CN112965903A - 测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本公开公开了一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及计算机领域，尤其涉及芯片测试技术领域。具体实现方案为：在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序；依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
Description
技术领域
本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片测试技术领域，具体而言，本公开涉及一种测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着人工智能(Artificial Intelligence，AI)技术的快速发展，其对芯片的算力的要求越来越高。AI芯片，一种专门做AI模型的训练或推理的芯片便在这种情况下应运而生。
AI芯片的设计及使用过程中，需要对AI芯片的各项功能进行测试。在对AI芯片的功能进行测试时，一般会使用测试用例。
由于在AI芯片的不同功能进行测试时所需的测试用例不同，并且在需要使用多个测试用例时，测试用例的执行顺序也不相同。目前一般是由测试人员针对需要测试的功能编写测试用例，并且指定各测试用例的测试顺序。现有方式中，需要测试人员进行较多操作，造成测试时的工作量增加，影响芯片的测试效率。
发明内容
本公开的目的旨在至少能解决上述的技术缺陷之一，提供了一种芯片测试效率更高的测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
根据本公开的一方面，提供了一种测试方法，该方法包括：
在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；
基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序；
依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
根据本公开的第二方面，提供了一种测试装置，该装置包括：
目标测试用例确定模块，用于在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；
执行顺序确定模块，用于基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序；
测试模块，用于依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
根据本公开的第三方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行如本公开的第一方面中所示的测试方法。
根据本公开的第四方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，计算机指令用于使计算机执行如本公开的第一方面中所示的测试方法。
根据本公开的第五方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现如本公开的第一方面中所示的测试方法。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：
图1是本公开实施例提供的一种测试方法的流程示意图；
图2是本公开实施例提供的另一种测试方法的流程示意图；
图3是本公开实施例提供的又一种测试方法的流程示意图；
图4是本公开实施例提供的一种测试系统的结构示意图；
图5是本公开实施例提供的测试方法的一种具体实施方式的流程示意图；
图6是本公开实施例提供的一种测试装置的结构示意图；
图7是本公开实施例提供的另一种测试装置的结构示意图；
图8是本公开实施例提供的又一种测试装置的结构示意图；
图9是用来实现本公开实施例提供的测试方法的电子设备的框图。
具体实施方式
以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。
图1示出了本公开实施例提供的一种测试方法的流程示意图，本公开实施例提供的方法可以应用于测试系统，如图1所示，该方法主要可以包括：
步骤S110：在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例。
其中，被测试芯片可以包括但是不限于AI芯片。待测试功能可以包括但是不限于芯片稳定性、芯片算力、芯片功耗、推理模型性能以及训练模型性能等。
由于对各种测试功能进行测试时，所需的测试用例可能并不相同，本公开实施例中，可以针对各种测试功能分别预配置测试用例，以便在对待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定出用于对被测试芯片的待测试功能进行测试的目标测试用例，而无需由测试人员根据待测试功能来编写测试用例，能够减少测试人员的工作量。
在实际使用中，可以预配置测试用例集合，测试用例集合中包括各种测试功能所对应的测试用例。在进行测试时，可以由用户选择待测试功能，测试系统可以从测试用例集合中确定出待测试功能对应的测试用例。
步骤S120：基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序。
在实际使用中，一些目标测试用例在执行时可能依赖于另一些目标测试用例的执行结果，因此可以将各目标测试用例之间的依赖关系进行配置，从而根据依赖关系确定出各目标测试用例的执行顺序。
