CN112834902A - 一种电路板测试工装 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电路板测试工装,涉及电路测试技术领域,包括底板,底板的后端固定设有滑杆,滑杆的上端之间固定有连接板,滑杆之间设有上滑块、下滑块,滑杆之间设有竖直的螺杆,螺杆的上端穿过连接板与连接板转动连接,螺杆穿过上滑块与上滑块螺纹连接,上滑块的前侧面设有下滑块下压装置,下滑块的前侧面固定有连接臂,连接臂的前端固定有用于电路板上引脚检测的检测组件,滑杆的下端与下滑块之间设有压簧,连接臂的顶面与凸轮的轮廓面抵接;本发明结构简单,操作方便,可以调节下滑块向下移动的距离,从而实现检测组件向下移动距离的控制,同时,检测完成之后,能够方便的将检测组件回复至初始位置,方便电路板的取装。
Description
技术领域
本发明涉及电路测试技术领域,尤其涉及一种电路板测试工装。
背景技术
电路板上焊接有大量电子元器件,例如电容、电阻、芯片、二极管等电子元器件,这些电子元器件与电路板焊接后,为了确保电子元器件与电路板的焊接稳定性,需要对电路板上的元器件的引脚进行检测,检测引脚出是否虚焊,以及焊接过程中是否对电子元器件造成损坏。目前通常都是人工采用检测笔或者电路板测试工装对电路板引脚进行检测,采用电路板测试工装进行检测时,通常需要操作探针到合适位置与电路板上引脚接触进行检测,现有技术中的电路板测试工装中,探针位置控制不精确,与电路板上引脚接触进行接触时容易产生误差,导致漏测,同时探针的移动距离也无法根据电路板的大小厚薄进行调整,导致电路板测试工装检测适用范围小,而采用人工采用检测笔对引脚进行检测,检测效率低,而且还容易漏检。
例如,一种在中国专利文献上公开的“一种检测电路板的检测工装”,其公告号CN204116549U,其公开了一种检测电路板的检测工装,包括翻盖、检测台、连接板、金属板、支撑杆、检测针和小灯泡,其特征在于:翻盖的中央设有一玻璃盖,在翻盖内表面的两侧分别采用连接板一固定金属板,在金属板上分布有若干检测针一,在检测针一的一侧设有小灯泡,翻盖的后部采用铰链与连接板二连接,连接板二固定在检测台表面的后部,翻盖的两侧采用支撑杆与检测台的两侧固定,检测台的中央设有另一玻璃盖,玻璃盖的下方设有若干检测针二。然而该实用新型探针的移动距离也无法根据电路板的大小厚薄进行调整,导致电路板测试工装检测适用范围小。
发明内容
本发明是为了克服目前现有技术中的电路板测试工装中,探针位置控制不精确,与电路板上引脚接触进行接触时容易产生误差,导致漏测,同时探针的移动距离也无法根据电路板的大小厚薄进行调整,导致电路板测试工装检测适用范围小,而采用人工采用检测笔对引脚进行检测,检测效率低,而且还容易漏检等问题,提出了一种电路板测试工装。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种电路板测试工装,包括底板,底板的后端固定设有滑杆,滑杆的上端之间固定有连接板,滑杆之间设有上滑块、下滑块,滑杆之间设有竖直的螺杆,螺杆的上端穿过连接板与连接板转动连接,螺杆穿过上滑块与上滑块螺纹连接,上滑块的前侧面设有下滑块下压装置,下滑块的前侧面固定有连接臂,连接臂的前端固定有用于电路板上引脚检测的检测组件,滑杆的下端与下滑块之间设有压簧,连接臂的顶面与凸轮的轮廓面抵接。
本发明在使用过程中,将待检测的电路板放置于底板上,随后,通过转动螺杆可以调节上滑块的高度,将高度调节到合适的位置时,此时,通过控制上滑块前侧面的下滑块下压装置可以将下滑块向下压动,从而带动连接臂上的检测组件与固定于底板上待检测的电路板引脚接触并进行检测,且由于滑杆的下端与下滑块之间设有压簧,因此此时压簧处于压缩状态,而当检测组件对电路板检测完成之后,松开下滑块下压装置,此时在压簧的回弹力作用下,能够把下滑块推回初始位置,完成检测组件与电路板的分离,完成整个检测过程。本发明结构简单,操作方便,通过调节上滑块的高度配合下滑块下压装置可以调节下滑块向下移动的距离,从而实现检测组件向下移动距离的控制,使得本发明能够检测不同厚度大小的电路板,同时,检测完成之后,能够方便的将检测组件回复至初始位置,方便电路板的取装。
作为优选,所述下滑块下压装置包括凸轮,所述凸轮与上滑块转动连接,且凸轮为椭圆结构,其大径端所在的轮廓面上设有支撑平面。
下滑块下压装置包括凸轮,且凸轮为椭圆结构,在采用下滑块下压装置对下滑块进行下压时,可以转动凸轮,随着凸轮大径端慢慢旋转至连接臂的顶面,下滑块也慢慢向下压动,当凸轮大径端的支撑平面与连接臂的顶面接触支撑时,完成下滑块的下压,此时检测组件正好与固定于底板上待检测的电路板引脚接触并进行检测。
作为优选,所述上滑块的前侧面固定有轴套,凸轮的端面上设有与轴套转动连接的凸轮轴,轴套的侧面设有长槽孔,长槽孔内设有与凸轮固定的驱动杆。
本发明中驱动杆设于长槽孔内,当需要转动凸轮时,可以扳动驱动杆,此时驱动杆在长槽孔内滑动,并带动凸轮的旋转。完成下滑块的下压操作。
作为优选,所述上滑块和下滑块之间设有弹簧。
本发明中上滑块和下滑块之间设有弹簧,在下滑块下压装置将下滑块向下压动对线路板进行检测时,此时压簧处于压缩状态,弹簧处于拉伸状态,当下滑块下压装置松开后,弹簧与压簧的共同回复力可以使得下滑块更轻松的回复至初始的位置,相对于只设置压簧,弹簧能够起到辅助压簧,起到协同作用的目的,使得下滑块更快的回复至初始位置,减小单只压簧的回复压力,增加装置的使用寿命。
同时,更重要的是,在本发明中,通过转动椭圆结构的凸轮能够下压下滑块,同时,通过调节上滑块的位置,能够调节上滑块与下滑块的相对距离,从而转动凸轮时能够实现下滑块的下压距离的调节,使得检测组件能够和不同规格的电路板引线接触完成检测,然而,只设置压簧时,下滑块的下压距离的调节量是有限的,这取决于椭圆结构凸轮中大径和小径的差值,且下滑块在压簧推力下的初始位置与底板的距离是固定的,导致了检测组件与地板间距可调节范围有限。但是,在工装制作完毕后,无法再对凸轮的椭圆结构和下滑块在压簧推力下的初始位置进行调节,同时,若凸轮中大径和小径的差值过大,旋转凸轮下压下滑块的阻力难度也会越大。因此,本发明中在上滑块和下滑块之间设置了弹簧,在本发明使用时对上滑块的距离进行调节时,在弹簧拉伸力与压簧协同作用力达到平衡时,下滑块的初始位置也会发生改变,随后再通过旋转椭圆结构的凸轮下压下滑块,能够增加检测组件与地板间距可调节范围,例如,由于特殊需求,检测组件与底板的间距不够需要检测的带有线路板的产品安装时,此时可以调高上滑块的位置,因此在弹簧和压簧协同作用力下下滑块会向上滑移,增加检测组件与地板的间距,而只设置压簧并不能实现此调节功能。
作为优选,所述螺杆的上端设有转动柄。
转动柄方便于螺杆的旋转。
作为优选,底板上设有用于电路板定位的横向定位板和纵向定位板。
横向定位板和纵向定位板用于电路板的定位。
作为优选,底板上设有横向长槽孔、纵向长槽孔,横向定位板通过螺栓、螺母与纵向长槽孔连接,纵向定位板通过螺栓、螺母与横向长槽孔连接。
通过设置横向长槽孔和纵向长槽孔可以根据实际需求调节横向定位板和纵向定位板的位置,扩大适用范围,同时横向定位板沿着纵向长槽孔移动到合适的位置后通过螺栓、螺母定位,纵向定位板沿着横向长槽孔移动到合适位置后通过螺栓、螺母定位,通过横向定位板、纵向定位板对电路板的边缘进行定位,从而确保每次检测组件下压时,探针能与电路板上的引脚一一对应接触。
作为优选,所述检测组件包括定位板和若干探针,所述探针与探针定位板之间固定连接。
作为优选,所述定位板包括探针固定板和连接块,所述连接块与探针固定板之间螺栓连接。
