CN112857236A - 一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法,包括用于放置手机显示屏的载台、用于拍照定位的视觉系统、用于测量胶高的广角光谱共焦传感器,将产品翻转一个角度,广角光谱共焦传感器沿圆孔最低点做切线运动同时采集数据,检测挖孔屏圆孔内若干点点的胶高值,以此来判断圆孔内所点胶水是否在正常范围内;将采集到的数据进行转换、滤波,线性插值处理,处理完成的数据进行分析,计算出产品高度和产品圆孔底面高度;分析出胶水高度,并输出值,根据报警阈值判断出产品状态;归档保存记录产品胶高参数值,确保检测数据可查询及追溯。
Description
技术领域
本发明涉及手机屏胶高检测技术领域,特别涉及一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法
背景技术
在手机屏幕的制作过程中,屏内圆孔(挖孔屏)方案在显示面板中更大的屏占比受到越来越多的青睐,工艺也较成熟。挖孔屏需要在圆孔内进行点胶,屏内点胶因为胶量少,而且有侧壁阻挡,检测难度大。屏内点胶后的胶高检测,现有的方式是将屏幕切开,然后再从剖面测量胶高。这种方案只能适用于抽检,检测后,屏幕报废,操作过程繁琐,检测效率低,检测成本较高。
因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法,旨在简化胶高检测的过程,提高检测效率,降低检测成本。
为实现上述目的,本发明提出的一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法,包括用于放置手机显示屏的载台、用于拍照定位的视觉系统、用于测量胶高的广角光谱共焦传感器,该胶高检测方法包括如下步骤:
S1:将手机显示屏水平放置于载台,视觉系统对手机显示屏拍照,计算手机显示屏上圆孔的圆心坐标、圆孔上沿其圆周方向均匀排布的若干点的坐标,及载台的旋转中心坐标;
S2:将载台绕X轴翻转一角度θ,步骤S1中圆孔上其中一点位于圆孔的最低处,计算该点位于圆孔最低处的坐标;
S3:广角光谱共焦传感器移动至步骤S2计算的圆孔最低处的坐标位置,并沿Y轴移动一段直线距离L,测量圆孔内胶水沿该直线距离内的若干点位的坐标数据组;
S4:根据步骤S3中得到的若干点位的坐标数据组,计算圆孔内胶水沿该直线距离L内的若干点位的高度数据组,并将该高度数据组转换为载台翻转前实际的胶高数据组;
S5:将步骤S4中得到的载台翻转前实际的胶高数据组进行滤波后求出步骤S2中圆孔最低点处对应的胶高;
S6:将载台翻转至水平,并将载台沿水平方向旋转一角度α,保证步骤S1中的各个点位在载台翻转后,均能到达圆孔的最低点;
S7:重复步骤S2,依次计算载台翻转角度θ后,圆孔上各个点位位于圆孔最低处的坐标;
S8:重复步骤S3-S5,依次计算出步骤S7中圆孔上各个点位对应的胶高值,并与报警阀值作对比。
优选地,步骤S1中,所述圆孔上若干点的数量设置为四个或八个。
优选地,步骤S1中,圆孔圆心坐标为(X0,Y0),圆孔半径为r,若干点的坐标为(Xn,Yn,Zn),载台的旋转中心坐标为(Xo,Yo,Zo)。
优选地,载台旋转一角度α后,圆孔上若干点的坐标为(Xn’,Yn’,Zn’),其中Zn’=Zn,
优选地,载台翻转角度θ后,载台的旋转中心坐标为(Xo’,Yo’,Zo’),圆孔上若干点的坐标为(Xn”,Yn”,Zn”),其中,载台绕X轴为中心做翻转,
Xn”=Xn’,Xo’=Xo,
Yo’=Yo+(R+L)*sin(θ),
Zo’=Zo+(R-(R+L))*cos(θ),其中R为载台的翻转半径,L为圆孔底部至手机显示屏底部的厚度;
Yn”=Yo’+(Yn’-Yo)*cos(θ),
Zn”=Zo’+(Yn’-Yo)*sin(θ)。
优选地,步骤S3中,若干点位的坐标数据组包括各个点的Y轴坐标DYn和Z轴坐标DZn。
优选地,步骤S4中,圆孔内胶水沿直线距离L内的若干点位的高度数据组为各个点的Z轴坐标组成的数据组,该Z轴坐标转换为载台翻转前的Z轴坐标为DZn’,其中:
DZn’=(DYn-DY1)*sin(θ)-(DZn-DZ1)*cos(θ)+DZ1,
其中,(DY1,DZ1)为该数据组中第一个点的坐标。
优选地,上述求出的载台翻转前Z轴的坐标,组成胶高的实际数据组,对该数据组进行滤波的过称为:将相邻两个Z轴坐标相减,用后一点的值减去前一点的值,求出其增量的绝对值,与预设的最大允许值作比较,若该绝对值小于允许值,则取后一点的值,若该绝对值大于允许值,则取前一点的值。
优选地,数据组进行滤波后,在滤波后的数据组中找出最大值与最小值,最大值与最小值的差值即为胶高值。
优选地,所述广角光谱共焦传感器移动的距离L为圆孔半径r长度的三分之二,载台的翻转角度θ设置为30°~45°。
与现有技术相比,本发明的有益效果是,改善了传统挖孔屏的胶高焦策方法,将产品翻转一个角度,广角光谱共焦传感器沿圆孔最低点做切线运动同时采集数据,检测挖孔屏圆孔内若干点点的胶高值,以此来判断圆孔内所点胶水是否在正常范围内,实现了胶高的自动化检测,大大提高了胶高检测的效率,降低了检测成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明胶高检测方法流程图;
图2为本发明胶高检测示意图;
图3为本发明载台翻转示意图;
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
本实施例提出的一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法,包括用于放置手机显示屏的载台、用于拍照定位的视觉系统、用于测量胶高的广角光谱共焦传感器,该胶高检测方法包括如下步骤:
S1:将手机显示屏水平放置于载台,视觉系统对手机显示屏拍照,计算手机显示屏上圆孔的圆心坐标、圆孔上沿其圆周方向均匀排布的若干点的坐标,及载台的旋转中心坐标;
S2:将载台绕X轴翻转一角度θ,步骤S1中圆孔上其中一点位于圆孔的最低处,计算该点位于圆孔最低处的坐标;
S3:广角光谱共焦传感器移动至步骤S2计算的圆孔最低处的坐标位置,并沿Y轴移动一段直线距离L,测量圆孔内胶水沿该直线距离内的若干点位的坐标数据组;
S4:根据步骤S3中得到的若干点位的坐标数据组,计算圆孔内胶水沿该直线距离L内的若干点位的高度数据组,并将该高度数据组转换为载台翻转前实际的胶高数据组;
S5:将步骤S4中得到的载台翻转前实际的胶高数据组进行滤波后求出步骤S2中圆孔最低点处对应的胶高;
S6:将载台翻转至水平,并将载台沿水平方向旋转一角度α,保证步骤S1中的各个点位在载台翻转后,均能到达圆孔的最低点;
S7:重复步骤S2,依次计算载台翻转角度θ后,圆孔上各个点位位于圆孔最低处的坐标;
S8:重复步骤S3-S5,依次计算出步骤S7中圆孔上各个点位对应的胶高值,并与报警阀值作对比。
进一步地,步骤S1中,所述圆孔上若干点的数量设置为四个或八个。本实施例中,圆孔上若干点的数量设置为四个,且四个点在圆孔上构成一十字形。
进一步地,步骤S1中,圆孔圆心坐标为(X0,Y0),圆孔半径为r,若干点的坐标为(Xn,Yn,Zn),载台的旋转中心坐标为(Xo,Yo,Zo)。
应当说明的是,由于本实施例中,圆孔上取四个点进行胶高检测,因此,相邻两个点之间的角度为90°,且载台的翻转中心固定,可以选四个点其中一点作为起始点,该点无需在载台上进行旋转,载台旋转后,该点刚好位于圆孔最低点,而其余三个点需要进行角度α旋转,具体地,需要依次旋转90°,180°,270°后,方能使其余三个点在载台翻转后到达圆孔的最低点。
载台旋转一角度α后,圆孔上若干点的坐标为分别为(Xn’,Yn’,Zn’),其中Zn’=Zn,
进一步地,载台翻转角度θ后,载台的旋转中心坐标为(Xo’,Yo’,Zo’),圆孔上若干点的坐标为分别为(Xn”,Yn”,Zn”),其中,载台绕X轴为中心做翻转,
Xn”=Xn’,Xo’=Xo,
Yo’=Yo+(R+L)*sin(θ),
Zo’=Zo+(R-(R+L))*cos(θ),其中R为载台的翻转半径,L为圆孔底部至手机显示屏底部的厚度;
Yn”=Yo’+(Yn’-Yo)*cos(θ),
Zn”=Zo’+(Yn’-Yo)*sin(θ)。
进一步地,步骤S3中,若干点位的坐标数据组包括各个点的Y轴坐标DYn和Z轴坐标DZn。
进一步地,步骤S4中,圆孔内胶水沿直线距离L内的若干点位的高度数据组为各个点的Z轴坐标组成的数据组,该Z轴坐标转换为载台翻转前的Z轴坐标为DZn’,其中:
DZn’=(DYn-DY1)*sin(θ)-(DZn-DZ1)*cos(θ)+DZ1,
其中,(DY1,DZ1)为该数据组中第一个点的坐标。
进一步地,上述求出的载台翻转前Z轴的坐标,组成胶高的实际数据组,对该数据组进行滤波的过称为:将相邻两个Z轴坐标相减,用后一点的值减去前一点的值,求出其增量的绝对值,与预设的最大允许值作比较,若该绝对值小于允许值,则取后一点的值,若该绝对值大于允许值,则取前一点的值。