本公开实施例中，由于可以根据依赖关系来确定出目标测试用例的执行顺序，无需由测试人员根据实际的业务经验指定执行顺序，降低对测试人员的业务经验的要求，也减少了测试时的工作量。
步骤S130：依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
在确定出目标测试用例的执行顺序后，可以依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并采集测试数据。测试数据能够用于得出待测试功能的测试结果。
本公开提供的测试方法，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
图2示出了本公开实施例提供的另一种测试方法的流程示意图，如图2所示，该方法主要可以包括：
步骤S210：在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例。
其中，被测试芯片可以包括但是不限于AI芯片。待测试功能可以包括但是不限于芯片稳定性、芯片算力、芯片功耗、推理模型性能以及训练模型性能等。
由于对各种测试功能进行测试时，所需的测试用例可能并不相同，本公开实施例中，可以针对各种测试功能分别预配置测试用例，以便在对待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定出用于对被测试芯片的待测试功能进行测试的目标测试用例，而无需由测试人员根据待测试功能来编写测试用例，能够减少测试人员的工作量。
在实际使用中，可以预配置测试用例集合，测试用例集合中包括各种测试功能所对应的测试用例。在进行测试时，可以由用户选择待测试功能，测试系统可以从测试用例集合中确定出待测试功能对应的测试用例。
步骤S220：基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的初始顺序。
步骤S230：基于是否获取到用户对初始顺序的调整指令，并基于初始顺序，确定各目标测试用例的执行顺序。
在实际使用中，一些目标测试用例在执行时可能依赖于另一些目标测试用例的执行结果，因此可以将各目标测试用例之间的依赖关系进行配置，从而根据依赖关系确定出各目标测试用例的执行顺序。
本公开实施例中，由于可以根据依赖关系来确定出目标测试用例的执行顺序，无需由测试人员根据实际的业务经验指定执行顺序，降低了对测试人员的业务经验的要求，也减少了测试时的工作量。
本公开实施例中，可以基于依赖关系确定各目标测试用例的初始顺序。作为一个示例，目标测试用例a、目标测试用例b以及目标测试用例c之间的依赖关系为：目标测试用例b依赖于目标测试用例a，目标测试用例a依赖于目标测试用例c。从而能够确定出初始顺序为：目标测试用例c、目标测试用例a、目标测试用例b。
在实际使用中，该初始执行顺序可能不能满足实际需求，用户可能需要对该初始顺序进行调整，这时用户可以提交对初始顺序的调整指令，测试系统可以根据是否获取到用户对初始顺序的调整指令，并基于初始顺序，确定各目标测试用例的执行顺序。
作为一种可选方式，基于是否获取到用户对初始顺序的调整指令，并基于初始顺序，确定各目标测试用例的执行顺序，包括：
若获取到了用户的对初始顺序的调整指令，则基于调整指令对初始顺序进行调整，得到各目标测试用例的执行顺序；
若未获取到用户对初始顺序的调整指令，则将初始顺序确定为各目标测试用例的执行顺序。
本公开实施例中，用户可以根据实际需要对初始顺序进行调整，得到执行顺序。具体地，若检测到用户对初始顺序的调整指令，则可以基于调整指令对初始顺序进行调整，得到执行顺序；若未检测到用户对初始顺序的调整指令，则可以认为该初始顺序能够满足实际的测试需求，将该初始顺序确定为执行顺序。
由于能够根据用户是否提交了的调整指令来调整初始顺序，以便在初始顺序不能够满足测试需求时，通过调整指令对初始顺序进行调整，使得调整后得到的执行顺序能够满足测试需求。
作为一种可选方式，获取用户对初始顺序的调整指令，包括：
通过执行顺序调整界面向用户展示各目标测试用例对应的显示对象，各显示对象依照初始顺序排列；
当检测到用户对显示对象的拖拽操作时，基于拖拽操作确定用户对初始顺序的调整指令。
本公开实施例中，可以向用户展示执行顺序调整界面，执行顺序调整界面中可以包括各目标测试用例对应的显示对象。
作为一个示例，显示对象可以采用方框的形式，并在方框中显示目标测试用例的标识。
各显示对象可以按照初始顺序进行排列，作为一个示例，可以通过方向箭头表示各目标测试用例的初始顺序。
用户可以对显示对象进行拖拽操作，实现对显示对象的顺序调整，如将一个或多个显示对象拖拽至合适位置，使得拖拽后的显示对象的排列顺序符合执行顺序。
由于提供了执行顺序调整界面，将各显示对象按照初始顺序排列后显示，使得用户能够更为直观的了解到初始执行顺序，并支持通过对显示对象的拖拽操作来提交调整指令，使得用户的操作更为简易，方便了用户的使用。
步骤S240：依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
在确定出目标测试用例的执行顺序后，可以依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并采集测试数据。测试数据能够用于得出待测试功能的测试结果。
本公开提供的测试方法，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
图3示出了本公开实施例提供的又一种测试方法的流程示意图，如图3所示，该方法主要可以包括：
