CN112881891A - 触控芯片模拟按压测试治具 - Google Patents

触控芯片模拟按压测试治具 Download PDF

Info

Publication number
CN112881891A
CN112881891A CN202110069849.4A CN202110069849A CN112881891A CN 112881891 A CN112881891 A CN 112881891A CN 202110069849 A CN202110069849 A CN 202110069849A CN 112881891 A CN112881891 A CN 112881891A
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
plate
jig
testing
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN202110069849.4A
Other languages
English (en)
Inventor
张雪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN202110069849.4A priority Critical patent/CN112881891A/zh
Publication of CN112881891A publication Critical patent/CN112881891A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2891—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature

Abstract

本发明公开了触控芯片模拟按压测试治具，包括测试机本体，测试机本体的机台上设有滑槽，板件上设有芯片槽，升降板上设有缓冲槽，缓冲槽内套设有升降块，升降块上安装有探针。通过控制板件移出或移入滑槽，便于将芯片放入或取出；通过控制电磁铁的磁性，能够控制压杆收入腔体或移出腔体，从而便于控制压杆的一端压住芯片，将芯片固定在芯片槽内，避免出现芯片移动错位影响测试的情况；通过激光灯顺着探针射出光线照射在芯片上，能够对探针与芯片之间进行定位，避免出现探针与芯片错位的情况；通过控制多个探针对多个芯片槽内的芯片进行测试，能够提高测试的效率；通过第一弹簧进行缓冲，能够避免出现芯片被压坏的情况。

Description

触控芯片模拟按压测试治具
技术领域
本发明属于触控芯片技术领域，具体为触控芯片模拟按压测试治具。
背景技术
触摸芯片是特指单点或多点触控技术，应用范围是手机、电脑等。“触摸”在此中特指单点或多点触控技术；芯片即是IC，是指端面可与摩擦衬片和摩擦材料层做成一体的金属片或非金属片，泛指所有的电子元器件，是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。它是电子设备中最重要的部分，承担着运算和存储的功能。集成电路的应用范围覆盖了军工、民用的几乎所有的电子设备。内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他设备的一部分。
目前，现有的触控芯片在测试时，都是对芯片进行一个一个的测试，测试效率低，比较浪费时间，且在测试时，容易出现探针对芯片压力过大，导致芯片损坏的情况。
发明内容
本发明的目的在于提供触控芯片模拟按压测试治具，以解决现有的触控芯片在测试时，都是对芯片进行一个一个的测试，测试效率低，比较浪费时间，且在测试时，容易出现探针对芯片压力过大，导致芯片损坏的情况的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：触控芯片模拟按压测试治具，包括测试机本体，所述测试机本体的机台上设有滑槽，所述滑槽内套设有板件，所述板件上设有芯片槽，所述测试机本体上安装有气缸，所述气缸的下端安装有升降板，所述升降板上设有缓冲槽，所述缓冲槽内套设有升降块，所述升降块上安装有探针。
优选的，所述芯片槽和探针的数量相等，且位置相互对应，芯片槽和探针分别均匀分布在所述板件和升降板上，通过控制多个探针对多个芯片槽内的芯片进行测试，能够提高测试的效率。
优选的，所述滑槽的内壁两侧均设有限位滑道，所述板件的两侧均安装有限位滑块，限位滑块滑动安装在限位滑道内，限位滑道与限位滑块的形状相同，均为“十”字形，通过限位滑块和限位滑道，能够限制板件的移动轨迹，使得板件只能在滑槽内平稳的移动，避免出现板件晃动导致探针与芯片槽错位的情况。
优选的，所述测试机本体上安装有电机，电机的型号为Y80M1-2，电机连接外部顺逆开关，便于控制电机的正转或反转，顺逆开关的型号为LAP-15，电机的转轴上安装有螺纹杆，通过顺逆开关控制电机的正转和反转，能够控制螺纹杆的正转和反转，从而带动限位滑块在限位滑道内往复移动，螺纹杆通过轴承安装在限位滑道内，限位滑块上设有螺纹孔，螺纹杆通过螺纹安装在螺纹孔内，通过电机带动螺纹杆转动，螺纹杆通过限位滑块带动板件移出或移入滑槽。
优选的，所述缓冲槽内安装有第一弹簧，第一弹簧的一端安装在升降块上，升降块与缓冲槽的俯视截面形状相同，均为正多边形，且升降块的表面紧贴在缓冲槽的内壁上，使得升降块只能顺着缓冲槽上下移动，避免出现升降块带动探针晃动的情况，在探针对芯片产生的压力过大时，探针带动升降块压缩第一弹簧，通过第一弹簧进行缓冲，能够避免出现芯片被压坏的情况。
优选的，所述升降块上设有多个安装槽，安装槽内安装有激光灯，多个激光灯均匀分布在探针的上端圆周上，使得激光灯顺着探针射出光线照射在芯片上，能够对探针与芯片之间进行定位。
优选的，所述板件上设有腔体，腔体内安装有电磁铁和圆筒，电磁铁上缠绕有导线，通过向导线内通入电流，使得电磁铁产生磁性，断开电流电磁铁的磁性消失。
优选的，所述圆筒内套设有伸缩杆，通过圆筒和伸缩杆配合，使得衔铁片能够在腔体内移动，伸缩杆上安装有衔铁片，所述腔体和衔铁片之间安装有第二弹簧，第二弹簧套设在圆筒上，通过圆筒对第二弹簧进行支撑，避免出现第二弹簧弯曲变形的情况，且第二弹簧用于支撑衔铁片复位，确保压杆伸入芯片槽内。
优选的，所述衔铁片上安装有压杆，芯片槽的内壁上设有孔道，压杆套设在孔道内，压杆的一端贯穿板件伸入芯片槽内，使得压杆的一端压住芯片槽内的芯片，能够对芯片进行固定，避免出现芯片移动错位影响测试的情况，且第二弹簧抵住衔铁片，能够防止压杆自动滑入腔体内的情况。
优选的，所述板件上安装有开关，所述导线连接开关的接线端，通过开关控制导线的通电与断电，能够控制电磁铁的磁性。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：通过控制板件移出或移入滑槽，便于将芯片放入或取出；通过控制电磁铁的磁性，能够控制压杆收入腔体或移出腔体，从而便于控制压杆的一端压住芯片，将芯片固定在芯片槽内，避免出现芯片移动错位影响测试的情况；通过激光灯顺着探针射出光线照射在芯片上，能够对探针与芯片之间进行定位，避免出现探针与芯片错位的情况；通过控制多个探针对多个芯片槽内的芯片进行测试，能够提高测试的效率；通过第一弹簧进行缓冲，能够避免出现芯片被压坏的情况。
附图说明
图1为本发明的整体结构主视图；
图2为本发明的整体结构俯视截面图；
图3为本发明的升降板主视截面图；
