CN112881438B - 一种x射线胶片检测缺陷定位装置 - Google Patents

一种x射线胶片检测缺陷定位装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112881438B
CN112881438B CN202110056519.1A CN202110056519A CN112881438B CN 112881438 B CN112881438 B CN 112881438B CN 202110056519 A CN202110056519 A CN 202110056519A CN 112881438 B CN112881438 B CN 112881438B
Authority
CN
China
Prior art keywords
frame
film
workpiece
defect
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202110056519.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112881438A (zh
Inventor
王广旭
程俊亮
梁朝栋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aerospace Hiwing Harbin Titanium Industrial Co Ltd
Original Assignee
Aerospace Hiwing Harbin Titanium Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aerospace Hiwing Harbin Titanium Industrial Co Ltd filed Critical Aerospace Hiwing Harbin Titanium Industrial Co Ltd
Priority to CN202110056519.1A priority Critical patent/CN112881438B/zh
Publication of CN112881438A publication Critical patent/CN112881438A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112881438B publication Critical patent/CN112881438B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明提出一种X射线胶片检测缺陷定位装置，属于射线检测技术研究领域，该装置的可移动固定激光指示器框架通过两端固定销在框架的滑轨上作用移动，每个可移动固定激光指示器框架安装有激光指示器，每个激光指示器沿可移动固定激光指示器框架上下移动，框架的两侧安装有可弯曲塑料支撑，每个可弯曲塑料支撑通过两端的可移动滑块进行弧度调节。本发明解决如何避免评定人员实时在观片灯下边观看边标注，效率低下且定位精度不足，以及如何将胶片上显示的标记和缺陷位置一起投影到工件上的技术问题，本发明利用投射到工件上的显示标记来进行缺陷标注，可以将结果显示的缺陷位置快速准确的定位在被检测物体上，从而提高效率和缺陷定位精度。