步骤S310：在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，向用户展示测试用例选择界面，测试用例选择界面中包括待测试功能对应的各测试用例的虚拟按钮以及各测试用例的相关信息。
步骤S320：当检测到用户对虚拟按钮的点击操作时，获取用户对目标测试用户的选择指令。
其中，被测试芯片可以包括但是不限于AI芯片。待测试功能可以包括但是不限于芯片稳定性、芯片算力、芯片功耗、推理模型性能以及训练模型性能等。
测试用例选择界面中展示各测试用例对应的虚拟按钮以及各测试用例的相关信息，其中，相关信息可以包括测试用例的描述信息，以及错误率等，错误率可以通过历史数据统计得到。
将测试用例的相关信息进行展示，有助于用户从待测试功能对应的测试用例中选择出目标测试用例。用户可以通过点击目标测试用例对应的虚拟按钮来提交选择指令，从而确定目标测试用例，也方便了用户对测试用例的选择。
步骤S330：基于选择指令从测试用例中确定用于对待测试功能进行测试的至少两个目标测试用例。
由于对各种测试功能进行测试时，所需的测试用例可能并不相同，本公开实施例中，可以针对各种测试功能分别预配置测试用例，以便在对待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定出用于对被测试芯片的待测试功能进行测试的目标测试用例，而无需由测试人员根据待测试功能来编写测试用例，能够减少测试人员的工作量。
在实际使用中，可以预配置测试用例集合，测试用例集合中包括各种测试功能所对应的测试用例。在进行测试时，可以由用户选择待测试功能，测试系统可以从测试用例集合中确定出待测试功能对应的测试用例。
步骤S340：基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序。
在实际使用中，一些目标测试用例在执行时可能依赖于另一些目标测试用例的执行结果，因此可以将各目标测试用例之间的依赖关系进行配置，从而根据依赖关系确定出各目标测试用例的执行顺序。
本公开实施例中，由于可以根据依赖关系来确定出目标测试用例的执行顺序，无需由测试人员根据实际的业务经验指定执行顺序，降低对测试人员的业务经验的要求，也减少了测试时的工作量。
步骤S350：依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
在确定出目标测试用例的执行顺序后，可以依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并采集测试数据。测试数据能够用于得出待测试功能的测试结果。
本公开提供的测试方法，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
作为一种可选方式，若待测试功能为芯片稳定性，则上述方法还包括：
获取目标流量曲线；
基于目标流量曲线控制执行各目标测试用例的过程中，流入待测试芯片的数据流量。
目前，在对被测试芯片的芯片稳定性进行测试时，一般都是将流入被测试芯片的数据流量指定为一个恒定值，在这种恒定的流量压力下进行芯片稳定性测试，但是，在实际使用中芯片的流量压力可能在不同时段发生变化，因此，现有的芯片稳定性的测试方式无法贴近实际情况，测试效果较为一般。
本公开实施例中，可以通过提供目标流量曲线来控制在测试时段内流入被测试芯片的数据流量，以实现对真实的流量压力情况的模拟，从而提升芯片稳定性的测试效果。
作为一个示例，目标流量曲线的横轴可以为测试时段内的时间点，纵轴可以流量值。
作为一种可选方式，获取目标流量曲线，包括以下任一项：
从预配置的流量曲线集中确定用户所选择的目标流量曲线；
基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线。
本公开实施例中，可以预配置多条流量曲线构成流量曲线集，以供用户从中选择目标流量曲线。
作为一个示例，预配置的流量曲线可以正弦曲线、余弦曲线等。
在实际使用中，可以将预配置的流量曲线进行展示，使得用户能够直观的了解到各流量曲线的变化情况，从而做出准确选择，有助于提升测试的准确性。
本公开实施例中，可以提供流量曲线绘制界面，从而根据用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线。
由于向用户提供了流量曲线绘制界面，方便了用户绘制流量曲线，从而使得用户能够通过绘制流量曲线，便捷的进行对测试时段内的流量控制。
作为一种可选方式，若获取目标流量曲线包括基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线，则基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线，包括：
当检测到用户通过虚拟画笔在流量曲线绘制界面中的绘制操作时，获取虚拟画笔在流量曲线绘制界面中的笔迹；
基于笔迹确定目标流量曲线。
其中，流量曲线绘制界面中可以包括虚拟画笔，用户可以拖动虚拟画笔在空白的坐标轴中进行绘制，从而得到虚拟画笔绘制出的笔迹，并根据虚拟该笔迹确定出目标流量曲线。
通过将用户拖动虚拟画笔绘制笔迹，并根据笔迹确定出目标流量曲线，方便了用户目标流量曲线的绘制。
作为一种可选方式，执行目标测试用例，包括：
通过与待测试功能对应的测试接口调用被测试芯片进行对目标测试用例的执行。
其中，测试接口可以为针对待测试功能的测试要求所配置的接口，用于在测试时接入被测试芯片，以实现对测试用例的执行并得到测试数据。
由于各项待测试功能时在测试时的要求并不相同，如测试时所要求参数、数据指标等不同。因此，可以针对待测试功能的测试要求配置测试接口，如在测试接口中实现待测试功能所要求的参数或者数据指标等，从而使得在进行待测试功能的测试时，能够直接调用待测试功能所对应的测试接口接入被测试芯片并完成测试，而无需为被测试芯片的接入进行适配处理。
