CN112777376A - 一种降低基膜主线收卷形变的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种降低基膜主线收卷形变的方法。所述隔膜逆时针缠绕自过辊下半部开始收卷,依次绕过弧形辊上半部,收卷压辊下半部,顺时针缠绕收卷卷芯完成收卷,收卷压辊和收卷卷芯中间的隔膜上方还有离子棒。采用间歇收卷的收卷方式,避免隔膜发生挤压变形,用离子棒来消除隔膜所带静电,尽可能多的保留残余静电量,来达到好的静电吸附效果,本发明既能大大降低基膜主线在收卷时膜层间空气量较少造成的膜层间挤压,造成基膜挤压变形,同时也能给收卷后放置时应力释放足够的空间,来降低其后期发生的形变不良。

Description

一种降低基膜主线收卷形变的方法
技术领域
本发明涉及隔膜收卷技术领域,具体为一种降低基膜主线收卷形变的方法。
背景技术
基膜主线收卷机是用来将基膜主线前段通过铸片、拉伸、定型等得到的基膜进行自动收卷的设备,收卷后的膜卷会进行一次分切,或者放置一段时间后进行分切。收卷工艺直接影响了收卷的膜卷的品质。若是收卷工艺不适宜膜卷的收卷,膜卷会出现不良,该不良不会随着一次分切或者放置一段时间而消失,反而会变得更加严重,直接导致了成品的良品率下降,同时原本品质良好的膜卷在放置一段时间后可能也会发生不良,这些都会影响加工作业的难度和成品的良品率。
基膜主线收卷后膜卷发生不良以及放置一段时间后发生的二次不良,都是急需解决的问题,这要求我们提出一种可以改进膜卷收卷的工艺,来达到降低膜卷收卷后发生不良的概率和改善放置一段时间后发生二次不良的情况。
发明内容
本发明的目的在于提供一种降低基膜主线收卷形变的方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:
一种降低基膜主线收卷形变的方法,隔膜由前至后依次经过过辊、弧形辊、收卷压辊、压辊间隙,缠绕至收卷卷芯进行收卷。
进一步的,所述隔膜自过辊下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊下半部,顺时针缠绕弧形辊上半部,逆时针缠绕收卷压辊下半部,顺时针缠绕收卷卷芯进行收卷。
进一步的,所述收卷压辊和收卷卷芯中间的隔膜上方还有离子棒,所述离子棒电压范围为0~5kV。根据基膜主线收卷的松紧程度调节离子棒的电压,在保证收卷较为松软的同时,避免收卷膜卷的静电不至于过大造成隔膜静电击穿等不良。
进一步的,所述离子棒的电压范围为0~500V。0~5kV为本发明中离子棒可调节电压范围,当电压范围为0~500V时,可以实现静电吸附效果,达到最佳的收卷效果。
进一步的,所述隔膜的收卷速度为40~50m/min。隔膜的收卷速度匹配收卷初始张力,保证收卷的端面整齐。
进一步的,所述收卷压辊与收卷卷芯间的距离为压辊间隙,所述压辊间隙为10~20mm。保证不会因为间隙过大造成收卷压辊与收卷卷芯间隔膜平整度受到影响,同时避免间隙过小时收卷直径计算误差导致收卷压辊和收卷卷芯接触干涉,造成隔膜褶皱和其他收卷不良,收卷卷芯位置保持固定,通过控制收卷压辊随收卷隔膜直径变大而渐退的模式,保证压辊间隙恒定。
进一步的,所述收卷初始张力为11N/m~15N/m。保证隔膜收卷打底较紧,防止因收卷底部过松导致后面收卷跑偏严重,同时避免收卷张力过大而造成隔膜拉伸变形。
与现有技术相比,本发明所达到的有益效果是:
本发明公开了一种降低基膜主线收卷形变的方法,在收卷时,采用间隙收卷的收卷方式,避免收卷压辊和收卷卷芯所收卷隔膜发生挤压,防止因挤压造成收卷隔膜的收卷褶皱和收卷暴筋不良。在收卷时,通过调节离子棒的电压,来控制离子棒所释放的正负离子电荷的多少,进而控制隔膜的残余静电量的多少。一般离子棒的目的或目标,是尽可能的减少隔膜最终的静电量。而本发明中是保证隔膜不被静电击穿等严重缺陷的前提下,使隔膜的残余静电量尽可能的多,从而依靠隔膜残余静电量来达到较优的静电吸附效果。如果隔膜的膜面外观无影响,可以直接取消除离子棒。当离子棒的电压值≤500V时,隔膜在收卷时的静电吸附能力较强,可以采用较低的11N/m~15N/m收卷张力即可保证良好的收卷端面效果。收卷张力>15N/m时,容易因为大张力拉伸而造成的张力拉伸变形,而收卷张力<11N/m时,收卷会过松,下道工序放卷时容易发生打滑。适宜的较软的收卷硬度,避免了膜层间的层压造成的压力挤压变形。最终达到降低隔膜收卷后形变的最终效果。当基膜主线收卷后隔膜的形变不良增多时,将收卷张力、离子棒电压分别调小,优先调节顺序为收卷张力、离子棒电压,通过顺序调节,可以有效的降低隔膜的形变不良,在最短的时间内降低损失。通过本发明,既能大大降低基膜主线在收卷时膜层间空气量较少造成的膜层间挤压,造成基膜挤压变形,同时也能给收卷后放置时应力释放足够的空间,来降低其后期发生的形变不良。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是本发明的收卷流程示意图;
图中:1过辊;2弧形辊;3收卷压辊;4隔膜;5收卷卷芯;6离子棒;7压辊间隙。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为0V。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为11N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
实施例2
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为5kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为15N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
实施例3
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为2kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为13N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ500mm。
实施例4
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为2kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为13N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ700mm。
实施例5
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为2kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为13N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例1
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为0V。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为11N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例2
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为500V。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为11N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例3
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为0V。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为15N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例4
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为500V。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为15N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例5
