CN112816187B - 一种激光光斑的质量判定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种激光光斑的质量判定方法,涉及激光质量测量评价技术领域,包括:获取待测光斑的图片,提取图片的灰度信息;根据灰度信息在待测光斑的图片中标记光斑中心和光斑边界;计算光斑中心与光斑边界的最远像素距离,记为光斑半径;以待测光斑的光斑中心为中心、光斑半径为半径生成基模高斯光斑作为参考光斑;将待测光斑与参考光斑对比,计算待测光斑的光斑质量。本发明规避了光斑图片的像素数、尺寸、亮度、形状等因素的干扰,能够直接反应待测光斑的能量分布均匀度;为光斑质量评估建立了一种标准,使得不同待测光斑在光斑质量角度上具有了可比性,同时,得到的待测光斑质量结果对于注重光斑效果的领域具有重要意义。
Description
技术领域
本发明涉及激光质量测量评价技术领域,尤其是涉及一种激光光斑的质量判定方法。
背景技术
激光质量是激光器的一个重要技术指标,通常包括激光光束质量和激光光斑质量两部分。其中,针对光斑质量分析,已有的分析方法多从光斑的均匀性进行设计,包括使用亮度计采集光束漫反射面上的亮度信息分析光斑的亮度分布,此类方法只能对比光斑内各像素点或区块之间的亮度差值大小来评判光斑的均匀性,对于分析单个光斑具有较好的效果,但是没有针对光斑本身的特性进行设计和分析,不能对不同光斑进行统一的评价。
发明内容
针对上述问题,本发明提供了一种激光光斑的质量判定方法,排除光斑图片自身像素数、尺寸、亮度的干扰,可以对各类激光的光斑进行统一的评价。
为实现上述目的,本发明提供了一种激光光斑的质量判定方法,包括:
获取待测光斑的图片,提取所述图片的灰度信息;
根据所述灰度信息在所述待测光斑的图片中标记光斑中心和光斑边界;
计算所述光斑中心与光斑边界的最远像素距离,记为光斑半径;
以所述待测光斑的光斑中心为中心、所述光斑半径为半径生成基模高斯光斑作为参考光斑;
将所述待测光斑与参考光斑对比,计算所述待测光斑的光斑质量。
作为本发明的进一步改进,所述获取待测光斑的图片的方法包括:
通过手机或相机拍照;
通过仿真模拟软件仿真。
作为本发明的进一步改进,所述图片的灰度信息包括待测光斑的图片中每一个像素点的灰度值。
作为本发明的进一步改进,提取所述待测光斑图片的灰度信息,包括:
通过RGB转灰度算法将彩色图片转换成灰度图片;
通过计算机直接获取所述灰度图片的灰度信息。
作为本发明的进一步改进,根据所述灰度信息在所述待测光斑图片中标记光斑中心和光斑边界,包括:
将所述待测光斑图片中灰度值最高的点标记为光斑中心,灰度值为光斑中心的1/e2的点标记为光斑边界。
作为本发明的进一步改进,所述基模高斯光斑的中心灰度值等于待测光斑的中心灰度值。
作为本发明的进一步改进,将所述待测光斑与参考光斑对比,计算所述待测光斑的光斑质量的公式为:
式中:i为参考光斑中的所有像素点;
R为待测光斑的半径,也是参考光斑的半径;
ri为i点与光斑中心点的像素距离;
gim为待测光斑中i点的灰度值;
gis为参考光斑中i点的灰度值;
n为待测光斑范围内像素点的个数。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
本发明通过将光斑图片做灰度处理,借助灰度值获取光斑的中心和半径,再借助基模高斯光斑形成参考光斑,进而对待测光斑进行质量判定,判定光斑质量时,规避了光斑图片的像素数、尺寸、亮度、形状等因素的干扰,能够直接反应待测光斑的能量分布均匀度;为光斑质量评估建立了一种标准,使得不同待测光斑在光斑质量角度上具有了可比性,同时,得到的待测光斑质量结果对于注重光斑效果的领域具有重要意义。
附图说明
图1为本发明一种实施例公开的激光光斑的质量判定方法流程图;
图2为本发明一种实施例公开的基模高斯光斑、典型半导体激光器形成的光斑、纤芯400微米的多模光纤出射形成的光斑图片;
图3为对应图2中各光斑标记光斑边界后的图片;
图4为对应图2中各光斑生成的参考光斑图片。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面结合附图对本发明做进一步的详细描述:
如图1所示,本发明提供的一种激光光斑的质量判定方法,包括:
S1、获取待测光斑的图片,提取图片的灰度信息;
其中,
获取待测光斑的图片的方法包括:
通过手机或相机拍照;
通过仿真模拟软件仿真。