具体地，测试用例可以包括多个测试步骤，其中的一些特定的测试步骤可能需要调用待测试芯片来执行，如初始化步骤以及一些特定的功能测试步骤等。测试系统在执行测试用例的过程中，当需要执行这些特定的测试步骤时，可以通过测试接口调用被测试芯片完成对这些特定的测试步骤的执行。
本申请实施例中，上述方法可以应用于测试系统中，当测试系统在执行测试用例时，可以通过与待测试功能对应的测试接口调用待测试芯片执行上述的指定测试步骤。
作为一种可选方式，测试数据包括接口采集数据，确定测试数据，包括：
基于与待测试功能对应的数据监测接口采集被测试芯片在测试过程中的接口采集数据。
本公开实施例中，测试数据可以包括由测试系统框架采集的数据(如时间戳，测试接口的执行时长等)，以及由数据监控接口采集的接口采集数据(如被测试芯片的状态数据等)。
具体地，不同的待测试功能所需接口采集数据的数据种类以及数据采集方式等可能并不相同。因此，可以针对待测试功能的分配配置数据监测接口，以便通过数据监测接口实现对待测试功能所需接口采集数据的数据采集。
本公开实施例中，被测试芯片在测试用例的会产生相应的测试数据，通过待测试功能对应的数据监测接口能够便捷的实现对测试数据的采集。
图4中示出了本公开实施例提供的一种测试系统的结构示意图。
如图4中所示，其中，该测试系统包括：核心子系统，任务管理子系统，监控子系统以及数据处理子系统。
(1)核心子系统，包括硬件适配框架，标准测试接口，测试case(用例)集合，以及case扩展框架。其中，硬件适配框架提供了面向AI芯片的适配接口。标准测试接口用于核心子系统与任务管理子系统的数据交互。测试case集合中包括了在不同的功能测试中使用的测试用例。case扩展框架面向测试case开发者，用于开发新的测试case。
训练模型性能case插件、推理模型性能case插件、芯片功能case插件、芯片稳定性case插件、芯片功耗case插件以及芯片算力case插件，分别为不同的功能测试中可能会使用的测试用例。
(2)任务管理子系统为用户可以直接操作的系统，包括：任务发射、UI界面或命令行、后台管理、测试报表等模块。其中，任务发射模块用于生成任务并按照分布策略(如线性分布、泊松分布等)发射任务，调用标准测试接口。UI界面或命令行是用户直接操作的界面。后台管理模块，可以包含用户管理、测试case管理、任务进度管理、测试记录管理等功能。测试报表，用于进行测试结果的展示。
(3)监控子系统，用于监控AI芯片的状态数据、以及测试进程的状态数据，包含对各种指标的采样。监控上报模块用于对采样得到数据的打包整理和上报给数据处理子系统。
对各种指标的采样可以包括功耗采样、使用率采样以及温度采样。
(4)数据处理子系统,用于对测试结果数据处理加工并以规范的形式呈现给客户，对测试结果数据处理加工包括数据持久化、数据清洗以及数据分析。
本例中提供的测试系统，能够适配多种的AI芯片，兼容多种功能测试，并且对齐评估指标，能够更好的测试和评估AI芯片。本测试系统不仅适用于客户侧对AI芯片产品的功能测试和性能测试，也适用于AI芯片研发侧和工厂侧对产品进行交付评估和质量评估。
图5中示出了本公开实施例提供的测试方法的一种具体实施方式的流程示意图。图5中所示的测试方法可以通过图4中所示的测试系统实现。
如图5中所示，该测试方法包括：
系统初始化，case配置，即将测试系统初始化，选择用于进行当前测试的目标测试用例。
任务初始化，任务启动，即根据目标测试用例生成测试任务，并启动测试任务。
任务达到核心子系统，即将测试任务发送给核心子系统执行。
按照case配置顺序执行case，即核心子系统按照测试用例执行顺序依次执行各目标测试用例；
调用AI芯片接口，即在执行指定测试步骤时，通过测试接口调用被测试芯片执行测试步骤。
生成测试数据，即采集测试用例执行过程中生成的测试数据。
数据持久化，数据分析，即对测试数据进行持久化处理，以及对测试数据进行分析。
生成测试报告，呈现给用户，即根据测试数据生成测试报告，以供用户查阅。
基于与图1中所示的方法相同的原理，图6示出了本公开实施例提供的一种测试装置的结构示意图，如图6中所示，该测试装置60可以包括：
目标测试用例确定模块610，用于在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；
执行顺序确定模块620，用于基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序；
测试模块630，用于依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
本公开实施例提供的装置，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
可以理解的是，本公开实施例中的测试装置的上述各模块具有实现图1中所示的实施例中的测试方法相应步骤的功能。该功能可以通过硬件实现，也可以通过硬件执行相应的软件实现。该硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块。上述模块可以是软件和/或硬件，上述各模块可以单独实现，也可以多个模块集成实现。对于上述测试装置的各模块的功能描述具体可以参见图1中所示实施例中的测试方法的对应描述，在此不再赘述。
基于与图2中所示的方法相同的原理，图7示出了本公开实施例提供的另一种测试装置的结构示意图，如图7中所示，该测试装置70可以包括：
目标测试用例确定模块710，用于在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；