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为200V。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为13N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例6
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为6kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为13N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例7
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为7kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为13N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例8
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为2kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为16N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
对比例9
一种降低基膜主线收卷形变的方法,步骤如下:
所述隔膜4自过辊1下半部开始收卷,依次按逆时针缠绕过辊1下半部,顺时针缠绕弧形辊2上半部,逆时针缠绕收卷压辊3下半部,顺时针缠绕收卷卷芯5进行收卷,收卷四卷。
其中,收卷压辊3和收卷卷芯5中间的隔膜4上方还有离子棒6,电压为2kV。
其中,隔膜4的收卷速度为40m/min。
其中,收卷压辊3与收卷卷芯5间的距离为压辊间隙7,压辊间隙7为20mm。
其中,收卷初始张力为10N/m。
其中,收卷卷芯5的卷芯直径为φ600mm。
实施例1、2、3、4共收卷20个膜卷,其中,实施例1中收卷初始张力为11N/m,离子棒电压为0kV,卷芯直径为φ600mm,实施例1收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
实施例2中收卷初始张力为15N/m,离子棒电压为5kV,卷芯直径为φ600mm,实施例2收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计3卷,形变平均不良率:3/4=75%;
实施例3中收卷初始张力为13N/m,离子棒电压为2kV,卷芯直径为φ500mm,实施例3收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
实施例4中收卷初始张力为13N/m,离子棒电压为2kV,卷芯直径为φ700mm,实施例4收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计4卷,形变平均不良率:4/4=100%;
实施例5中收卷初始张力为13N/m,离子棒电压为2kV,卷芯直径为φ600mm,实施例5收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计2卷,形变平均不良率:2/4=50%;
对比例1、2、3、4、5共收卷20个膜卷,其中,对比例1中收卷初始张力为11N/m,离子棒电压为0V,对比例1收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
对比例2中收卷初始张力为11N/m,离子棒电压为500V,对比例2收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
对比例3中收卷初始张力为15N/m,离子棒电压为0V,对比例3收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
对比例4中收卷初始张力为15N/m,离子棒电压为500V,对比例4收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
对比例5中收卷初始张力为13N/m,离子棒电压为200V,对比例5收卷4卷,其中因基膜主线收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计0卷,形变平均不良率:0/4=0%;
通过实施例1、2、3、4和对比例1、2、3、4、5的数据,隔膜在0~500V的收卷效果最好,因为此时可以实现静电吸附效果,在可调节范围0~5kV中除0~500V的其它范围,无法实现静电吸附效果,形变不良率增加。
对比例6、7、8、9共收卷16个膜卷,与实施例5相比,其中对比例6中离子棒电压为6kV,其中因主线基膜收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计4卷,形变平均不良率:4/4=100%;
对比例2中离子棒电压为7kV,其中因主线基膜收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计4卷,形变平均不良率:4/4=100%,对比例1和对比例2中离子棒电压均高于5kV,隔膜静电量较低,静电吸附效果较差,形变不良率增加;
对比例3中收卷初始张力为16N/m,大于11~15N/m,其中因主线基膜收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计3卷,形变平均不良率:4/4=100%,初始张力过大,容易拉伸变形,形变不良率增加;
对比例4中收卷初始张力为10N/m,小于11~15N/m,其中因主线基膜收卷原因造成的隔膜形变不良卷数共计4卷,形变平均不良率:4/4=100%,初始张力过小,隔膜容易打滑,形变不良率增加。
通过以上数据说明,本发明提出的一种降低主线基膜收卷形变的方法可以通过工艺的设计匹配以及基膜主线收卷设备的优化配置来实现降低主线基膜收卷的膜卷形变不良的情况。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:隔膜(4)由前至后依次经过过辊(1)、弧形辊(2)、收卷压辊(3),缠绕至收卷卷芯(5)完成收卷。
2.根据权利要求1所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述隔膜(4)逆时针缠绕自过辊(1)下半部开始收卷,依次绕过弧形辊(2)上半部,收卷压辊(3)下半部,顺时针缠绕收卷卷芯(5)完成收卷。
3.根据权利要求2所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述收卷压辊(3)和收卷卷芯(5)中间有隔膜(4)。
4.根据权利要求3所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述隔膜(4)上方还有离子棒(6),所述离子棒的电压范围为0~5kV。
5.根据权利要求4所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述离子棒的电压范围为0~500V。
6.根据权利要求2所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述隔膜(4)的收卷速度为40~50m/min。
7.根据权利要求2所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述收卷压辊(3)与收卷卷芯(5)间的距离为压辊间隙(7),所述压辊间隙(7)为10~20mm。
8.根据权利要求2所述的一种降低基膜主线收卷形变的方法,其特征在于:所述收卷初始张力为11N/m~15N/m。
9.根据权利要求2所述的一种降低主线基膜收卷形变的方法,其特征在于:所述收卷卷芯(5)的卷芯直径为φ500~φ700mm。
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