Description

一种X射线胶片检测缺陷定位装置
技术领域
本发明涉及一种X射线胶片检测缺陷定位装置，属于X射线胶片成像检测技术领域，具体涉及X射线检测过程根据胶片显示的检测结果，将结果显示的缺陷位置快速准确的定位在被检测物体上。
背景技术
射线胶片照相无损检测技术是射线源发出的射线透过被检物体，利用被检物体与其内部缺陷介质对射线强度衰减的程度不同来携带被检物体内部信息，并用射线胶片记录下来，经显影、定影等处理，在胶片上形成透视投影影像，通过对影像的识别来评定被检物体内部是否存在不连续性的一种射线无损检测方法，是其他射线检测技术的基础，也是射线应用最广泛的射线检测技术。
而在各种工件的生产过程中，内部难免出现缺陷，在对各种工件及产品进行X射线胶片检测过程中，对于胶片成像检测中发现的缺陷在工件上进行标注时，完全依靠评定人员的直观感受进行标定，评定人员往往需要依据底片上的一些标记或其他参照物对工件上的缺陷进行标注，缺陷与相关参照物距离较近时标注往往较为准确，一旦与相关参照物距离较远时往往缺陷的标注不够准确，给后续处理带来麻烦，严重影响工作效率。
发明内容
本发明为了解决如何避免评定人员实时在观片灯下边观看边标注，效率低下且定位精度不足，以及如何将胶片上显示的标记和缺陷位置一起投影到工件上的技术问题，提出一种用于X射线胶片检测在被检测物体上进行快速精确标注缺陷的专用装置，利用投射到工件上的显示标记来进行缺陷标注，可以将结果显示的缺陷位置快速准确的定位在被检测物体上，从而提高效率和缺陷定位精度。
本发明提出一种X射线胶片检测缺陷定位装置，包括框架、三个激光指示器、三个可移动固定激光指示器框架、六个固定销、四个可移动滑块和两个可弯曲塑料支撑，所述框架的上下各设置一道滑轨，六个固定销分别位于上下的滑轨内，两两相对设置，两两相对的固定销上套有可移动固定激光指示器框架，可移动固定激光指示器框架通过两端的固定销在框架的滑轨上作用移动，每个可移动固定激光指示器框架安装有激光指示器，每个激光指示器沿可移动固定激光指示器框架上下移动，所述框架的两侧安装有可弯曲塑料支撑，每个可弯曲塑料支撑通过两端的可移动滑块进行弧度调节。
一种X射线胶片检测缺陷定位装置的使用方法，具体包括以下步骤：
(1)把胶片固定在框架上，利用框架上自带的强光光源来进行观测胶片，观测过程中把任意两个激光指示器垂直移动到底片上显示的标记位置处，再把剩下的一个激光指示器垂直移动到胶片上所标注的缺陷位置处，并打开这个激光指示器，然后将整个装置平行放置在距离检测面的一定位置上，其中定位的两个激光指示器与工件上的两个定位标记重合，对应缺陷的激光指示器在工件上的投影即为缺陷位置；
(2)当被检物体为环形工件时，因为检测面为弧形，为了能使胶片上的投影定位标记能与工件上的定位标记准确重合，将固定胶片的可移动滑块往内滑动，使胶片的弧度与工件弧度近乎一致，直到胶片的投影标记与工件面上的定位标记重合，在移动缺陷对应的激光指示器，此时激光指示器在工件上的投影即为缺陷在工件上的对应位置。
本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置的有益效果为：
1、本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置，能够将胶片上显示的标记和缺陷位置投影到工件上，能够在X射线检测过程中辅助评定人员对检测过程中发现的缺陷能够快速准确的标注在被检测物体上。
2、本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置，保证在投影过程中没有影像的放大或者缩小，避免投影标记与工件上的实际标记对不齐导致缺陷定位不准，提高效率和缺陷定位精度。
3、本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置，可以兼顾带有曲率表面的工件或环形工件X射线胶片成像检测的缺陷定位。
4、本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置，所用材料坚固耐用且轻便，如轻质塑料。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。
在附图中：
图1为本发明所述的一种X射线胶片检测缺陷定位装置的结构示意图；
图2为本发明所述的一种X射线胶片检测缺陷定位装置的工作原理示意图；
其中，1-框架，2-激光指示器，3-可移动固定激光指示器框架，4-固定销，5-可移动滑块，6-可弯曲塑料支撑。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明：
具体实施方式一：参见图1-2说明本实施方式。本实施方式所述的X射线胶片检测缺陷定位装置，包括框架1、三个激光指示器2、三个可移动固定激光指示器框架3、六个固定销4、四个可移动滑块5和两个可弯曲塑料支撑6，所述框架1的上下各设置一道滑轨，六个固定销4分别位于上下的滑轨内，两两相对设置，两两相对的固定销4上套有可移动固定激光指示器框架3，可移动固定激光指示器框架3通过两端的固定销4在框架1的滑轨上作用移动，每个可移动固定激光指示器框架3安装有激光指示器2，每个激光指示器2沿可移动固定激光指示器框架3上下移动，所述框架1的两侧安装有可弯曲塑料支撑6，每个可弯曲塑料支撑6通过两端的可移动滑块5进行弧度调节。
本发明所述的X射线胶片检测缺陷定位装置的使用方法为：
使用过程中把胶片固定在框架1上，利用框架1上自带的强光光源来进行观测胶片，观测过程中把2个激光指示器2垂直移动到底片上显示的标记位置处，再把剩下的一个激光指示器2垂直移动到胶片上所标注的缺陷位置处，打开激光指示器2，然后将整个装置平行放置在距离检测面的一定位置上，其中定位的2个激光指示器2与工件上的2个定位标记重合，对应缺陷的激光指示器2在工件上的投影即为缺陷位置；
当被检物体为环形工件时，因为检测面为弧形，为了能使胶片上的投影定位标记能与工件上的定位标记准确重合，将固定胶片的可滑动滑块5往内滑动，使胶片的弧度与工件弧度近乎一致，直到胶片的投影标记与工件面上的定位标记重合，在移动缺陷对应的激光指示器2，此时激光指示器2在工件上的投影即为缺陷在工件上的对应位置。
本发明采用的技术方案：一种用于X射线胶片检测在被检测物体上进行快速精确标注缺陷的装置，创新要点包括如下方面：
一、能够将胶片上显示的标记和缺陷位置投影到工件上；
二、保证在投影过程中没有影像的放大或者缩小，避免投影标记与工件上的实际标记对不齐导致缺陷定位不准；
三、装置可以兼顾带有曲率表面的工件或环形工件X射线胶片成像检测的缺陷定位；
四、装置所用材料必须坚固耐用且轻便，如轻质塑料。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明。所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，还可以是上述各个实施方式记载的特征的合理组合，凡在本发明精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种X射线胶片检测缺陷定位装置，其特征在于，包括框架(1)、三个激光指示器(2)、三个可移动固定激光指示器框架(3)、六个固定销(4)、四个可移动滑块(5)和两个可弯曲塑料支撑(6)，所述框架(1)的上下各设置一道滑轨，六个固定销(4)分别位于上下的滑轨内，两两相对设置，两两相对的固定销(4)上套有可移动固定激光指示器框架(3)，可移动固定激光指示器框架(3)通过两端的固定销(4)在框架(1)的滑轨上作用移动，每个可移动固定激光指示器框架(3)安装有激光指示器(2)，每个激光指示器(2)沿可移动固定激光指示器框架(3)上下移动，所述框架(1)的两侧安装有可弯曲塑料支撑(6)，每个可弯曲塑料支撑(6)通过两端的可移动滑块(5)进行弧度调节。
2.一种如权利要求1所述的X射线胶片检测缺陷定位装置的使用方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
(1)把胶片固定在框架(1)上，利用框架(1)上自带的强光光源来进行观测胶片，观测过程中把任意两个激光指示器(2)垂直移动到底片上显示的标记位置处，再把剩下的一个激光指示器(2)垂直移动到胶片上所标注的缺陷位置处，并打开这个激光指示器(2)，然后将整个装置平行放置在距离检测面的一定位置上，其中定位的两个激光指示器(2)与工件上的两个定位标记重合，对应缺陷的激光指示器(2)在工件上的投影即为缺陷位置；
(2)当被检物体为环形工件时，因为检测面为弧形，为了能使胶片上的投影定位标记能与工件上的定位标记准确重合，将固定胶片的可移动滑块(5)往内滑动，使胶片的弧度与工件弧度近乎一致，直到胶片的投影标记与工件面上的定位标记重合，在移动缺陷对应的激光指示器(2)，此时激光指示器(2)在工件上的投影即为缺陷在工件上的对应位置。
CN202110056519.1A 2021-01-15 2021-01-15 一种x射线胶片检测缺陷定位装置 Active CN112881438B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110056519.1A CN112881438B (zh) 2021-01-15 2021-01-15 一种x射线胶片检测缺陷定位装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110056519.1A CN112881438B (zh) 2021-01-15 2021-01-15 一种x射线胶片检测缺陷定位装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112881438A CN112881438A (zh) 2021-06-01
CN112881438B true CN112881438B (zh) 2023-10-13