初始顺序确定模块720，用于基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的初始顺序。
执行顺序调整模块730，用于基于是否获取到用户对初始顺序的调整指令，并基于初始顺序，确定各目标测试用例的执行顺序。
测试模块740，用于依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
本公开实施例提供的装置，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
在实际使用中该初始执行顺序可能不能满足实际需求，用户可能需要对该初始顺序进行调整。这时用户可以提交对初始顺序的调整指令，可以根据是否获取到用户对初始顺序的调整指令，并基于初始顺序，确定各目标测试用例的执行顺序。
作为一种可选方式，执行顺序调整模块具体用于：
若获取到了用户的对初始顺序的调整指令，则基于调整指令对初始顺序进行调整，得到各目标测试用例的执行顺序；
若未获取到用户对初始顺序的调整指令，则将初始顺序确定为各目标测试用例的执行顺序。
由于能够根据用户是否提交了的调整指令来调整初始顺序，以便在初始顺序不能够满足测试需求时，通过调整指令对初始顺序进行调整，使得调整后得到的执行顺序能够满足测试需求。
作为一种可选方式，执行顺序调整模块在获取用户对初始顺序的调整指令时，具体用于：
通过执行顺序调整界面向用户展示各目标测试用例对应的显示对象，各显示对象依照初始顺序排列；
当检测到用户对显示对象的拖拽操作时，基于拖拽操作确定用户对初始顺序的调整指令。
由于提供了执行顺序调整界面，将各显示对象按照初始顺序排列后显示，使得用户能够更为直观的了解到初始执行顺序，并支持通过对显示对象的拖拽操作来提交调整指令，使得用户的操作更为简易，方便了用户的使用。
可以理解的是，本公开实施例中的测试装置的上述各模块具有实现图2中所示的实施例中的测试方法相应步骤的功能。该功能可以通过硬件实现，也可以通过硬件执行相应的软件实现。该硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块。上述模块可以是软件和/或硬件，上述各模块可以单独实现，也可以多个模块集成实现。对于上述测试装置的各模块的功能描述具体可以参见图2中所示实施例中的测试方法的对应描述，在此不再赘述。
基于与图3中所示的方法相同的原理，图8示出了本公开实施例提供的又一种测试装置的结构示意图，如图8中所示，该测试装置80可以包括：
测试用例展示模块810，用于在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，向用户展示测试用例选择界面，测试用例选择界面中包括待测试功能对应的各测试用例的虚拟按钮以及各测试用例的相关信息。
选择指令获取模块820，用于在检测到用户对虚拟按钮的点击操作时，获取用户对目标测试用户的选择指令。
目标测试用例选择模块830，用于基于选择指令从测试用例中确定用于对待测试功能进行测试的至少两个目标测试用例。
执行顺序确定模块840，用于基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序；
测试模块850，用于依照测试顺序依次执行各目标测试用例，并确定测试数据。
本公开提供的测试装置，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
将测试用例的相关信息进行展示，有助于用户从待测试功能对应的测试用例中选择出目标测试用例。用户可以通过点击目标测试用例对应的虚拟按钮来提交选择指令，从而确定目标测试用例，也方便了用户对测试用例的选择。
作为一种可选方式，若待测试功能为芯片稳定性，则上述装置还包括测试流量控制模块，测试流量控制模块用于：
获取目标流量曲线；
基于目标流量曲线控制执行各目标测试用例的过程中，流入待测试芯片的数据流量。
通过提供目标流量曲线来控制在测试时段内流入被测试芯片的数据流量，以实现对真实的流量压力情况的模拟，从而提升芯片稳定性的测试效果。
作为一种可选方式，测试流量控制模块在获取目标流量曲线时，具体用于以下任一项：
从预配置的流量曲线集中确定用户所选择的目标流量曲线；
基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线。
其中，将预配置的流量曲线进行展示，使得用户能够直观的了解到各流量曲线的变化情况，从而做出准确选择，有助于提升测试的准确性。
向用户提供流量曲线绘制界面，方便用户绘制流量曲线，从而使得用户能够通过绘制流量曲线，便捷的进行对测试时段内的流量控制。
作为一种可选方式，若测试流量控制模块在获取目标流量曲线时具体用于基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线，则测试流量控制模块在基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线时，具体用于：
当检测到用户通过虚拟画笔在流量曲线绘制界面中的绘制操作时，获取虚拟画笔在流量曲线绘制界面中的笔迹；
基于笔迹确定目标流量曲线。
通过将用户拖动虚拟画笔绘制笔迹，并根据笔迹确定出目标流量曲线，方便了用户目标流量曲线的绘制。
作为一种可选方式，测试模块在执行目标测试用例时，具体用于：
通过与待测试功能对应的测试接口调用被测试芯片进行对目标测试用例的执行。
通过针对待测试功能的测试要求配置测试接口，从而使得在进行待测试功能的测试时，能够直接调用待测试功能所对应的测试接口接入被测试芯片并完成测试，而无需为被测试芯片的接入进行适配处理。
作为一种可选方式，测试数据包括接口采集数据，测试模块在确定测试数据时，具体用于：
基于与待测试功能对应的数据监测接口采集被测试芯片在测试过程中的接口采集数据。
因此，可以针对待测试功能的分配配置数据监测接口，以便通过数据监测接口实现对待测试功能所需接口采集数据的数据采集。
可以理解的是，本公开实施例中的测试装置的上述各模块具有实现图3中所示的实施例中的测试方法相应步骤的功能。该功能可以通过硬件实现，也可以通过硬件执行相应的软件实现。该硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块。上述模块可以是软件和/或硬件，上述各模块可以单独实现，也可以多个模块集成实现。对于上述测试装置的各模块的功能描述具体可以参见图3中所示实施例中的测试方法的对应描述，在此不再赘述。
根据本公开的实施例，本公开还提供了一种电子设备、一种可读存储介质和一种计算机程序产品。
该电子设备包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行如本公开实施例提供的测试方法。
该电子设备与现有技术相比，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
该可读存储介质为存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，计算机指令用于使计算机执行如本公开实施例提供的测试方法。
该可读存储介质与现有技术相比，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
该计算机程序产品，包括计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现如本公开的第一方面中所示的测试方法。
该计算机程序产品与现有技术相比，通过在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例，并基于预配置的各目标测试用例之间的依赖关系，确定各目标测试用例的执行顺序，从而依照测试顺序依次执行各目标测试用例，确定测试数据。基于本方案，能够减少测试过程中测试人员所需进行的操作，降低测试时的工作量，提升芯片的测试效率。
图9示出了可以用来实施本公开的实施例的示例电子设备900的示意性框图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本公开的实现。
如图9所示，设备900包括计算单元901，其可以根据存储在只读存储器(ROM)902中的计算机程序或者从存储单元908加载到随机访问存储器(RAM)903中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 903中，还可存储设备900操作所需的各种程序和数据。计算单元901、ROM 902以及RAM 903通过总线904彼此相连。输入/输出(I/O)接口905也连接至总线904。
设备900中的多个部件连接至I/O接口905，包括：输入单元906，例如键盘、鼠标等；输出单元907，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元908，例如磁盘、光盘等；以及通信单元909，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元909允许设备900通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
计算单元901可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。计算单元901的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的计算单元、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。计算单元901执行本公开实施例中所提供的测试方法。例如，在一些实施例中，本公开实施例中所提供的测试方法可被实现为计算机软件程序，其被有形地包含于机器可读介质，例如存储单元908。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 902和/或通信单元909而被载入和/或安装到设备900上。当计算机程序加载到RAM 903并由计算单元901执行时，可以执行本公开实施例中所提供的测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，计算单元901可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行本公开实施例中所提供的测试方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本公开提供的测试方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器，使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本公开的上下文中，机器可读介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在计算机上实施此处描述的系统和技术，该计算机具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)和互联网。