探针的数量以及安装位置与电路板上待检测的引脚数量、位置一致;当凸轮将连接臂下压时,检测组件中的探针一一对应与电路板上的引脚接触,多个引脚同步检测,检测效率高。
作为优选,所述底板的底面上设有脚垫。
脚垫的设置使得本发明放置更为稳固。
因此,本发明具有如下有益效果:本发明结构简单,操作方便,通过调节上滑块的高度配合下滑块下压装置可以调节下滑块向下移动的距离,从而实现检测组件向下移动距离的控制,使得本发明能够检测不同厚度大小的电路板,同时,检测完成之后,能够方便的将检测组件回复至初始位置,方便电路板的取装。
附图说明
图1是本发明结构示意图。
图2是本发明正视图。
图3是本发明另一种视角结构示意图。
图4是本发明局部爆炸示意图。
图中:底板1、横向长槽孔100、探针固定板1101、连接块1102、纵向长槽孔101、脚垫2、滑杆3、连接板4、上滑块5、轴套50、长槽孔51、下滑块6、螺杆7、转动柄8、凸轮9、凸轮轴90、驱动杆91、支撑平面92、连接臂10、检测组件11、探针定位板110、探针111、压簧12、横向定位板13、纵向定位板14,弹簧15,下滑块下压装置16。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本发明做进一步的描述。
实施例1:如图1所示,一种电路板测试工装,其特征在于,包括底板1,所述底板1的底面上设有脚垫2,底板1的后端固定设有滑杆3,滑杆的上端之间固定有连接板4,滑杆3之间设有上滑块5、下滑块6,滑杆之间设有竖直的螺杆7,螺杆7的上端穿过连接板与连接板转动连接,所述螺杆7的上端设有转动柄8,螺杆7穿过上滑块5与上滑块螺纹连接,上滑块5的前侧面设有下滑块下压装置16,所述下滑块下压装置16包括凸轮9,所述上滑块5的前侧面固定有轴套50,凸轮9的端面上设有与轴套转动连接的凸轮轴90,轴套50的侧面设有长槽孔51,长槽孔内设有与凸轮固定的驱动杆91,且凸轮9为椭圆结构,其大径端所在的轮廓面上设有支撑平面92;下滑块6的前侧面固定有连接臂10,连接臂10的前端固定有用于电路板上引脚检测的检测组件11,所述检测组件11包括定位板110和若干探针111,所述探针与探针定位板之间固定连接,所述定位板110包括探针固定板1101和连接块1102,所述连接块1102与探针固定板之间螺栓连接;滑杆3的下端与下滑块之间设有压簧12,所上滑块5和下滑块6之间设有弹簧15,连接臂10的顶面与凸轮的轮廓面抵接。
底板1上设有用于电路板定位的横向定位板13和纵向定位板14,所述底板1上设有横向长槽孔100、纵向长槽孔101,横向定位板13通过螺栓、螺母与纵向长槽孔连接,纵向定位板14通过螺栓、螺母与横向长槽孔连接。
本发明在使用过程中,通过设置横向长槽孔100和纵向长槽孔101可以根据实际需求调节横向定位板13和纵向定位板14的位置,同时横向定位板沿着纵向长槽孔移动到合适的位置后通过螺栓、螺母定位,纵向定位板沿着横向长槽孔移动到合适位置后通过螺栓、螺母定位,通过横向定位板、纵向定位板对电路板的边缘进行定位,将待检测的电路板固定于底板1上后,通过转动螺杆7可以调节上滑块5的高度,将高度调节到合适的位置时(合适的位置指的是凸轮大径端的支撑平面与连接臂抵接时,所有探针均与电路板上的引脚接触,凸轮小径端与连接臂抵接时,所有探针均与电路板上的引脚分离),此时,通过控制上滑块5前侧面的下滑块下压装置16可以将下滑块向下压动,在采用下滑块下压装置16对下滑块进行下压时,可以扳动驱动杆91,此时驱动杆在长槽孔内滑动,并带动凸轮9的旋转,随着凸轮大径端慢慢旋转至连接臂的顶面,下滑块也慢慢向下压动,当凸轮大径端的支撑平面与连接臂的顶面接触支撑时,完成下滑块的下压,下滑块的下压能够带动连接臂10上的检测组件11与固定于底板1上待检测的电路板引脚接触并进行检测,此时压簧12处于压缩状态,弹簧15则处于拉伸状态,而当检测组件11对电路板检测完成,下滑块下压装置16松开后,弹簧15与压簧12的共同回复力可以使得下滑块更轻松的回复至初始的位置,相对于只设置压簧12,弹簧15能够起到辅助压簧12,起到协同作用的目的,使得下滑块更快的回复至初始位置,完成检测组件11与电路板的分离,完成整个检测过程。而由于特殊需求,检测组件与底板的间距不够需要检测的带有线路板的产品安装时,此时可以调高上滑块的位置,因此在弹簧15和压簧12协同作用力下下滑块会向上滑移,增加检测组件与地板的间距,从而顺利完成检测。
Claims (10)
1.一种电路板测试工装,其特征在于,包括底板(1),底板(1)的后端固定设有滑杆(3),滑杆的上端之间固定有连接板(4),滑杆(3)之间设有上滑块(5)、下滑块(6),滑杆之间设有竖直的螺杆(7),螺杆(7)的上端穿过连接板与连接板转动连接,螺杆(7)穿过上滑块(5)与上滑块螺纹连接,上滑块(5)的前侧面设有下滑块下压装置(16),下滑块(6)的前侧面固定有连接臂(10),连接臂(10)的前端固定有用于电路板上引脚检测的检测组件(11),滑杆(3)的下端与下滑块之间设有压簧(12),连接臂(10)的顶面与凸轮的轮廓面抵接。
2.根据权利要求1所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述下滑块下压装置16包括凸轮(9),所述凸轮(9)与上滑块(5)转动连接,且凸轮(9)为椭圆结构,其大径端所在的轮廓面上设有支撑平面(92)。
3.根据权利要求2所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述上滑块(5)的前侧面固定有轴套(50),凸轮(9)的端面上设有与轴套转动连接的凸轮轴(90),轴套(50)的侧面设有长槽孔(51),长槽孔内设有与凸轮固定的驱动杆(91)。
4.根据权利要求1-3任一所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述上滑块(5)和下滑块(6)之间设有弹簧(15)。
5.根据权利要求1-3任一所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述螺杆(7)的上端设有转动柄(8)。
6.根据权利要求1-3任一所述的一种电路板测试工装,其特征在于,底板(1)上设有用于电路板定位的横向定位板(13)和纵向定位板(14)。
7.根据权利要求6所述的一种电路板测试工装,其特征在于,底板(1)上设有横向长槽孔(100)、纵向长槽孔(101),横向定位板(13)通过螺栓、螺母与纵向长槽孔连接,纵向定位板(14)通过螺栓、螺母与横向长槽孔连接。
8.根据权利要求1-3任一所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述检测组件11包括定位板(110)和若干探针(111),所述探针与探针定位板之间固定连接。
9.根据权利要求8所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述定位板(110)包括探针固定板(1101)和连接块(1102),所述连接块(1102)与探针固定板之间螺栓连接。
10.根据权利要求1-3任一所述的一种电路板测试工装,其特征在于,所述底板1的底面上设有脚垫(2)。
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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