CN112945084A - 线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法 - Google Patents

线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法 Download PDF

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CN112945084A CN201911258135.7A CN201911258135A CN112945084A CN 112945084 A CN112945084 A CN 112945084A CN 201911258135 A CN201911258135 A CN 201911258135A CN 112945084 A CN112945084 A CN 112945084A
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Abstract

本申请公开了一种线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法,涉及线扫描技术领域,用于检测卡匣中平板物料的位置分布,能够有效提高检测效率及检测精度。所述线扫描检测方法,包括:逐一点亮照明模块中的多个不可见光光源;在每个所述不可见光光源出射不可见光时,控制摄像模块采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像;其中,所述图像采集区与所述不可见光光源一一对应,所述图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。本申请提供的线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法用于检测透明基板的位置分布。

Description

线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法
技术领域
本申请涉及基板检测技术领域,尤其涉及一种线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法。
背景技术
线扫描技术是一种常用的非接触式的物料检测技术。在采用线扫描技术进行物料检测的过程中,通常是通过摄像头对物料的图像进行采集,然后利用图像处理技术对采集到的物料的图像进行分析,进而能够确定物料的相关信息。
目前,现有技术中的线扫描技术一般是对单层物料进行平面扫描,且该物料为不透明材质。但是,随着显示装置的轻薄化,显示基板的厚度越来越小。这样在制作显示装置的过程中,存放和取用显示基板的操作越来越精细,使得多层显示基板在摆放于卡匣后的物料检测需求也越来越高。
然而,现有的线扫描技术并不适用于检测各显示基板在卡匣内的位置分布情况。例如,若显示基板为液晶玻璃基板等超薄且具有高透光性的平面基板,那么通过线扫描技术所能采集的显示基板的图像难以与显示基板的背景图像进行区分,从而容易造成图像识别错误。并且,若卡匣内摆放有多层显示基板,那么通过线扫描技术需要采集的图像区域很大,使得每一显示基板在采集的图像中的成像很小,也容易增加图像识别的难度。
发明内容
本申请的目的在于提供一种线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法,用于检测卡匣中平板物料的位置分布,能够有效提高检测效率及检测精度。
为达到上述目的,本申请提供了如下技术方案:
第一方面,提供了一种线扫描检测方法。所述线扫描检测方法,包括:
逐一点亮照明模块中的多个不可见光光源。
在每个不可见光光源出射不可见光时,控制摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像,其中,图像采集区与不可见光光源一一对应,所述图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。
在本申请中,摄像模块的数量为多个,每个摄像模块对应一个照明模块。所述线扫描检测方法,还包括:判断当前的摄像模块对应的多个图像采集区的图像是否采集完成。如果是,逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源,在下一个照明模块中的每个不可见光光源出射不可见光时,控制下一个摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。如果否,继续点亮当前的照明模块中的下一个不可见光光源,在下一个不可见光光源出射不可见光时,控制当前的摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