图4为本发明的板件局部主视截面图。
图中：1测试机本体、2滑槽、3板件、4芯片槽、5气缸、6升降板、7缓冲槽、8升降块、9探针、10限位滑道、11限位滑块、12电机、13螺纹杆、14第一弹簧、15安装槽、16激光灯、17腔体、18电磁铁、19圆筒、20导线、21伸缩杆、22衔铁片、23第二弹簧、24压杆、25开关。
具体实施方式
请参阅图1、图2、图3，触控芯片模拟按压测试治具，包括测试机本体1，测试机本体1的机台上设有滑槽2，滑槽2内套设有板件3，板件3上设有芯片槽4，测试机本体1上通过螺钉安装有气缸5，气缸5的下端通过螺钉安装有升降板6，升降板6上设有缓冲槽7，缓冲槽7内套设有升降块8，升降块8上通过螺钉安装有探针9。
请参阅图1、图2，芯片槽4和探针9的数量相等，且位置相互对应，芯片槽4和探针9分别均匀分布在板件3和升降板6上，通过控制多个探针9对多个芯片槽4内的芯片进行测试，能够提高测试的效率。
请参阅图2，滑槽2的内壁两侧均设有限位滑道10，板件3的两侧均通过螺钉安装有限位滑块11，限位滑块11滑动安装在限位滑道10内，限位滑道10与限位滑块11的形状相同，均为“十”字形，通过限位滑块11和限位滑道10，能够限制板件3的移动轨迹，使得板件3只能在滑槽2内平稳的移动，避免出现板件3晃动导致探针9与芯片槽4错位的情况。
请参阅图2，测试机本体1上通过螺钉安装有电机12，电机12的型号为Y80M1-2，电机12连接外部顺逆开关，便于控制电机12的正转或反转，顺逆开关的型号为LAP-15，通过顺逆开关控制电机12的正转和反转，能够控制螺纹杆13的正转和反转，从而带动限位滑块11在限位滑道10内往复移动，电机12的转轴上通过螺钉安装有螺纹杆13，螺纹杆13通过轴承安装在限位滑道10内，限位滑块11上设有螺纹孔，螺纹杆13通过螺纹安装在螺纹孔内，通过电机12带动螺纹杆13转动，螺纹杆13通过限位滑块11带动板件3移出或移入滑槽2。
请参阅图3，缓冲槽7内通过螺扣安装有第一弹簧14，第一弹簧14的一端通过螺扣安装在升降块8上，升降块8与缓冲槽7的俯视截面形状相同，均为正多边形，且升降块8的表面紧贴在缓冲槽7的内壁上，使得升降块8只能顺着缓冲槽7上下移动，避免出现升降块8带动探针9晃动的情况，在探针9对芯片产生的压力过大时，探针9带动升降块8压缩第一弹簧14，通过第一弹簧14进行缓冲，能够避免出现芯片被压坏的情况。
请参阅图3，升降块8上设有多个安装槽15，安装槽15内通过螺钉安装有激光灯16，多个激光灯16均匀分布在探针9的上端圆周上，使得激光灯16顺着探针9射出光线照射在芯片上，能够对探针9与芯片之间进行定位。
请参阅图4，板件3上设有腔体17，腔体17内通过螺钉安装有电磁铁18和圆筒19，电磁铁18上缠绕有导线20，通过向导线20内通入电流，使得电磁铁18产生磁性，断开电流电磁铁18的磁性消失。
请参阅图4，圆筒19内套设有伸缩杆21，通过圆筒19和伸缩杆21配合，使得衔铁片22能够在腔体17内移动，伸缩杆21上通过螺钉安装有衔铁片22，腔体17和衔铁片22之间通过螺扣安装有第二弹簧23，第二弹簧23套设在圆筒19上，通过圆筒19对第二弹簧23进行支撑，避免出现第二弹簧23弯曲变形的情况，且第二弹簧23用于支撑衔铁片22复位，确保压杆24伸入芯片槽4内。
请参阅图4，衔铁片22上通过螺钉安装有压杆24，芯片槽4的内壁上设有孔道，压杆24套设在孔道内，压杆24的一端贯穿板件3伸入芯片槽4内，使得压杆24的一端压住芯片槽4内的芯片，能够对芯片进行固定，避免出现芯片移动错位影响测试的情况，且第二弹簧23抵住衔铁片22，能够防止压杆24自动滑入腔体17内的情况。
请参阅图1、图2，板件3上通过螺钉安装有开关25，导线20连接开关25的接线端，通过开关25控制导线20的通电与断电，能够控制电磁铁18的磁性。
本方案的工作原理是：在对芯片进行测试时，通过控制电机12正转，电机12带动螺纹杆13转动，螺纹杆13带动限位滑块11移动，限位滑块11带动板件3移出滑槽2，打开开关25，使得导线20通电，电磁铁18产生磁性吸附衔铁片22，衔铁片22带动压杆24进入腔体17内，便于将芯片逐个放入芯片槽4，然后关闭开关25，导线20断电，电磁铁18的磁性消失，衔铁片22在第二弹簧23的复位力作用下复位，使得压杆24的一端压住芯片，能够将芯片固定在芯片槽4内，避免出现芯片移动错位影响测试的情况，再控制电机12反转，电机12带动螺纹杆13转动，螺纹杆13带动限位滑块11移动，限位滑块11带动板件3移入滑槽2，通过激光灯16顺着探针9射出光线照射在芯片上，能够对探针9与芯片之间进行定位，然后控制气缸5运行，气缸5带动升降板6移动，升降板6带动多个探针9对芯片槽4内的芯片进行测试，能够提高测试的效率，且在探针9对芯片产生的压力过大时，探针9带动升降块8压缩第一弹簧14，通过第一弹簧14进行缓冲，能够避免出现芯片被压坏的情况。

Claims (10)

1.触控芯片模拟按压测试治具，包括测试机本体(1)，其特征在于：所述测试机本体(1)的机台上设有滑槽(2)，所述滑槽(2)内套设有板件(3)，所述板件(3)上设有芯片槽(4)，所述测试机本体(1)上安装有气缸(5)，所述气缸(5)的下端安装有升降板(6)，所述升降板(6)上设有缓冲槽(7)，所述缓冲槽(7)内套设有升降块(8)，所述升降块(8)上安装有探针(9)。
2.根据权利要求1所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述芯片槽(4)和探针(9)的数量相等，且位置相互对应，芯片槽(4)和探针(9)分别均匀分布在所述板件(3)和升降板(6)上。
3.根据权利要求1所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述滑槽(2)的内壁两侧均设有限位滑道(10)，所述板件(3)的两侧均安装有限位滑块(11)，限位滑块(11)滑动安装在限位滑道(10)内。
4.根据权利要求1所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述测试机本体(1)上安装有电机(12)，电机(12)的转轴上安装有螺纹杆(13)，螺纹杆(13)通过轴承安装在限位滑道(10)内。
5.根据权利要求1所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述缓冲槽(7)内安装有第一弹簧(14)，第一弹簧(14)的一端安装在升降块(8)上。
6.根据权利要求1所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述升降块(8)上设有多个安装槽(15)，安装槽(15)内安装有激光灯(16)。
7.根据权利要求1所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述板件(3)上设有腔体(17)，腔体(17)内安装有电磁铁(18)和圆筒(19)，电磁铁(18)上缠绕有导线(20)。
8.根据权利要求7所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述圆筒(19)内套设有伸缩杆(21)，伸缩杆(21)上安装有衔铁片(22)，所述腔体(17)和衔铁片(22)之间安装有第二弹簧(23)。
9.根据权利要求8所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述衔铁片(22)上安装有压杆(24)。
10.根据权利要求7所述的触控芯片模拟按压测试治具，其特征在于：所述板件(3)上安装有开关(25)，所述导线(20)连接开关(25)的接线端。
CN202110069849.4A 2021-01-19 2021-01-19 触控芯片模拟按压测试治具 Withdrawn CN112881891A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110069849.4A CN112881891A (zh) 2021-01-19 2021-01-19 触控芯片模拟按压测试治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110069849.4A CN112881891A (zh) 2021-01-19 2021-01-19 触控芯片模拟按压测试治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112881891A true CN112881891A (zh) 2021-06-01

Family

ID=76049746

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110069849.4A Withdrawn CN112881891A (zh) 2021-01-19 2021-01-19 触控芯片模拟按压测试治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112881891A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113640548A (zh) * 2021-07-28 2021-11-12 天津大学 适用于生物型原子力显微镜的电化学探针夹持器
CN116047116A (zh) * 2023-03-07 2023-05-02 深圳市优界科技有限公司 一种电容自动化测试线

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113640548A (zh) * 2021-07-28 2021-11-12 天津大学 适用于生物型原子力显微镜的电化学探针夹持器
CN113640548B (zh) * 2021-07-28 2022-08-19 天津大学 适用于生物型原子力显微镜的电化学探针夹持器
CN116047116A (zh) * 2023-03-07 2023-05-02 深圳市优界科技有限公司 一种电容自动化测试线

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112881891A (zh) 触控芯片模拟按压测试治具
CN201942270U (zh) 平面运动机构
CN104907810B (zh) 一种键盘自动装配装置
CN106166741A (zh) 高精度智能写字机器人
CN105944975A (zh) 一种全自动led分光机的底部测试机构
CN204495544U (zh) 一种键盘按键自动检测装置
CN1994839B (zh) 静电吸附装置
CN204142910U (zh) 一种电子主板测试平台
CN210221516U (zh) 平板电脑测试机
CN113311690A (zh) 表壳组装装置以及表壳组装方法
CN210442475U (zh) 电路板测试打键机
CN208173201U (zh) 一种针模压合机构
CN207742095U (zh) 连杆式样品夹
CN206702697U (zh) 轴盖钻孔加工夹具
CN214779122U (zh) 一种五金机械零件加工推料装置
CN209701792U (zh) 一种烧录机
CN116124430A (zh) 一种计算机硬件插拔测试装置
CN215577707U (zh) 一种适用性强的tf卡测试装置
CN209728139U (zh) 一种电池测试用定位装置
KR100689261B1 (ko) 인쇄회로기판 가이드홀의 펀칭 장치
CN209927408U (zh) 一种天窗测试风阻试验台
CN208178483U (zh) 一种散热片用打孔装置
CN208247758U (zh) 一种具有消音降噪功能的电路板喷印设备
CN112188736A (zh) 一种用于pcb生产加工的检板架
CN106994428B (zh) 一种led固晶机的双点胶装置及其运行方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20210601