CN112890840A - 一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法 - Google Patents

一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112890840A
CN112890840A CN202110060766.9A CN202110060766A CN112890840A CN 112890840 A CN112890840 A CN 112890840A CN 202110060766 A CN202110060766 A CN 202110060766A CN 112890840 A CN112890840 A CN 112890840A
Authority
CN
China
Prior art keywords
threshold
sum
flat panel
panel detector
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110060766.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112890840B (zh
Inventor
王同乐
刘传德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Derunte Medical Technology Wuhan Co ltd
Original Assignee
Derunte Medical Technology Wuhan Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Derunte Medical Technology Wuhan Co ltd filed Critical Derunte Medical Technology Wuhan Co ltd
Priority to CN202110060766.9A priority Critical patent/CN112890840B/zh
Publication of CN112890840A publication Critical patent/CN112890840A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112890840B publication Critical patent/CN112890840B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

本发明公开了一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，平板探测器包括依次电连接的感光层、TFT阵列及控制电路板，TFT阵列为若干像素组成的矩阵，像素包括像素电容、TFT开关、门控线和数据线，门控线和数据线分别与控制电路板电连接。基于该自动曝光控制方法操作的平板探测器，可以通过相关组件实时获取对X射线的接受状态，当达到曝光数据阈值时，由控制电路板反馈曝光中止命令。可以省略传统的真空电离室等AEC部件，解决传统AEC存在的图像干扰、伪影等问题。

Description

一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法
技术领域
本发明涉及X射线成像领域的探测器和成像系统，具体涉及一种使平板探测器实现自动曝光控制功能的方法。
背景技术
自X射线被发现以来，其被广泛应用于各种领域，进行X射线成像。经过百余年的发展，完整的X射线成像系统主要有X射线发生装置、X射线探测装置、受照体和其它辅助装置组成。现在通用的人造X射线发生装置主要由高压发生器和X射线管组成，用于产生X射线。X射线探测装置主要用于接受穿过受照体的X射线用于产生图像，X射线探测装置探测到的X射线信号强度与X射线发生装置产生的X射线有很大关系，如果产生的X射线过多，会造成受照体经受过多的X射线辐照，图像过曝；如果产生的X射线过少，X射线探测装置接收到的信号太少，图像则会模糊不清。尤其在医用X射线成像领域，有效降低人体受到的X射线辐射至关重要。
为了控制适当的X射线量，首选方式是对X射线发生装置进行必要的曝光参数设置，主要包括控制峰值管电压kVp、管电流mA、曝光时间mS。通过曝光参数的设置确定了产生的X射线量，但是当受照体发生改变时，如何确定有效的曝光参数成为难点，只能由操作人员根据以往经验进行设置。当受照体频繁发生变化时，典型的如医用X射线领域中的受照体病人，每人体型都不一样，如何设置适当的曝光参数成为难点。为了解决这个问题，出现了自动曝光控制(AEC，Auto Exposure Control)系统。如图1所示，X射线管组件1产生X射线，透过受照体2后，由X射线探测器3探测并成像，传统的AEC由真空电离室和控制器组成，将真空电离室4放置到受照体2和X射线探测器3之间，真空电离室4电连接有控制器5，控制器5与X射线管组件1的供能组件高压发生器6电连接，X射线探测器3和高压发生器6均外接计算机控制系统7。在X射线产生时，给X射线管组件1预设更长的曝光时间mS，真空电离室3会探测到透过受照体2的辐射剂量，当总的辐射剂量达到系统设定的阈值时，AEC的控制器5就会向X射线发生装置中的高压发生器6发出中断信号，停止曝光。对于具有相同成像需求的，设定好固定的阈值后，曝光终止只与真空电离室探测到的累积剂量有关，而不受受照体的影响。通过AEC，可以针对不同的受照体得到相同效果的X射线影像，确保受照体仅受到必须的辐照，尤其是当受照体是人时，这项工作十分重要。因此，在医用X射线成像领域，AEC成为了X射线摄影系统的标准配置。
传统的医用AEC电离室一般分为3个区域，见图1AEC中标识的左中右三区，对应的是常见的检查区域，在工作时根据实际需要选择合适的检查区域。这种AEC存在三个主要问题：一是电离室放置于受照体和X射线探测装置之间，它仍会吸收部分X射线造成信号损失，同时由于电离室的不均匀性，也会对原始图像造成干扰，甚至形成伪影；二是电离室感兴趣区(ROI，region of interest)固定，难以满足复杂成像时对感兴趣区的设置；三是AEC电离室必须与探测装置一同固定安装才能确保准确，使用时较为不变。
随着技术的发展，X射线探测装置已经全面进入数字化时代，X射线平板探测器因具有轻便、成像速度快、全数字化控制等特点，成为主流的X射线探测装置，在数字化X射线平板探测器上直接实现精确的AEC功能，是目前的研究重点。
发明内容
本发明解决的问题是如何摈弃带真空电离室AEC设计，在平板探测器内部直接实现AEC功能。
为解决上述问题，本发明提供一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，所述平板探测器包括依次电连接的感光层、TFT阵列及控制电路板，所述TFT阵列为若干像素组成的矩阵，所述像素包括像素电容、TFT开关、门控线和数据线，所述门控线和数据线分别与控制电路板电连接；包括以下步骤：
S1：设置AEC阈值P_threshold和ROI区域；
S2：X射线管组件和平板探测器进入准备状态，使门控线驱动TFT开关接通，对TFT阵列中的所有像素电容和数据线复位后，再驱动TFT开关全部断开；
S3：调整门控线电压，以驱使TFT开关打开一定比例，同时打开数据线读取整列数据作为参考值P_ref；
S4：控制X射线管组件发出X射线，当X射线到达感光层时，感光层吸收X射线转换成电荷并存储到像素电容中；
S5：在X射线持续产生的过程中，调整门控线电压使TFT开关打开一定比例，同时打开数据线实时读取整列数据作为数据值P_i；
S6：调整门控线电压以使得TFT开关关闭，同时对数据线进行复位；
S7：重复步骤S5和S6，并计算每次循环中P_i与P_ref的差值P_delta，将若干次P_delta进行累加，根据累加值与设定阈值P_threshold的关系，由控制电路板在达到结束条件时发送曝光中止命令；
S8：控制X射线曝光结束，控制电路板通过门控线逐行接通TFT开关，同时通过数据线逐行读出像素电容内存储的电荷，形成数字图像。
与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点：
通过本申请的一种在平板探测器内部实现AEC功能的方法，基于此方法操作的平板探测器，可以通过相关组件实时获取对X射线的接受状态，当达到曝光数据阈值时，由控制电路板反馈曝光中止命令。可以省略传统的真空电离室等AEC部件，解决传统AEC存在的图像干扰、伪影问题。
作为优选，在步骤S7中，设累加值为P_sum，判断P_sum是否达到设定的阈值P_threshold；如果没有达到阈值，即P_sum<P_threshold则继续循环；如果P_sum达到设定的阈值则判定达到结束条件，即P_sum≥P_threshold则由控制电路板发送曝光中止命令。
作为优选，在步骤S7中，
先假设每个S5～S7的循环中采集一次P_delta的时间为t；
设定采集前m次循环得到累加值P_sum_m，消耗时间为m*t；
再继续进行n次循环采集，得到累加的P_sum_m+n，消耗时间为n*t；
计算剩余应该持续的曝光时间T：
T＝(P_threshold-P_sum_m+n)/(P_sum_m+n-P_sum_m)*n*t；
在T时间后控制曝光结束。
作为优选，在步骤S3中，多次重复步骤S3的数据采集流程，取多次采集到的数据的平均值作为参考值。
作为优选，在步骤S3和S5中，TFT开关的打开比例范围为0～50％。
作为优选，在步骤S3和S5中，打开的TFT开关为选定的ROI区域对应的行，打开的数据线为选定的ROI区域对应的列。
作为优选，在步骤S3和S5中，控制TFT开关的打开比例相同。
作为优选，所述感光层为闪烁荧光体，至少包括碘化铯、硫氧化钆中的一种；或者，所述感光层为光电半导体，至少包括非晶硒、碘化铅、钙钛矿类材料中一种。
作为优选，当所述感光层为闪烁荧光体时，所述像素电容为光电二极管的结电容。
作为优选，当所述感光层为光电半导体时，所述像素电容为单独的存储电容，所述存储电容的电容上级为像素电极。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是现有的带AEC功能的X射线摄像系统的结构图；