在本申请中,在逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源之前,所述线扫描检测方法还包括:判断多个所述摄像模块对应的多个所述图像采集区的图像是否全部采集完成。
如果否,逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源。如果是,输出多个所述摄像模块采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
在本申请中,摄像模块的数量为多个,每个所述摄像模块对应一个照明模块。每个所述照明模块包括N个不可见光光源,N≥2。所述线扫描检测方法,还包括:同时点亮各照明模块中的第L个不可见光光源,1≤L≤N;在每一第L个不可见光光源出射不可见光时,控制对应的摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
在本申请中,所述线扫描检测方法,还包括:判断当前任一摄像模块对应的第N个图像采集区的图像是否采集完成。如果是,输出多个摄像模块采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。如果否,同时点亮各照明模块中的第L+1个不可见光光源;在每一第L+1个不可见光光源出射不可见光时,控制对应的摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
在本申请中,无需使得线扫描传感器相对卡匣内的各平板物料发生移动,便可以在逐一点亮照明模块中的每个不可见光光源后,通过摄像模块逐一采集对应不可见光光源出射的不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,以根据所述反射光信号生成图像,也即完成摄像模块对待检测图像的线性采集,从而有效提高扫描传感器的检测效率。
此外,上述线扫描检测方法采用不可见光作为成像光线,能够适用于显示基板等透光性较好的平板物料的位置分布检测。并且,该线扫描检测方法不仅能够避免因线扫描传感器移动或卡匣移动时速度不均匀而导致采集图像清晰度较低的问题,确保采集到清晰度较高的图像,以有效提高线扫描传感器的检测精度;还能够根据图像的识别结果,方便用户清楚并直观的获取卡匣内的各层平板物料承载部上是否存放有显示基板,以提高用户存放和取用显示基板时的工作效率,进而能够在大规模生产制造显示装置的过程中有效提高显示装置的制作效率。
第二方面,提供了一种线扫描传感器。所述线扫描传感器用于实施上述技术方案所提供的线扫描传感器检测方法。所述线扫描传感器包括:至少一个摄像模块、以及与每个摄像模块对应的照明模块。每个摄像模块对应至少一个图像采集区。照明模块包括与所述至少一个图像采集区一一对应的至少一个不可见光光源,其中,所述至少一个不可见光光源用于逐一出射不可见光。摄像模块用于在每个不可见光光源出射不可见光时,采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。
在本申请中,摄像模块的数量为多个,且多个摄像模块沿图像采集区的排布方向线性分布。和/或,每个照明模块中的不可见光光源的数量为多个,且多个不可见光光源沿图像采集区的排布方向线性分布。
在本申请中,在不可见光光源的数量为多个的情况下,多个不可见光源以对应的摄像模块的几何中心所在平面为基准对称设置。
在本申请中,沿图像采集区的排布方向的垂直方向,每一不可见光光源与对应的图像采集区和对应的摄像模块呈夹角设置。
在本申请中,所述线扫描传感器还包括:与所述至少一个摄像模块电连接的处理器,处理器用于识别所述至少一个摄像模块采集的图像。
在本申请中,所述线扫描传感器还包括:与所述至少一个图像采集区一一对应的至少一个指示灯。处理器与所述至少一个指示灯电连接,处理器还用于在识别所述至少一个摄像模块采集的图像后,根据所述图像对应的检测结果控制对应的指示灯导通或关断。
本申请提供的线扫描传感器所能实现的有益效果,与上述技术方案提供的线扫描检测方法所能达到的有益效果相同,在此不做赘述。
第三方面,提供了一种线扫描检测系统。所述线扫描检测系统包括上述技术方案所提供的线扫描传感器。
本申请提供的线扫描检测系统所能实现的有益效果,与上述技术方案提供的线扫描传感器所能达到的有益效果相同,在此不做赘述。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解,构成本发明实施例的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。
在附图中:
图1为本申请实施例提供的一种线扫描传感器的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的一种卡匣的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的一种线扫描传感器检测卡匣内平板物料的操作示意图;
图4为本申请实施例提供的另一种线扫描传感器检测卡匣内平板物料的操作示意图;