计算机系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本公开中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本公开公开的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
上述具体实施方式，并不构成对本公开保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本公开的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本公开保护范围之内。
Claims (14)
1.一种测试方法，包括：
在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从所述待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；
基于预配置的各所述目标测试用例之间的依赖关系，确定各所述目标测试用例的执行顺序；
依照所述测试顺序依次执行各所述目标测试用例，并确定测试数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于预配置的各所述目标测试用例之间的依赖关系，确定各所述目标测试用例的执行顺序，包括：
基于预配置的各所述目标测试用例之间的依赖关系，确定各所述目标测试用例的初始顺序；
基于是否获取到用户对所述初始顺序的调整指令，并基于所述初始顺序，确定各所述目标测试用例的执行顺序。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述基于是否获取到用户对所述初始顺序的调整指令，并基于所述初始顺序，确定各所述目标测试用例的执行顺序，包括：
若获取到了用户的对所述初始顺序的调整指令，则基于所述调整指令对所述初始顺序进行调整，得到各所述目标测试用例的执行顺序；
若未获取到用户对所述初始顺序的调整指令，则将所述初始顺序确定为各所述目标测试用例的执行顺序。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，获取用户对所述初始顺序的调整指令，包括：
通过执行顺序调整界面向用户展示各所述目标测试用例对应的显示对象，各所述显示对象依照所述初始顺序排列；
当检测到所述用户对所述显示对象的拖拽操作时，基于所述拖拽操作确定用户对所述初始顺序的调整指令。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述从待测试功能对应的测试用例中确定用于对所述待测试功能进行测试的至少两个目标测试用例，包括：
向用户展示测试用例选择界面，所述测试用例选择界面中包括所述待测试功能对应的各测试用例的虚拟按钮以及各所述测试用例的相关信息；
当检测到所述用户对所述虚拟按钮的点击操作时，获取所述用户对目标测试用户的选择指令；
基于所述选择指令从所述测试用例中确定用于对所述待测试功能进行测试的至少两个目标测试用例。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中，若所述待测试功能为芯片稳定性，则所述方法还包括：
获取目标流量曲线；
基于所述目标流量曲线控制执行各所述目标测试用例的过程中，流入所述待测试芯片的数据流量。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述获取目标流量曲线，包括以下任一项：
从预配置的流量曲线集中确定用户所选择的目标流量曲线；
基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，若所述获取目标流量曲线包括基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线，则所述基于用户在流量曲线绘制界面中的绘制操作，确定目标流量曲线，包括：
当检测到用户通过虚拟画笔在流量曲线绘制界面中的绘制操作时，获取所述虚拟画笔在所述流量曲线绘制界面中的笔迹；
基于所述笔迹确定目标流量曲线。
9.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中，执行所述目标测试用例，包括：
通过与所述待测试功能对应的测试接口调用所述被测试芯片进行对所述目标测试用例的执行。
10.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中，所述测试数据包括接口采集数据，所述确定测试数据，包括：
基于与所述待测试功能对应的数据监测接口采集所述被测试芯片在测试过程中的接口采集数据。
11.一种测试装置，包括：
目标测试用例确定模块，用于在对被测试芯片的待测试功能进行测试时，从所述待测试功能对应的测试用例中确定至少两个目标测试用例；
执行顺序确定模块，用于基于预配置的各所述目标测试用例之间的依赖关系，确定各所述目标测试用例的执行顺序；
测试模块，用于依照所述测试顺序依次执行各所述目标测试用例，并确定测试数据。
12.一种电子设备，包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-10中任一项所述的方法。
13.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-10中任一项所述的方法。
14.一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-10中任一项所述的方法。
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