CN112834976A - 基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备 - Google Patents

基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备 Download PDF

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Abstract

本发明适用于传感器检测技术领域，提供了一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备，其中，该方法包括：在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；获取第一相关系数、第二相关系数以及第三相关系数；如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。采用本发明能够对特高频传感器的布置有效性及偏差进行校验。

Description

基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备
技术领域
本发明属于传感器检测技术领域，尤其涉及一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备。
背景技术
近年来，气体绝缘开关设备(Gas Insulated Switchgear，GIS)在电力系统中的应用愈加广泛，尤其在高压、超高压以及特高压领域被广泛应用。GIS设备可以由断路器、隔离开关、接地开关、互感器、避雷器、母线、连接件和出线终端等部件组成，这些部件全部封闭在金属接地的外壳中，并在其内部充有一定压力的六氟化硫(SF6)绝缘气体。为了保证GIS设备的安全运行，通常使用特高频检测方法对GIS设备进行检测。在特高频检测中，特高频传感器作为关键器件，其布置情况很大程度上影响了特高频检测的准确性和可靠性。
目前，亟需一种能够对特高频传感器的布置情况进行有效、准确校验的方法。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备，以对特高频传感器的布置偏差进行校验。
本发明实施例的第一方面提供了一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，包括：
在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；其中，预设数量的扫描点的测量间隔为预设间隔；
获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数；
如果存在小于预设阈值的相关系数，则将对应的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
可选的，在第一相为A相的情况下，第二相为B相，第三相为C相；
相应的，在第一相为B相的情况下，第二相为A相，第三相为C相；
相应的，在第一相为C相的情况下，第二相为A相，第三相为B相。
可选的，获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数，包括：
计算第一积分值、第二积分值和第三积分值；其中，第一积分值为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线中每个扫描点分别对应的测量参数值的乘积的积分值，第二积分值为第一目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值，第三积分值为第二目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值；
获取第二积分值与第三积分值的乘积的开方值，并将第一积分值与开方值的比值，确定为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线的相关系数；
其中，第一目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中的任意一种曲线，第二目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中除第一目标传输损耗曲线以外的任意一种曲线。
可选的，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线，包括：
根据测量得到的第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第一相的传输损耗曲线，并将第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线；
根据测量得到的第二相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第二相的传输损耗曲线，并将第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第二相的第二传输损耗曲线；
根据测量得到的第三相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第三相的传输损耗曲线，并将第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第三相的第三传输损耗曲线。
可选的，在得到第一相的传输损耗曲线之后，方法还包括：
获取第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第一相的传输损耗曲线的第一比例；
如果第一比例大于预设比例，则将预设频段确定为第一相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段；
相应的，在得到第二相的传输损耗曲线之后，方法还包括：
获取第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第二相的传输损耗曲线的第二比例；
如果第二比例大于预设比例，则将预设频段确定为第二相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
相应的，在得到第三相的传输损耗曲线之后，方法还包括：
获取第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第三相的传输损耗曲线的第三比例；
如果第三比例大于预设比例，则将预设频段确定为第三相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
可选的，布置偏差参数至少包括传感器自身特性偏差、安装偏差或馈线偏差中的一种。
可选的，预设频段为[300MHz，3GHz]的子集。
可选的，子集至少包括高频子集、中频子集和低频子集。
可选的，预设频段为[300MHz，1.5GHz]，预设间隔为1MHz，预设阈值为0.8，预设参数值为-70dB，预设比例为80％。
本发明实施例的第二方面提供了一种终端设备，包括：
测量模块，用于在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；其中，预设数量的扫描点的测量间隔为预设间隔；
获取模块，用于获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数；
校验分析模块，用于如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
可选的，在第一相为A相的情况下，第二相为B相，第三相为C相；
相应的，在第一相为B相的情况下，第二相为A相，第三相为C相；
相应的，在第一相为C相的情况下，第二相为A相，第三相为B相。
可选的，获取模块还用于：
计算第一积分值、第二积分值和第三积分值；其中，第一积分值为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线中每个扫描点分别对应的测量参数值的乘积的积分值，第二积分值为第一目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值，第三积分值为第二目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值；
获取第二积分值与第三积分值的乘积的开方值，并将第一积分值与开方值的比值确定为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线的相关系数；
其中，第一目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中的任意一种曲线，第二目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中除第一目标传输损耗曲线以外的任意一种曲线。
可选的，测量模块还用于：
根据测量得到的第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第一相的传输损耗曲线，并将第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线；
根据测量得到的第二相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第二相的传输损耗曲线，并将第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第二相的第二传输损耗曲线；
根据测量得到的第三相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第三相的传输损耗曲线，并将第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第三相的第三传输损耗曲线。
可选的，获取模块还用于：
获取第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第一相的传输损耗曲线的第一比例；如果第一比例大于预设比例，则将预设频段确定为第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段；
获取第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第二相的传输损耗曲线的第二比例；如果第二比例大于预设比例，则将预设频段确定为第二相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
获取第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第三相的传输损耗曲线的第三比例；如果第三比例大于预设比例，则将预设频段确定为第三相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
可选的，布置偏差参数至少包括传感器自身特性偏差、安装偏差或馈线偏差中的一种。
可选的，预设频段为[300MHz，3GHz]的子集。
可选的，子集至少包括高频子集、中频子集和低频子集。
可选的，预设频段为[300MHz，1.5GHz]，预设间隔为1MHz，预设阈值为0.8，预设参数值为-70dB。
本发明实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
本发明实施例可以通过测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线，然后可以分别获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数。之后，如果上述三个相关系数中存在小于预设阈值的相关系数，则可以将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。由于每条传输损耗曲线的数值大小能够反映出不同频率信号的传播衰减情况，从而评估两个相邻传感器的有效覆盖频段范围；不同相的传输损耗曲线之间的相关系数，可以反映出两者之间的相似程度，而两者之间的相似程度可以反映特高频传感器的布置位置、安装偏差、馈线偏差等是否正常。因此，可以通过曲线的数值大小评估两个相邻传感器的有效覆盖频段，通过曲线之间的相似程度评估三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置偏差，从而提供了一种能够对特高频传感器的布置情况进行有效、准确校验的方法。
另外，由于上述校验结果是在预设频段的校验结果，因此，可以选择不同的子频段进行校验，得到不同子频段内的校验结果。如此，可以反映相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在不同的局部频率范围内的布置偏差及信号衰减特性，从而更全面地反映相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置情况。
此外，还能够有效地开展特高频传感器的现场检测，及时发现局放信号的检测盲区，从而更好地发挥特高频检测技术的实际应用效果和作用，提高特高频检测设备的运行可靠性和应用水平。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例提供的一种三相GIS设备示意图；
图3为本发明实施例提供的一种传输损耗曲线W11(f)的示意图；
图4为本发明实施例提供的一种传输损耗曲线W12(f)的示意图；
图5为本发明实施例提供的一种终端设备的示意图；
图6为本发明实施例提供的一种终端设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
如背景技术所描述的，在特高频检测中，特高频传感器作为关键器件，其布置偏差很大程度上影响了特高频检测的准确性，然而，目前还没有一种能够对特高频传感器的布置偏差进行校验的方法。
为了解决现有技术问题，本发明实施例提供了一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法及终端设备。下面首先对本发明实施例所提供的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法进行介绍。
本发明实施例提供的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法的执行主体，可以是具备数据处理能力的终端设备，例如网络分析仪。
本发明实施例提供的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，可以用于检测三相GIS设备中特高频传感器的布置偏差，例如传感器自身特性偏差、安装偏差或馈线偏差等布置偏差参数。
如图1所示，本发明实施例提供的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法可以包括以下步骤：
步骤S110、在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线。
以图2为例，图2示出了一种三相GIS设备，在图2中，每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器，分别是指A相中的S1和S2、B相中的S3和S4、以及C相中的S5和S6。此外，相同结构位置可以是每一相的直线型结构位置，也可以是L型的拐弯结构位置，还可以是其它常见的位置结构，这里不作为对其的具体限定。
在一些实施例中，可以在预设频段内按照预设数量的扫描点，以预设间隔为测量间隔，如1MHz，对每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数进行测量，以分别得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线。需要说明的是，有效范围内的传输损耗曲线可以反映出特高频传感器的布置偏差情况。
在一些实施例中，在预设频段内测量得到的传输损耗曲线，可以将上述S12或S21的S参数测量值大于预设参数值的曲线部分定义为有效频段曲线，相应的，可以将S参数测量值小于预设参数值的曲线部分定义为无效频段曲线。如此，可通过对S参数的测量值设定某个阈值来定义传输损耗过大时的频率范围作为无效频段，例如S参数的测量值小于预设值的曲线段，如S21＜-70dB对应的曲线段。由于这些无效频段的曲线段的传输损耗较大，不仅参考意义较低，而且会影响最终的校验结果，因此，可以将无效频段的曲线段剔除，只根据有效频段曲线部分计算后续提及的相关系数，以优化校验结果。
具体的，可以根据测量得到的第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第一相的传输损耗曲线，并将第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线。相应的，可以根据测量得到的第二相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第二相的传输损耗曲线，并将第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第二相的第二传输损耗曲线。相应的，可以根据测量得到的第三相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第三相的传输损耗曲线，并将第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第三相的第三传输损耗曲线。
在一些实施例中，对于三相GIS设备，如果第一相为A相，那么第二相可以为B相，第三相可以为C相。相应的，如果第一相为B相，那么第二相可以为A相，第三相可以为C相。相应的，如果第一相为C相，那么第二相可以为A相，第三相可以为B相。
以第一相为A相为例，此时，第一传输损耗曲线为A相的传输损耗曲线，第二传输损耗曲线为B相的传输损耗曲线，第三传输损耗曲线为C相的传输损耗曲线。
在一些实施例中，可以采用双端口网络分析仪，测量每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，以得到第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线。
在一些实施例中，预设频段可以是[300MHz，3GHz]的子集，例如[300MHz，1.5GHz]。扫描点的数量可以是预设数量，其可以由测量间隔所决定，其中，测量间隔可以是预设间隔。以预设频段是[300MHz，1.5GHz]为例，如果预设间隔为1MHz，相应的扫描点的数量可以为1200。
在一些实施例中，为了反映每相中相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在局部频率上的参数特征，例如高频段、中频段或者低频段的参数特征，预设频段可以划分为[300MHz，3GHz]范围内的高频子集、中频子集或低频子集。具体的，例如选取[300MHz，1.5GHz]作为预设频段时，其高频子集可以是[1GHz，1.5GHz]，中频子集可以是[500MHz，1GHz]，低频子集可以是[300MHz，500MHz]。
进一步的，在条件允许的情况下，为了得到每相中相同结构位置处的两个相邻特高频传感器更详细的参数特征，可以缩小预设频段及其子集的频率范围，例如[300MHz，350MHz]、[350MHz，400MHz]、[500MHz，530MHz]等。
步骤S120、获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数。
在一些实施例中，第一相关系数可以用于衡量第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的相似程度，第二相关系数可以用于衡量第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的相似程度，第三相关系数可以用于衡量第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的相似程度。具体的，可以采用误差能量来衡量不同传输损耗曲线之间的相似程度。
在一些实施例中，可以通过如下方式计算任意两条传输损耗曲线的相关系数：计算第一积分值、第二积分值和第三积分值；其中，第一积分值为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线中每个扫描点分别对应的测量参数值的乘积的积分值，第二积分值为第一目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值，第三积分值为第二目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值；获取第二积分值与第三积分值的乘积的开方值，并将第一积分值与开方值的比值确定为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线的相关系数。
具体的，上述第一目标传输损耗曲线可以为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中的任意一种曲线，相应的，第二目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中除第一目标传输损耗曲线以外的任意一种曲线。
以第一传输损耗曲线Wi1(f)和第二传输损耗曲线Wi2(f)为例，两者的误差能量E可以用Wi1(f)-a*Wi2(f)的平方的积分来表示，即：
E＝∫(Wi1(f)-a*Wi2(f))2df
其中，上述积分运算的上下限值可以为上述预设频段的上下限值。此外，倍数a的选择需要使误差能量E最小，通过对函数求导求极值可知，当a为Wi1(f)*Wi2(f)的积分与Wi2(f)*Wi2(f)积分的比值时，可以使误差能量E最小，即
Figure BDA0002873528200000111
之后，可以计算Wi1(f)与Wi2(f)的第一相关系数P，其中，P的平方与1的差值可以称为相对误差能量，此外，误差能量E与Wi1(f)*Wi1(f)积分的比值满足如下公式：
Figure BDA0002873528200000121
对上述方程求解可得：
Figure BDA0002873528200000122
其中，Wi1(f)*Wi2(f)的积分即为上述第一积分值，即第一传输损耗曲线Wi1(f)和第二传输损耗曲线Wi2(f)中每个扫描点分别对应的测量参数值的乘积的积分值；Wi1(f)*Wi1(f)的积分即为上述第二积分值，即第一传输损耗曲线Wi1(f)中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值；Wi2(f)*Wi2(f)的积分即为上述第三积分值，即第二传输损耗曲线Wi2(f)中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值。
需要说明的是，从数学上可以证明上述解中分子的模小于分母，因此，第一相关系数P的模不会大于1。当第一相关系数P为1时，表明第一传输损耗曲线Wi1(f)和第二传输损耗曲线Wi2(f)的相似度很好；当第一相关系数P为0时，表明第一传输损耗曲线Wi1(f)和第二传输损耗曲线Wi2(f)的相似度很差。可以通过预设阈值，例如0.8，来衡量第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器以及第二相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置偏差是否异常。如果计算出的第一相关系数P大于或者等于预设阈值，则可以认为被检测的特高频传感器的布置偏差满足要求，否则认为布置偏差存在异常。
步骤S130、如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
在一些实施例中，在获取到第一相关系数、第二相关系数和第三相关系数后，如果第一相关系数小于预设阈值，或者第二相关系数小于预设阈值，或者第三相关系数小于预设阈值，则可以将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。如果第一相关系数大于或者预设阈值，并且第二相关系数大于或者等于预设阈值，并且第三相关系数大于或者等于预设阈值，则可以将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数正常的特高频传感器。
需要说明的是，可以根据不同的预设频段，设置不同的预设阈值。以预设频段是[300MHz，1.5GHz]为例，相应的预设阈值可以设置为0.8。
值得一提的是，在进行上述校验时，可以对预设频段取不同的频率范围子集，例如上述提及的高频子集、中频子集或低频子集，然后按照本发明实施例所提供的校验方法，可以得到各个频率范围对应的相关系数，然后可以根据不同频率范围的相关系数与预设阈值的大小关系，得到每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在相应频率范围内的校验结果。这样，根据每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在各个频率范围内的校验结果，可以反映每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在局部频率范围内的布置偏差及信号衰减特性，从而全面地反映特高频传感器的布置情况。
可选的，可以通过预设比例来确定每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段，具体处理可以如下：获取第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第一相的传输损耗曲线的第一比例；如果第一比例大于预设比例，则将预设频段确定为第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
相应的，可以获取第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第二相的传输损耗曲线的第二比例；如果第二比例大于预设比例，则将预设频段确定为第二相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
相应的，可以获取第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第三相的传输损耗曲线的第三比例；如果第三比例大于预设比例，则将预设频段确定为第三相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
在一些实施例中，以预设参数值为-70dB、预设比例为80％、预设频段为[300MHz，1.5GHz]为例，如果第一相的传输损耗曲线中测量参数值大于-70dB的频段占[300MHz，1.5GHz]的比例大于80％，则可以将[300MHz，1.5GHz]确定为第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
进一步的，可以对预设频段取不同的频率范围，例如上述提及的高频子集、中频子集或低频子集，然后按照上述提及布置的有效覆盖频段的判断方法，可以判断某个频率范围，是否为某相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段，从而可以反映该相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在不同频率范围的传输特性，进而可以根据传输特性情况，反映该相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器彼此之间的布置情况。
为了更好的理解上述实施例提供的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，下面提供一种具体的检测方法。
再次参见图2，以第一相为图2中的A相为例，可以采用双端口网络分析仪对三相GIS设备进行测试，可以将300MHz～1.5GHz作为检测频率范围，扫描点为1200。
首先，可以将双端口网络分析仪的portl及port2端口分别连接安装在GIS设备上的A相的两个特高频传感器S1和S2，测得传输损耗曲线W11(f)，如图3所示。之后，可以将双端口网络分析仪的portl及port2端口分别连接安装在GIS设备上的B相的两个特高频传感器S3和S4，测得传输损耗曲线W12(f)，如图4所示。接着，再将双端口网络分析仪的portl及port2端口分别连接安装在GIS设备上的C相的两个特高频传感器S5和S6，测得传输损耗曲线W13(f)。其中，W11(f)、W12(f)、W13(f)传输损耗曲线均是一组包含1200个数据的数据序列。例如，W11(f)＝(W11(300)，W11(301)，W11(302)……W11(1500))，其数值依次为A相的两特高频传感器S1和S2在300MHz、301MHz、302MHz……1500MHz频率处的S12或S21参数测量值，单位为dB。
之后，对相同结构位置的两个特高频传感器的传输损耗曲线依次进行对比，以比较传输损耗曲线W11(f)和W12(f)、W11(f)和W13(f)的相似程度为例，可以分别计算得到传输损耗曲线W11(f)和W12(f)的第一相关系数PW11，以及传输损耗曲线W11(f)和W13(f)的第一相关系数PW12，预设阈值Pmin可以取0.8。
具体计算过程如下：
Figure BDA0002873528200000151
Figure BDA0002873528200000152
Figure BDA0002873528200000153
Figure BDA0002873528200000154
Figure BDA0002873528200000155
Figure BDA0002873528200000156
经过计算后，假设第一相关系数PW11＝0.87，第二相关系数PW12＝0.84，由于第一相关系数PW11和第二相关系数PW12均大于0.8，因此，可以认为A相的两个特高频传感器S1和S2、B相的两个特高频传感器S3和S4、C相的两个特高频传感器S5和S6的布置偏差正常。
此外，假设计算得到W11(f)＝-70dB、f＝400MHz，W12(f)＝-70dB、f＝410MHz和W13(f)＝-70dB、f＝390MHz，可得各传输损耗曲线中大于-70dB的频段占比分别为：
Figure BDA0002873528200000161
Figure BDA0002873528200000162
Figure BDA0002873528200000163
由于各传输损耗曲线中大于-70dB的频段占比均在80％以上，因此，可以将300MHz～1.5GHz作为特高频传感器S1-S6的安装布置的有效覆盖频段。
值得一提的是，可以按照上述测量方式，对三相GIS中每相的其它相同位置的两个特高频传感器的布置偏差进行检测。例如，假设上述特高频传感器S1-S6为三相GIS设备的第一段，那么，如上述测量方式，可以测量第二段相同位置结构的三组特高频传感器，记录传输损耗曲线为W21(f)、W22(f)、W23(f)，重复此方法，依次测量至第N段相同位置结构的三组特高频传感器，记录传输损耗曲线为Wn1(f)、Wn2(f)、Wn3(f)。之后，分别计算传输损耗曲线W21(f)和W22(f)的相关数PW21，传输损耗曲线W21(f)和W23(f)的相关数PW22，依次类推，传输损耗曲线Wn1(f)和Wn2(f)的相关数PWn1，传输损耗曲线Wn1(f)和Wn3(f)的相关数PWn2。
同上述判定规则，相关数均大于0.8，则认为特高频传感器的自身特性偏差、安装偏差、馈线偏差等误差在允许范围内，此外，如果在各频段范围内大于-70dB的部分均占该频段曲线的80％以上，则认为预设频段为对应相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的有效布置频段。
在本发明实施例中，可以通过测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线，然后可以分别获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数。之后，如果上述三个相关系数中存在小于预设阈值的相关系数，则可以将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。由于每条传输损耗曲线的数值大小能够反映出不同频率信号的传播衰减情况，从而评估两个相邻传感器的有效覆盖频段范围；不同相的传输损耗曲线之间的相关系数，可以反映出两者之间的相似程度，而两者之间的相似程度可以反映特高频传感器的布置位置、安装偏差、馈线偏差等是否正常。因此，可以通过曲线的数值大小评估两个相邻传感器的有效覆盖频段，通过曲线之间的相似程度评估三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置偏差，从而提供了一种能够对特高频传感器的布置情况进行有效、准确校验的方法。
另外，由于上述校验结果是在预设频段的校验结果，因此，可以选择不同的子频段进行校验，得到不同子频段内的校验结果。如此，可以反映相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在不同的局部频率范围内的布置偏差及信号衰减特性，从而更全面地反映相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置情况。
此外，还能够有效地开展特高频传感器的现场检测，及时发现局放信号的检测盲区，从而更好地发挥特高频检测技术的实际应用效果和作用，提高特高频检测设备的运行可靠性和应用水平。
基于上述实施例提供的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，相应地，本发明还提供了应用于该基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法的终端设备的具体实现方式。请参见以下实施例。
如图5所示，提供了一种终端设备，包括：
测量模块510，用于在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；其中，预设数量的扫描点的测量间隔为预设间隔；
获取模块520，用于获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数；
校验分析模块530，用于如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
可选的，在第一相为A相的情况下，第二相为B相，第三相为C相；
相应的，在第一相为B相的情况下，第二相为A相，第三相为C相；
相应的，在第一相为C相的情况下，第二相为A相，第三相为B相。
可选的，获取模块还用于：
计算第一积分值、第二积分值和第三积分值；其中，第一积分值为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线中每个扫描点分别对应的测量参数值的乘积的积分值，第二积分值为第一目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值，第三积分值为第二目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值；
获取第二积分值与第三积分值的乘积的开方值，并将第一积分值与开方值的比值确定为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线的相关系数；
其中，第一目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中的任意一种曲线，第二目标传输损耗曲线为第一传输损耗曲线、第二传输损耗曲线以及第三传输损耗曲线中除第一目标传输损耗曲线以外的任意一种曲线。
可选的，测量模块还用于：
根据测量得到的第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第一相的传输损耗曲线，并将第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线；
根据测量得到的第二相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第二相的传输损耗曲线，并将第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第二相的第二传输损耗曲线；
根据测量得到的第三相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第三相的传输损耗曲线，并将第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第三相的第三传输损耗曲线。
可选的，获取模块还用于：
获取第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第一相的传输损耗曲线的第一比例；如果第一比例大于预设比例，则将预设频段确定为第一相的相同结构位置处的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段；
获取第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第二相的传输损耗曲线的第二比例；如果第二比例大于预设比例，则将预设频段确定为第二相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
获取第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分占第三相的传输损耗曲线的第三比例；如果第三比例大于预设比例，则将预设频段确定为第三相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
可选的，布置偏差参数至少包括传感器自身特性偏差、安装偏差或馈线偏差中的一种。
可选的，预设频段为[300MHz，3GHz]的子集。
可选的，子集至少包括高频子集、中频子集和低频子集。
可选的，预设频段为[300MHz，1.5GHz]，预设间隔为1MHz，预设阈值为0.8，预设参数值为-70dB。
在本发明实施例中，可以通过测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线，然后可以分别获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数。之后，如果上述三个相关系数中存在小于预设阈值的相关系数，则可以将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。由于每条传输损耗曲线的数值大小能够反映出不同频率信号的传播衰减情况，从而评估两个相邻传感器的有效覆盖频段范围；不同相的传输损耗曲线之间的相关系数，可以反映出两者之间的相似程度，而两者之间的相似程度可以反映特高频传感器的布置位置、安装偏差、馈线偏差等是否正常。因此，可以通过曲线的数值大小评估两个相邻传感器的有效覆盖频段，通过曲线之间的相似程度评估三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置偏差，从而提供了一种能够对特高频传感器的布置情况进行有效、准确校验的方法。
另外，由于上述校验结果是在预设频段的校验结果，因此，可以选择不同的子频段进行校验，得到不同子频段内的校验结果。如此，可以反映相同结构位置处的两个相邻特高频传感器在不同的局部频率范围内的布置偏差及信号衰减特性，从而更全面地反映相同结构位置处的两个相邻特高频传感器的布置情况。
此外，还能够有效地开展特高频传感器的现场检测，及时发现局放信号的检测盲区，从而更好地发挥特高频检测技术的实际应用效果和作用，提高特高频检测设备的运行可靠性和应用水平。
图6是本发明一实施例提供的终端设备的示意图。如图6所示，该实施例的终端设备6包括：处理器60、存储器61以及存储在所述存储器61中并可在所述处理器60上运行的计算机程序62。所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各个基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法实施例中的步骤。或者，所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能。
示例性的，所述计算机程序62可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器61中，并由所述处理器60执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序62在所述终端设备6中的执行过程。例如，所述计算机程序62可以被分割成测量模块、获取模块以及校验分析模块，各模块具体功能如下：
测量模块，用于在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；其中，预设数量的扫描点的测量间隔为预设间隔；
获取模块，用于获取第一传输损耗曲线和第二传输损耗曲线的第一相关系数，第一传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及第二传输损耗曲线和第三传输损耗曲线的第三相关系数；
校验分析模块，用于如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
所述终端设备6可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器60、存储器61。本领域技术人员可以理解，图6仅仅是终端设备6的示例，并不构成对终端设备6的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器60可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器61可以是所述终端设备6的内部存储单元，例如终端设备6的硬盘或内存。所述存储器61也可以是所述终端设备6的外部存储设备，例如所述终端设备6上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器61还可以既包括所述终端设备6的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器61用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器61还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，包括：
在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；其中，所述预设数量的扫描点的测量间隔为预设间隔；
获取所述第一传输损耗曲线和所述第二传输损耗曲线的第一相关系数，所述第一传输损耗曲线和所述第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及所述第二传输损耗曲线和所述第三传输损耗曲线的第三相关系数；
如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在所述预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
2.如权利要求1所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于：
在所述第一相为A相的情况下，所述第二相为B相，所述第三相为C相；
在所述第一相为B相的情况下，所述第二相为A相，所述第三相为C相；
在所述第一相为C相的情况下，所述第二相为A相，所述第三相为B相。
3.如权利要求2所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，所述获取所述第一传输损耗曲线和所述第二传输损耗曲线的第一相关系数，所述第一传输损耗曲线和所述第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及所述第二传输损耗曲线和所述第三传输损耗曲线的第三相关系数，包括：
计算第一积分值、第二积分值和第三积分值；其中，所述第一积分值为第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线中每个扫描点分别对应的测量参数值的乘积的积分值，所述第二积分值为所述第一目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值，所述第三积分值为所述第二目标传输损耗曲线中每个扫描点对应的测量参数值与其自身的乘积的积分值；
获取所述第二积分值与所述第三积分值的乘积的开方值，并将所述第一积分值与所述开方值的比值，确定为所述第一目标传输损耗曲线和第二目标传输损耗曲线的相关系数；
其中，所述第一目标传输损耗曲线为所述第一传输损耗曲线、所述第二传输损耗曲线以及所述第三传输损耗曲线中的任意一种曲线，所述第二目标传输损耗曲线为所述第一传输损耗曲线、所述第二传输损耗曲线以及所述第三传输损耗曲线中除所述第一目标传输损耗曲线以外的任意一种曲线。
4.如权利要求1所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，所述得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线，包括：
根据测量得到的第一相的所述相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第一相的传输损耗曲线，并将所述第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线；
根据测量得到的第二相的所述相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第二相的传输损耗曲线，并将所述第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第二相的第二传输损耗曲线；
根据测量得到的第三相的所述相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到第三相的传输损耗曲线，并将所述第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于预设参数值的曲线部分，作为有效范围内的第三相的第三传输损耗曲线。
5.如权利要求4所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，在所述得到第一相的传输损耗曲线之后，所述方法还包括：
获取所述第一相的传输损耗曲线中参数测量值大于所述预设参数值的曲线部分占所述第一相的传输损耗曲线的第一比例；
如果所述第一比例大于预设比例，则将所述预设频段确定为所述第一相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段；
在所述得到第二相的传输损耗曲线之后，所述方法还包括：
获取所述第二相的传输损耗曲线中参数测量值大于所述预设参数值的曲线部分占所述第二相的传输损耗曲线的第二比例；
如果所述第二比例大于预设比例，则将所述预设频段确定为所述第二相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段；
在所述得到第三相的传输损耗曲线之后，所述方法还包括：
获取所述第三相的传输损耗曲线中参数测量值大于所述预设参数值的曲线部分占所述第三相的传输损耗曲线的第三比例；
如果所述第三比例大于预设比例，则将所述预设频段确定为所述第三相的两个相邻特高频传感器布置的有效覆盖频段。
6.如权利要求5所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，所述预设频段为[300MHz，3GHz]的子集。
7.如权利要求6所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，所述子集至少包括高频子集、中频子集和低频子集。
8.如权利要求6所述的基于传输损耗的特高频传感器布置校验方法，其特征在于，所述预设频段为[300MHz，1.5GHz]，所述预设间隔为1MHz，所述预设阈值为0.8，所述预设参数值为-70dB，所述预设比例为80％。
9.一种终端设备，其特征在于，包括：
测量模块，用于在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量三相气体绝缘开关设备中每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器之间的S12或S21参数，得到有效范围内的第一相的第一传输损耗曲线、第二相的第二传输损耗曲线以及第三相的第三传输损耗曲线；其中，所述预设数量的扫描点的测量间隔为预设间隔；
获取模块，用于获取所述第一传输损耗曲线和所述第二传输损耗曲线的第一相关系数，所述第一传输损耗曲线和所述第三传输损耗曲线的第二相关系数，以及所述第二传输损耗曲线和所述第三传输损耗曲线的第三相关系数；
校验分析模块，用于如果存在小于预设阈值的相关系数，则将每一相相同结构位置处的两个相邻特高频传感器确定为在所述预设频段内布置偏差参数异常的特高频传感器。
10.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述方法的步骤。
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