图2是本发明实施例平板探测器内部主要结构的结构图；
图3是本发明实施例TFT阵列的结构图；
图4是本发明实施例1实现自动曝光控制方法的流程图；
图5是本发明实施例2实现自动曝光控制方法的流程图。
其中，附图标记为：
1、X射线管组件，2、受照体，3、X射线探测器，4、真空电离室，5、控制器，6、高压发生器，7、计算机控制系统，8、感光层，9、TFT阵列，91、像素电容，92、TFT开关，93、门控线，94、数据线，10、控制电路板。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。
如图2和图3所示，本申请一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，实施载体为数字化X射线平板探测器，实施场景也包括图1涉及的，该平板探测器包括依次电连接的感光层8、TFT阵列9及控制电路板10，TFT阵列9为若干像素组成的矩阵，像素包括像素电容91、TFT开关92、门控线93和数据线94，门控线93和数据线94分别与控制电路板10电连接；控制电路板10可以与外部上位机通讯连接。容易知道，平板探测器还应包含外壳、外接电缆和电源等附件，此为本领域技术人员熟知，在此不再赘述。
实际选择时，感光层8可以是闪烁荧光体，包括但不限于碘化铯、硫氧化钆，此时像素电容91为光电二极管的结电容。或者，感光层8也可以选用光电半导体，包括但不限于非晶硒、碘化铅、钙钛矿类材料，此时像素电容91为单独的存储电容，存储电容的电容上级为像素电极。
实施例1
请参阅图4所示，本实施例提供了一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，包括以下步骤：
S1：设置AEC阈值P_threshold和ROI区域；对于类似于传统AEC的固定式的ROI区域，可以在平板探测器中预先设置好。也可以通过上位机，根据受照体的特点对平板探测器进行选择设置，自由选择感兴趣区。AEC阈值P_threshold是经验值，可以采用类似传统AEC的方法通过校准得到，或者根据探测器响应特性计算得到，应由上位机根据管电压、密度档位进行设置。
S2：X射线管组件1和平板探测器进入准备状态，使门控线驱动TFT开关接通，对TFT阵列中的所有像素电容和数据线复位后，再驱动TFT开关全部断开；其中，X射线管组件1属于X射线发生装置中的主要组件。
S3：调整门控线电压，以驱使TFT开关打开一定比例，同时打开数据线读取整列数据作为参考值P_ref；作为优选，可以重复参考值的采集流程，取多次采集到的参考值的数据的平均值作为参考值P_ref。
S4：控制X射线管组件发出X射线，当X射线到达感光层时，感光层吸收X射线转换成电荷并存储到像素电容中；
S5：在X射线持续产生的过程中，调整门控线电压使TFT开关打开一定比例，同时打开数据线实时读取整列数据作为数据值P_i；
在步骤S3和S5中，TFT开关92的打开比例范围为0～50％。过大的打开比例会造成像素电容91中的有效信号丢失，较佳地，可以控制TFT开关保持关闭，即TFT开关的打开比例为0。各TFT开关92的打开比例可以是相同的，也可以是不同的。较佳地，在步骤S3和S5中，可以控制TFT开关92的打开比例相同，打开比例相同时，曝光控制的精度更好，速度更快。
在步骤S3和S5中，各TFT开关92的打开区域可以是全幅的，也可以是选定的ROI区域对应的行，打开次序可按需选择设定，通过公知经验进行合理的电路设计，按区选定可以更好地选择ROI区域。根据需要，如果有多个ROI区域，可以通过与、或、平均等方式进行合并处理。
S6：调整门控线电压以使得TFT开关关闭，同时对数据线进行复位；
上述步骤S3、S5、S6中的数据线，可以是全幅的，也可以是选定的ROI区域对应的列，打开次序可选，可以同时操作多列来节省时间。
S701：按预设周期重复上述步骤S5和S6，并计算每次循环中P_i与P_ref的差值P_delta，将若干次P_delta累加为P_sum；
S702：判断P_sum是否达到设定的阈值P_threshold；如果没有达到阈值，即P_sum<P_threshold，则继续循环；
S703：如果P_sum达到设定的阈值，即P_sum≥P_threshold，则由控制电路板发送曝光中止命令；
其中，曝光中止命令可以由平板探测器通过上位机发送给X射线发生装置，或者也可以借由通信部件直接发送给X射线发生装置，用以省略上位机的信息交互延时，使曝光控制更精确。
S8：控制X射线曝光结束，控制电路板通过门控线逐行接通TFT开关，同时通过数据线逐行读出像素电容内存储的电荷，形成数字图像。
通过本申请的一种在平板探测器内部实现AEC功能的方法，基于此方法操作的平板探测器，可以通过相关组件实时获取对X射线的接受状态，当达到曝光数据阈值时，由控制电路板反馈曝光中止命令。可以省略传统的真空电离室等AEC部件，解决传统AEC存在的图像干扰、伪影问题。
实施例2
本实施例的基本结构及方法流程与实施例一相同，不同之处在于，实施例1中通过累加的P_sum与设定阈值P_threshold对比来判断是否满足中止条件。而本实施例中，在在步骤S6之后，通过比例计算后续应该持续的曝光时间。请参阅图5所示，其流程如下：
S711：重复步骤S5和S6，计算每次采集循环中P_i与P_ref的差值P_delta，将P_delta累加得到累加值P_sum_m，假设每采集一次P_delta的时间为t；单次循环中，t越小则最终的曝光控制越精确。
S712：循环采集m次，消耗时间为m*t；
S713：再继续n次循环采集，消耗时间为n*t；
这里确保n次循环采集的P_delta差异不大，表明此时吸收的X射线较为稳定。
S714：计算m+n次循环中的累加值P_sum_m+n。
S715：计算剩余应该持续的曝光时间T：
T＝(P_threshold-P_sum_m+n)/(P_sum_m+n-P_sum_m)*n*t；
S716：将剩余持续曝光时间T发送给上位机，在T时间后控制曝光结束。
其中，曝光剩余时间可以由平板探测器通过上位机发送给X射线发生装置，或者也可以借由通信部件直接发送给X射线发生装置，用以省略上位机的信息交互延时，使曝光控制更精确。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，所述平板探测器包括依次电连接的感光层、TFT阵列及控制电路板，所述TFT阵列为若干像素组成的矩阵，所述像素包括像素电容、TFT开关、门控线和数据线，所述门控线和数据线分别与控制电路板电连接；其特征在于，包括以下步骤：
S1：设置AEC阈值P_threshold和ROI区域；
S2：X射线管组件和平板探测器进入准备状态，使门控线驱动TFT开关接通，对TFT阵列中的所有像素电容和数据线复位后，再驱动TFT开关全部断开；
S3：调整门控线电压，以驱使TFT开关打开一定比例，同时打开数据线读取整列数据作为参考值P_ref；
S4：控制X射线管组件发出X射线，当X射线到达感光层时，感光层吸收X射线转换成电荷并存储到像素电容中；
S5：在X射线持续产生的过程中，调整门控线电压使TFT开关打开一定比例，同时打开数据线实时读取整列数据作为数据值P_i；
S6：调整门控线电压以使得TFT开关关闭，同时对数据线进行复位；
S7：重复步骤S5和S6，并计算每次循环中P_i与P_ref的差值P_delta，将若干次P_delta进行累加，根据累加值与设定阈值P_threshold的关系，由控制电路板在达到结束条件时发送曝光中止命令；
S8：控制X射线曝光结束，控制电路板通过门控线逐行接通TFT开关，同时通过数据线逐行读出像素电容内存储的电荷，形成数字图像。
2.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，在步骤S7中，设累加值为P_sum，判断P_sum是否达到设定的阈值P_threshold；如果没有达到阈值，即P_sum<P_threshold则继续循环；如果P_sum达到设定的阈值则判定达到结束条件，即P_sum≥P_threshold则由控制电路板发送曝光中止命令。
3.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，在步骤S7中，
先假设每个S5～S7的循环中采集一次P_delta的时间为t；
设定采集前m次循环得到累加值P_sum_m，消耗时间为m*t；
再继续进行n次循环采集，得到累加的P_sum_m+n，消耗时间为n*t；
计算剩余应该持续的曝光时间T：
T＝(P_threshold-P_sum_m+n)/(P_sum_m+n-P_sum_m)*n*t；
在T时间后控制曝光结束。
4.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，在步骤S3中，多次重复步骤S3的数据采集流程，取多次采集到的数据的平均值作为参考值。
5.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，在步骤S3和S5中，TFT开关的打开比例范围为0～50％。
6.根据权利要求5所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，在步骤S3和S5中，打开的TFT开关为选定的ROI区域对应的行，打开的数据线为选定的ROI区域对应的列。
7.根据权利要求5所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，在步骤S3和S5中，控制TFT开关的打开比例相同。
8.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，所述感光层为闪烁荧光体，至少包括碘化铯、硫氧化钆中的一种；或者，所述感光层为光电半导体，至少包括非晶硒、碘化铅、钙钛矿类材料中一种。
9.根据权利要求8所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，当所述感光层为闪烁荧光体时，所述像素电容为光电二极管的结电容。
10.根据权利要求8所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法，其特征在于，当所述感光层为光电半导体时，所述像素电容为单独的存储电容，所述存储电容的电容上级为像素电极。
CN202110060766.9A 2021-01-18 2021-01-18 一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法 Active CN112890840B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110060766.9A CN112890840B (zh) 2021-01-18 2021-01-18 一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110060766.9A CN112890840B (zh) 2021-01-18 2021-01-18 一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112890840A true CN112890840A (zh) 2021-06-04
CN112890840B CN112890840B (zh) 2023-08-29

Family

ID=76114477

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110060766.9A Active CN112890840B (zh) 2021-01-18 2021-01-18 一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112890840B (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5453782A (en) * 1994-02-17 1995-09-26 Itt Corporation Automatic exposure and gain control for low light level television camera
JP2000100597A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Toshiba Iyo System Engineering Kk 放射線画像撮像装置
JP2005147958A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線検出システム
CN102599923A (zh) * 2011-01-25 2012-07-25 南京普爱射线影像设备有限公司 一种x射线机的aec控制装置及控制方法
US20130121464A1 (en) * 2011-11-15 2013-05-16 Fujifilm Corporation Radiation imaging apparatus and control method thereof, and radiation imaging system
CN103156627A (zh) * 2011-12-08 2013-06-19 富士胶片株式会社 辐射成像设备及其操作方法
CN104124256A (zh) * 2014-07-01 2014-10-29 上海奕瑞光电子科技有限公司 一种像素aec平板探测器
US20160070003A1 (en) * 2011-03-28 2016-03-10 Ami Ben Haiun X-ray radiation detector with automatic exposure control
CN106550527A (zh) * 2015-09-18 2017-03-29 瓦里安医疗系统国际股份公司 用于x射线成像的自动曝光控制
CN110018680A (zh) * 2019-04-19 2019-07-16 安徽像元光测科技有限公司 一种用于ccd控制器的测试装置及其测试方法
CN111198396A (zh) * 2019-12-23 2020-05-26 德润特医疗科技（武汉）有限公司 Aed快速检测方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5453782A (en) * 1994-02-17 1995-09-26 Itt Corporation Automatic exposure and gain control for low light level television camera
JP2000100597A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Toshiba Iyo System Engineering Kk 放射線画像撮像装置
JP2005147958A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線検出システム
CN102599923A (zh) * 2011-01-25 2012-07-25 南京普爱射线影像设备有限公司 一种x射线机的aec控制装置及控制方法
US20160070003A1 (en) * 2011-03-28 2016-03-10 Ami Ben Haiun X-ray radiation detector with automatic exposure control
US20130121464A1 (en) * 2011-11-15 2013-05-16 Fujifilm Corporation Radiation imaging apparatus and control method thereof, and radiation imaging system
CN103156627A (zh) * 2011-12-08 2013-06-19 富士胶片株式会社 辐射成像设备及其操作方法
CN104124256A (zh) * 2014-07-01 2014-10-29 上海奕瑞光电子科技有限公司 一种像素aec平板探测器
CN106550527A (zh) * 2015-09-18 2017-03-29 瓦里安医疗系统国际股份公司 用于x射线成像的自动曝光控制
CN110018680A (zh) * 2019-04-19 2019-07-16 安徽像元光测科技有限公司 一种用于ccd控制器的测试装置及其测试方法
CN111198396A (zh) * 2019-12-23 2020-05-26 德润特医疗科技（武汉）有限公司 Aed快速检测方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈建新;付丽媛;梁永刚;倪萍;吴剑威;陈坚;李威;刘冰川;陈自谦;: "全数字化乳腺X射线成像系统自动曝光控制可重复性及探测器均匀性检测", 中国医学装备, no. 10, pages 15 - 18 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112890840B (zh) 2023-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6243504B2 (ja) 放射線撮影装置及びその制御方法、並びに放射線画像検出装置
US6243441B1 (en) Active matrix detector for X-ray imaging
KR101919619B1 (ko) 트랩 점유 변화 모니터와 피드백을 포함하는 방사선 검출기, 이미징 장치 및 이를 사용하는 방법
US5262649A (en) Thin-film, flat panel, pixelated detector array for real-time digital imaging and dosimetry of ionizing radiation
JP6008430B2 (ja) 放射線画像検出装置及びその制御方法
TWI413407B (zh) 數位放射線攝影x射線成像感測器及偵測一具有成像像素的一二維陣列之數位放射線攝影成像面板上的x射線照射之方法
US9435894B2 (en) Radiation image detecting device and operating method thereof
US6931098B2 (en) Method and system for dual or multiple energy imaging
JP5283718B2 (ja) 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置に用いられるゲイン設定方法
JP2014209105A (ja) 放射線画像検出装置およびその作動方法、並びに放射線撮影装置
CN104921742A (zh) X射线摄影装置
WO2013015351A1 (ja) 放射線画像検出装置及びその制御方法
JP6093069B2 (ja) 放射線の照射開始判定装置およびその作動方法、並びに放射線の照射開始判定システム
CN112890840B (zh) 一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法
CN109219954B (zh) 利用流模式的高帧捕获率同步
JP5621939B2 (ja) 二次元画像検出器
KR20160124748A (ko) 방사선 검출기 및 방사선 검출기에 포획된 전하 캐리어의 양을 감소시키는 방법
JP7242594B2 (ja) 放射線画像検出装置、その作動方法及び作動プログラム
JP7190913B2 (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像システム
US20210275126A1 (en) Radiographic image detection device, method for operating radiographic image detection device, and program for operating radiographic image detection device
JP5925937B2 (ja) 放射線の照射開始判定装置およびその作動方法、並びに放射線の照射開始判定システム

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant