CN116359716B - 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质 - Google Patents

一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质 Download PDF

Info

Publication number
CN116359716B
CN116359716B CN202310633675.9A CN202310633675A CN116359716B CN 116359716 B CN116359716 B CN 116359716B CN 202310633675 A CN202310633675 A CN 202310633675A CN 116359716 B CN116359716 B CN 116359716B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
resource
description table
resources
method library
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310633675.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116359716A (zh
Inventor
陶伟素
陶伟兰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Huace Semiconductor Equipment Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Huace Semiconductor Equipment Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Huace Semiconductor Equipment Co ltd filed Critical Shenzhen Huace Semiconductor Equipment Co ltd
Priority to CN202310633675.9A priority Critical patent/CN116359716B/zh
Publication of CN116359716A publication Critical patent/CN116359716A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116359716B publication Critical patent/CN116359716B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2896Testing of IC packages; Test features related to IC packages

Abstract

本发明公开了一种IC测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质,包括:通过加载测试工程配置,获取N个工位的测试资源需求描述表;启动N个工位的测试线程,调用测试方法库中资源映射加载API接口,传递测试资源映射描述表到测试方法库;将测试资源映射到测试线程上下文中,调用测试程序中的测试过程;测试程序调用测试方法库中的API接口,测试方法库通过查询测试线程上下文中的测试资源映射描述表获取资源的实际物理标识。通过动态配置工位数量及测试资源,提高了测试程序的环境适应性;测试程序只操作逻辑资源,降低了测试程序的复杂度;测试程序逻辑与具体工位不相关,每个工位一个独立线程运行测试程序,提高了测试速度和效率。

Description

一种IC测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质
技术领域
本发明涉及数控加工状态监测技术领域,更具体的,涉及一种IC测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质。
背景技术
随着集成电路的复杂度的提高,其测试的复杂度也随之水涨船高,一些器件的测试成本甚至占到了芯片成本的大部分。大规模集成电路会要求几百次的电压、电流和时序测试,以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确。要实现如此复杂的测试,靠手工是无法完成的,因此要用到自动测试设备(ATE)。
ATE一般由机架、机框(Frame)、测试资源板(Board)、 测试通道(Channel)以及电源模块和测试头组成。实际测试时,一台测试机可以同时测试几颗芯片,每颗芯片所对应的物理资源以及软件逻辑称之为工位(Site),工位被分配了几组不同物理资源(Channel),以便各个工位(Site)可以互不干扰的同时测试的多颗芯片。目前对于测试资源的分配大多是由测试平台固定分配或者由测试程序分配,测试平台固定分配由于分配方法写死在测试方法库中,接口和线路的链接也是固定的,不能根据测试产品和环境灵活调整;测试程序分配由于工位数量和测试资源将不可改变,降低了测试程序的环境适应性;测试程序负责所有工位的测试资源定义和调度,所有工位的测试过程只能在单线程下运行,降低了测试速度和效率。因此如何动态高效的将测试资源分配到工位(Site)是当前亟需解决的问题。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提出了一种IC测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质。
本发明第一方面提供了一种IC测试机动态分配测试资源的方法,包括:
获取测试任务,加载测试工程配置,获取N个工位的测试资源需求描述表;
启动N个工位的测试线程,调用测试方法库中资源映射加载API接口,传递测试资源映射描述表到测试方法库;
所述测试方法库保存测试资源映射描述表到测试线程上下文中,调用测试程序中的测试过程;
所述测试程序调用测试方法库中的API接口,测试方法库通过查询测试线程上下文中的测试资源映射描述表获取资源的实际物理标识;
测试方法库操作实际物理资源完成所述测试任务。
本方案中,获取N个工位的测试资源需求描述表,具体为:
根据测试任务获取测试初始化信号,根据所述测试初始化信号加载测试工程配置,并基于测试任务确定工位数量N,获取N个工位所需的测试资源的资源名、资源类型、逻辑标识,并判断资源是否可以共享;
根据资源名、资源类型、逻辑标识及是否可共享构建测试资源需求描述表,所述测试资源需求描述表描述工位对测试资源的全部需求。
本方案中,所述测试资源映射描述表,具体为:
根据每个工位的对应测试资源的资源类型、逻辑标识及物理标识构建测试资源映射表;
所述测试资源映射描述表为三维表,描述每个工位独立的资源映射关系。
本方案中,所述测试方法库保存测试资源映射描述表到测试线程上下文中,具体为:
启动测试线程,每个工位一个线程,调用测试方法库中的资源映射加载API接口,通过API参数传递工位的测试资源映射描述表到测试方法库;
测试方法库将所述测试资源映射描述表作为一个Thread Local对象,保存在线程上下文中。
本方案中,运行测试时,调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API接口传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库,所述API接口携带有测试资源类型和逻辑标识信息。
本发明第二方面提供了一种IC测试机动态分配测试资源的系统,包括管理单元、驱动单元、测试方法库及测试程序,所述管理单元包括资源需求描述表管理模块、资源映射描述表管理模块、资源映射描述表加载运行模块及配置管理模块;
所述资源需求描述表管理模块用于生成和持久化测试资源需求描述表,测试资源需求描述表用于描述一个工位对测试资源的全部需求;
所述资源映射描述表管理模块用于生成和持久化测试资源映射描述表,测试资源映射描述表用于描述某一工位所需要的逻辑测试资源到物理资源的映射关系;
所述资源映射描述表加载运行模块,用于启动测试线程,调用测试方法库中的资源映射加载API接口,通过API接口参数传递该工位的测试资源映射描述表到测试方法库,运行测试时,调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API接口传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库;
所述配置管理模块用于加载测试工程配置,初始化配置参数;
所述驱动单元利用控制接口连接自动测试设备进行测试资源的动态分配。
本方案中,测试方法库将所述资源映射描述表作为一个Thread Local对象进行线程上下文的实现,实现将资源映射描述表存储在线程上下文中。
本方案中,测试方法库查询线程上下文中的资源映射描述表,根据逻辑测试资源及物理资源的映射关系找到实际的物理资源标识,并操作实际的物理资源完成测试。
本发明第三方面还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中包括IC测试机动态分配测试资源的方法程序,所述IC测试机动态分配测试资源的方法程序被处理器执行时,实现如上述任一项所述的IC测试机动态分配测试资源的方法的步骤。
本发明公开了一种IC测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质,包括:通过加载测试工程配置,获取N个工位的测试资源需求描述表;启动N个工位的测试线程,调用测试方法库中资源映射加载API接口,传递测试资源映射描述表到测试方法库;将测试资源映射到测试线程上下文中,调用测试程序中的测试过程;测试程序调用测试方法库中的API接口,测试方法库通过查询测试线程上下文中的测试资源映射描述表获取资源的实际物理标识。通过动态配置工位数量及测试资源,提高了测试程序的环境适应性和灵活性;测试程序只操作逻辑资源,降低了测试程序的复杂度;测试程序逻辑与具体工位不相关,因此可以每个工位一个独立线程运行测试程序,提高了测试速度和效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或示例性中的技术方案,下面将对实施例或示例性描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以按照这些附图示出的获得其他的附图。
图1示出了本发明一种IC测试机动态分配测试资源的方法的流程图;
图2示出了本发明一种IC测试机动态分配测试资源的系统的框图;
图3示出了本发明中管理单元的框图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是,本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
图1示出了本发明一种IC测试机动态分配测试资源的方法的流程图。
如图1所示,本发明第一方面提供了一种IC测试机动态分配测试资源的方法,包括:
S102,获取测试任务,加载测试工程配置,获取N个工位的测试资源需求描述表;
S104,启动N个工位的测试线程,调用测试方法库中资源映射加载API接口,传递测试资源映射描述表到测试方法库;
S106,所述测试方法库保存测试资源映射描述表到测试线程上下文中,调用测试程序中的测试过程;
S108,所述测试程序调用测试方法库中的API接口,测试方法库通过查询测试线程上下文中的测试资源映射描述表获取资源的实际物理标识;
S110,测试方法库操作实际物理资源完成所述测试任务。
需要说明的是,根据测试任务获取测试初始化信号,根据所述测试初始化信号加载测试工程配置,并基于测试任务确定工位数量N,获取N个工位所需的测试资源的资源名、资源类型、逻辑标识,并判断资源是否可以共享;所述资源名用来测试资源的功用,如测试某一项物理指标;所述资源类型用来描述测试资源的类型,如电压电流板,高压板,时间测量单元,继电器控制板等;所述逻辑标识为资源的逻辑标识符,测试程序调用测试方法库所提供的API接口时,通过API接口的参数传递逻辑标识给测试方法库;是否可共享用来描述该资源是否可以多工位共享,即多个工位可以使用同一个测试资源。根据资源名、资源类型、逻辑标识及是否可共享构建测试资源需求描述表,所述测试资源需求描述表描述工位对测试资源的全部需求。
需要说明的是,根据每个工位的对应测试资源的资源类型、逻辑标识及物理标识构建测试资源映射描述表;所述资源类型用来描述该测试资源的类型,如电压电流板,高压板,时间测量单元,继电器控制板等;所述逻辑标识为资源的逻辑标识符,测试程序调用测试方法库所提供的API接口时,通过API接口的参数传递逻辑标识给测试方法库。所述物理标识用来表示一路可独立操作的物理资源,如一路电压电流源,一路时间测量单元等。所述测试资源映射描述表为三维表,描述每个工位独立的资源映射关系。
需要说明的是,启动测试线程,每个工位一个线程,调用测试方法库中的资源映射加载API接口,通过API参数传递工位的测试资源映射描述表到测试方法库;测试方法库将所述测试资源映射描述表作为一个Thread Local对象,保存在线程上下文中。运行测试时,调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API接口传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库,所述API接口携带有测试资源类型和逻辑标识信息。
Thread Loca可以添加和获取变量,不同的线程中通过Thread Loca添加和获取的变量互不影响。在一个线程中添加多个值,需要创建多个Thread Loca实例,在ThreadLoca-1在Thread-1线程中添加的数据与Thread Loca-1在Thread-2线程中添加的数据互不影响;同一个线程中Thread Loca的三个实例Thread Loca-1、Thread Loca-2、ThreadLoca-3通过各自set方法添加的变量之间也互不影响,将测试资源映射描述表作为ThreadLoca实例,能够很好的提升查询的效率,通过Thread Loca获取测试资源映射在获取映射信息频繁的场景中表现较好。
根据本发明实施例,基于当前测试任务每个工位的测试资源分配进行下一测试任务的测试资源,具体为:
构建测试资源分配数据库,将测试任务匹配测试资源的分配结果构建测试任务的测试资源分配序列,将所述测试资源分配序列存入所述测试资源分配数据库;
获取当前测试任务的任务特征,基于所述任务特征在所述测试资源分配数据库中进行相似度计算,提取相似度符合预设要求的测试资源分配序列,根据提取的的是资源分配序列作为基准进行当前任务的测试资源的初始化分配;
获取当前测试任务对应测试资源的初始化分配结果,结合时间戳构建测试资源分配时序序列,获取时间戳T的测试任务对应的工位数量及工位对应线程中的测试资源映射描述表,作为时间戳T的任务资源分配特征;
通过时间戳T+1的初始化分配结果按照预设标签进行特征提取,与时间戳T的任务资源分配特征进行取交集操作,获取测试资源的特征重复项,基于所述特征重复项利用线程上下文进行共享,实现时间戳T+1对应测试资源的部分配置;
对于时间戳T+1的初始化分配结果的剩余测试资源,则基于需求描述与任务资源分配特征中的剩余特征进行相似度计算;
当某一测试资源的相似度大于或等于预设相似度阈值时,则在时间戳T的测试资源映射描述表中进行参数修改并共享至时间戳T+1的测试资源配置,否则,根据动态分配测试资源的方法进行测试资源分配。
根据本发明实施例,通过各工位对应不同线程的时间槽进行测试资源的调度,具体为:
获取各工位测试资源需求描述表中的测试资源信息,通过所述测试资源信息在历史测试任务中读取不同测试资源信息的测试时长,将所述测试时长进行均值处理规定测试时间槽;
根据所述测试时间槽获取不同测试资源对应的平均测试时长进行表示,获取不同测试资源对应的时间戳,通过测试开始时间戳结合测试资源对应的时间槽获取工位线程对应当前测试资源的结束时间戳;
根据工位线程的测试资源需求描述表判断剩余测试资源是否被其他工位线程占用,若未占用,则根据测试资源映射描述表进行测试任务,若被占用,则根据其他工位线程中测试资源的结束时间戳与当前工位线程的结束时间戳进行匹配获取等待时间;
将等待时间最小作为优化原则,通过遗传算法对当前工位线程中的测试资源进行调度优化,初始化需要优化的测试资源顺序,确定染色体初始种群及优化区间,根据测试资源的等待时间进行累加获取目标函数,将目标函数的倒数作为适应度函数;
通过遗传算法中的选择、交叉及变异进行迭代训练,根据遗传算法的输出结果获取当前工位的测试资源的调度结果,对当前工位线程中的测试资源映射描述表进行优化。
图2示出了本发明一种IC测试机动态分配测试资源的系统的框图,本发明所述动态分配测试资源的方法由如图2所示系统中管理单元配合测试方法库完成,管理单元主要包括如图3所示模块组成。
本发明第二方面提供了一种IC测试机动态分配测试资源的系统,包括管理单元、驱动单元、测试方法库及测试程序,所述管理单元包括资源需求描述表管理模块、资源映射描述表管理模块、资源映射描述表加载运行模块及配置管理模块;
所述资源需求描述表管理模块用于生成和持久化测试资源需求描述表,测试资源需求描述表用于描述一个工位对测试资源的全部需求;
所述资源映射描述表管理模块用于生成和持久化测试资源映射描述表,测试资源映射描述表用于描述某一工位所需要的逻辑测试资源到物理资源的映射关系;
所述资源映射描述表加载运行模块,用于启动测试线程,调用测试方法库中的资源映射加载API接口,通过API接口参数传递该工位的测试资源映射描述表到测试方法库,运行测试时,调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API接口传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库;
所述配置管理模块用于加载测试工程配置,初始化配置参数;
所述驱动单元利用控制接口连接自动测试设备进行测试资源的动态分配。
需要说明的是,资源需求描述表管理模块用于生成和持久化测试资源需求描述表,测试资源需求描述表用于描述一个工位对测试资源的全部需求,其中:
资源名(Resource Name):用来描述该测试资源的功用,如测试某一项物理指标;
资源类型(Resource Type):用来描述该测试资源的类型,如电压电流板,高压板,时间测量单元,继电器控制板等;
逻辑标识(Logic Symbol):资源的逻辑标识符,测试程序调用测试方法库所提供的API时,通过API的参数传递逻辑标识给测试方法库;
是否可共享(Is Sharable):用来描述该资源是否可以多工位共享,即多个工位可以使用同一个测试资源。
需要说明的是,所述资源映射描述表管理模块用于生成和持久化测试资源映射描述表,测试资源映射描述表用于描述某一工位所需要的逻辑测试资源到物理资源的映射关系,其中:
资源类型(Resource Type):用来描述该测试资源的类型,如电压电流板,高压板,时间测量单元,继电器控制板等;
逻辑标识(Logic Symbol):资源的逻辑标识符,测试程序调用测试方法库所提供的API时,通过API的参数传递逻辑标识给测试方法库;
物理标识(Physical Symbol):用来表示一路可独立操作的物理资源,如一路电压电流源,一路时间测量单元等。
需要说明的是,资源映射表加载运行模块,用来启动测试线程,每个工位一个线程,调用测试方法库中的资源映射加载API,通过API参数传递该工位的测试资源映射表到测试方法库,测试方法库保存该表在线程上下文中,实际上为一个Thread Local对象。运行测试时,该模块会调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库,测试方法库通过查询线程上下文中的资源映射表找到实际的物理资源标识,操作实际的物理资源。
本发明第三方面还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中包括IC测试机动态分配测试资源的方法程序,所述IC测试机动态分配测试资源的方法程序被处理器执行时,实现如上述任一项所述的IC测试机动态分配测试资源的方法的步骤。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,如:多个单元或组件可以结合,或可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另外,所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口,设备或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性的、机械的或其它形式的。
上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元;既可以位于一个地方,也可以分布到多个网络单元上;可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中,也可以是各单元分别单独作为一个单元,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中;上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:移动存储设备、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
或者,本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括:移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种IC测试机动态分配测试资源的方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取测试任务,加载测试工程配置,获取N个工位的测试资源需求描述表;
启动N个工位的测试线程,调用测试方法库中资源映射加载API接口,传递测试资源映射描述表到测试方法库;
所述测试方法库保存测试资源映射描述表到测试线程上下文中,调用测试程序中的测试过程;
所述测试程序调用测试方法库中的API接口,测试方法库通过查询测试线程上下文中的测试资源映射描述表获取资源的实际物理标识;
测试方法库操作实际物理资源完成所述测试任务;
获取N个工位的测试资源需求描述表,具体为:
根据测试任务获取测试初始化信号,根据所述测试初始化信号加载测试工程配置,并基于测试任务确定工位数量N,获取N个工位所需的测试资源的资源名、资源类型、逻辑标识,并判断资源是否可以共享;
根据资源名、资源类型、逻辑标识及是否可共享构建测试资源需求描述表,所述测试资源需求描述表描述工位对测试资源的全部需求;
运行测试时,调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API接口传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库,所述API接口携带有测试资源类型和逻辑标识信息。
2.根据权利要求1所述的一种IC测试机动态分配测试资源的方法,其特征在于,所述测试资源映射描述表,具体为:
根据每个工位的对应测试资源的资源类型、逻辑标识及物理标识构建测试资源映射描述表;
所述测试资源映射描述表为三维表,描述每个工位独立的资源映射关系。
3.根据权利要求1所述的一种IC测试机动态分配测试资源的方法,其特征在于,所述测试方法库保存测试资源映射描述表到测试线程上下文中,具体为:
启动测试线程,每个工位一个线程,调用测试方法库中的资源映射加载API接口,通过API接口的参数将工位的测试资源映射描述表传递到测试方法库;
测试方法库将所述测试资源映射描述表作为一个Thread Local对象,保存在线程上下文中。
4.一种IC测试机动态分配测试资源的系统,其特征在于,包括管理单元、驱动单元、测试方法库及测试程序,所述管理单元包括资源需求描述表管理模块、资源映射描述表管理模块、资源映射描述表加载运行模块及配置管理模块;
所述资源需求描述表管理模块用于生成和持久化测试资源需求描述表,测试资源需求描述表用于描述一个工位对测试资源的全部需求;根据资源名、资源类型、逻辑标识及是否可共享构建测试资源需求描述表,所述测试资源需求描述表描述工位对测试资源的全部需求;
所述资源映射描述表管理模块用于生成和持久化测试资源映射描述表,测试资源映射描述表用于描述某一工位所需要的逻辑测试资源到物理资源的映射关系;
所述资源映射描述表加载运行模块,用于启动测试线程,调用测试方法库中的资源映射加载API接口,通过API接口参数传递该工位的测试资源映射描述表到测试方法库,运行测试时,调用测试程序中的测试过程,测试过程通过测试方法库的API接口传递测试资源的逻辑标识符以及资源类型到测试方法库;
所述配置管理模块用于加载测试工程配置,初始化配置参数;
所述驱动单元利用控制接口连接自动测试设备进行测试资源的动态分配。
5.根据权利要求4所述的一种IC测试机动态分配测试资源的系统,其特征在于,测试方法库将所述资源映射描述表作为一个Thread Local对象进行线程上下文的实现,实现将资源映射描述表存储在线程上下文中。
6.根据权利要求4所述的一种IC测试机动态分配测试资源的系统,其特征在于,测试方法库查询线程上下文中的资源映射描述表,根据逻辑测试资源及物理资源的映射关系找到实际的物理资源标识,并操作实际的物理资源完成测试。
7.一种计算机可读存储介质,其特征在于:所述计算机可读存储介质中包括IC测试机动态分配测试资源的方法程序,所述IC测试机动态分配测试资源的方法程序被处理器执行时,实现如权利要求1至3中任一项所述的IC测试机动态分配测试资源的方法步骤。
CN202310633675.9A 2023-05-31 2023-05-31 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质 Active CN116359716B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310633675.9A CN116359716B (zh) 2023-05-31 2023-05-31 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310633675.9A CN116359716B (zh) 2023-05-31 2023-05-31 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116359716A CN116359716A (zh) 2023-06-30
CN116359716B true CN116359716B (zh) 2023-08-04

Family

ID=86905265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310633675.9A Active CN116359716B (zh) 2023-05-31 2023-05-31 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116359716B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010014423A (ja) * 2008-07-01 2010-01-21 Yokogawa Electric Corp 半導体試験装置
KR20110019508A (ko) * 2009-08-20 2011-02-28 대진대학교 산학협력단 모바일기기를 위한 검증이력관리 시스템 및 그 방법
CN102012845A (zh) * 2010-12-16 2011-04-13 迈普通信技术股份有限公司 一种提高自动化测试资源利用率的方法
WO2014124691A1 (en) * 2013-02-15 2014-08-21 Sabanci Üniversitesi Interleaving coverage criteria oriented testing of multi-threaded applications
CN113068452B (zh) * 2012-12-05 2015-12-23 中国人民解放军第五七二0工厂 一种自动测试系统软件开发平台的构建方法
CN106933712A (zh) * 2017-03-31 2017-07-07 中国电子科技集团公司第二十九研究所 基于b/s架构的网络化远程测试系统及方法
CN107239331A (zh) * 2017-05-23 2017-10-10 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种并行测试任务的同步触发执行方法
CN110286897A (zh) * 2019-05-22 2019-09-27 深圳壹账通智能科技有限公司 Api可视化动态配置方法、装置、设备以及存储介质
CN111782539A (zh) * 2020-07-09 2020-10-16 中国人民解放军32181部队 一种基于国产操作系统的测试诊断一体化开发平台
CN114578210A (zh) * 2022-02-25 2022-06-03 苏州浪潮智能科技有限公司 一种主板测试方法、装置、设备及存储介质

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7210087B2 (en) * 2004-05-22 2007-04-24 Advantest America R&D Center, Inc. Method and system for simulating a modular test system
JP5841458B2 (ja) * 2012-03-01 2016-01-13 株式会社アドバンテスト 試験装置および試験モジュール
US9400307B2 (en) * 2013-03-13 2016-07-26 Keysight Technologies, Inc. Test system for improving throughout or maintenance properties of semiconductor testing

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010014423A (ja) * 2008-07-01 2010-01-21 Yokogawa Electric Corp 半導体試験装置
KR20110019508A (ko) * 2009-08-20 2011-02-28 대진대학교 산학협력단 모바일기기를 위한 검증이력관리 시스템 및 그 방법
CN102012845A (zh) * 2010-12-16 2011-04-13 迈普通信技术股份有限公司 一种提高自动化测试资源利用率的方法
CN113068452B (zh) * 2012-12-05 2015-12-23 中国人民解放军第五七二0工厂 一种自动测试系统软件开发平台的构建方法
WO2014124691A1 (en) * 2013-02-15 2014-08-21 Sabanci Üniversitesi Interleaving coverage criteria oriented testing of multi-threaded applications
CN106933712A (zh) * 2017-03-31 2017-07-07 中国电子科技集团公司第二十九研究所 基于b/s架构的网络化远程测试系统及方法
CN107239331A (zh) * 2017-05-23 2017-10-10 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种并行测试任务的同步触发执行方法
CN110286897A (zh) * 2019-05-22 2019-09-27 深圳壹账通智能科技有限公司 Api可视化动态配置方法、装置、设备以及存储介质
CN111782539A (zh) * 2020-07-09 2020-10-16 中国人民解放军32181部队 一种基于国产操作系统的测试诊断一体化开发平台
CN114578210A (zh) * 2022-02-25 2022-06-03 苏州浪潮智能科技有限公司 一种主板测试方法、装置、设备及存储介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于GPIB的多通道采集模块通用可配置自动测试系统;唐彬浛 等;《科技风》(第30期);第70-72页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116359716A (zh) 2023-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105338082A (zh) 基于应用代理服务器的负载均衡方法及装置
CN111277958A (zh) 标签位置确定方法及装置
CN110968509B (zh) 一种批量化自定义变量的方法和系统
CN112035344A (zh) 多场景测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质
CN111460635B (zh) 一种仿真测试方法、电子设备及存储介质
CN110083536B (zh) 测试资源分配方法及装置、电子设备及存储介质
CN105630601A (zh) 基于实时计算的资源分配方法及系统
CN116359716B (zh) 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、系统及介质
CN112486833B (zh) 一种面向软件定义卫星的可按需动态重构的软件测试系统和方法
CN113190947A (zh) 一种馈线组的划分方法及装置
RU2532714C2 (ru) Способ получения данных при оценке ресурсов сети и устройство для осуществления способа
CN115794423A (zh) 一种智能机房的管理方法、装置、电子设备及存储介质
US8554198B2 (en) Test apparatus for testing mobile communication terminal and message display method for displaying message associated with the testing
CN111708538B (zh) 事务循环方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质
CN114860536A (zh) 一种gpu卡的监控方法、监控系统及相关装置
CN114124769B (zh) 一种基站测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN112788768A (zh) 一种通信资源分配方法及装置
CN113486222A (zh) 电力数据展示界面的展示方法、用户终端、服务器及系统
CN113535570B (zh) 一种测试用例的处理方法、装置及电子设备
CN113691972B (zh) 安卓系统的业务配置方法和装置
CN112737872B (zh) 一种arinc664p7端系统跨网测试系统和方法
CN114201400A (zh) 代码调试方法、装置、计算机可读存储介质及服务器
CN114297077A (zh) 测试设备的获取方法、装置、电子设备及存储介质
CN116361526A (zh) 设备资源的处理方法、装置、设备及存储介质
CN115145818A (zh) Sdk接口测试方法、装置、设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant