CN112881888B - 一种服务器显卡vga接口保护电路的测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,包括控制模块,其中,所述控制模块电性连接驱动模块,所述驱动模块电性连接至少一个选择模块,所述选择模块电性连接接口模块,所述选择模块电性连接检测模块和检测屏;所述控制模块通过所述驱动模块控制所述选择模块将所述接口模块与所述检测模块连接,或者控制所述选择模块将所述接口模块与所述检测屏连接。本发明能够实现对显卡VGA接口保护电路性能的半自动测试,提高测试效率和控制精度。本发明公开一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法,应用于所述服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置实现以上效果。
Description
技术领域
本发明涉及显卡VGA接口保护电路测试领域,尤其涉及一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置及方法。
背景技术
VGA接口是一种应用最广泛的显卡接口,用于输出控制成像的模拟信号,标准VGA接口由3排每排5个共15个传输端口组成,其中1号、2号、3号三个端口用来传输图像的RGB三基色分量,13号、14号两个端口用于传输水平行场信号和垂直行场信号。
现有的显卡中往往配置保护电路,在显示器发生故障致使VGA接口发生短路时,所述保护电路能够保护显卡中的元件;因此为了保证保护电路的有效性,一般的,在配备显卡的服务器出厂时,需要对显卡保护电路的性能和抗压能力进行检测。现有的方式是通过人工调整待测机的显示参数,待测机运行显示测试程序,并手动通过检测治具将VGA接口的1号、2号、3号、6号、7号、8号、13号以及14号端口短接一段时间,然后将VGA接口连接检测屏,观察检测屏输出是否异常。这种手工检测的方式需要反复连接待测机、检测屏、检测治具,效率低。而且手动控制短接时间,控制精度不高。
发明内容
为解决上述问题,一方面,本发明提供一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,包括控制模块,其中,
所述控制模块电性连接驱动模块,所述驱动模块电性连接至少一个选择模块,所述选择模块电性连接接口模块,所述选择模块电性连接检测模块和检测屏;
所述控制模块通过所述驱动模块控制所述选择模块将所述接口模块与所述检测模块连接,或者控制所述选择模块将所述接口模块与所述检测屏连接。
更进一步地,所述控制模块电性连接输入模块,通过所述输入模块向所述控制模块输入控制信号。
更进一步地,所述选择模块配置在位检测结构,所述在位检测结构电性连接所述控制模块。
更进一步地,所述控制模块电性连接指示模块,所述控制模块控制所述指示模块显示所述控制模块执行测试程序过程中的状态。
更进一步地,所述指示模块为显示屏和指示灯组中的任一一种。
更进一步地,所述检测模块包括短路测试电路,所述短路测试电路包括接地点,所述接地点电性连接至少一组引脚组,一组所述引脚组包括8个引脚,所述一组引脚通过一个所述选择模块和所述接口模块电性连接显卡VGA接口的1号、2号、3号、6号、7号、8号、13号和14号端口。
另一方面,本发明还提供一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法,应用于所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,包括:
待测机运行显示测试程序;
连接VGA接口与接口模块使得在位检测结构测量到在位信息;
所述在位检测结构将所述在位信息发送给控制模块;
所述控制模块检测到所述在位信息后执行保护电路测试程序。
更进一步地,向待测机存储配置文件和配置脚本,待测机启动并通过运行所述配置脚本读取所述配置文件,并按所述配置文件中的数据调整所述待测机的显示参数;
其中,包括将“屏幕保护程序”选项选择为“无”,将全部的电源设置选项选择为“从不”,将屏幕区域选择内容根据检测屏属性选择,将颜色选项设置为“32位”。
更进一步地,所述待测机执行所述显示测试程序,实现所述待测机的显卡周期性的输出特定的图像数据。
更进一步地,所述控制模块执行所述保护电路测试程序实现:
所述控制模块逐一控制选择模块连接所述接口模块与检测屏,所述检测屏上显示所述显示测试程序输出的图像供检测人员检查是否正常;
如果正常,则所述控制模块控制相应的选择模块使所述接口模块连接检测模块,进入短接状态,短接状态持续设定时间后,所述控制模块控制所述选择模块使所述接口模块与所述检测模块断开进入等待状态;