进一步地,数据组进行滤波后,在滤波后的数据组中找出最大值与最小值,最大值与最小值的差值即为胶高值。
进一步地,所述广角光谱共焦传感器移动的距离L为圆孔半径r长度的三分之二,载台的翻转角度θ设置为30°~45°。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,包括用于放置手机显示屏的载台、用于拍照定位的视觉系统、用于测量胶高的广角光谱共焦传感器,该胶高检测方法包括如下步骤:
S1:将手机显示屏水平放置于载台,视觉系统对手机显示屏拍照,计算手机显示屏上圆孔的圆心坐标、圆孔上沿其圆周方向均匀排布的若干点的坐标,及载台的旋转中心坐标;
S2:将载台绕X轴翻转一角度θ,步骤S1中圆孔上其中一点位于圆孔的最低处,计算该点位于圆孔最低处的坐标;
S3:广角光谱共焦传感器移动至步骤S2计算的圆孔最低处的坐标位置,并沿Y轴移动一段直线距离L,测量圆孔内胶水沿该直线距离内的若干点位的坐标数据组;
S4:根据步骤S3中得到的若干点位的坐标数据组,计算圆孔内胶水沿该直线距离L内的若干点位的高度数据组,并将该高度数据组转换为载台翻转前实际的胶高数据组;
S5:将步骤S4中得到的载台翻转前实际的胶高数据组进行滤波后求出步骤S2中圆孔最低点处对应的胶高;
S6:将载台翻转至水平,并将载台沿水平方向旋转一角度α,保证步骤S1中的各个点位在载台翻转后,均能到达圆孔的最低点;
S7:重复步骤S2,依次计算载台翻转角度θ后,圆孔上各个点位位于圆孔最低处的坐标;
S8:重复步骤S3-S5,依次计算出步骤S7中圆孔上各个点位对应的胶高值,并与报警阀值作对比。
2.如权利要求1所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,步骤S1中,所述圆孔上若干点的数量设置为四个或八个。
3.如权利要求1所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,步骤S1中,圆孔圆心坐标为(X0,Y0),圆孔半径为r,若干点的坐标分别为(Xn,Yn,Zn),载台的旋转中心坐标为(Xo,Yo,Zo)。
5.如权利要求4所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,载台翻转角度θ后,载台的旋转中心坐标为(Xo’,Yo’,Zo’),圆孔上若干点的坐标分别为(Xn”,Yn”,Zn”),其中,载台绕X轴为中心做翻转,
Xn”=Xn’,Xo’=Xo,
Yo’=Yo+(R+L)*sin(θ),
Zo’=Zo+(R-(R+L))*cos(θ),其中R为载台的翻转半径,L为圆孔底部至手机显示屏底部的厚度;
Yn”=Yo’+(Yn’-Yo)*cos(θ),
Zn”=Zo’+(Yn’-Yo)*sin(θ)。
6.如权利要求1所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,步骤S3中,若干点位的坐标数据组包括各个点的Y轴坐标DYn和Z轴坐标DZn。
7.如权利要求6所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,步骤S4中,圆孔内胶水沿直线距离L内的若干点位的高度数据组为各个点的Z轴坐标组成的数据组,该Z轴坐标转换为载台翻转前的Z轴坐标为DZn’,其中:
DZn’=(DYn-DY1)*sin(θ)-(DZn-DZ1)*cos(θ)+DZ1,
其中,(DY1,DZ1)为该数据组中第一个点的坐标。
8.如权利要求7所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,上述求出的载台翻转前Z轴的坐标,组成胶高的实际数据组,对该数据组进行滤波的过称为:将相邻两个Z轴坐标相减,用后一点的值减去前一点的值,求出其增量的绝对值,与预设的最大允许值作比较,若该绝对值小于允许值,则取后一点的值,若该绝对值大于允许值,则取前一点的值。
9.如权利要求8所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,数据组进行滤波后,在滤波后的数据组中找出最大值与最小值,最大值与最小值的差值即为胶高值。
10.如权利要求1~9任一所述的用于手机挖孔屏的胶高检测方法,其特征在于,所述广角光谱共焦传感器移动的距离L为圆孔半径r长度的三分之二,载台的翻转角度θ设置为30°~45°。
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