子发射材料的存在。
Claims (15)
1.一种用于利用X射线检查货物的方法，该方法包括：
用包括至少两行检测器的矩阵扫描所述货物，包括：
利用相互扫描移位，使所述货物和所述矩阵相互移位；以及
在所述相互扫描移位期间，利用所述矩阵检测由照射所述货物的多个连续X射线脉冲产生的辐射；
其中，所述货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射；以及
其中，对应于所述第一X射线脉冲的辐射由所述矩阵的第一行检测，并且对应于所述至少一个第二脉冲的辐射由所述矩阵的至少一个第二行检测；
生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像，
其中，每个图像包括与针对每个X射线脉冲的探测器的所述行相对应的像素；
针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位，确定所述货物与所述矩阵之间的至少一个局部相互寄生移位，所述局部相互寄生移位：
发生在所述第一脉冲和所述至少一个第二X射线脉冲之间；以及
不同于在所述第一脉冲和至少一个第二脉冲之间发生的所述相互扫描移位；
从与所述货物的所述扫描的开始相关联的X射线脉冲到与所述货物的所述扫描的结束相关联的X射线脉冲，通过针对所被照射区域的所确定的局部相互移位求和，确定至少一个总相互寄生移位；以及
基于所述第一图像和所述至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的至少一个总相互寄生移位，生成所述货物的至少一个校正图像。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，扫描所述货物包括：以移动模式扫描所述货物，并且使所述货物和所述矩阵相互移位包括：
在所述扫描移位期间，使所述货物相对于地面保持静止，并使所述矩阵相对于所述地面移位。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中扫描所述货物包括：将所述矩阵安装在移动检查系统的悬臂上。
4.根据权利要求2和3所述的方法，其中，生成所述校正图像包括：
校正在所述移动模式中生成的悬臂移动伪影。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，扫描所述货物包括：以通过式模式扫描所述货物，并且使所述货物和所述矩阵相互移位包括：
在所述扫描移位期间，使所述矩阵相对于地面保持静止，并且使所述货物相对于所述地面移位。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，扫描所述货物包括：
将所述矩阵安装在静态检查系统的悬臂上。
7.根据权利要求5和6所述的方法，其中，生成所述校正图像包括：
校正在通过式模式中产生的货物速度不均匀性。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中确定所述局部相互寄生移位包括：
使用图像交叉相关技术和能量最小化技术中的至少一者。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，在像素(x，y)处生成所述至少一个校正图像包括：
将每个像素(x，y)平移对应于总的相互寄生移位的量-Dx和-Dy，使得：
其中，Δx(x,y)和Δy(x,y)是在水平扫描方向(Ox)和垂直方向(Oy)上的所述局部寄生移位。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，包括：
确定与所述矩阵的行p和行q相对应的两个图像Ip(x，y)和Iq(x，y)之间的移位场，使得：
Δx((p-q),y)＝[Δpx(x,y)-Δqx(x,y)]/(p-q)
Δy((p-q),y)＝[Δpy(x,y)-Δqy(x,y)]/(p-q)。
11.根据权利要求9或10所述的方法，其中在所述主要寄生移动是垂直平移移动的情况下，-Dx＝0且-Dy＝-D使得：
其中，δy＝Δy(x,y)，Δy(x,y)仅取决于x。
12.根据权利要求9至11中的任一项所述的方法，其中，生成所述至少一个校正图像包括：
生成所校正的第n个图像Icn(x,y)，使得：
Icn(x,y)＝In(x-Dx(x,y),y-Dy(x,y))。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，生成所校正的第n个图像包括：
仅生成等于或小于所述矩阵的行数的校正图像的一个子集。
14.一种装置，包括：
至少一个处理器；以及
存储器，
其中，所述存储器包括指令，所述指令在由所述处理器执行时使得所述处理器能够执行根据权利要求1至13中任一项所述的方法。
15.一种计算机程序或计算机程序产品，包括指令，所述指令在由处理器执行时使得所述处理器能够执行根据权利要求1至13中任一项所述的方法或提供根据权利要求14所述的装置。
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