CN114578210B - 一种主板测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种主板测试方法、装置、设备和存储介质，所述方法包括步骤：根据主板电压测试任务创建测试线程；调用第一测试用例对主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；若第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；缺陷修复完成后，再次调用第一测试用例对主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；若第二电压测试结果正常，则调用与第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。通过上述技术方案，可解决目前测试调试主板电压时无法进行全面验证的问题。

Description

一种主板测试方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及主板测试技术领域，尤其是指一种主板测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着互联网企业迅速成长和发展，其对服务器性能要求也越来越高，对服务器系统运行时的稳定性也提出了相当严格的要求。

服务器中，主板上的硬件供电设计技术是保证主板稳定工作的关键点，这些供电设计所选方案的集成度也越来越高。因此，需要提前对服务器主板上各组电压参数(Voltage Regulation，VR)进行测试调试，以保证主板正常运行。

目前，技术人员对服务器主板上各组VR进行测试调试时，都是凭借个人经验来进行调试，方法不一；当很多相同的设计方案出现同样缺陷问题(即Bug)时，其调试手段也不一致、且往往无法选出最优的调试方案。

此外，主板调试过程中，还存在很多与当前测试用例相关联的其他关联测试用例；比如，当进行电源的动态响应测试用例调试时，需要同步验证环路响应测试用例及环路抖动验证等其他测试用例。而调试人员由于经验问题，极易出现漏掉复验关联测试用例的情况，因而无法进行全面验证，以保证主板上所有供电的稳定性。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种主板测试方法、装置、设备和存储介质，用于解决目前测试调试主板电压时无法进行全面验证的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种主板测试方法，所述方法包括步骤：

根据主板电压测试任务创建测试线程；

调用第一测试用例对所述主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

若所述第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对所述主板进行缺陷修复；

缺陷修复完成后，再次调用所述第一测试用例对所述主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

进一步的，根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常，具体包括：

若所述第三电压测试结果异常，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复；

若所述第三电压测试结果正常，则缺陷修复后的所述主板正常。

进一步的，在若所述第三电压测试结果异常，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复之后，所述方法还包括：

调用所述第一测试用例、所有第二测试用例，对所述主板依次进行电压测试；

若所有电压测试结果正常，则缺陷修复后的所述主板正常；

当出现一个电压测试结果异常时，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复，接着再次调用所述第一测试用例、所有第二测试用例对所述主板依次进行电压测试。

进一步的，在对所述主板进行缺陷修复之前，所述方法还包括：

根据所述电压测试条件、所述主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案，并调用修复步骤最少的所述缺陷解决方案、作为最佳解决方案。

进一步的，在若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常之前，所述方法还包括：

基于预设关联关系，判断所述第一测试用例是否存在相关联的所述第二测试用例；

若存在，则显示所述第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；

若不存在，则根据所述第二电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

进一步的，在根据主板电压测试任务创建测试线程之前，所述方法还包括：

通过线上操作界面输入待测电压参数、所述电压测试条件，并发布所述主板电压测试任务。

进一步的，在调用修复步骤最少的所述缺陷解决方案、作为最佳解决方案之后，所述方法还包括：

将所述当前电压测试缺陷、相对应的所述最佳解决方案保存至线上数据库。

本发明还提供一种主板测试装置，用于实现上述所述的主板测试方法，所述装置包括：

线程创建模块，用于根据主板电压测试任务创建测试线程；

电压测试模块，用于调用第一测试用例对所述主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

缺陷修复模块，用于在所述第一电压测试结果异常时根据电压测试条件、主板信息对所述主板进行缺陷修复；

所述电压测试模块还用于在缺陷修复完成后再次调用所述第一测试用例对所述主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；以及用于在所述第二电压测试结果正常时调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；

主板判断模块，用于根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

本发明又提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及计算机程序，所述计算机程序存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

根据主板电压测试任务创建测试线程；

调用第一测试用例对所述主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

若所述第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对所述主板进行缺陷修复；

缺陷修复完成后，再次调用所述第一测试用例对所述主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

本发明再提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据主板电压测试任务创建测试线程；

调用第一测试用例对所述主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

若所述第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对所述主板进行缺陷修复；

缺陷修复完成后，再次调用所述第一测试用例对所述主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

本发明的上述技术方案，相比现有技术具有以下技术效果：

本发明提供的一种主板测试方法，用于测试服务器主板上各组电压参数，从而验证主板是否可以正常运行；

其中，在测试线程创建之后开始正式测试过程；

首先，通过第一测试用例进行主板电压测试，第一测试用例可以是技术人员预先设定的测试用例；具体测试时，可通过挂载等方式实现不同的电压测试条件；由此，可生成第一电压测试结果、用于判断主板是否可以正常运行；

若通过第一电压测试结果判别出主板异常，即出现电压测试缺陷(即Bug)时，则对主板进行缺陷修复；其中，缺陷修复方式主要包括阻容器件调整、layout调整；从而，对主板进行电路设计优化，以修复电压测试缺陷、保证主板正常运行；

上述电压测试缺陷修复结束后，再通过第一测试用例测试主板电压，以通过第二电压测试结果来验证修复是否成功、当前主板是否可以正常运行；

接着，若上述修复成功，则通过若干个第二测试用例再进行主板电压测试，第二测试用例均与第一测试用例相关联，从而实现测试复验或全验目的；测试完后，可得到第三电压测试结果，以判断修复后的当前主板在各个测试类型中是否一直处于正常运行状态；

由此，在主板电压测试出现电压测试缺陷时，通过先修复缺陷、再调用关联测试用例进行多次复验的方式，对主板电压实现全验目的，防止测试人员漏掉复验过程、导致易出现调试错误的问题，以保证主板电压无误、供电稳定、可长时正常运行。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本发明第一实施例中主板测试方法的流程示意图；

图2是本发明第一实施例中主板测试方法的整体流程示意图；

图3是本发明第二实施例中主板测试装置的结构框图；

图4为本发明第二实施例中计算机设备的内部结构图；

图5是本发明第二实施例中测试系统的系统框架示意图；

图6是本发明第二实施例中自动化测试平台的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一：

如图1所示，本发明提供一种主板测试方法，包括步骤：

S1：根据主板电压测试任务创建测试线程；

S2：调用第一测试用例对主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

S3：若第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；

S4：缺陷修复完成后，再次调用第一测试用例对主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

S5：若第二电压测试结果正常，则调用与第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在具体实施例中，上述主板测试方法用于测试服务器主板上各组电压参数，从而验证主板是否可以正常运行；

其中，在测试线程创建之后开始正式测试过程；

首先，通过第一测试用例进行主板电压测试，第一测试用例可以是技术人员预先设定的测试用例；具体测试时，可通过挂载等方式实现不同的电压测试条件；由此，可生成第一电压测试结果、用于判断主板是否可以正常运行；

若通过第一电压测试结果判别出主板异常，即出现电压测试缺陷(即Bug)时，则对主板进行缺陷修复；其中，缺陷修复方式主要包括阻容器件调整、Layout调整；从而，对主板进行电路设计优化，以修复测试缺陷、保证主板正常运行；

上述电压测试缺陷修复结束后，再通过第一测试用例测试主板电压，以通过第二电压测试结果来验证修复是否成功、当前主板是否可以正常运行；

接着，若上述修复成功，则通过若干个第二测试用例再进行主板电压测试，第二测试用例均与第一测试用例相关联，从而实现测试复验或全验目的；测试完后，可得到第三电压测试结果，以判断修复后的当前主板在各个测试类型中是否一直处于正常运行状态；

由此，在主板电压测试出现电压测试缺陷时，通过先修复缺陷、再调用关联测试用例进行多次复验的方式，对主板电压实现全验目的，防止测试人员漏掉复验过程、导致易出现调试错误的问题，以保证主板电压无误、供电稳定、可长时正常运行。

可见，上述主板测试方法操作简便，可从流程上优化技术人员的测试工作，以提高工作效率、提升测试准确度。

在一个优选的实施方式中，根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常，具体包括：

S51：若第三电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；

S53：若第三电压测试结果正常，则缺陷修复后的主板正常。

在具体实施例中，通过相关联的若干个第二测试用例进行主板电压测试之后，可得到第三电压测试结果；

同样的，若通过第三电压测试结果判别出主板异常，即出现电压测试缺陷时，则对主板进行缺陷修复；其中，缺陷修复方式主要包括阻容器件调整、layout调整；从而，对主板进行电路设计优化，以修复电压测试缺陷、保证主板正常运行；

若通过第三电压测试结果判别出主板正常，则说明相关联的全部第二测试用例均对主板进行过测试，且最终修复后的主板电压无误、供电稳定、可长时正常运行；测试任务可结束。

在一个优选的实施方式中，在S51之后，上述方法还包括：

S521：调用第一测试用例、所有第二测试用例，对主板依次进行电压测试；

S522：若所有电压测试结果正常，则缺陷修复后的主板正常；

S523：当出现一个电压测试结果异常时，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复，接着再次调用第一测试用例、所有第二测试用例对主板依次进行电压测试。

在具体实施例中，实现主板全验的过程为：

通过第一测试用例对修复后的主板进行测试，并调用全部相关联用例进行全验；其中，相关联的第二测试用例可以是一个或多个，所有第二测试用例可依次进行测试；每当出现电压测试结果异常时，则通过与上述相同的修复手段来修复主板、并复验主板，直至所有电压测试结果正常，即最终修复后的主板电压无误、供电稳定、可长时正常运行；测试任务可结束。

在实际实施例中，可通过自动化测试集成、设计线上测试模板、制定测试用例关联关系等方式来设计测试系统；

当第一测试用例出现电压测试缺陷(即Bug)时，若遇到相关联的测试用例，系统会进行提醒操作；当所有相关联的第二测试用例全部测试完毕、验证通过时，此Bug才算解决。

在一个优选的实施方式中，在对主板进行缺陷修复之前，上述方法还包括：

根据电压测试条件、主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案，并调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案。

在一个优选的实施方式中，在调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案之后，上述方法还包括：

将当前电压测试缺陷、相对应的最佳解决方案保存至线上数据库。

在实际实施例中，上述测试系统可将测试过程中的Bug以及相应解决方案一并收集保存起来，形成线上Bug库，制定统一的Bug命名规则；

当测试过程中遇到类似Bug时，可以推选出已保存的解决方案，以供技术人员选用、来解决当前Bug。

由此，可解决目前主板调试过程中不同技术人员其缺陷解决方案不一致、易导致主板供电稳定性达不到最佳效果的问题；同时，也可解决目前人工解决Bug耗时较长、效率较为低下的问题。

其中，测试过程中出现Bug时，测试系统可根据测试条件、主板IC类别等信息来识别类似Bug解决方案，并推荐出若干个最优解决方案，以便于依次对主板进行Bug修复与验证。

在一个优选的实施方式中，在S5之前，上述方法还包括：

基于预设关联关系，判断第一测试用例是否存在相关联的第二测试用例；

若存在，则显示第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；

若不存在，则根据第二电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在实际实施例中，测试线程创建后，上述测试系统调用内部定义函数、自动调用测试资源。

同时，识别此第一测试用例是否有关联测试用例，将相互关联的测试用例组成测试用例集，以便后续对主板进行全验测试。

其中，当主板修复完成、Bug验证通过时，上述测试系统的操作界面可弹出验证其他测试用例测试界面，来提醒测试人员进行其他测试用例验证、对主板进行全验。

由此，先利用关联设定关系来查找关联测试用例，当所有关联测试用例一并验证通过后，主板测试过程中出现的Bug才可完全解决与关闭。

在一个优选的实施方式中，在根据主板电压测试任务创建测试线程之前，上述方法还包括：

通过线上操作界面输入待测电压参数、电压测试条件，并发布主板电压测试任务。

在实际实施例中，在上述测试系统中，可通过线上操作界面进行电压测试条件的录入，通过接口来运行自动化测试软件，加载主板板卡信息后，选择待测电压信息，确认信息后则发布测试任务，系统将创建独立的测试线程，以开始正式测试。

综上，本发明实施例提供的一种主板测试方法，可解决主板测试人员调试相关联测试用例时易漏掉其他测试用例的复验、导致出现调试错误的问题；也可解决测试人员调试经验或调试方法不一致时导致无法获取最优缺陷解决方案、无法获取最优主板设计方案的问题；还可解决测试过程耗时长、效率低、测试问题点未完全解决的问题。

需要注意的是，虽然流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

实施例二：

如图3所示，本发明还提供一种主板测试装置，用于实现上述主板测试方法，装置包括：

线程创建模块1，用于根据主板电压测试任务创建测试线程；

电压测试模块2，用于调用第一测试用例对主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

缺陷修复模块3，用于在第一电压测试结果异常时根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；

电压测试模块2还用于在缺陷修复完成后再次调用第一测试用例对主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；以及用于在第二电压测试结果正常时调用与第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；

主板判断模块4，用于根据第三电压测试结果判断修复后的主板是否正常。

在一个优选的实施方式中，缺陷修复模块3还用于在第三电压测试结果异常时根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复。

在一个优选的实施方式中，电压测试模块2还用于在第三电压测试结果异常、对主板进行缺陷修复之后，调用第一测试用例、所有第二测试用例对主板依次进行电压测试；

主板判断模块4，还用于在所有电压测试结果正常时，判断缺陷修复后的主板正常；

缺陷修复模块3还用于在出现一个电压测试结果异常时，根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；而电压测试模块2还用于再次调用第一测试用例、所有第二测试用例对主板依次进行电压测试。

在一个优选的实施方式中，主板测试装置还包括缺陷查询模块，用于根据电压测试条件、主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案；

缺陷修复模块3还用于调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案。

在一个优选的实施方式中，主板测试装置还包括关联用例识别模块，用于基于预设关联关系，判断第一测试用例是否存在相关联的第二测试用例；以及用于存在第二测试用例时显示第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；

主板判断模块4，还用于不存在第二测试用例时根据第二电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在一个优选的实施方式中，主板测试装置还包括：

线上输入模块，用于通过线上操作界面输入待测电压参数、电压测试条件；

测试任务发布模块，用于发布主板电压测试任务。

在一个优选的实施方式中，主板测试装置还包括缺陷保存模块，用于将当前电压测试缺陷、相对应的最佳解决方案保存至线上数据库。

关于上述主板测试装置的具体限定，可以参见上文中对于主板测试方法的限定，在此不再赘述。

上述主板测试装置中的各个模块，可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以以硬件形式内嵌于、或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