图片的灰度信息包括:
待测光斑的图片中每一个像素点的灰度值。
提取待测光斑图片的灰度信息,包括:
通过RGB转灰度算法将彩色图片转换成灰度图片;
通过计算机直接获取灰度图片的灰度信息。
S2、根据灰度信息在待测光斑的图片中标记光斑中心和光斑边界;
其中,将待测光斑图片中灰度值最高的点标记为光斑中心,灰度值为光斑中心的1/e2的点标记为光斑边界。
S3、计算光斑中心与光斑边界的最远像素距离记为光斑半径;
S4、以待测光斑的光斑中心为中心、光斑半径为半径生成基模高斯光斑作为参考光斑;
其中,基模高斯光斑的中心灰度值等于待测光斑的中心灰度值。
S5、将待测光斑与参考光斑对比,计算待测光斑的光斑质量。
其中,
待测光斑的光斑质量的公式为:
式中:i为参考光斑中的所有像素点;
R为待测光斑的半径,也是参考光斑的半径;
ri为i点与光斑中心点的像素距离;
gim为待测光斑中i点的灰度值;
gis为参考光斑中i点的灰度值;
n为待测光斑范围内像素点的个数。
进一步的,
该公式下,基模高斯光斑的光斑质量为0;
得到的待测光斑质量结果越小,待测光斑的分布越接近基模高斯分布。
实施例:
步骤1、通过手机相机拍照获取待测光斑的彩色图片;
步骤2、通过RGB转灰度算法将彩色图片转换成灰度图片(如图2所示,3个光斑分别为基模高斯光斑、典型半导体激光器形成的光斑、纤芯400微米的多模光纤出射形成的光斑图片),通过计算机直接获取灰度图片中每一个像素的灰度值并生成灰度矩阵;
步骤3、找到灰度矩阵中灰度值最大的点,标记该点为光斑中心;将全图灰度值进行归一化处理,标记所有灰度值为光斑中心的点的1/e2的点(即归一化后灰度值为1/e2的点)为光斑边界(如图3所示)。
步骤4、计算灰度矩阵中标记的每个光斑边界点与光斑中心的像素距离(像素距离既灰度矩阵中两个像素点相隔的长度,同行或同列相邻两个像素点的间距为单位像素距离),找出最远像素距离记为光斑半径R。
步骤5、以待测光斑中心为中心,待测光斑半径R为半径,待测光斑中心点的灰度值为参考光斑的中心点灰度值,参考光斑像素点与待测光斑像素点一一对应,生成基模高斯光斑作为参考光斑(如图4所示);
步骤6、将待测光斑与参考光斑对比,通过光斑质量的公式进行计算,得到待测光斑的质量结果;
公式如下:
式中:i为参考光斑中的所有像素点;
R为待测光斑的半径,也是参考光斑的半径;
ri为i点与光斑中心点的像素距离;
gim为待测光斑中i点的灰度值;
gis为参考光斑中i点的灰度值;
n为待测光斑范围内像素点的个数。
本发明的优点:
本发明通过将光斑图片做灰度处理,借助灰度值获取光斑的中心和半径,再借助基模高斯光斑形成参考光斑,进而对待测光斑进行质量判定,判定光斑质量时,规避了光斑图片的像素数、尺寸、亮度、形状等因素的干扰,能够直接反应待测光斑的能量分布均匀度;为光斑质量评估建立了一种标准,使得不同待测光斑在光斑质量角度上具有了可比性,同时,得到的待测光斑质量结果对于注重光斑效果的领域具有重要意义。
本发明相比已有的光斑均匀度判定方法,提出的激光光斑质量评价方法对于激光光斑的质量评价更具有针对性,同时借鉴了激光光束质量的标准化思想,利用理想参考光斑的建立,建立一种理想参考光斑模型,对于使用传统光束质量方法难以判断的半导体激光光斑、多模光纤激光光斑,本方法具备极大的优势。
以上仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
2.根据权利要求1所述的质量判定方法,其特征在于,所述获取待测光斑的图片的方法包括:
通过手机或相机拍照;
通过仿真模拟软件仿真。
3.根据权利要求1所述的质量判定方法,其特征在于:所述图片的灰度信息包括待测光斑的图片中每一个像素点的灰度值。
4.根据权利要求1或3所述的质量判定方法,其特征在于,提取所述待测光斑图片的灰度信息,包括:
通过RGB转灰度算法将彩色图片转换成灰度图片;
通过计算机直接获取所述灰度图片的灰度信息。
5.根据权利要求3所述的质量判定方法,其特征在于,根据所述灰度信息在所述待测光斑图片中标记光斑中心和光斑边界,包括:
将所述待测光斑图片中灰度值最高的点标记为光斑中心,灰度值为光斑中心的1/e2的点标记为光斑边界。
6.根据权利要求3所述的质量判定方法,其特征在于:所述基模高斯光斑的中心灰度值等于待测光斑的中心灰度值。
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