CN112924842B - 降压测试拓扑电路、测试系统/方法、存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种降压测试拓扑电路、测试系统/方法、存储介质,所述降压测试拓扑电路包括被测功率主板;所述被测功率主板上设置有n个测试端口;其中,n大于等于2;供电模块,与所述被测功率主板电性连接,用于为所述被测功率主板供电;降压模块,用于将所述供电模块输出的供电电压降压为测试电压;n个功率负载模块,通过n个连接模块电性连接至所述被测功率主板的n个测试端口,用于在测试电压下,产生测试特征参数;通过检测所述测试特征参数以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。本发明适用于功率电子设备的功能检测领域,检测过程通过执行PLC程序,自动化完成所有功能检测。同时对测试过程中的功能异常板卡进行断电保护。
Description
技术领域
本发明属于电子设备的功能检测技术领域,涉及一种测试系统/方法,特别是涉及一种降压测试拓扑电路、测试系统/方法、存储介质。
背景技术
所有的电子产品在生产过程的某个环节都需要执行一定程度的PCBA完整性和功能检查。功率电子设备的检测相对于一般电子设备而言,有一定的独特性,这体现在:
一,功率电子设备需要承担更高的电压和更大的电流;
二,功率电子设备出厂的完好性要求更高,通常会涉及到人身安全的要求,其功率回路出厂前应给与完整的功能检查;
三,如果PCBA过程中有瑕疵存在,则检验过程本身可能导致功率电子设备产生不可修复的破坏,带来额外损失;
四,功率电子设备检验过程中涉及到高电压和大电流信号的输出和检测,一般情况下,每次检测持续的时间宜短不宜长;
但是现有技术不具有上述检测特点,且在测试过程中一旦发现被测对象的反馈呈现故障或短路的趋势,无法立即自动实现保护动作,不会最大可能保护被测对象设备的完整,以便造成额外损耗,增加成本开销。
因此,如何提供一种降压测试拓扑电路、测试系统/方法、存储介质,以解决现有技术不具有独特性的检测特点,在测试过程中无法最大可能保护被测对象设备的完整,造成额外损耗,增加成本开销等缺陷,实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种降压测试拓扑电路、测试系统/方法、存储介质,用于解决现有技术不具有独特性的检测特点,在测试过程中无法最大可能保护被测对象设备的完整,造成额外损耗,增加成本开销的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明一方面提供一种降压测试拓扑电路,包括被测功率主板;所述被测功率主板上设置有n个测试端口;其中,n大于等于2;所述降压测试拓扑电路还包括:供电模块,与所述被测功率主板电性连接,用于为所述被测功率主板供电;降压模块,用于将所述供电模块输出的供电电压降压为测试电压;n个功率负载模块,通过n个连接模块电性连接至所述被测功率主板的n个测试端口,用于在所述测试电压下,产生测试特征参数;通过检测所述测试特征参数以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。
于本发明的一实施例中,所述测试特征参数包括用于检测所述被测功率主板是否存在故障的特征参数和/或用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数。
于本发明的一实施例中,所述供电模块包括主供电回路、断路器、第一保险丝、降压变压器及第二保险丝;其中,所述主供电回路分别连接至断路器的输入接口,断路器的输出接口串联第一保险丝后,依次分别接到所述降压变压器的一次侧输入端,降压变压器的二次侧输出接口分别串联第二保险丝后分别接到所述测试被测功率主板的输入接口针板上。
于本发明的一实施例中,所述连接模块包括第三保险丝和交流接触器;所述交流接触器包括主接触触点、辅接触触点、交流接触线圈输入端和交流接触线圈输出端;所述主接触触点为常开触点,所述辅接触触点为常闭触点;其中,所述第三保险丝的输入端与所述测试被测功率主板的输出接口针板电性连接,所述第三保险丝的输出端分别连接至所述主接触触点和辅接触触点的输入接口。
于本发明的一实施例中,每一所述功率负载模块包括第一负载模组和第二负载模组;所述第一负载模组连接至所述辅接触触点的输出接口,所述第二负载模组连接至所述主接触触点的输出接口;其中,所述第一负载模组和所述第二负载模组均采用三角形接法连接电阻,通过检测所述第一负载模组来监控所述被测功率主板的测试端口是否异常;通过检测所述第二负载模组来监控所述被测功率主板的过载保护功能。