其中，如图4所示，上述计算机设备可以是终端，其包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

可以理解的是，上述图中示出的结构，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

如图5所示，在实际实施例中，可以设计自动化测试及调试系统，来对主板电压进行测试；其由两个系统组成，分别为：线上操作系统和自动化测试系统；

其中，线上操作系统包括测试计划及测试条件录入模块、线上测试数据库、Bug存储模块、Bug检索模块；各个模块的作用如下：

线上测试计划及测试条件录入模块：通过线上操作界面、通过接口，将待测的电压参数及测试条件输入给自动化测试系统；

自动化测试系统：通过自动化UI操作界面，选择所需测试的电压参数，按照条件测试；同时将测试数据传给线上测试数据库；

线上测试数据库：将测试数据上传对应的线上测试模板，利用线上判断规则来识别Bug。同时自动触发Bug检索功能，推荐出相同芯片、相同测试用例相关的Bug及解决方案；

Bug存储模块：发现Bug时，自动将Bug上传至Bug存储模块；当Bug解决后，将Bug的解决方案线上编辑并保存至Bug存储模块。

如图6所示，自动化测试系统则用于对设备仪器进行控制，其具体包括：

操作界面：基于PyQt5 QtDesigner程序的图形化编写能力，实现快速标准化开发，便于后期维护；

系统架构：基于PyQt5下的QThread标准库构建系统架构，赋予自动化测试系统多线程能力，保证操作界面的流畅性；基于Windows系统API实现用户的中断请求，使自动化测试系统能够适配所有的Windows平台，并实现毫秒级的测试任务线程挂起与恢复；

资源调用：基于pyvisa标准库连接仪器资源，同时对资源调用Session进行全局统一管理，解决多线程的资源调用冲突与仪器资源回收问题；

数据处理：测试完成后，自动获取数据上传线上系统，并与测试SPEC比对、得出测试结果。

实施例三：

本发明又提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及计算机程序，计算机程序存储在存储器上并可在处理器上运行，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

S1：根据主板电压测试任务创建测试线程；

S2：调用第一测试用例对主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

S3：若第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；

S4：缺陷修复完成后，再次调用第一测试用例对主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

S5：若第二电压测试结果正常，则调用与第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在一个优选的实施方式中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常，具体包括：S51：若第三电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；S53：若第三电压测试结果正常，则缺陷修复后的主板正常。

在一个优选的实施方式中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

在S51之后，还包括：S521：调用第一测试用例、所有第二测试用例，对主板依次进行电压测试；S522：若所有电压测试结果正常，则缺陷修复后的主板正常；S523：当出现一个电压测试结果异常时，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复，接着再次调用第一测试用例、所有第二测试用例对主板依次进行电压测试。

在一个优选的实施方式中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

在对主板进行缺陷修复之前，还包括：根据电压测试条件、主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案，并调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案。

在一个优选的实施方式中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

在调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案之后，还包括：将当前电压测试缺陷、相对应的最佳解决方案保存至线上数据库。

在一个优选的实施方式中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

在S5之前，还包括：基于预设关联关系，判断第一测试用例是否存在相关联的第二测试用例；若存在，则显示第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；若不存在，则根据第二电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在一个优选的实施方式中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

在根据主板电压测试任务创建测试线程之前，还包括：通过线上操作界面输入待测电压参数、电压测试条件，并发布主板电压测试任务。

实施例四：

本发明再提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

S1：根据主板电压测试任务创建测试线程；

S2：调用第一测试用例对主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

S3：若第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；

S4：缺陷修复完成后，再次调用第一测试用例对主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

S5：若第二电压测试结果正常，则调用与第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在一个优选的实施方式中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常，具体包括：S51：若第三电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复；S53：若第三电压测试结果正常，则缺陷修复后的主板正常。

在一个优选的实施方式中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

在S51之后，还包括：S521：调用第一测试用例、所有第二测试用例，对主板依次进行电压测试；S522：若所有电压测试结果正常，则缺陷修复后的主板正常；S523：当出现一个电压测试结果异常时，则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复，接着再次调用第一测试用例、所有第二测试用例对主板依次进行电压测试。

在一个优选的实施方式中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

在对主板进行缺陷修复之前，还包括：根据电压测试条件、主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案，并调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案。

在一个优选的实施方式中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

在调用修复步骤最少的缺陷解决方案、作为最佳解决方案之后，还包括：将当前电压测试缺陷、相对应的最佳解决方案保存至线上数据库。

在一个优选的实施方式中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

在S5之前，还包括：基于预设关联关系，判断第一测试用例是否存在相关联的第二测试用例；若存在，则显示第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；若不存在，则根据第二电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。

在一个优选的实施方式中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

在根据主板电压测试任务创建测试线程之前，还包括：通过线上操作界面输入待测电压参数、电压测试条件，并发布主板电压测试任务。

可以理解的是，上述实施例方法中的全部或部分流程的实现，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。

其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

需要注意的是，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其它等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (6)

1.一种主板测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤：

根据主板电压测试任务创建测试线程；

调用第一测试用例对所述主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

若所述第一电压测试结果异常，则根据电压测试条件、主板信息对所述主板进行缺陷修复；缺陷修复完成后，再次调用所述第一测试用例对所述主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；

若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常，具体包括：

若所述第三电压测试结果异常，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复；

若所述第三电压测试结果正常，则缺陷修复后的所述主板正常；

在若所述第三电压测试结果异常，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复之后，所述方法还包括：

调用所述第一测试用例、所有第二测试用例，对所述主板依次进行电压测试；

若所有电压测试结果正常，则缺陷修复后的所述主板正常；

当出现一个电压测试结果异常时，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复，接着再次调用所述第一测试用例、所有第二测试用例对所述主板依次进行电压测试；

在对所述主板进行缺陷修复之前，所述方法还包括：

根据所述电压测试条件、所述主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案，并调用修复步骤最少的所述缺陷解决方案、作为最佳解决方案；

在若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；

根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常之前，所述方法还包括：基于预设关联关系，判断所述第一测试用例是否存在相关联的所述第二测试用例；

若存在，则显示所述第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；

若不存在，则根据所述第二电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

2.根据权利要求1所述的主板测试方法，其特征在于，在根据主板电压测试任务创建测试线程之前，所述方法还包括：

通过线上操作界面输入待测电压参数、所述电压测试条件，并发布所述主板电压测试任务。

3.根据权利要求1所述的主板测试方法，其特征在于，在调用修复步骤最少的所述缺陷解决方案、作为最佳解决方案之后，所述方法还包括：

将所述当前电压测试缺陷、相对应的所述最佳解决方案保存至线上数据库。

4.一种主板测试装置，其特征在于，用于实现如权利要求1-3中任一项所述的主板测试方法，所述装置包括：

线程创建模块，用于根据主板电压测试任务创建测试线程；

电压测试模块，用于调用第一测试用例对所述主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果；

缺陷修复模块，用于在所述第一电压测试结果异常时根据电压测试条件、主板信息对所述主板进行缺陷修复；

所述电压测试模块还用于在缺陷修复完成后再次调用所述第一测试用例对所述主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果；以及用于在所述第二电压测试结果正常时调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；

主板判断模块，用于根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常，具体包括：

若所述第三电压测试结果异常，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复；

若所述第三电压测试结果正常，则缺陷修复后的所述主板正常；

在若所述第三电压测试结果异常，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复之后，所述方法还包括：

调用所述第一测试用例、所有第二测试用例，对所述主板依次进行电压测试；

若所有电压测试结果正常，则缺陷修复后的所述主板正常；

当出现一个电压测试结果异常时，则根据所述电压测试条件、所述主板信息对所述主板进行缺陷修复，接着再次调用所述第一测试用例、所有第二测试用例对所述主板依次进行电压测试；

在对所述主板进行缺陷修复之前，所述方法还包括：

根据所述电压测试条件、所述主板信息，查询与当前电压测试缺陷相关联的至少一个缺陷解决方案，并调用修复步骤最少的所述缺陷解决方案、作为最佳解决方案；

在若所述第二电压测试结果正常，则调用与所述第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对所述主板进行三次电压测试，生成第三电压测试结果；根据所述第三电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常之前，所述方法还包括：

基于预设关联关系，判断所述第一测试用例是否存在相关联的所述第二测试用例；

若存在，则显示所述第二测试用例、并将所有第二测试用例组成测试用例集；

若不存在，则根据所述第二电压测试结果判断缺陷修复后的所述主板是否正常。

5.一种计算机设备，包括存储器、处理器及计算机程序，所述计算机程序存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-3中任一项所述的主板测试方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的主板测试方法的步骤。