如果不正常,则所述控制模块控制选择模块复位,检测人员更换待机,控制模块重新执行显卡预检查过程;
所述控制模块检测输入模块的选择信号,所述控制模块根据所述选择信号控制所述选择模块使所述接口模块连接所述检测屏进入验证状态;
所述控制模块控制指示模块显示所述短接状态、等待状态和验证状态。
本申请提出的一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置及方法具体有以下有益效果:
本发明提出的一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置能够批量半自动的完成服务器显卡VGA接口保护电路的短路检测,通过所述控制模块控制所述驱动模块控制多个所述选择模块控制待测机的状态,一方面避免了待测机与检测治具,待测机与检测屏之间的人工插接过程,减少插接步骤,另一部分实现了通过控制模块对VGA接口的短路时间进行精准的控制,避免人工控制短路时间不精确的问题。同时,在进行短路检测时,短路时间与检测时间交叉进行能够提高检测效率。本发明提供的服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法能够对显卡进行预检查,避免显卡本身异常对保护电路测试的影响。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本发明实施例中一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置的示意图;
图2是本发明实施例中选择模块的示意图;
图3是本发明实施例中另一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置的示意图;
图4是本发明实施例中的服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法流程图;
图5是本发明实施例中的保护电路测试程序的流程图。
图中标号及其含义:
1、控制模块,2、驱动模块,3、选择模块,4、接口模块,5、检测模块,6、检测屏,7、输入模块,8、指示模块。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
下面结合附图对本发明进行说明,其中,图1是本发明实施例中一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置的示意图;图2是本发明实施例中选择模块的示意图;图3是本发明实施例中另一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置的示意图;图4是本发明实施例中的服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法流程图;图5是本发明实施例中的保护电路测试程序的流程图。
实施例1
参阅图1所示,本发明提供一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,包括控制模块1,具体实施过程中,所述控制模块1可以为单片机,其中,
所述控制模块1电性连接驱动模块2,所述驱动模块2电性连接至少一个选择模块3,所述驱动模块2包括供电单元,所述供电单元包括AC-DC转换电路,所述AC-DC转换电路电性连接降压稳压电路,所述降压稳压电路通过mos开关电性连接所述选择模块3,所述控制模块1电性连接所述mos开关的栅极控制所述mos开关的导通和截止。所述选择模块3电性连接接口模块4,所述接口模块4为与VGA接口匹配的插头,所述选择模块3电性连接检测模块5和检测屏6。
具体实施过程中,参阅图2所示,一种可行的所述选择模块3包括第一继电线圈、第二继电线圈和三对一选择触点。所述控制模块1通过所述驱动模块2控制所述选择模块3将所述接口模块4与所述检测模块5连接,或者控制所述选择模块3将所述接口模块4与所述检测屏6连接。具体的,所述第一继电线圈和所述第二继电线圈不通电时,所述三对一选择触点在弹性作用下复位,并连接在位检测结构与所述接口模块4;所述第一继电线圈通电所述第二继电线圈不通电时,所述三对一选择触点连接所述接口模块4与所述检测屏6;所述第一继电线圈不通电所述第二继电线圈通电时,所述三对一选择触点连接所述接口模块4与所述检测模块5。所述降压稳压电路通过所述mos开关电性连接所述第一继电线圈和所述第二继电线圈。
所述控制模块1电性连接输入模块7,通过所述输入模块7向所述控制模块1输入控制信号。所述输入模块7为触摸屏或者按键。