图5为本申请实施例提供的一种线扫描传感器的俯视示意图;
图6为本申请实施例提供的另一种线扫描传感器的俯视示意图;
图7为本申请实施例提供的一种线扫描检测方法的流程示意图;
图8为本申请实施例提供的另一种线扫描检测方法的流程示意图。
具体实施方式
为便于理解,下面结合说明书附图,对本发明实施例提供的技术方案进行详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是所提出的技术方案的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所能获得的所有其他实施例,均属于本发明保护的范围。
相关技术中,针对多层不透明的平板物料,在通过线扫描技术采集每层平板物料的图像后,利用图像处理技术对所述图像进行分析,能够确定每层平板物料的相关信息,例如该平板物料是否破裂或是否平坦等。但是,采用该方法并无法确定多层平板物料的位置分布情况。
基于此,请参阅图1-6,本申请实施例提供一种线扫描传感器01。线扫描传感器01包括至少一个摄像模块20以及与每个摄像模块20对应设置的照明模块10。每个摄像模块20对应至少一个图像采集区31,每个照明模块10包括与所述至少一个图像采集区31一一对应设置的至少一个不可见光光源11。
上述不可见光光源11用于出射不可见光,该不可见光包括红外光、远红外光或紫外光等(波长范围小于380nm,或者大于760nm)的光线。以下本申请实施例,以不可见光光源11能够出射波长为850nm的红外光为例进行说明。
上述每个摄像模块20用于在每个不可见光光源11出射不可见光时,采集该不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。可选的,每个摄像模块20包括1个摄像头21,该摄像头21能够采集不可见光的反射光。
上述图像采集区31为单层平板物料承载部30的承载区。
示例的,多层显示基板通常间隔叠放在卡匣02内,卡匣02的结构如图2所示。卡匣02内等间距(例如间距W)的设有多层隔板,每层隔板对应为上述单层平板物料承载部30,每层隔板上用于承载显示基板的空间为对应单层平板物料承载部30的承载区。图像采集区31通常为对应单层平板物料承载部30的承载区的一侧边沿。
摄像模块20以及照明模块10内不可见光光源11的数量,可以根据实际需求选择设置,以线扫描传感器01在不移动的情况下就能完成其对卡匣02内各显示基板的位置分布为限。线扫描传感器01对应的线扫描检测方法的具体操作详见后面一些实施例。
示例的,如图3所示,线扫描传感器01的高度与卡匣02的高度相等或大略相等。线扫描传感器01可以固定于卡匣02的一侧且与卡匣02保持一定间隔(例如7cm),以确保线扫描传感器01能够完成对应图像的采集。线扫描传感器01中的多个不可见光光源11与多层平板物料承载部30一一对应。这样线扫描传感器01不相对卡匣02内的各显示基板发生移动,能够避免因线扫描传感器01移动或卡匣02移动时速度不均匀而导致采集图像清晰度较低的问题,从而采集到清晰度较高的图像。
在一些示例中,请继续参阅图3,摄像模块20的数量为M个,M≥2。M个摄像模块20沿图像采集区31的排布方向(图3中X方向)线性分布,也即M个摄像模块20排列在一条直线上。多个照明模块10与摄像模块20一一对应,也沿图像采集区31的排布方向线性分布。
此外,每个照明模块10中的不可见光光源11的数量为N个,N≥2。N个不可见光光源11沿所述图像采集区31的排布方向线性分布。摄像模块20的数量和不可见光源11的数量的乘积(M×N),与卡匣02内允许承载的显示基板的层数相等。
此处,可选的,每个不可见光光源11包括一个红外灯或多个红外灯,均是允许的,具体根据实际需求选择设置。在每个不可见光光源11包括一个红外灯的情况下,多个不可见光光源11线性分布,表现为:多个红外灯排列在一条直线上。在每个不可见光光源11包括多个红外灯的情况下,多个不可见光光源11线性分布,表现为:将构成一个不可见光光源11的多个红外灯视为一个整体,各不可见光光源11排列在一条直线上。
上述摄像模块20与照明模块10一一对应,不可见光光源11与图像采集区31一一对应。这样,如图3所示,每个摄像模块20需获取其对应的照明模块10中N个不可见光光源11发射的不可见光。当N个不可见光光源11被逐一点亮后,摄像模块20逐一获取对应图像采集区31内形成的反射光信号,能够逐一确定每一图像采集区31对应的图像,并将N个图像合成一个完整的图像。
在一些实施例中,每个照明模块10中的不可见光光源11的数量为N个,N个不可见光光源11沿图像采集区31的排布方向的垂直方向(图3中Y方向),以对应的摄像模块20的几何中心所在平面为基准对称设置。
示例的,如图3所示,卡匣02包括多层等间隔设置的平板物料承载部30,每个摄像头21需获取N个不可见光光源11发出的不可见光,将N个不可见光光源11沿Y方向以摄像头21的几何中心所在平面为基准对称分布,能够使得每一不可见光光源11发出的不可见光在对应图像采集区31内形成的反射光信号均能被摄像头21获取,从而确保线扫描传感器01所获取图像的完整性,有利于提高线扫描传感器01的检测精度。