Family

ID=76048459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110056519.1A Active CN112881438B (zh) 2021-01-15 2021-01-15 一种x射线胶片检测缺陷定位装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112881438B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4092669A (en) * 1975-05-31 1978-05-30 Rolls-Royce (1971) Limited Apparatus for measuring spatial data from recorded images
CN102830129A (zh) * 2012-08-27 2012-12-19 张峰 用于承压类设备焊缝的射线检测底片的快速高清数字化录入装置
CN204594902U (zh) * 2015-05-12 2015-08-26 中国南方航空工业(集团)有限公司 一种环形零件x射线定向透照装置
CN105092614A (zh) * 2015-09-02 2015-11-25 共享铸钢有限公司 射线检测铸件点状缺陷深度的系统及方法
CN105467011A (zh) * 2015-12-09 2016-04-06 上海复合材料科技有限公司 一种超声c扫描检测中缺陷位置精确定位方法
CN211086147U (zh) * 2019-09-17 2020-07-24 常州捷锐试验检测有限公司 一种用于固定射线检测胶片的装置
CN111595870A (zh) * 2020-06-02 2020-08-28 西安航天发动机有限公司 三维曲面夹层结构x射线自动化检测系统

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4092669A (en) * 1975-05-31 1978-05-30 Rolls-Royce (1971) Limited Apparatus for measuring spatial data from recorded images
CN102830129A (zh) * 2012-08-27 2012-12-19 张峰 用于承压类设备焊缝的射线检测底片的快速高清数字化录入装置
CN204594902U (zh) * 2015-05-12 2015-08-26 中国南方航空工业(集团)有限公司 一种环形零件x射线定向透照装置
CN105092614A (zh) * 2015-09-02 2015-11-25 共享铸钢有限公司 射线检测铸件点状缺陷深度的系统及方法
CN105467011A (zh) * 2015-12-09 2016-04-06 上海复合材料科技有限公司 一种超声c扫描检测中缺陷位置精确定位方法
CN211086147U (zh) * 2019-09-17 2020-07-24 常州捷锐试验检测有限公司 一种用于固定射线检测胶片的装置
CN111595870A (zh) * 2020-06-02 2020-08-28 西安航天发动机有限公司 三维曲面夹层结构x射线自动化检测系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN112881438A (zh) 2021-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103424088B (zh) 一种倒角测量仪
CN109253702A (zh) 一种pcb钻孔快速检修方法及设备
CN106124336B (zh) 高温超塑性拉伸大变形测量装置和方法
CN102735699B (zh) 用于x射线探伤后处理的定位标识系统
JPS59119204A (ja) マ−ク位置検出方法
CN109239087B (zh) 一种影像检测平台
CN105066903A (zh) 一种激光三维测量系统及其测量方法
CN107388968A (zh) 检测仪以及检测系统
CN104034259B (zh) 一种影像测量仪校正方法
CN112881438B (zh) 一种x射线胶片检测缺陷定位装置
TWI387721B (zh) 三維形貌檢測裝置
EP1486773A1 (en) Method and system to inspect a component
CN211452221U (zh) 一种通用零件尺寸测试仪
CN112147151A (zh) 一种大口径多面体光学表面疵病自动化检测装置
CN211262128U (zh) 零件异形表面微结构三维尺寸的检测设备
CN104783832A (zh) 一种ct定位线指示灯光标精确性测试板
CN207585527U (zh) 一种全自动光学影像测量仪
CN215263210U (zh) 一种数字射线检测装置
CN110470250B (zh) 一种零件表面平面度的检测装置及检测方法
TWI693374B (zh) 非接觸式物體輪廓量測系統
CN112945964A (zh) 一种基于机器视觉的冲压件缺陷检测装置
CN220690029U (zh) 一种多镜头检测机构
CN220961268U (zh) 一种视觉检测装置
CN216482860U (zh) 一种双镜头拼接测量仪
CN203949630U (zh) 一种非接触式高度检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant