CN112903794A - 一种重金属分析仪及其镀膜管理方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种重金属分析仪及其镀膜管理方法、装置、设备及介质，该方法包括获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定第一伏安溶出曲线的第一峰值；获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定第二伏安溶出曲线的第二峰值；混合液为电解液和金属离子校正液的混合液体，且金属离子校正液的溶度大于电解液中金属离子的浓度；判断第二峰值与第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；若比值不大于预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；若比值大于预设比值阈值，则确定工作电极不需镀膜。本申请镀膜管理方法可以实现工作电极汞膜状态的自动检测，无需维护人员进行定期维护检测，降低人力成本。

Description

一种重金属分析仪及其镀膜管理方法、装置、设备及介质

技术领域

本申请涉及水质检测技术领域，特别是涉及一种重金属分析仪及其镀膜管理方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着经济的快速发展，环境污染也越来越严重。各种重金属，例如镉、铅、铜、锌等，进入水体，通过富集作用进入人体，危害人体健康。

在对水体中的重金属进行检测时，可以利用在线重金属分析仪利用阳极溶出伏安法对重金属进行定性定量分析。在具体测试过程中，需要将工作电极手动抛光打磨，超声清洗后，预先镀汞膜，然后施加负电位使待测的金属阳离子电解沉积在电极上，形成汞齐，最后将电位由负到正的方向扫描，得到伏安溶出曲线，进而得到重金属的浓度。在测试过程中，汞膜的状态可以分为初始阶段、稳定阶段和衰减阶段，在衰减阶段中，汞膜已经变得非常稀薄且缺损，无法进行重金属的测试。目前，判断工作电极的汞膜是否需要进行镀膜时，需要维护人员定期进行检测维护，以及当技术人员发现测试结果离散严重时，通知维护人员进行维护，工作电极的汞膜维护不及时，并且人力成本高。

因此，如何解决上述技术问题应是本领域技术人员重点关注的。

发明内容

本申请的目的是提供一种重金属分析仪及其镀膜管理方法、装置、设备及计算机可读存储介质，以实现自动检测是否需要镀膜，降低人力维护成本。

为解决上述技术问题，本申请提供一种重金属分析仪镀膜管理方法，包括：

获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值；

获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度；

判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；

若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；

若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

可选的，在所述确定重金属分析的工作电极需要镀膜之后，还包括：

发送清洗指令至电位控制器和超声波换能器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生清洗电位，所述超声波换能器产生超声波，使所述工作电极表面残留的汞膜和氧化还原产物在所述清洗电位和所述超声波作用下去除；

发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和所述参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜。

可选的，在所述发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜之后，还包括：

获取所述金属离子校正液的第三伏安溶出曲线，并确定所述第三伏安溶出曲线的第三峰值；

判断所述第三峰值是否超过预设峰值阈值；

若所述第三峰值超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜成功；

若所述第三峰值不超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜失败。

可选的，在所述确定镀膜失败之后，还包括：

发送报警指令至管理平台，以便所述维护人员进行现场维护。

本申请还提供一种重金属分析仪镀膜管理装置，包括：

第一获取与确定模块，用于获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值；

第二获取与确定模块，用于获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度；

第一判断模块，用于判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；

第一确定模块，用于若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；

第二确定模块，用于若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

可选的，还包括：

第三获取与确定模块，用于获取所述金属离子校正液的第三伏安溶出曲线，并确定所述第三伏安溶出曲线的第三峰值；

第二判断模块，用于判断所述第三峰值是否超过预设峰值阈值；

第三确定模块，用于若所述第三峰值超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜成功；

第四确定模块，用于若所述第三峰值不超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜失败。

本申请还提供一种重金属分析仪镀膜管理设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述任一种所述重金属分析仪镀膜管理方法的步骤。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种所述重金属分析仪镀膜管理方法的步骤。

本申请还提供一种重金属分析仪，包括上述所述的重金属分析仪镀膜管理设备、电解池、工作电极、参比电极和辅助电极。

可选的，还包括：超声波换能器和电位控制器；

所述超声波换能器用于产生超声波，所述电位控制器用于控制所述工作电极、所述参比电极之间产生清洗电位、镀膜电位。

本申请所提供的一种重金属分析仪镀膜管理方法，包括：获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值；获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度；判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

可见，本申请中的重金属分析仪镀膜管理方法通过获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线以及混合液的第二伏安溶出曲线，并得到两条伏安溶出曲线的峰值，通过判断第二峰值与第一峰值的比值与预设比值阈值的关系，确定重金属分析仪的工作电极是否需要镀膜，实现工作电极汞膜状态的自动检测，无需维护人员进行定期维护检测，降低人力成本。

此外，本申请还提供一种具有上述优点的重金属分析仪及其镀膜管理装置、设备及计算机可读存储介质。

附图说明

为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例所提供的一种重金属分析仪镀膜管理方法的流程图；

图2为本申请实施例所提供的另一种重金属分析仪镀膜管理方法流程图；

图3为本申请实施例提供的重金属分析仪镀膜管理装置的结构框图；

图4为本申请所提供的一种重金属分析仪镀膜管理设备的结构框图；

图5为本申请所提供的重金属分析仪的电解池的结构图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

正如背景技术部分所述，目前判断工作电极的汞膜是否需要进行镀膜时，需要维护人员定期进行检测维护，以及当技术人员发现测试结果离散严重时，通知维护人员进行维护，工作电极的汞膜维护不及时，并且人力成本高。

有鉴于此，本申请提供一种重金属分析仪镀膜管理方法，请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种重金属分析仪镀膜管理方法的流程图，该方法包括：

步骤S101：获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值。

金属离子为需要重金属分析仪进行检测的重金属离子，例如镉、铅、铜、锌等。金属离子标准溶液为已知浓度的金属离子溶液。伏安溶出曲线是采用溶出伏安法测量溶液中的待测金属离子时，在待测离子极谱分析产生极限电流的电位下电解一定的时间，然后改变电极的电位，使富集在该电极上的物质重新溶出，在溶出过程中所得到的电流-电位曲线。

步骤S102：获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度。

金属离子校正液的浓度是已知的，一般情况下，溶液的浓度越高，伏安溶出曲线的峰值越大。为了提升判断工作电极是否需要镀膜的准确性，金属离子校正液的溶度大于电解液中金属离子的浓度的5倍。

需要说明的是，第二伏安溶出曲线和第一伏安溶出曲线的测试条件相同。

步骤S103：判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值。

由于金属离子校正液的溶度大于电解液中金属离子的浓度，所以第二峰值与第一峰值的比值大于1。本申请中对预设比值阈值不做具体限定，可选的，当金属离子校正液的溶度大于电解液中金属离子的浓度的5倍时，预设比值阈值可以为2.8。

步骤S104：若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜。

步骤S105：若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

本实施例中对步骤S104和S105的顺序不做具体限定，可以相互调换。

进一步的，当工作电极不需要镀膜时，重金属分析仪可以对待测样品中金属离子浓度进行分析检测，排空电解池中的混合液后，再次向电解池中加入含有金属离子标准溶液的电解液，获取再次加入的含有金属离子标准溶液的电解液的第四伏安溶出曲线，并确定第四伏安溶出曲线的第四峰值，向再次加入的含有金属离子标准溶液的电解液中加入已经消解后的待测样品，混合反应后得到含有待测样品的混合液，获取含有待测样品的混合液的第五伏安溶出曲线，并确定第五伏安溶出曲线的第五峰值，根据第一峰值、第二峰值、第四峰值、第五峰值确定待测样品中金属离子浓度，具体的浓度计算方法请参考现有相关技术，此处不再详细赘述。

本申请中的重金属分析仪镀膜管理方法通过获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线以及混合液的第二伏安溶出曲线，并得到两条伏安溶出曲线的峰值，通过判断第二峰值与第一峰值的比值与预设比值阈值的关系，确定重金属分析仪的工作电极是否需要镀膜，实现工作电极汞膜状态的自动检测，无需维护人员进行定期维护检测，降低人力成本。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，在所述确定重金属分析的工作电极需要镀膜之后，还包括：

发送清洗指令至电位控制器和超声波换能器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生清洗电位，所述超声波换能器产生超声波，使所述工作电极表面残留的汞膜和氧化还原产物在清洗电位和超声波作用下去除；

发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜。

工作电极需要镀膜表明工作电极上的汞膜已经处于衰减阶段，汞膜非常稀薄且缺损，本实施例中可以利用超声波换能器产生的超声波以及工作电极和参比电极之间产生清洗电位对工作电极进行清洗，去除工作电极表面残留的汞膜以及之前检测过程中产生的氧化还原产物，以便于后续向空的电解池中加入电解液和电镀液并在工作电极和参比电极之间产生镀膜电位下给工作电极重新镀膜，使得重新镀的汞膜与工作电极接触良好，质地均匀。

请参考图2，图2为本申请实施例所提供的另一种重金属分析仪镀膜管理方法流程图，该方法包括：

步骤S201：获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值。

步骤S202：获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度。

步骤S203：判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值。

步骤S204：若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

步骤S205：若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜。

步骤S206：发送清洗指令至电位控制器和超声波换能器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生清洗电位，所述超声波换能器产生超声波，使所述工作电极表面残留的汞膜和氧化还原产物在清洗电位和超声波作用下去除。

步骤S207：发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜。

步骤S208：获取所述金属离子校正液的第三伏安溶出曲线，并确定所述第三伏安溶出曲线的第三峰值。

第三伏安溶出曲线是在电解池中只有金属离子校正液。

步骤S209：判断所述第三峰值是否超过预设峰值阈值。

需要说明的是，本申请中对预设峰值阈值不做具体限定，视情况而定。

步骤S210：若所述第三峰值超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜成功。

步骤S211：若所述第三峰值不超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜失败。

镀膜成功后可以对待测样品中金属离子浓度进行检测分析，进一步的，在所述确定镀膜失败之后，还包括：

发送报警指令至管理平台，以便所述维护人员进行现场维护。

当发出报警指令后，不会再执行任何操作，直至维护人员到现场维护好工作电极之后恢复正常。

下面对本申请实施例提供的重金属分析仪镀膜管理装置进行介绍，下文描述的重金属分析仪镀膜管理装置与上文描述的重金属分析仪镀膜管理方法可相互对应参照。

图3为本申请实施例提供的重金属分析仪镀膜管理装置的结构框图，参照图3重金属分析仪镀膜管理装置可以包括：

第一获取与确定模块100，用于获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值；

第二获取与确定模块200，用于获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度；

第一判断模块300，用于判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；

第一确定模块400，用于若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；

第二确定模块500，用于若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

本实施例的重金属分析仪镀膜管理装置用于实现前述的重金属分析仪镀膜管理方法，因此重金属分析仪镀膜管理装置中的具体实施方式可见前文中的重金属分析仪镀膜管理方法的实施例部分，例如，第一获取与确定模块100，第二获取与确定模块200，第一判断模块300，第一确定模块400，第二确定模块500，分别用于实现上述重金属分析仪镀膜管理方法中步骤S101，S102，S103，S104和S105，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再赘述。

可选的，重金属分析仪镀膜管理装置还包括：

第一发送模块，用于发送清洗指令至电位控制器和超声波换能器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生清洗电位，所述超声波换能器产生超声波，使所述工作电极表面残留的汞膜和氧化还原产物在清洗电位和超声波作用下去除；

第二发送模块，用于发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜。

可选的，重金属分析仪镀膜管理装置还包括：

第三获取与确定模块，用于获取所述金属离子校正液的第三伏安溶出曲线，并确定所述第三伏安溶出曲线的第三峰值；

第二判断模块，用于判断所述第三峰值是否超过预设峰值阈值；

第三确定模块，用于若所述第三峰值超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜成功；

第四确定模块，用于若所述第三峰值不超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜失败。

可选的，重金属分析仪镀膜管理装置还包括：

发送模块，用于发送报警指令至管理平台，以便所述维护人员进行现场维护。

下面对本申请实施例提供的重金属分析仪镀膜管理设备进行介绍，下文描述的重金属分析仪镀膜管理设备与上文描述的重金属分析仪镀膜管理方法可相互对应参照。

请参见图4，图4为本申请所提供的一种重金属分析仪镀膜管理设备的结构框图，包括：

存储器11，用于存储计算机程序；

处理器12，用于执行所述计算机程序时实现上述任一实施例所述重金属分析仪镀膜管理方法的步骤。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实施例所述重金属分析仪镀膜管理方法的步骤。

本申请还提供一种重金属分析仪，包括上述的重金属分析仪镀膜管理设备、电解池2、工作电极3、参比电极1和辅助电极5。重金属分析仪的电解池的结构图如图5所示。其中，辅助电极通过反馈使工作电极和参比电极之间的电位保持恒定，保证参比电极没有电流流过，使得反应电流全部通过辅助电极输出。

进一步的，重金属分析仪还包括超声波换能器4和电位控制器；

所述超声波换能器用于产生超声波，所述电位控制器用于控制所述工作电极、所述参比电极之间产生清洗电位、镀膜电位。

超声波诱导声波流动空化，产生的微射流对溶液有搅拌作用，从而实现与清洗电位协同清洗作用。

下面以待测样品中金属离子为镉为例，对本申请中的重金属分析仪镀膜管理方法进行进一步阐述。阳极溶出法参数条件设置为：富集电位及时间：-990mv，180s；静息电位及时间：-900mv，20s；溶出范围：-900mv～-300mv；步进电压3mv，扫描速度：600mv/s。

步骤1、重金属分析仪抽取10ml含有镉标准溶液的电解液进入电解池中，在上述参数条件下进行氧化还原反应，得到第一伏安溶出曲线，第一峰值记为A；

步骤2、重金属分析仪抽取5ml校正液进入上述步骤1的电解液中，混合反应后，得到第二伏安溶出曲线，第二峰值记为B；

步骤3、判断B/A是否小于或等于2.8，若否，则进入步骤4和5；若是，则进入步骤6和7；

步骤4、排空电解池，重金属分析仪抽取10ml含有镉标准溶液的电解液进入电解池中，得到第四伏安溶出曲线，第四峰值记为D；

步骤5、抽取5ml已经消解后的待测样品进入步骤4中的电解液中，混合反应后，得到第五伏安溶出曲线，第五峰值记为E；并根据上述的峰值ABDE，计算得出待测样品中镉的浓度；

步骤6、对工作电极施加正电位500mv清洗电位，并伴随超声波换能器产生的超声波进行协同清洗，超声波换能器功率为60w，40KHz，除去工作电极表面残留的汞膜以及氧化还原产物；

步骤7、将电解池中的溶液排空，抽取12ml电解液和3ml电镀液进入电解池内，施加镀膜电位-1300mv，镀膜时间300s，在工作电极的表面呈现一层明显的银灰色汞膜，且质地均匀。成功镀膜后，可以继续执行步骤4和5。

对采用了上述镀膜管理方法的重金属分析仪与现有技术中的未采用本申请镀膜管理方法重金属分析仪对浓度为0.02mg/L的镉标准溶液进行测试，测试结果见表1，测试过程中镉校正液的浓度为0.1mg/L。

表1

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本申请所提供的重金属分析仪及其镀膜管理方法、装置及设备进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种重金属分析仪镀膜管理方法，其特征在于，包括：

获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值；

获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度；

判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；

若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；

若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

2.如权利要求1所述的重金属分析仪镀膜管理方法，其特征在于，在所述确定重金属分析的工作电极需要镀膜之后，还包括：

发送清洗指令至电位控制器和超声波换能器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生清洗电位，所述超声波换能器产生超声波，使所述工作电极表面残留的汞膜和氧化还原产物在所述清洗电位和所述超声波作用下去除；

发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和所述参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜。

3.如权利要求2所述的重金属分析仪镀膜管理方法，其特征在于，在所述发送镀膜指令至所述电位控制器，以便所述电位控制器控制所述工作电极和参比电极之间产生镀膜电位，对所述工作电极镀膜之后，还包括：

获取所述金属离子校正液的第三伏安溶出曲线，并确定所述第三伏安溶出曲线的第三峰值；

判断所述第三峰值是否超过预设峰值阈值；

若所述第三峰值超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜成功；

若所述第三峰值不超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜失败。

4.如权利要求3所述的重金属分析仪镀膜管理方法，其特征在于，在所述确定镀膜失败之后，还包括：

发送报警指令至管理平台，以便所述维护人员进行现场维护。

5.一种重金属分析仪镀膜管理装置，其特征在于，包括：

第一获取与确定模块，用于获取含有金属离子标准溶液的电解液的第一伏安溶出曲线，并确定所述第一伏安溶出曲线的第一峰值；

第二获取与确定模块，用于获取混合液的第二伏安溶出曲线，并确定所述第二伏安溶出曲线的第二峰值；其中，所述混合液为所述电解液和金属离子校正液的混合液体，且所述金属离子校正液的溶度大于所述电解液中金属离子的浓度；

第一判断模块，用于判断所述第二峰值与所述第一峰值的比值是否不大于预设比值阈值；

第一确定模块，用于若所述比值不大于所述预设比值阈值，则确定重金属分析的工作电极需要镀膜；

第二确定模块，用于若所述比值大于所述预设比值阈值，则确定所述工作电极不需镀膜。

6.如权利要求5所述的重金属分析仪镀膜管理装置，其特征在于，还包括：

第三获取与确定模块，用于获取所述金属离子校正液的第三伏安溶出曲线，并确定所述第三伏安溶出曲线的第三峰值；

第二判断模块，用于判断所述第三峰值是否超过预设峰值阈值；

第三确定模块，用于若所述第三峰值超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜成功；

第四确定模块，用于若所述第三峰值不超过所述预设峰值阈值，则确定镀膜失败。

7.一种重金属分析仪镀膜管理设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述重金属分析仪镀膜管理方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述重金属分析仪镀膜管理方法的步骤。

9.一种重金属分析仪，其特征在于，包括如权利要求7所述的重金属分析仪镀膜管理设备、电解池、工作电极、参比电极和辅助电极。

10.如权利要求9所述的重金属分析仪，其特征在于，还包括：超声波换能器和电位控制器；

所述超声波换能器用于产生超声波，所述电位控制器用于控制所述工作电极、所述参比电极之间产生清洗电位、镀膜电位。

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