需要说明的是,N个不可见光光源11中每相邻两个之间的间距相等或不等,均可。可选的,请参阅图1和图2,卡匣02内多层等间距设置的平板物料承载部30的间距为W。在每个照明模块中,以摄像头21的几何中心所在平面为基准面,多个不可见光光源11对称设置,且位于基准面一侧的多个不可见光光源11中每相邻两个的间距沿远离基准面的方向减小。
具体的,如图1所示,以M个摄像模块20对应N个不可见光光源11为例,其中,第N个和第N-1个不可见光光源的间距、与第1个和第2个不可见光光源的间距相等,该间距为P。第N-1和第N-2个不可见光光源的间距、与第2个和第3个不可见光光源的间距相等,该间距为Q。0<P<Q。
此外,在一些示例中,卡匣02内多层等间距设置的平板物料承载部30的间距范围通常是30mm~80mm。每个卡匣02的高度为至少2米。
通常,线扫描基板传感器01的每个照明模块10中的多个不可见光光源11的间距与对应平板物料承载部30的间距相关。可选的,请参阅图4,为了使得各不可见光光源11射出的光的反射角度更好,每个照明模块10中第一个不可见光光源11到第N个不可见光光源11之间的距离H1大于对应的平板物料承载部30之间的距离H2。
例如,每个照明模块10对应四层平板物料承载部30,每两层平板物料承载部30之间的间距为30mm,这样四层平板物料承载部30的总高度为90mm。每个照明模块10中第1个不可见光光源11到第4个不可见光光源11之间的距离则大于90mm,具体为:第1个和第2个不可见光光源11的间距为25mm,第3个和第4个不可见光光源11的间距为25mm,第2个和第3个不可见光光源11的间距大于40mm。
由此也可知,每个照明模块10中与对应的摄像头21距离最近的两个不可见光光源11之间的间距通常大于对应两层平板物料承载部30之间的间距。
在一些示例中,沿图像采集区31的排布方向的垂直方向,每一不可见光光源11与对应的图像采集区31和对应的摄像模块20呈夹角设置。如图5所示,不可见光光源11与对应的图像采集区31之间的夹角为(90°-θ),也即不可见光光源11出射的不可见光入射至图像采集区31的入射角为θ。摄像模块20与对应的图像采集区31之间的夹角为(90°-θ),也即不可见光光源11出射的不可见光在照射至图像采集区31后的反射角为θ。
由此,即使摄像头21与对应的不可见光光源11在同一平面内,也能够确保经过图像采集区31形成的反射光信号不会被该不可见光光源11本身遮挡,从而有效获取该不可见光光源11出射的不可见光在对应图像采集区31形成的反射光信号。
可选的,如图6所示,每个不可见光光源11包括至少两个灯源111,该至少两个灯源111可以从不同的角度照射至对应图像采集区31的同一区域32,以便产生更好的照明效果并形成一束光强较强的反射光信号,使得摄像头21能够获取到更强烈的光信号,从而提高获取图像的识别效果,以提高线扫描传感器01的检测精度。
在一些示例中,线扫描传感器01还包括与各摄像模块20电连接的处理器,处理器能够处理每个摄像模块20获取的完整的图像,通过图像识别算法识别图像,以得出检测结果。处理器集成在线扫描传感器01中,处理器可以采用微控制单元(MicrocontrollerUnit,简称MCU)等。
当然,可选的,线扫描传感器01还包括与所述至少一个图像采集区31一一对应的至少一个指示灯。处理器与指示灯电连接,处理器还能够在识别各摄像模块20采集的图像后,根据所述图像对应的检测结果控制对应的指示灯导通或关断。各指示灯的安装位置,可以根据实际需求选择设置,以能根据对应的检测结果对用户进行提醒便可。
此外,在卡匣02数量较多的情况下,每个卡匣02对应的线扫描传感器01中的处理器还可以与远程服务器或远程终端电连接,以输出检测结果至远程服务器或远程终端中。
由此,用户能够清楚并直观的获取卡匣02内的各层平板物料承载部30上是否存放有显示基板,从而提高用户存放和取用显示基板的工作效率。并且,在卡匣02数量较多的情况下,也能通过远程服务查看各个卡匣02内显示基板的位置分布信息,进而方便选取合适的卡匣02进行相关操作。
本申请实施例还提供了一种线扫描检测方法,用于检测卡匣中平板物料的位置分布,能够有效提高检测效率及检测精度。该线扫描检测方法包括:S100~S200。
S100、逐一点亮照明模块10中的多个不可见光光源11。
示例的,线扫描传感器01包括多个摄像模块20,每个摄像模块20对应一个照明模块10。其中,每个照明模块10包括多个不可见光光源11。通常,按照第一个摄像模块20至最后一个摄像模块20的排列顺序,依次将对应照明模块10中多个不可见光光源11从第一个开始逐一点亮。或者,摄像模块20为M个,M个摄像模块20同时运作,这样M个照明模块10中的各不可见光光源11同时从第一个开始逐一点亮。
