CN112986206B - 一种检测基因芯片杂交结果的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测基因芯片杂交结果的方法，包括：构造基因芯片检测仪；将完成杂交和荧光标记后的基因芯片的基片放置在封装式微通道板上；开启脉冲激光光源系统，发射出脉冲激光，使基因芯片的基片上带有荧光标记基团的探针上的荧光物质达到激发态；探针上荧光物质激发后释放的光子利用微通道板型时间相关单光子计数法转化为电信号并进行检测；统计不同时间和通道位置上的探针的累计信号数据，绘制出每个探针的荧光寿命曲线。检测基因芯片杂交结果的方法通过时间相关单光子计数法进行十万次以上的重复检测，实现了荧光寿命曲线的绘制，从而提高了基因芯片杂交结果的检出灵敏度。

Description

一种检测基因芯片杂交结果的方法

技术领域

本发明涉及生物芯片杂交结果的测定方法领域，特别涉及一种检测基因芯片杂交结果的测定方法，采用了对包括核酸的探针芯片杂交进行检测的方法。本发明还特别涉及一种体外诊断检测仪器，属于体外诊断检测仪器中的时间分辨荧光检测分析仪器，同时涉及分子诊断检测仪器中的分子生物信息分析处理系统。

背景技术

生物芯片技术已经广泛应用于临床疾病诊断、健康管理、药物研究开发、动植物检疫、食品检测、环境监测、科学研究、法医学检测等众多领域，有广阔的应用前景，市场需求量非常大。

基因芯片是生物芯片中的一类，是通过在基因芯片的基片上定植一系列的序列已知探针而制备，可用于特定标记核酸的杂交检测，能通过识别检测与信息处理来报告检测对象中核酸信息。

当前基因芯片杂交结果的检测方法主要以荧光强度检测为主，都是使用带通滤光片将激发光折射到探针上的标记荧光物质并激发荧光物质发出荧光，荧光再通过带通滤光片进入检测器完成荧光成像，由于激发光与荧光同时存在于探针上，必然会有激发光对荧光成像结果造成背景干扰。在荧光成像时，由于有背景荧光干扰常常会形成假阴性，尤其是对于样品中含量较少的肿瘤核酸成份，其荧光信号弱，利用荧光强度成像法不容易检出，会造成疾病的延误治疗，还可能会造成无法挽回的生命损失。有效降低基因芯片检测时的背景干扰，提高基因芯片的检测结果准确率，对基于基因芯片的疾病筛查意义重大。

因此需要对上述问题做出改善。

发明内容

本发明旨在提供一种检测基因芯片杂交结果的方法，以至少部分地解决上述问题。

本发明的另一目的是提供一种检测基因芯片杂交结果的方法，克服样品荧光信号弱带来的假阴性结果，以提高基因芯片的监测结果准确率。

本发明的再一目的是提供一种检测基因芯片杂交结果的方法，克服荧光强度成像中受背景干扰造成的弱信号检出困难的内在不足。

本发明的技术方案是：

一种检测基因芯片杂交结果的方法，所述检测方法利用了时间相关单光子计数（Time-Correlated Single Photon Counting，以下简称TCSPC）法，所述检测方法包括：构造基因芯片检测仪，所述检测仪包括脉冲激光光源系统、荧光寿命成像的采集系统，所述脉冲激光光源系统被设置为产生脉冲激光，所述荧光寿命成像的采集系统包括微通道板（Microchannel plate，以下简称MCP）和位敏阳极，被设置为荧光寿命曲线数据的采集；基因芯片与待检测样品杂交并完成杂交后的荧光标记处理；将完成杂交和荧光标记后的基因芯片的基片放置在封装式微通道板的透过窗上；开启脉冲激光光源系统，使皮秒脉冲激光器发射出脉冲激光；脉冲激光激发基因芯片的基片上带有荧光标记基团的探针上的荧光物质达到激发态；不同位置的探针上荧光物质激发后释放的单光子利用微通道板型时间相关单光子计数法检测，并转化为不同位置和不同时间的电信号数据；统计不同位置和时间的探针上的累计电信号数据，绘制出每个探针的荧光寿命曲线，经过数据分析和整理，最终获得基因芯片杂交的检测结果。

根据本发明的一个优选实施例，所述脉冲激光光源系统被配置为产生激发光，包括皮秒脉冲激光器、脉冲激光器光纤和激光光束扩束器，皮秒脉冲激光器发射出脉冲激光，脉冲激光被激光光束扩束器扩大后发送给荧光寿命成像的采集系统。

根据本发明的一个优选实施例，所述皮秒脉冲激光器发射出的脉冲激光为皮秒级，脉宽为20ps。

根据本发明的一个优选实施例，所述荧光寿命成像的采集系统为TCSPC荧光寿命成像的采集系统，包括封装式微通道板的透过窗、光电阴极、微通道板、位敏阳极、微通道板的阳极封端和集成外设；其中，微通道板位于光电阴极和位敏阳极之间。

根据本发明的一个优选实施例，所述检测仪还包括暗箱，阻止光反射材料铺设在所述暗箱的内表面上，使得暗箱的内表面上的阻止光反射材料阻止了照射到暗箱的内表面上的光被反射。

根据本发明的一个优选实施例，所述微通道板的单个微孔的直径为5-10微米，每平方厘米有百万个检测通道，能够对基因芯片的基片上每平方厘米的上万个探针同时进行检测。

根据本发明的一个优选实施例，所述微通道板型TCSPC法能够进行十万次以上的重复检测。

根据本发明的一个优选实施例，由于所述微通道板的检测范围包括了整个基因芯片，因此微通道板型TCSPC法所用检测器能够对基因芯片上所有带有荧光标记基团的探针进行同时检测，从而能够完成全部探针的荧光寿命成像检测。

根据本发明的一个优选实施例，所述微通道板的通道孔径小于带有荧光标记基团的探针的点径直径，能够有效提高探针边界，提高灵敏度，从而准确测定每个阳性探针的精准位置。

根据本发明的一个优选实施例，位敏阳极设置在所述封装式微通道板的下部，所述位敏阳极为交叉条阳极，能够判定每个探针位置的电信号数据。

根据本发明的一个优选实施例，所述位敏阳极的下部设置有微通道板的阳极封端，所述封装式微通道板包括所述封装式微通道板的透过窗、光电阴极、所述微通道板、所述位敏阳极和微通道板的阳极封端，所述封装式微通道板嵌合在暗箱的下部，对置于封装式微通道板的透过窗上的基因芯片完成荧光寿命成像。

根据本发明的一个优选实施例，所述光电阴极为半透明光阴极。

根据本发明的一个优选实施例，所述脉冲激光光源系统包括激光光束扩束器，所述皮秒脉冲激光器通过脉冲激光器光纤将发射的脉冲激光传递到激光光束扩束器上进行扩大。

根据本发明的一个优选实施例，所述激光光束扩束器嵌合在暗箱的上部。

根据本发明的一个优选实施例，所述荧光寿命成像的采集系统还包括集成外设，所述集成外设包括时幅转换器(Time to amplitude converter,以下简称TAC)、模数转换器(Analog to digital converter,以下简称ADC)、电源供应和参考信号恒比鉴别器(Constant fraction discriminator,以下简称CFD)，集成外设可以通过TCSPC法检测形成基因芯片上每个带有荧光标记基团的探针位置的荧光寿命曲线，用于区分阳性结果与阴性结果。

根据本发明的一个优选实施例，所述集成外设通过脉冲激光器光纤与皮秒脉冲激光器相连，用于指示皮秒脉冲激光器的启动与关闭。

本发明的有益效果是:

本检测方法激发光源为皮秒级脉冲激光，脉宽可低至20ps，其突出优点是这种微弱光的脉冲激光不会造成荧光物质的光漂白，从而避免假阴性。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，利用微通道板检测单光子，微通道板是一种大面阵的高空间分辨的电子倍增探测器，可以对整个基因芯片的基片上的探针实现非常高的时间和位置分辨信号；微通道板单个微孔的直径为5-10微米，每平方厘米有百万个检测通道，其突出优点是能够同时对基因芯片的基片上每平方厘米的上万个探针进行检测,有效提高了检测通量；此外，检测过程中，调节样品的荧光强度，确保每次激发后最多只有一个荧光光子到达终止光电倍增管，其突出优点是还能够减少激发荧光的背景干扰。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，进行的重复检测达到十万次以上，其突出优点是有效克服单次成像中容易形成的假阴性和假阳性；此外，与传统基因芯片杂交结果检测的不同在于不依赖于荧光强度，通过是否能够形成荧光寿命曲线（能够形成荧光寿命曲线的为阳性结果）来有效区分阳性结果与阴性结果，其突出优点是提高弱杂交结果的检测能力，避免假阴性。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，所述微通道板的通道孔径小于带有荧光标记基团的探针的点径直径，因此能够准确测定每个阳性探针的精准位置。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，位敏阳极设置在微通道板的下部，所述位敏阳极可以是交叉条阳极，其突出优点是能够实现对光子来源的探针更加准确的位置判定。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，微通道板配合交叉条阳极使用，能够同时获得时间分辨信号与位置分辨信号。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，光电阴极位于微通道板的上方，所述光电阴极为半透明光阴极，其突出优点是抗干扰性更强、光电转换效率更高。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，暗箱内部铺设的阻止光反射材料可以部分或完全吸收背景荧光，其突出优点是能够有效减少背景荧光的干扰，解决了背景荧光干扰形成的假阴性问题。

本检测方法利用TCSPC法进行检测的过程中，所构造的检测仪结构简单，使用时将基因芯片直接放置在封装式微通道板的透过窗上，进行自动检测，其突出优点是操作方便、灵敏度高、测量结果准确、系统误差小，尤其适合基因芯片杂交结果的检测。

附图说明

图1 为根据本发明的实施例的检测基因芯片杂交结果的方法；

图2为根据本发明的实施例的检测基因芯片杂交结果的方法所构造的检测仪的结构示意图。

图中：1、脉冲激光器光纤；2、激光光束扩束器；3、基因芯片的基片；4、探针；5、封装式微通道板的透过窗；6、光电阴极；7、微通道板；8、位敏阳极；9、微通道板的阳极封端；10、暗箱；11、阻止光反射材料；12、输出电缆；13、集成外设；14、皮秒脉冲激光器。

具体实施方式

下面结合附图详细描述本公开的示例性的实施例，其中相同或相似的标号表示相同或相似的元件。另外，在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本披露实施例的全面理解。然而明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。在其他情况下，公知的结构和装置以图示的方式体现以简化附图。

本发明提供了一种检测基因芯片杂交结果的方法，该方法包括：构造基因芯片检测仪，所述检测仪包括脉冲激光光源系统、荧光寿命成像的采集系统；基因芯片与待检测样品杂交并完成杂交后的荧光标记处理；将完成杂交和荧光标记后的基因芯片的基片放置在封装式微通道板的透过窗上；开启脉冲激光光源系统，使皮秒脉冲激光器发射出脉冲激光；脉冲激光激发基因芯片的基片上带有荧光标记基团的探针上的荧光物质达到激发态；不同位置的探针上荧光物质激发后释放的单光子利用微通道板型时间相关单光子计数法检测，并转化为不同位置和不同时间的电信号数据；统计不同时间和通道位置上的探针的累计信号数据，绘制出每个探针的荧光寿命曲线，经过数据分析和整理，最终获得基因芯片杂交的检测结果。

下面参照图1-2描述本发明的检测基因芯片杂交结果的方法以及根据该方法所构造的检测仪，检测仪包括脉冲激光光源系统、荧光寿命成像的采集系统和暗箱系统。所述脉冲激光光源系统被配置为产生激发光，包括皮秒脉冲激光器14、脉冲激光器光纤1和激光光束扩束器2，皮秒脉冲激光器14发射出脉冲激光，脉冲激光被激光光束扩束器2扩大后发送给荧光寿命成像的采集系统；所述荧光寿命成像的采集系统为TCSPC荧光寿命成像的采集系统，包括封装式微通道板的透过窗5、光电阴极6、微通道板7、位敏阳极8、阳极封端9和集成外设13；其中，微通道板 7位于光电阴极6和位敏阳极8之间；暗箱系统包括暗箱10，阻止光反射材料11铺设在所述暗箱10的内表面上，使得暗箱10的内表面上的阻止光反射材料11阻止了照射到暗箱的内表面上的光被反射。

基因芯片的制备和杂交反应。基因芯片包括基因芯片的基片3和带有荧光标记基团的探针4，基因芯片的基片3可以选择醛基修饰的石英玻璃基片，带有荧光标记基团的探针4通过三维喷点点样仪平台进行10mm×10mm微阵列点样制备。点样仪可以选用美国BIODOT公司的Biodot Omnia点样仪，完成点样制备后的基因芯片经质控检测合格后备用。此处需要说明的是，芯片制作过程中点样仪除了美国BIODOT公司的Biodot Omnia点样仪以外，也可以选择其他品牌的三维喷点点样仪。

制备合格的基因芯片上带有荧光标记基团的探针4与样品包含的相应基因序列进行杂交反应，杂交反应条件根据所用基因芯片的说明书操作条件和步骤进行，样本中如果包含有相应基因序列，则通过杂交反应被固定在对应的基因芯片位置。将杂交后的基因芯片的基片3直接放置在暗箱10中封装式微通道板的透过窗5的上面，即可进行后序杂交结果的自动检测。

构造一种检测基因芯片杂交结果的检测仪。检测仪包括脉冲激光光源系统和荧光寿命成像的采集系统。

所述脉冲激光光源系统被配置为产生皮秒级脉冲激发光，脉冲激光光源系统包括皮秒脉冲激光器14、脉冲激光器光纤1和激光光束扩束器2。皮秒脉冲激光器14选择NKTPhotonics(原ALS.GmbH)的PILAS，该产品属于半导体二极管皮秒脉冲激光器，脉宽可低至20ps（FWHM），波长范围覆盖375nm-1060nm，峰值功率范围从25mW 至高于1000mW。激光扩束器2选择能够将脉冲激光的直径扩大到25-30mm即可，所述激光光束扩束器2嵌合在暗箱10的上部。皮秒脉冲激光器14的一端利用脉冲激光器光纤1与荧光寿命成像的采集系统的集成外设13相连，皮秒脉冲激光器14的另一端利用脉冲激光器光纤1与激光光束扩束器2相连。皮秒脉冲激光器14能够发射出低至20ps的脉冲激发光，所述低至20ps的脉冲激发光的直径被激光光束扩束器2扩大到30mm后，发送给荧光寿命成像的采集系统。

所述荧光寿命成像的采集系统包括封装式微通道板的透过窗5、光电阴极6、微通道板 7、位敏阳极8、微通道板的阳极封端9、输出电缆12和集成外设13。按照图2所示结构将封装式微通道板的透过窗5、光电阴极6、微通道板 7、位敏阳极8、微通道板的阳极封端9进行组装，微通道板 7位于光电阴极6与位敏阳极8的中间，封装式微通道板的透过窗5位于光电阴极6的上部，所述光电阴极为半透明光阴极，微通道板的阳极封端9紧贴在位敏阳极8的下部，所述位敏阳极8为交叉条阳极。集成外设13包括TAC、ADC、电源供应、参考信号CFD等功能部件，根据需要组装完成集成外设13，集成外设13还可以根据需求配备相应的操作系统。将输出电缆12的一端与位敏阳极8相连，另一端与集成外设13相连，从而完成荧光寿命成像的采集系统。

所述荧光寿命成像的采集系统还可以使用两片微通道板(称Chevron MCP),或者三片微通道板 (称z stack MCP) ,使电子信号更进一步的扩增放大，最高可以侦测到单一粒子或光子，提高了检测数据的灵敏度和准确性。

根据荧光寿命成像的采集系统和脉冲激光光源系统组装后的尺寸设计暗箱10的尺寸，并在暗箱10内部铺设阻止光反射材料11，然后将组装好的荧光寿命成像的采集系统和脉冲激光光源系统安装到暗箱系统上，其中，光电阴极6、微通道板7和位敏阳极8作为一个整体，嵌合在暗箱10的下部，所述位敏阳极8为交叉条阳极；激光光束扩束器2嵌合在暗箱10的与微通道板相对的上部，从而完成本发明所述的基因芯片杂交结果检测仪的构造。

根据本发明检测基因芯片杂交结果的方法所构造的检测仪的各主要组成部件还可以根据实际功能需求进行优化设计，比如暗箱外的采集系统与电脑相连，安装不同的软件系统，在电脑上实现对采集系统中相关部件的控制，从而完成对基因芯片杂交结果检测的自动化控制。

待检测仪组装完成后，即可利用基于TCSPC法的检测基因芯片杂交结果的方法进行实际的基因芯片杂交结果的检测操作，具体的检测流程如下：

杂交反应完成后，将基因芯片直接放进暗箱系统，并放置在荧光寿命成像的采集系统中的封装式微通道板的透过窗5上，关闭暗箱10，开启集成外设13的电脑控制端，在集成外设13的电脑控制端上配备的操作系统上输入相关的参数，即可自动完成基因芯片杂交结果的检测。自动检测流程是：皮秒脉冲激光器14通过激光光束扩束器2将激发光扩大后照射到基因芯片的基片3上带有荧光标记基团的探针4上，只有带有荧光标记基团的探针4与样本包含有相应基因序列发生杂交反应后，被激发光激发后才会发出荧光，再利用荧光寿命成像的采集系统对每个带有荧光标记基团的探针4进行十万次以上的TCSPC法重复检测，最后将不同的时间微通道板 上累积下来的光子数目进行统计形成每个探针的荧光寿命曲线，能够形成荧光寿命曲线的探针为阳性结果，不能形成荧光寿命曲线的为阴性结果，通过是否形成荧光寿命曲线来区分阳性结果与阴性结果。

根据本发明的总体构思，提供了一种检测基因芯片杂交结果的方法，用于解决背景荧光干扰以及荧光信号弱不容易检出等原因带来的检测结果假阴性问题。本发明解决技术问题采用的技术方案为：通过TCSPC法进行十万次以上的重复检测，实现了荧光寿命曲线的绘制，提高了基因芯片杂交结果的检出灵敏度，从而避免了基因芯片杂交结果假阴性问题。

根据本发明的总体构思，构造了一种利用TCSPC法检测基因芯片杂交结果的检测仪，包括脉冲激光光源系统、暗箱系统、荧光寿命成像的采集系统。其中，脉冲激光光源系统包括皮秒脉冲激光器14、脉冲激光器光纤1与激光光束扩束器2；荧光寿命成像的采集系统包括封装式微通道板的透过窗5、光电阴极6、微通道板 7、位敏阳极8、微通道板的阳极封端9、输出电缆12与集成外设13；暗箱系统包括暗箱10与阻止光反射材料11。将皮秒脉冲激光器14通过激光光束扩束器2完成对基因芯片的激发，将基因芯片直接放置于封装式微通道板的透过窗5的上部进行基因芯片杂交结果的检测，荧光寿命成像的采集系统采用TCSPC法进行十万次以上的重复检测，实现了荧光寿命曲线的绘制，形成荧光寿命曲线的为阳性结果，没有形成荧光寿命曲线的为阴性结果，通过荧光寿命成像有效区分阳性结果与阴性结果，能够提高弱杂交结果的检测灵敏度，避免假阴性。

在利用TCSPC检测基因芯片杂交结果的检测过程中，需要调节样品的荧光强度，确保每次激发后最多只有一个荧光光子到达终止光电倍增管。TCSPC方法对样品进行荧光寿命成像，其突出优点是灵敏度高、测量结果准确、系统误差小；但每一点的测量时间又比较长；虽然这样的特点不适合用于成像观察，但是对于基因芯片杂交结果的检测是适合的，尤其是可以进行超过十万次的成像检测可以有效克服检测结果的假阴性。

本发明所述的检测基因芯片杂交结果的方法的有益效果是：荧光寿命成像的采集系统采用TCSPC法进行十万次以上的重复检测，实现了荧光寿命曲线的绘制，有荧光标记的探针（阳性结果）能够形成荧光寿命曲线，没有荧光标记的探针（阴性结果）无法形成荧光寿命曲线，通过荧光寿命成像可以有效区分阳性结果与阴性结果，能够提高弱杂交结果的检测灵敏度，避免假阴性。从而解决了因样本含量少而导致的假阴性检测结果。此外，由于利用TCSPC法检测每个带有荧光标记基团的探针的荧光寿命曲线，与微通道板共同使用，可以同时获得了位置分辨信号与时间分辨信号，进一步提高了基因芯片杂交结果的检测灵敏度。

本发明所述的检测基因芯片杂交结果的方法还可以减少背景荧光的干扰，原因有二：一是利用TCSPC法检测荧光寿命曲线的过程中，需要调节样品的荧光强度，确保每次激发后最多只有一个荧光光子到达终止光电倍增管，从而减少了背景荧光的干扰；二是暗箱系统组装时，在暗箱的内部铺设了阻止光反射材料，阻止光反射材料可以部分或完全吸收荧光，最后可以没有荧光光线或只有少量荧光光线的反射，进一步减少了背景荧光的干扰。从而解决了背景荧光干扰形成的假阴性问题。

本发明所述的检测基因芯片杂交结果的方法不仅结构简单，使用时直接将基因芯片放置在封装式微通道板的透过窗上利用TCSPC法自动进行检测，操作也非常方便。

尽管已经示出和描述了本发明公开的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本公开的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行变化。本公开的适用范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述方法包括：

构造基因芯片检测仪，所述检测仪包括脉冲激光光源系统、荧光寿命成像的采集系统；所述脉冲激光光源系统被设置为产生脉冲激光，所述荧光寿命成像的采集系统包括微通道板（7）和位敏阳极（8），被设置为荧光寿命曲线数据的采集；

基因芯片与待检测样品杂交并完成杂交后的荧光标记处理；

将完成杂交和荧光标记后的基因芯片的基片（3）放置在封装式微通道板的透过窗（5）上；

开启脉冲激光光源系统，使皮秒脉冲激光器（14）发射出脉冲激光；

脉冲激光激发基因芯片的基片（3）上带有荧光标记基团的探针（4）上的荧光物质达到激发态；

不同位置的探针（4）上荧光物质激发后释放的单光子利用微通道板型时间相关单光子计数法检测，并转化为不同位置和不同时间的电信号数据；

统计不同位置和时间的探针（4）上的累计电信号数据，绘制出每个探针的荧光寿命曲线，经过数据分析和整理，最终获得基因芯片杂交的检测结果。

2.根据权利要求1所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述脉冲激光光源系统通过皮秒脉冲激光器（14）发射出的脉冲激光为皮秒级，脉宽为20ps。

3.根据权利要求1所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述微通道板（7）的单个微孔的直径为5-10微米，每平方厘米有百万个检测通道，能够对基因芯片的基片（3）上每平方厘米的上万个探针同时进行检测。

4.根据权利要求1所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述微通道板型时间相关单光子计数法所用检测器能够对基因芯片上所有带有荧光标记基团的探针（4）进行同时检测。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述微通道板（7）的通道孔径小于带有荧光标记基团的探针（4）的点径直径。

6.根据权利要求1所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述位敏阳极（8）设置在封装式微通道板的微通道板（7）的下部，所述位敏阳极（8）为交叉条阳极，能够判定每个探针（4）位置的电信号数据。

7.根据权利要求6所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述位敏阳极（8）的下部设置有微通道板的阳极封端（9），所述封装式微通道板包括所述封装式微通道板的透过窗（5）、光电阴极（6）、所述微通道板（7）、所述位敏阳极（8）和微通道板的阳极封端（9），所述封装式微通道板嵌合在暗箱（10）的下部，对置于封装式微通道板的透过窗（5）上的基因芯片完成荧光寿命成像。

8.根据权利要求7所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述光电阴极（6）为半透明光阴极。

9.根据权利要求8所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述脉冲激光光源系统包括激光光束扩束器（2），所述皮秒脉冲激光器（14）通过脉冲激光器光纤（1）将发射的脉冲激光传递到激光光束扩束器（2）上进行扩大。

10.根据权利要求9所述的检测基因芯片杂交结果的方法，其特征在于，所述激光光束扩束器（2）嵌合在暗箱（10）的上部。

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