具体实施过程中,所述在位检测结构包括模数转换电路和放大电路,所述模数转换电路电性通过所述选择模块3和所述接口模块4接VGA接口的1号、2号或3号端口中的一个或多个,所述模数转换电路的输出经所述放大电路放大,所述放大电路电性连接所述控制模块1,从而实现所述控制模块1检测所述VGA接口1号、2号或3号端口的信号实现对VGA接口是否在位进行检测。
所述控制模块1电性连接指示模块8,所述控制模块1控制所述指示模块8显示所述控制模块1执行测试程序过程中的状态。具体实施过程中,所述指示模块8为显示屏或者指示灯组,所述状态包括短接状态、等待状态和验证状态。
具体实施过程中,所述检测模块5包括短路测试电路,所述短路测试电路包括接地点,所述接地点电性连接至少一组引脚组,一组所述引脚组包括8个引脚,所述一组引脚通过一个所述选择模块3和所述接口模块4电性连接显卡VGA接口的1号、2号、3号、6号、7号、8号、13号和14号端口。所述选择模块3连接所述接口模块4和所述检测模块5时,VGA接口的1号、2号、3号、6号、7号、8号、13号和14号端口接地短接。
实施例2
参阅图3所示,实施例2与实施例1的区别在于所述检测模块5为其他连接VGA接口的专用检测电路,每个所述选择模块1电性连接一个所述专用检测电路。
参阅图4所示,本发明提供一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法,应用于所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,包括:
一定的准备工作:待测机配置windows系统,安装指定的视频驱动程序。在所述待测机上配置显示测试程序,在所述待测机配置配置文件和配置脚本,所述配置文件中写有待测机的显示参数配置数据,所述配置脚本开机执行,所述配置脚本读取所述配置文件中的数据调整所述待测机的显示参数,其中,调整的显示参数包括将“屏幕保护程序”选项选择为“无”,将全部的电源设置选项选择为“从不”,将屏幕区域选择内容根据检测屏属性选择,将颜色选项设置为“32位”。
S100,所述待测机运行显示测试程序,实现所述待测机的显卡周期性的输出特定的图像数据;
S200,连接VGA接口与接口模块使得在位检测结构测量到在位信息;由于所述待测机的显卡周期性的输出特定的图像数据,VGA接口的1号、2号或者3号端口会有模拟信号输出,所述在位检测接口通过模数转换电路检测所述模拟信号,并转化为数字信号,以所述数字信号为在位信息;
S300,所述在位检测结构将所述在位信息发送给控制模块;
S400,所述控制模块检测到所述在位信息后执行保护电路测试程序。
参阅图5所示,所述控制模块执行所述保护电路测试程序实现:
显卡预检查过程:所述控制模块根据输入模块的信号逐一控制选择模块连接所述接口模块与检测屏,所述检测屏上显示所述显示测试程序输出的图像供检测人员检查是否正常;具体实施时,检测人员在检查完检测屏上显示的图像是否有问题后通过所述输入模块输入信号给所述控制模块,所述控制模块通过所述驱动模块控制下一个所述选择模块连接所述检测屏与下一个待测机。
如果正常,检测人员通过所述输入模块输入正常信号,所述控制模块在接收到正常信号后,则所述控制模块控制相应的选择模块使所述接口模块连接检测模块,进入短接状态,短接状态持续设定时间(设定时间决定VGA接口的1号、2号、3号、6号、7号、8号、13号和14号端口短接时间)后,所述控制模块控制所述选择模块使所述接口模块与所述检测模块断开(接在位检测结构)进入等待状态;
如果不正常,则说明显卡存在一定异常,检测人员通过所述输入模块输入不正常信号,则所述控制模块控制选择模块复位,检测人员更换待测机,控制模块重新执行显卡预检查过程;
显卡短路测试过程:当检测人员与检查完最后一个待测机的显卡后,一般的前面的待测机往往会进入到等待状态,这样检测人员通过输入模块输入所述选择模块的选择信号,所述控制模块检测输入模块的选择信号,所述控制模块根据所述选择信号控制相应的所述选择模块使所述接口模块连接所述检测屏从而进入验证状态;在验证状态下,检测人员检测经过短路之后的显卡输出的图像是否存在异常,如果异常则说明显卡的保护电路有异常;
在具体实施过程中,可以循环执行多次执行显卡短路测试过程,以验证保护电路的抗压性能。
所述控制模块控制指示模块显示所述短接状态、等待状态和验证状态。
具体实施过程中,检测人员可以通过获取进行显卡短路测试完成的待测机的BMC日志和系统日志,通过所述BMC日志和系统日志检查测试过程中是否有异常。
本发明提出的一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置能够批量半自动的完成服务器显卡VGA接口保护电路的短路检测,通过所述控制模块控制所述驱动模块控制多个所述选择模块控制待测机的状态,一方面避免了待测机与检测治具,待测机与检测屏之间的人工插接过程,减少插接步骤,另一部分实现了通过控制模块对VGA接口的短路时间进行精准的控制,避免人工控制短路时间不精确的问题。同时,在进行短路检测时,短路时间与检测时间交叉进行能够提高检测效率。本发明提供的服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法能够对显卡进行预检查,避免显卡本身异常对保护电路测试的影响。
应当注意的是,在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,其特征在于,包括控制模块(1),其中,
所述控制模块(1)电性连接驱动模块(2),所述驱动模块(2)电性连接至少一个选择模块(3),所述选择模块(3)电性连接接口模块(4),所述选择模块(3)电性连接检测模块(5)和检测屏(6);
所述控制模块(1)通过所述驱动模块(2)控制所述选择模块(3)将所述接口模块(4)与所述检测模块(5)连接,或者控制所述选择模块(3)将所述接口模块(4)与所述检测屏(6)连接;
所述控制模块(1)执行保护电路测试程序,所述控制模块(1)逐一控制选择模块(3)连接所述接口模块(4)与检测屏(6),所述检测屏(6)上显示显示测试程序输出的图像供检测人员检查是否正常,以实现显卡预检查过程;如果正常,则所述控制模块(1)控制相应的选择模块(3)使所述接口模块(4)连接检测模块(5),进入短接状态,短接状态持续设定时间后,所述控制模块(1)控制所述选择模块(3)使所述接口模块(4)与所述检测模块(5)断开进入等待状态;如果不正常,则所述控制模块控制选择模块复位,检测人员更换待测机,控制模块重新执行显卡预检查过程;
所述控制模块(1)控制所述选择模块(3)使所述接口模块(4)连接所述检测屏(6)进入验证状态,检测人员检测经过短路之后的显卡输出的图像是否存在异常,如果异常则说明显卡的保护电路有异常;
所述检测模块(5)包括短路测试电路,所述短路测试电路包括接地点,所述接地点电性连接至少一组引脚组,一组所述引脚组包括8个引脚,所述一组引脚通过一个所述选择模块(3)和所述接口模块(4)电性连接显卡VGA接口的1号、2号、3号、6号、7号、8号、13号和14号端口。
2.根据权利要求1所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,其特征在于,所述控制模块(1)电性连接输入模块(7),通过所述输入模块(7)向所述控制模块(1)输入控制信号。
3.根据权利要求1所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,其特征在于,所述选择模块(3)配置在位检测结构,所述在位检测结构电性连接所述控制模块(1)。
4.根据权利要求1所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,其特征在于,所述控制模块(1)电性连接指示模块(8),所述控制模块(1)控制所述指示模块(8)显示所述控制模块(1)执行测试程序过程中的状态。
5.根据权利要求4所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,其特征在于,所述指示模块(8)为显示屏和指示灯组中的任意一种。
6.一种服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法,应用于权利要求1-5任一所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试装置,其特征在于,包括:
待测机运行显示测试程序;
连接VGA接口与接口模块使得在位检测结构测量到在位信息;
所述在位检测结构将所述在位信息发送给控制模块;
所述控制模块检测到所述在位信息后执行保护电路测试程序。
7.根据权利要求6所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法,其特征在于,向待测机存储配置文件和配置脚本,待测机启动并通过运行所述配置脚本读取所述配置文件,并按所述配置文件中的数据调整所述待测机的显示参数;
其中,包括将“屏幕保护程序”选项选择为“无”,将全部的电源设置选项选择为“从不”,将屏幕区域选择内容根据检测屏属性选择,将颜色选项设置为“32位”。
8.根据权利要求6所述的服务器显卡VGA接口保护电路的测试方法,其特征在于,所述待测机执行所述显示测试程序,实现所述待测机的显卡周期性的输出特定的图像数据。
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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