S200、在每个不可见光光源11出射不可见光时,控制摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
此处,图像采集区31与不可见光光源11一一对应,图像采集区31为单层平板物料承载部30的承载区。
在点亮不可见光光源11后,对应的摄像模块20能够采集该不可见光光源11对应图像采集区31所形成的反射光信号,并形成图像。采用不可见光光源11以及与之匹配的摄像模块20,能够排除可见光对摄像模块20所生成图像的不良影响,从而提高线扫描传感器01的检测精度。
此外,控制不可见光光源11出射的不可见光的波长与摄像模块20能够采集的光信号的波长相同,可以排除其他波长的光信号对摄像模块20所生成图像的不良影响,进一步提高线扫描传感器01的检测精度。
需要补充的是,在摄像模块20生成当前图像采集区31对应的图像后,关闭与当前图像采集区31对应的不可见光光源11。然后,依序点亮下一个不可见光光源11,控制摄像模块20执行相应操作。每个不可见光光源11在点亮后的照射区域仅为对应的图像采集区31,可以确保摄像模块20对应各不可见光光源11生成的图像彼此之间不会产生干扰,进而可以确保线扫描传感器01的检测精度。
在一些实施例中,该线扫描检测方法还包括S300。
S300、存储摄像模块20采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
示例的,摄像模块20包括存储单元,摄像模块20采集的图像可以存储在该存储单元中。当然,摄像模块20与处理器电连接,摄像模块20采集的图像存储在处理器中,也是允许的。本发明对此不做限定。
在摄像模块20生成图像后,处理器能够对该图像进行处理,并通过图像识别算法识别图像,从而得出检测结果。
可选的,线扫描传感器01包括与处理器电连接的至少一个指示灯,各指示灯与多个图像采集区31一一对应。在处理器确定检测结果后,处理器能够根据该检测结果控制对应的指示灯导通或关断。例如,若处理器确定的检测结果中表示某一图像采集区31内放置有平板物料(例如显示基板),则处理器可以控制与该图像采集区31对应的指示灯导通(亮),以指示该图像采集区31所在的平板物料承载部30上承载有平板物料。反之,若处理器确定的检测结果中表示某一图像采集区31内未放置有平板物料,则处理器可以控制与该图像采集区31对应的指示灯关断(灭),以指示该图像采集区31所在的平板物料承载部30闲置,可以放入平板物料。
具体的,在线扫描传感器01将每个摄像模块20生成的图像输出至处理器之后,处理器根据图像识别算法识别所述图像,能够获得相应的检测结果。如图4所示,卡匣02内设有8层平板物料承载部30。在对各层平板物料承载部30的承载区的一侧边沿从下到上依次进行线扫描后,通过识别线扫描传感器01获取的图像,可以得知卡匣02内的第1、3、5、7、8层平板物料承载部30上均放置有显示基板40,而其第2、4、6层平板物料承载部30上未放置显示基板40。
在获得相应的检测结果后,处理器能够将该检测结果通过指示灯或通讯总线进行输出。
在本示例中,该层存在显示基板40时对应指示灯亮,其对应数值为“1”;该层未存在显示基板40时对应指示灯灭,其对应数值为“0”。因此,上述检测结果如下表1所示:
Figure BDA0002310873000000111
Figure BDA0002310873000000121
表1
在本申请实施例中,无需使得线扫描传感器01相对卡匣02内的各平板物料发生移动,便可以在逐一点亮照明模块10中的每个不可见光光源11后,通过摄像模块20逐一采集对应不可见光光源11出射的不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,以根据所述反射光信号生成图像,也即完成摄像模块20对待检测图像的线性采集,从而有效提高扫描传感器01的检测效率。
此外,上述线扫描检测方法采用不可见光作为成像光线,能够适用于显示基板等透光性较好的平板物料的位置分布检测。并且,该线扫描检测方法不仅能够避免因线扫描传感器01移动或卡匣02移动时速度不均匀而导致采集图像清晰度较低的问题,确保采集到清晰度较高的图像,以有效提高线扫描传感器的检测精度;还能够根据图像的识别结果,方便用户清楚并直观的获取卡匣02内的各层平板物料承载部上是否存放有显示基板,以提高用户存放和取用显示基板时的工作效率,进而能够在大规模生产制造显示装置的过程中有效提高显示装置的制作效率。
当然,在卡匣02数量较多的情况下,每个卡匣02对应的线扫描传感器01中的处理器还可以与远程服务器或远程终端电连接,以输出检测结果至远程服务器或远程终端中。这样还能通过远程服务器或远程终端查看各个卡匣02内显示基板的位置分布信息,进而方便选取合适的卡匣02进行相关操作。
在一些实施例中,通常按照第一个摄像模块20至最后一个摄像模块20的排列顺序,依次将对应照明模块10中多个不可见光光源11从第一个开始逐一点亮。
请参阅图3和图7,所述线扫描检测方法,还包括:判断当前的摄像模块20对应的多个图像采集区31的图像是否采集完成。
如果是,逐一点亮下一个照明模块10中的多个不可见光光源11,在下一个照明模块10中的每个不可见光光源11出射不可见光时,控制下一个摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
如果否,继续点亮当前的照明模块10中的下一个不可见光光源11,在所述下一个不可见光光源11出射不可见光时,控制当前的摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
此外,可选的,在逐一点亮下一个照明模块10中的多个不可见光光源11之前,所述线扫描检测方法还包括:判断多个摄像模块20对应的多个图像采集区31的图像是否全部采集完成。
如果否,逐一点亮下一个照明模块10中的多个不可见光光源11。
如果是,输出多个摄像模块20采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
具体的,如图7所示,线扫描传感器01包括M个摄像模块20,M个照明模块10。每个照明模块10包括N个不可见光光源11。假设初始的图像采集区31,为:第K个摄像模块20对应的照明模块10中第L个不可见光光源11对应的图像采集区,L=1。
那么在点亮第L个不可见光光源11,控制对应的摄像模块20采集图像并存储该图像后,便可以关闭该第L个不可见光光源11。这之后,判断当前的摄像模块20对应的多个图像采集区31的图像是否采集完成,也即判断对应关闭的不可光光源11的序号数L是否等于N。
如果L=N,则继续判断M个摄像模块20对应的M×N个图像采集区31的图像是否全部采集完成,也即判断摄像模块20的序号数K是否等于M。
若K≠M,则逐一点亮第K+1个照明模块10中的多个不可见光光源11,在第K+1个照明模块10中的每个不可见光光源11出射不可见光时,控制第K+1个摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
若K=M,则存储第K个摄像模块20采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
如果L≠N,继续点亮第K个照明模块10中的第L+1个不可见光光源11,在第L+1个不可见光光源11出射不可见光时,控制第K个摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
在另一些实施例中,摄像模块20为M个,M个摄像模块20同时运作,这样M个照明模块10中的各不可见光光源11同时从第一个开始逐一点亮。
请参阅图4和图8,线扫描传感器01包括M个摄像模块20,M个照明模块10。每个照明模块10包括N个不可见光光源11。
所述线扫描检测方法,还包括:
同时点亮各照明模块10中的第L个不可见光光源,1≤L≤N;
在每一所述第L个不可见光光源11出射不可见光时,控制对应的摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
此外,可选的,所述线扫描检测方法,还包括:判断当前任一摄像模块20对应的第N个图像采集区的图像是否采集完成。
如果是,输出多个摄像模块20采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
如果否,同时点亮各照明模块10中的第L+1个不可见光光源11。在每一所述第L+1个不可见光光源11出射不可见光时,控制对应的摄像模块20采集所述不可见光在对应的图像采集区31内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
具体的,如图8所示,假设初始的图像采集区31,为:每个摄像模块20对应的照明模块10中的第L个不可见光光源11对应的图像采集区,L=1。
那么在同时点亮各照明模块10中的第L个不可见光光源11,控制对应的摄像模块20采集图像并存储该图像后,便可以关闭各第L个不可见光光源11。这之后,判断任一摄像模块20对应的多个图像采集区31的图像是否采集完成,也即判断任一照明模块10中对应关闭的不可光光源11的序号数L是否等于N。
如果L=N,则存储各摄像模块20采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
本申请还提供了一种线扫描传感系统,所述线扫描检测系统包括上述一些实施例提供的至少一个线扫描传感器,以及与所述至少一个线扫描传感器电连接的远程服务器或远程终端。这样各线扫描传感器所能获取的检测结果均能汇总传输至远程服务器或远程终端中,以便于用户远程了解多个卡匣内显示基板的位置分布情况,从而方便选取合适的卡匣进行相关操作,有利于提高用户存放和取用显示基板的工作效率。同时,远程服务器或远程终端还能将各检测结果进行备份,用于后续工作中的信息核对等。
本申请提供的线扫描检测系统所能实现的有益效果与上述一些实施例提供的线扫描传感器所能达到的有益效果相同,在此不做赘述。
在上述实施方式的描述中,具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种线扫描检测方法,其特征在于,包括:
逐一点亮照明模块中的多个不可见光光源;
在每个所述不可见光光源出射不可见光时,控制摄像模块采集所述不可见光在对应的图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像;
其中,所述图像采集区与所述不可见光光源一一对应,所述图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。
2.根据权利要求1所述的线扫描检测方法,其特征在于,所述摄像模块的数量为多个,每个所述摄像模块对应一个所述照明模块;
所述线扫描检测方法,还包括:判断当前的所述摄像模块对应的多个所述图像采集区的图像是否采集完成;
如果是,逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源,在下一个照明模块中的每个不可见光光源出射不可见光时,控制下一个摄像模块采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像;
如果否,继续点亮当前的所述照明模块中的下一个不可见光光源,在所述下一个不可见光光源出射不可见光时,控制当前的所述摄像模块采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
3.根据权利要求2所述的线扫描检测方法,其特征在于,在所述逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源之前,所述线扫描检测方法还包括:
判断多个所述摄像模块对应的多个所述图像采集区的图像是否全部采集完成;
如果否,逐一点亮下一个照明模块中的多个不可见光光源;
如果是,输出多个所述摄像模块采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果。
4.根据权利要求1所述的线扫描检测方法,其特征在于,所述摄像模块的数量为多个,每个所述摄像模块对应一个所述照明模块;每个所述照明模块包括N个不可见光光源,N≥2;
所述线扫描检测方法,还包括:
同时点亮各所述照明模块中的第L个不可见光光源,1≤L≤N;
在每一所述第L个不可见光光源出射不可见光时,控制对应的所述摄像模块采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
5.根据权利要求4所述的线扫描检测方法,其特征在于,所述线扫描检测方法,还包括:
判断当前任一所述摄像模块对应的第N个所述图像采集区的图像是否采集完成;
如果是,输出多个所述摄像模块采集的图像,并对所述图像进行识别,以获取相应的检测结果;
如果否,同时点亮各所述照明模块中的第L+1个不可见光光源;
在每一所述第L+1个不可见光光源出射不可见光时,控制对应的所述摄像模块采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像。
6.一种线扫描传感器,其特征在于,包括:
至少一个摄像模块,每个所述摄像模块对应至少一个图像采集区;
以及,与所述每个摄像模块对应的照明模块,所述照明模块包括与所述至少一个图像采集区一一对应的至少一个不可见光光源;
其中,所述至少一个不可见光光源用于逐一出射不可见光;
所述摄像模块用于在每个所述不可见光光源出射不可见光时,采集所述不可见光在对应的所述图像采集区内形成的反射光信号,并根据所述反射光信号生成图像;
所述图像采集区为单层平板物料承载部的承载区。
7.根据权利要求6所述的线扫描传感器,其特征在于,
所述摄像模块的数量为多个,且多个所述摄像模块沿所述图像采集区的排布方向线性分布;
和/或,每个所述照明模块中的所述不可见光光源的数量为多个,且多个所述不可见光光源沿所述图像采集区的排布方向线性分布。
8.根据权利要求7所述的线扫描传感器,其特征在于,
在所述不可见光光源的数量为多个的情况下,多个所述不可见光光源以对应的所述摄像模块的几何中心所在平面为基准对称设置。
9.根据权利要求6~7任一项所述的线扫描传感器,其特征在于,
沿所述图像采集区的排布方向的垂直方向,每一所述不可见光光源与对应的所述图像采集区和对应的所述摄像模块呈夹角设置。
10.根据权利要求6~7任一项所述的线扫描传感器,其特征在于,所述线扫描传感器还包括:与所述至少一个摄像模块电连接的处理器,所述处理器用于识别所述至少一个摄像模块采集的图像。
11.根据权利要求10所述的线扫描传感器,其特征在于,还包括:与所述至少一个图像采集区一一对应的至少一个指示灯;
所述处理器与所述至少一个指示灯电连接,所述处理器还用于在识别所述至少一个摄像模块采集的图像后,根据所述图像对应的检测结果控制对应的所述指示灯导通或关断。
12.一种线扫描检测系统,其特征在于,包括:如权利要求6~11任一项所述的至少一个线扫描传感器。
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Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9906720D0 (en) * 1998-03-30 1999-05-19 Jenoptik Jena Gmbh Arrangements for the detection of disk-shaped objects in a cassette
JP2004173174A (ja) * 2002-11-22 2004-06-17 Sunx Ltd 多光軸光電スイッチ及び多光軸光電スイッチの干渉状態解消方法
TW201000882A (en) * 2008-06-24 2010-01-01 Toes Opto Mechatronics Co Cartridge panel mapping system and method of inspecting panel
CN101620189A (zh) * 2008-07-01 2010-01-06 拓志光机电股份有限公司 卡匣面板映射系统及其检测面板的方法
JP2012247280A (ja) * 2011-05-27 2012-12-13 Ricoh Co Ltd 画像検査装置及び画像形成装置
CN203012159U (zh) * 2012-12-27 2013-06-19 京东方科技集团股份有限公司 卡匣检测装置和卡匣
WO2013139055A1 (zh) * 2012-03-22 2013-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 玻璃基板的检测装置及检测方法
WO2013189066A1 (zh) * 2012-06-19 2013-12-27 深圳市华星光电技术有限公司 玻璃基板卡匣的检测装置
CN203858376U (zh) * 2014-03-07 2014-10-01 北京京东方光电科技有限公司 卡匣内玻璃基板的检测装置
CN106053476A (zh) * 2016-06-27 2016-10-26 昆山国显光电有限公司 可侦测基板完整性的卡匣结构和侦测基板完整性的方法
CN108716895A (zh) * 2018-05-18 2018-10-30 北京锐洁机器人科技有限公司 桌面级翘曲度扫描方法及设备

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9906720D0 (en) * 1998-03-30 1999-05-19 Jenoptik Jena Gmbh Arrangements for the detection of disk-shaped objects in a cassette
JP2004173174A (ja) * 2002-11-22 2004-06-17 Sunx Ltd 多光軸光電スイッチ及び多光軸光電スイッチの干渉状態解消方法
TW201000882A (en) * 2008-06-24 2010-01-01 Toes Opto Mechatronics Co Cartridge panel mapping system and method of inspecting panel
CN101620189A (zh) * 2008-07-01 2010-01-06 拓志光机电股份有限公司 卡匣面板映射系统及其检测面板的方法
JP2012247280A (ja) * 2011-05-27 2012-12-13 Ricoh Co Ltd 画像検査装置及び画像形成装置
WO2013139055A1 (zh) * 2012-03-22 2013-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 玻璃基板的检测装置及检测方法
WO2013189066A1 (zh) * 2012-06-19 2013-12-27 深圳市华星光电技术有限公司 玻璃基板卡匣的检测装置
CN203012159U (zh) * 2012-12-27 2013-06-19 京东方科技集团股份有限公司 卡匣检测装置和卡匣
CN203858376U (zh) * 2014-03-07 2014-10-01 北京京东方光电科技有限公司 卡匣内玻璃基板的检测装置
CN106053476A (zh) * 2016-06-27 2016-10-26 昆山国显光电有限公司 可侦测基板完整性的卡匣结构和侦测基板完整性的方法
CN108716895A (zh) * 2018-05-18 2018-10-30 北京锐洁机器人科技有限公司 桌面级翘曲度扫描方法及设备

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