本发明另一方面提供一种测试系统,包括:降压测试拓扑电路;从控制器,与所述降压测试拓扑电路中的被测功率主板通信连接,用于执行主站控制指令及采集,存储所述测试拓扑电路的测试特征参数;主控制器,与所述从控制器通信连接,用于访问从站控制器的寄存器数据并根据所述测试特征参数执行对应的检测。
于本发明的一实施例中,所述测试系统还包括:开始按键指示灯,与所述从控制器通信连接,作为外部输入控制信号指示针对所述被测功率主板测试程序的启动;停止按键指示灯,与所述从控制器通信连接,作为外部输入控制信号针对所述被测功率主板测试程序过程的停止;
复位按键指示灯,与所述从控制器通信连接,作为外部输入控制信号指示针对所述被测功率主板测试程序过程的恢复初始状态;显示器,与所述主控制器HDMI接口连接,用于显示所述主控制器的检测结果。
于本发明的一实施例中,所述从控制器设置有n个输出端口;每一连接模块的交流接触线圈输入端连接至对应的输出端口;每一连接模块的交流接触器线圈输出端与电源负极连接。
于本发明的一实施例中,所述主控制器包括:读取模块,与所述从控制器连接,用于读取所述从控制器收集的所述测试拓扑电路的测试特征参数;存储模块,与所述读取模块连接,用于存储所述读取模块读取到的测试特征参数;服务端模块,与所述存储模块连接,用于接收所述测试特征参数,并予以传输;客户端模块,与所述服务端模块连接,用于读取通过所述服务端模块传输的测试特征参数,并将所述测试特征参数与特征理论数据进行比对,以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。
本发明另一方面还提供一种测试方法,其特征在于,用于对被测功率主板进行功能检测;所述测试方法包括:读取针对所述被测功率主板的测试特征参数;将所述测试特征参数与特征理论数据进行比对,以判断所述被测功率主板是否存在功能异常;若是,则形成测试通过的测试结果;若否,则形成测试失败的测试结果。
于本发明的一实施例中,当所述测试拓扑电路的第一负载模组通电工作时,所述测试方法执行所述被测功率电路主板是否存在故障的检测;当所述测试拓扑电路的第二负载模组通电工作时,所述检测方法执行所述被测功率电路主板的过载保护功能是否正常的检测。
本发明又一方面提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现所述测试方法。
如上所述,本发明所述的降压测试拓扑电路、测试系统/方法、存储介质,具有以下有益效果:
1、本发明采用带有EtherCAT总线的软PLC过程控制器作为主控制器,主控制器通过EtherCAT总线与从控制器进行通信,具体测试功能通过PLC程序来描述实现。
2、本发明适用于功率电子设备的功能检测领域,检测过程通过执行PLC程序,自动化完成所有功能检测。同时对测试过程中的功能异常板卡进行断电保护。
3、本发明检测过程实现自动化,测试结果通过HDMI设备输出,测试结果一目了然。同时测试数据以日志形式保存,为后期产品维护提供依据。
4、本发明低压测试系统其目的属于预检测,低压检测时主板存在瑕疵,不会造成板卡破坏性的损,在低压测试完成后,才可以继续进行板卡正常工作电压检测,即能在保证完成功能测试的前提下最大的降低额外附带成本开销。
附图说明
图1A显示为本发明的降压测试拓扑电路于一实施例中的原理结构示意图。
图1B显示为本发明的降压测试拓扑电路于一实施例中的主供电回路示意图。
图2A显示为本发明的第一负载模组的电路图。
图2B显示为本发明的第二负载模组的电路图。
图3显示为本发明的测试系统于一实施例中的原理结构示意图。
图4显示为本发明的主控制器的软件组成结构示意图。
图5A显示为本发明的测试方法于一实施例中的流程示意图。
图5B显示为本发明的测试方法于另一实施例中的流程示意图。
元件标号说明
1 | 降压测试拓扑电路 |
10 | 被测功率主板 |
11 | 供电模块 |
12 | 降压模块 |
13 | 连接模块 |
14 | 功率负载模块 |
3 | 测试系统 |
31 | 测试拓扑电路 |
32 | 从控制器 |
33 | 主控制器 |
34 | 按键/按键指示灯 |
35 | 显示器 |
331 | 读取模块 |
332 | 存储模块 |
333 | 服务端模块 |
334 | 客户端模块 |
S51~S54 | 步骤 |
S51’~S54’ | 步骤 |
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想,遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。
本发明所提供的测试拓扑电路、测试系统/方法、计算机存储介质及终端技术原理如下:
本发明采用专用测试电路配合PLC执行自动化的测试程序对被测试的功率电子产品进行功率加载,在测试和被测电路设计参数许可的范围内,降低电压并维持足够的电流,通过PLC程序精确控制测试的时间片并监控被测设备的具体反应,只需很短的检测时间就能自动得出测试结果并予以记录上传。在测试过程中一旦发现被测对象的反馈呈现故障或短路的趋势,可以立即自动实现保护动作,尽最大可能保护被测对象设备的完整,之后可以交由质检人员进行人工分析和返修,从而减少应为测试环节造成的额外损耗。
实施例一
本实施例提供一种测试拓扑电路,包括被测功率主板;所述被测功率主板上设置有n个测试端口;其中,N大于等于2;所述测试拓扑电路还包括:
供电模块,与所述被测功率主板电性连接,用于为所述被测功率主板供电;
降压模块,用于将所述供电模块输出的供电电压降压为测试电压;
n个功率负载模块,通过n个连接模块电性连接至所述被测功率主板的n个测试端口,用于在所述测试电压下,产生测试特征参数;通过检测所述测试特征参数以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。
以下将结合图示对本实施例所提供的测试拓扑电路进行详细描述。请参阅图1A和图1B,分别显示为测试拓扑电路于一实施例中的原理结构示意图和测试拓扑电路于一实施例中的主供电回路示意图。如图1A所示,所述测试拓扑电路1包括被测功率主板10、供电模块11、降压模块12、n个连接模块13及n个功率负载模块14。其中,所述被测功率主板10上设置有n个测试端口,即P1接口101,……,PN接口10n,n大于等于2。
与所述被测功率主板10电性连接的所述供电模块11用于为被测功率主板供电。在本实施例中,所述供电模块11包括主供电回路L、断路器QF、第一保险丝FU1.。在本实施例中,所述供电模块输出的供电电压采用高压,例如,采用3~380V。
与所述供电模块11连接的降压模块12用于将所述供电模块输出的供电电压降压为测试电压。在本实施例中,所述供电模块输出的高压经降压模块12降压后输出低压形式的测试电压,例如,3~48V。
所述降压模块12包括降压变压器T及第二保险丝FU2。其中,所述主供电回路L分别连接至断路器QF的输入接口,断路器QF的输出接口串联第一保险丝FU1后,依次分别接到所述降压变压器T的一次侧输入端,降压变压器T的二次侧输出接口分别串联第二保险丝FU2后分别接到所述测试被测功率主板11的输入接口针板上。在本实施例中,所述降压模块12的T参数(3~380V-3~48V)。
在本实施例中,所述降压测试拓扑电路使用低压检测高压设备板卡,整个测试都是采用降压测试方式,其目的在于SMT生产出的功率板卡可能以为各种原因存在瑕疵,如果直接使用正常供电电压下进行测试不仅损坏板卡,同时可能损坏测试设备,造成重大损失。例如,采用三角形接法3相380V输入电压测试时,当测试过载保护电路时,若以8A的保护电路电流阀值为例来计算三角形接法中的单个负载功率P=U*I=380V*8A=3040W,在保留一定裕量至少需要4KW的负载,以P1端口为例要测试过载保护就需要3个4KW的负载,而且此负载体积庞大,价格高,测试治具安装复杂,不利于生产测试。
具体参阅图1B,所述供电模块12包括三个主供电回路L1、L2、L3连接断路器开关QF输入接口,断路器QF输出接口串联第一保险丝FU1后,依次接到降压变压器T的一次侧输入端L11、L21、L31,降压变压器T二次侧输出接口U、V、W串联保险丝第二FU2后分别接到所述测试被测功率主板11的L21、L22、L23的针板上。
所述连接模块13用于将功率负载模块一一连接至与之对应的测试端口。
参阅图1B,所述连接模块13包括第三保险丝FU3、交流接触器KM1,……,KMn,所述交流接触器KM包括主接触触点C、辅接触触点D、交流接触线圈输入端A1及交流接触线圈输出端A2;所述主接触触点C为常开触点,所述辅接触触点D为常闭触点。其中,所述第三保险丝FU3的输入端与所述测试被测功率主板11的输出接口针板电性连接,所述第三保险丝FU3的输出端分别连接至所述主接触触点C和辅接触触点D的输入接口。
例如,第三保险丝FU3输出端分别连接交流接触器KM1的输入端U、V、W。于实际用于中,所述交流接触器线圈KM1为24V控制。交流接触线圈输入端A1接口连接从站输出端口ouput0,交流接触线圈输出端A2接口接GND。所述交流接触器KM1连接至所述功率负载模块14。
n个功率负载模块14通过n个连接模块13电性连接至所述被测功率主板的n个测试端口。所述功率负载模块14用于产生测试特征参数;通过检测所述测试特征参数以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。在本实施例中,所述测试特征参数包括用于检测所述被测功率主板是否存在故障的特征参数和/或用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数。
于本实施例中,所述功率负载模块14包括第一负载模组LOAD1和第二负载模组LOAD2,即所述交流接触器KM1主触点输出接口连接到所述功率负载模块14中第二负载模组LOAD2,辅助触点输出分别连接到所述功率负载模块14中第一负载模组LOAD1。
其中,所述第一负载模组LOAD1连接至所述辅接触触点D的输出接口,所述第二负载模组LOAD2连接至所述主接触触点C的输出接口。请参阅图2A和图2B,分别显示为第一负载模组和第二负载模组的电路图。如图2A和2B所示,第一负载模组和第二负载模组均采用三角形接法连接电阻。于实际应用中,第一负载模组LOAD1使用100Ω/50W*3的电阻,各个电阻两端连接交流数字电压表用于监测负载两端的电压值;第二负载模组LOAD2使用5Ω/1000W*3的功率电阻。交流接触器KM1辅助触点输出接口连接到LOAD1的KM1_U、KM1_V、KM1_W,主接触触点的输出分别连接到LOAD2的KM1_U’、KM1_V’、KM1_W’。通过检测所述第一负载模组来监控所述被测功率主板的测试端口是否异常;通过检测所述第二负载模组来监控所述被测功率主板的过载保护功能。
实施例二
本实施例提供一种测试系统,包括:
测试拓扑电路;
从控制器,与所述降压测试拓扑电路中被测功率主板通信连接,用于执行主站控制指令及采集,存储所述测试拓扑电路的测试特征参数;
主控制器,与所述从控制器通信连接,用于访问从站控制器的寄存器数据并根据所述测试特征参数执行对应的检测。
以下将结合图示对本实施例所提供的测试系统进行详细描述。请参阅图3,显示为测试系统于一实施例中的原理结构示意图。如图3所示,所述测试系统3包括测试拓扑电路31、从控制器32、主控制器33、按键/按键指示灯34(开始按键指示灯、停止按键指示灯、复位按键指示灯)及显示器35。
所述测试拓扑电路31为实施例一所述的测试拓扑电路,此处不再赘述。
与所述测试拓扑电路31中被测功率主板通信连接的从控制器32用于执行主站控制指令及采集,存储所述测试拓扑电路的测试特征参数。在本实施例中,通过使能所述从控制器32的I/O引脚控制所述测试拓扑电路31的通断,同时控制所述被测功率主板的负载选择并对出现非正常测试状态时的大电流进行切断保护,以避免所述被测功率主板和测试系统遭到不可修复的损坏。于本实施例中,所述从控制器32采用EtherCAT总线从站模块。
所述按键/按键指示灯34分别通过I/O通信方式接入从控制器32中。例如,开始按键:input0、停止按键:input1、复位按键:input2;开始按键指示灯:output0、停止按键指示灯:output1、复位按键指示灯:output2。
具体地,与所述从控制器通信连接的开始按键指示灯作为外部输入控制信号指示针对所述被测功率主板测试程序的启动。
与所述从控制器通信连接的停止按键指示灯作为外部输入控制信号针对所述被测功率主板测试程序过程的停止。
与所述从控制器通信连接的复位按键指示灯作为外部输入控制信号指示针对所述被测功率主板测试程序过程的恢复初始状态。与所述从控制器通过EtherCAT方式通信连接的所述主控制器33用于访问从站控制器的寄存器数据并根据所述测试特征参数执行对应的检测。在本实施例中,所述主控制器33采用嵌入式过程控制器。所述嵌入式过程控制器是安装有Ethercat总线通信模块、eCLR PLC运行核心、Openssh-server服务组件、支持OPCUA标准的软PLC主站控制器,可以连接多个EtherCAT总线从站模块。主控制器和从控制器之间通过EtherCAT方式通信。主控制器内置TF卡,TF卡存储了针对被测功率主板检测过程的PLC控制程序,即根据测试特征参数,检测所述测试拓扑电路,软PLC主站将测试结果输出到HDMI显示器36,以便显示器35显示所述主控制器的检测结果。
请参阅图4,显示为主控制器的软件组成结构示意图。如图4所示,所述主控制器33包括读取模块331、存储模块332、服务端模块333及客户端模块334。
与所述从控制器32通信连接的所述读取模块331用于读取所述从控制器收集的所述测试拓扑电路的测试特征参数。
具体地,读取模块331为PLC Task。PLC Task是KWPLC提供的周期性循环的任务,是根据被测电路检测信息编写出PLC循环检测程序,任务的逻辑功能是通过IEC61131。PLCTask涵盖被测对象的所有功能检测,测试过程中通过PLC程序控制读取被测对象的测试数据。PLC Task通过软件工具下装到软PLC控制器内置的TF卡中。当测试系统启动时,软PLC控制器自动执行TF卡中PLC Task。
与所述读取模块331连接的存储模块332用于存储所述读取模块331读取到的测试特征参数。在本实施例中,所述测试特征参数包括用于检测所述被测功率主板是否存在故障的特征参数和/或用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常。
与所述存储模块332连接服务端模块333用于接收所述测试特征参数,并予以传输。
具体地,服务端模块333为OPC UA server,OPC UA server用于接收PLC Task执行过程中发送的数据。并提供给OPC UA Client程序进行调用。PLC Task和OPC UA server通过共享内存方式读写数据。Opc UA server通过中间导入导出功能块(固件库函数)与PLCTask进行信息的交互
与所述服务端模块333连接的客户端模块334用于读取通过所述服务端模块333传输的测试特征参数,并将所述测试特征参数与特征理论数据进行比对,以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。
具体地,客户端模块334为OPC UA Client,OPC UA Client通过读取UA server节点的数据,同时利用调用的测试数据执行OPC UA Client程序。通过判断读取的测试特征参数与特征理论数据进行比较,并将测试结果通过软PLC过程控制器中HDMI接口输出。在实施例中,Opc UA client与Opc UA server之间通过TCP/IP连接通信。Opc UA client可以读写、订阅、浏览Opc UA server上面的节点信息等。读取通过所述Opc UA server传输的测试特征参数,并将Opc UA server所述测试特征参数与Opc UA client特征理论数据进行比对,以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。同时将检测结果通过主控制器输入。在本实施例中,所述读取模块331、所述服务端模块333和所述客户端模块334均设置有用于传输数据的固件库函数。
所述测试系统的执行过程如下:
所述测试拓扑电路通电启动,控制设备初始化,初始化完成后“开始”“停止”,“复位”按键指示灯闪烁1秒后熄灭,测试系统进入测试程序,等待测试开始信号。按“开始”键,PLC_Task启动运行,通过EtherCAT总线使能从控制器的对应寄存器,从控制器输出数字信号通过I/O口输出到被测功率主板。被测功率主板使能后交流接触器KM1辅助触点通电,第一负载模组LOAD1开始工作,电压表头输出各负载两端电压。读取各负载两端电压的电压读数,将各负载两端电压的电压读数与电压理论值比对,若正常说明端口P1的U、V、W输出正常。若不正常,说明端口P1存在缺相,输出异常。
在本实施例中,当第一负载模组通电后,所述从控制器读取到用于检测所述被测功率主板是否存在故障的特征参数。所述从控制器将该特征参数传输通过PLC_Task的固件库函数发送到UA_Sever供UA_Client调用,UA_Client读取UA_Sever读取的数据后,与P1测试端口正常读值进行比较。当两个值相等时,UA_Client调用固件库函数输出测试结果“P1TestPass”到HDMI显示器,否则输出“P1 Test Fail”。循环检测其他测试端口,测试所有端口并输出测试结果。当最后一个测试端口Pn测试完成后,第一负载模组断电。第二负载模组通电工作。
第二负载模组通电后,PLC_Task继续执行程序,用来测试各个测试端口的过载保护功能。在本实施例中,仍以测试端口P1的过载保护功能为例,PLC_Task通过EtherCAT总线使能从站设备output0端口,此时交流接触器KM1线圈通电,主接触触点C闭合,辅接触触点D断开,LOAD1断电,LOAD2通电工作。由于LOAD2是使用5Ω/1000W*3的功率电阻的三角型接法,在测试过载保护功能时,通过负载电阻两端的电流有效值I=U/R=48V/5Ω=9.6A,同时负载电阻功率P=I2*R=460.8W<1000W,而被测PCBA的过载电流阀值一般设置在I阈值=6~8A<9.6A,因此,LOAD2开始工作后,被测功率主板过载保护电路工作并输出I/O信号到EtherCAT从站,同时PLC_Task读取从控制器的对应寄存器的值并通过固件库函数将测试结果发送到UA_Server,UA_Client调用UA_Server节点信息并与P1口过载时的预期数据进行比较,当两个数据相等时,UA_Client调用固件库函数输出测试结果“P1 Overload TestPass”到HDMI显示器,否则输出“P1 Overload Test Fail”。P1测试端口测试完成后,撤销output0和触发电路使能。依次分别测试所有测试端口的过载保护功能。测试完成后取出被测功率主板,并根据HDMI显示的测试结果记录并维修。
需要说明的是,应理解以上系统的各个模块的划分仅仅是一种逻辑功能的划分,实际实现时可以全部或部分集成到一个物理实体上,也可以物理上分开。且这些模块可以全部以软件通过处理元件调用的形式实现,也可以全部以硬件的形式实现,还可以部分模块通过处理元件调用软件的形式实现,部分模块通过硬件的形式实现。例如:x模块可以为单独设立的处理元件,也可以集成在上述系统的某一个芯片中实现。此外,x模块也可以以程序代码的形式存储于上述系统的存储器中,由上述系统的某一个处理元件调用并执行以上x模块的功能。其它模块的实现与之类似。这些模块全部或部分可以集成在一起,也可以独立实现。这里所述的处理元件可以是一种集成电路,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤或以上各个模块可以通过处理器元件中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。以上这些模块可以是被配置成实施以上方法的一个或多个集成电路,例如:一个或多个特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC),一个或多个微处理器(Digital Singnal Processor,简称DSP),一个或者多个现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,简称FPGA)等。当以上某个模块通过处理元件调度程序代码的形式实现时,该处理元件可以是通用处理器,如中央处理器(CentralProcessing Unit,简称CPU)或其它可以调用程序代码的处理器。这些模块可以集成在一起,以片上系统(System-on-a-chip,简称SOC)的形式实现。
本实施例所述测试系统具有以下有益效果:
1、测试系统采用带有EtherCAT总线的软PLC过程控制器作为主控制器,主控制器通过EtherCAT总线与从控制器进行通信,具体测试功能通过PLC程序来描述实现。
2、测试系统适用于功率电子设备的功能检测领域,检测过程通过执行PLC程序,自动化完成所有功能检测。同时对测试过程中的功能异常板卡进行断电保护。
3、检测过程实现自动化,测试结果通过HDMI设备输出,测试结果一目了然。同时测试数据以日志形式保存,为后期产品维护提供依据。
4、低压测试系统能在保证完成功能测试的前提下最大的降低额外附带成本开销。
实施例三
本实施例提供一种基于测试系统的测试方法,用于对被测功率主板进行功能检测;所述检测方法包括:
读取针对所述被测功率主板的测试特征参数;
将所述测试特征参数与特征理论数据进行比对,以判断所述被测功率主板是否存在功能异常;若是,则形成测试通过的测试结果;若否,则形成测试失败的测试结果。
以下将集合图示对本实施例所提供的检测方法进行详细描述。
在本实施例中,所述被测功率主板上设置有n个测试端口。请参阅图5,显示为检测方法于一实施例和另一实施例中的流程示意图。如图5A所示,所述检测方法具体包括以下步骤:
S51,在被测功率主板接收到启动的控制指令后,被测功率主板使能交流接触器的辅接触触点通电,第一负载模组开始工作,电压表头输出第一负载模组中各个电阻两端的电压后,接收到各个电阻两端的电压。
S52,将各个电阻两端的电压与测试端口P1正常时的电压正常值进行比对,以判断所述被测功率主板的测试端口P1的U、V、W是否输出正常,若相等,则表示测试端口P1输出正常,执行S53,即形成测试通过的测试结果(P1 Test Pass),并将测试通过的测试结果输出,若存在缺相,则表示测试端口P1输出异常,执行S54,即形成测试失败的测试结果(P1 TestFail),并将测试失败的测试结果输出。
循环执行S52-S53,或S52-S54,以完成所有测试端口的测试,判断被测功率主板是否存在故障。
当被测功率主板是否存在故障检测完毕后,继续执行所述检测方法用来测试各个端口的过载保护功能。仍以检测测试端口P1的过载保护功能为例,所述主控制器使能所述从控制器的output0端口,交流接触器KM1的交流接触线圈输入端通电,使主接触触点闭合,辅接触触点断开,第一负载模组LOAD1断电,第二负载模组LOAD2通电。在LOAD2开始工作后,所述被测功率主板电路工作输出I/O信号到从控制器,所述从控制器将用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数传输至主控制器。
如图5B所示,所述检测方法具体包括以下步骤:
S51’,在被测功率主板接收到启动的控制指令后,被测功率主板使能交流接触器的主接触触点通电,辅接触触点断电,第二负载模组开始工作,读取到所述被测功率主板的测试端口P1过载保护工作时输出的特征参数后,接收用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数。
S52’,将用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数与测试端口P1过载时的预期数据进行比较,以判断所述被测功率主板的测试端口P1过载保护功能是否正常;若两者相等,则表示所述被测功率主板的测试端口P1过载保护功能正常,执行S53’,形成过载测试通过的测试结果(P1 Overload Test Pass),并将过载测试通过的测试结果输出;若两者不同,则表示所述被测功率主板的测试端口P1过载保护功能异常,执行S54’,形成过载测试失败的测试结果(P1 Overload Test Fail),并将过载测试失败的测试结果输出。
循环执行S52’-S53’,或S52’-S54’,以完成所有测试端口的测试,判断所述被测功率主板的过载保护功能是否正常。
本实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述检测方法。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过计算机程序相关的硬件来完成。前述的计算机程序可以存储于一计算机可读存储介质中。该程序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
综上所述,本发明所述测试拓扑电路、测试系统/方法、计算机存储介质及终端具有以下有益效果:
1、本发明采用带有EtherCAT总线的软PLC过程控制器作为主控制器,主控制器通过EtherCAT总线与从控制器进行通信,具体测试功能通过PLC程序来描述实现。
2、本发明适用于功率电子设备的功能检测领域,检测过程通过执行PLC程序,自动化完成所有功能检测。同时对测试过程中的功能异常板卡进行断电保护。
3、本发明检测过程实现自动化,测试结果通过HDMI设备输出,测试结果一目了然。同时测试数据以日志形式保存,为后期产品维护提供依据。
4、本发明低压测试系统能在保证完成功能测试的前提下最大的降低额外附带成本开销。本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (11)
1.一种降压测试拓扑电路,包括被测功率主板;其特征在于,所述被测功率主板上设置有n个测试端口;其中,n大于等于2;所述降压测试拓扑电路还包括:
供电模块,与所述被测功率主板电性连接,用于为所述被测功率主板供电;
降压模块,用于将所述供电模块输出的供电电压降压为测试电压;其中,所述供电模块输出的高压经所述降压模块降压后输出为低压形式的测试电压;
n个功率负载模块,通过n个连接模块电性连接至所述被测功率主板的n个测试端口,用于在所述测试电压下,产生测试特征参数;通过检测所述测试特征参数以检测所述被测功率主板是否存在功能异常;
所述测试特征参数包括用于检测所述被测功率主板是否存在故障的特征参数和/或用于检测所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数;其中,每一所述功率负载模块包括:第一功率负载模组和第二功率负载模组;所述第一功率负载模组用于生成所述被测功率主板是否存在故障的特征参数,所述第二功率负载模组用于生成所述被测功率主板的过载保护功能是否正常的特征参数;
所述特征参数表征所述被测功率主板故障或短路异常时,切断所述被测功率主板与所述供电模块的电性连接。
2.根据权利要求1所述的降压测试拓扑电路,其特征在于,
所述供电模块包括主供电回路、断路器、第一保险丝;
所述降压模块包括降压变压器及第二保险丝;
其中,所述主供电回路分别连接至断路器的输入接口,断路器的输出接口串联第一保险丝后,依次分别接到所述降压变压器的一次侧输入端,降压变压器的二次侧输出接口分别串联第二保险丝后分别接到所述测试被测功率主板的输入接口针板上。
3.根据权利要求1所述的降压测试拓扑电路,其特征在于,所述连接模块包括第三保险丝和交流接触器;所述交流接触器包括主接触触点、辅接触触点、交流接触器线圈输入端及交流接触器线圈输出端;所述主接触触点为常开触点,所述辅接触触点为常闭触点;
其中,所述第三保险丝的输入端与所述测试被测功率主板的输出接口针板电性连接,所述第三保险丝的输出端分别连接至所述主接触触点和辅接触触点的输入接口。
4.根据权利要求3所述的降压测试拓扑电路,其特征在于,所述第一功率负载模组连接至所述辅接触触点的输出接口,所述第二功率负载模组连接至所述主接触触点的输出接口;其中,所述第一功率负载模组和所述第二功率负载模组均采用三角形接法连接电阻,通过检测所述第一功率负载模组来监控所述被测功率主板的测试端口是否异常;通过检测所述第二功率负载模组来监控所述被测功率主板的过载保护功能。
5.一种测试系统,其特征在于,包括:
如权利要求1至权利要求4任一项所述的降压测试拓扑电路;
从控制器,与所述降压测试拓扑电路中被测功率主板通信连接,用于执行主站控制指令及采集,存储所述测试拓扑电路的测试特征参数;
主控制器,与所述从控制器通信连接,用于访问从站控制器的寄存器数据并根据所述测试特征参数执行对应的检测。
6.根据权利要求5所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括:
开始按键指示灯,与所述从控制器通信连接,作为外部输入控制信号指示针对所述被测功率主板测试程序的启动;
停止按键指示灯,与所述从控制器通信连接,作为外部输入控制信号针对所述被测功率主板测试程序过程的停止;
复位按键指示灯,与所述从控制器通信连接,作为外部输入控制信号指示针对所述被测功率主板测试程序过程的恢复初始状态;
显示器,与所述主控制器HDMI接口连接,用于显示所述主控制器的检测结果。
7.根据权利要求5所述的测试系统,其特征在于,所述从控制器设置有n个输出端口;每一连接模块的交流接触器线圈输入端连接至对应的输出端口;每一连接模块的交流接触器线圈输出端与电源负极连接。
8.根据权利要求5所述的测试系统,其特征在于,所述主控制器包括:
读取模块,与所述从控制器连接,用于读取所述从控制器收集的所述测试拓扑电路的测试特征参数;
存储模块,与所述读取模块连接,用于存储所述读取模块读取到的测试特征参数;
服务端模块,与所述存储模块连接,用于接收所述测试特征参数,并予以传输;
客户端模块,与所述服务端模块连接,用于读取通过所述服务端模块传输的测试特征参数,并将所述测试特征参数与特征理论数据进行比对,以检测所述被测功率主板是否存在功能异常。
9.一种测试方法,其特征在于,用于对权利要求1-4所述的降压测试拓扑电路中的被测功率主板进行功能检测;所述测试方法包括:
读取针对所述被测功率主板的测试特征参数;
将所述测试特征参数与特征理论数据进行比对,以判断所述被测功率主板是否存在功能异常;若是,则形成测试通过的测试结果;若否,则形成测试失败的测试结果。
10.根据权利要求9所述的测试方法,其特征在于,
当所述测试拓扑电路的第一负载模组通电工作时,所述测试方法执行所述被测功率电路主板是否存在故障的检测;
当所述测试拓扑电路的第二负载模组通电工作时,所述测试方法执行所述被测功率电路主板的过载保护功能是否正常的检测。
11.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求9或10任一项所述测试方法。
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