CN112711094A - 一种非接触跳线测量方法 - Google Patents

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Abstract

本发明属于光纤通讯技术领域,具体涉及一种非接触跳线测量方法。包括步骤:步骤A:将跳线插芯的端面加工为倾斜面;步骤B:在跳线插芯的倾斜面上添加用于填充间隙的匹配液,并将跳线插芯插入待测光端口进行测试;步骤D:输出反映待测光端口性能的测量数值。通过将跳线插芯的端面加工为倾斜面,在进行跳线测试光端口的插损时,只需在跳线插芯以及待测光端口插芯之间添加匹配液即可连接跳线插芯以及待测光端口插芯的光路,实现光端口插芯插损值的测试;有效的避免跳线插芯的端面与待测光端口插芯的端面完全接触导致的跳线插芯的端面磨损或待测光端口插芯的端面磨损,提高跳线插芯的使用寿命以及降低光端口的报废率。

Description

一种非接触跳线测量方法
技术领域
本发明属于光纤通讯设备领域,具体涉及一种非接触跳线测量方法。
背景技术
光通讯行业中经常需要用到光端口/接口,实现不同设备/模块/器件间的光纤的可快速插拔的对接。光端口/接口类型由很多,LC,CS,MPO,SC等等,生产企业在生产光端口时通常需要使用跳线测试光端口的插损,回损等参数,在理论情况下,光纤对接面应该是干净清洁的,那么设计合理的光接头对接一般都不会导致对接面间的划伤,但是实际使用情况中,灰尘,脏污总是存在的,在光接头对接时,两互相对接的插芯端面上可能混入灰尘,且量两互相接触的插芯端面可能由于装配间隙可以存在轻微的径向相对滑动,或测试测数太多,这就会在插芯光纤端面上造成划痕/磨花,对光学性能造成影响甚至导致光接头直接报废。如何降低在光端口的测试过程中插芯端面的磨花,对行业提出了挑战。
现有的方案都是要求测试跳线干净,且在无尘间完成测试,并要求员工小心,尽量在测试过程中不要让对接接触端面产生相对滑动,并要求每次测试前清洁测试跳线。但在实际情况中,无尘间实际也有灰尘,且员工会有误操作,有时会忘记清理测试跳线。导致实际生产中总有一定比例的测试导致的光端口插芯磨花,或是测试跳线需要频繁更换的问题。
因此,现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种非接触跳线测量方法,以解决现有的清洁棒返修光接头插芯成功率低的问题。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种非接触跳线测量方法,包括步骤:
步骤A:将跳线插芯的端面加工为呈一定倾斜角度设置的倾斜面;
步骤B:在跳线插芯的倾斜面上添加用于填充间隙的匹配液,并将跳线插芯插入待测光端口进行测试;
步骤D:输出反映待测光端口性能的测量数值。
本发明的更进一步优选方案是:所述非接触跳线测量方法还包括步骤:
步骤C:根据待测量插损值的大小,对测量结果进行处理;当测量要求的插损值小于0.4db时,则获取差异值对测量结果进行修正,并跳到步骤D;当测量要求的插损值大于等于0.4db时,则直接跳到步骤D。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤C中获取差异值的具体步骤为:
采用步骤A、步骤B的方法测量N次,获取测量结果并计算非接触平均值;
采用接触式的方法测量N次,获取测量结果并计算接触平均值;
将非接触平均值与接触平均值作差即可获取差异值。
本发明的更进一步优选方案是:所述N大于等于10。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤C中修正的具体步骤为:
获取测量结果以及差异值;
将测量结果以及差异值进行作差以及获取修正值。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤A中倾斜面的倾斜角度取值范围为:1.5~10度。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤A中倾斜面的倾斜角度为3度。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤B前还包括步骤:对跳线插芯的端面进行去灰处理。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤A中倾斜面的加工的具体步骤为:采用研磨机对跳线插芯的端面进行研磨。
本发明的更进一步优选方案是:所述步骤A中在跳线插芯的倾斜面上添加匹配液的具体步骤为:在跳线插芯的倾斜面上沾取匹配液。
本发明的有益效果在于,通过将跳线插芯的端面加工为倾斜面,在进行跳线测试光端口的插损时,只需在跳线插芯以及待测光端口插芯之间添加匹配液即可连接跳线插芯以及待测光端口插芯的光路,实现光端口插芯插损值的测试;有效的避免跳线插芯的端面与待测光端口插芯的端面完全接触导致的跳线插芯的端面磨损或待测光端口插芯的端面磨损,提高跳线插芯的使用寿命以及降低光端口的报废率。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明的非接触跳线测量方法的使用示意图;
图2是现有的接触跳线测量方法的使用示意图;
图3是本发明的非接触跳线测量方法的流程图。
图中,100-待测光端口,200-跳线,110-待测光端口插芯,120-跳线插芯,300-匹配液。
具体实施方式
本发明提供一种非接触跳线测量方法,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图2、图3所示,本实施例的非接触跳线测量方法,包括步骤:
步骤S100:将跳线插芯的端面加工为呈一定倾斜角度设置的倾斜面;
步骤S200:在跳线插芯的倾斜面上添加用于填充间隙的匹配液,并将跳线插芯插入待测光端口进行测试;
步骤S400:输出反映待测光端口性能的测量数值。
通过将跳线插芯的端面加工为倾斜面,在使用跳线测试光端口的插损时,只需在跳线插芯以及待测光端口插芯之间添加匹配液即可连接跳线插芯以及待测光端口插芯的光路,实现光端口插芯插损值的测试;有效的避免跳线插芯端面与待测光端口插芯端面完全接触导致的跳线插芯的端面磨损或待测光端口插芯的端面磨损,提高跳线插芯的使用寿命以及降低光端口的报废率。
其中,本实施例通过先添加匹配液,可以在不影响待测光端口结构的前提下,实现待测光端口、匹配液、跳线的装配,方便快捷。
其中,所述步骤S100中在跳线插芯的倾斜面上添加匹配液的具体步骤为:在跳线插芯的倾斜面上沾取匹配液。本实例中添加匹配液的方式为直接沾取,步骤简单且无需增加额外的添加工具,有效的降低测试成本。
进一步的,所述非接触跳线测量方法还包括步骤:
步骤S300:根据待测量插损值的大小,对测量结果进行处理;当测量要求的插损值小于0.4db时,则获取差异值对测量结果进行修正,并跳到步骤S400;当测量要求的插损值大于等于0.4db时,则直接跳到步骤S400。
请参照图1、图2,采用非接触跳线测量方法测量的插损值精度小于的采用接触跳线测量方法的插损值精度测量精度。因此,在采用非接触跳线测量方法时,可对不同待测的插损值进行区别处理(根据精度要求进行区别处理)。当待测的插损值大于等于0.4db时,精度要求低,可以直接输出测量结果;当待测的插损值小于0.4db时,由于不能满足测量精度的要求,需要获取差异值进行修正后才能得出精度较高的测量结果。区别处理的好处为,当测量精度要求不高时,可直接输出测量结果提高测量效率。
进一步的,所述步骤S300中获取差异值的具体步骤为:
采用步骤S100、步骤S200的方法测量N次,获取测量结果并计算非接触平均值;
采用接触式的方法测量N次,获取测量结果并计算接触平均值;
将非接触平均值与接触平均值作差即可获取差异值。
其中,差异值为误差值,通过测量计算非接触平均值以及接触平均值,即可获取差异值。其中,不同匹配液以及不同倾斜角度倾斜面所测量的差异值不同。本实施例中,所述N大于等于10,通过至少10的测量,可以保证测量的精度。在另外的实施例中,可以对各个倾斜角度以及不同类型匹配液的组合情况进行测量并整合成表格,在使用对应的匹配液以及倾斜面倾斜角度时,查表使用即可,无需每次都计算,可以有效的提高测量的效率。
进一步的,所述步骤S300中修正的具体步骤为:
获取测量结果以及差异值;
将测量结果以及差异值进行作差以及获取修正值。
本实施例中,所述修正的过程就是在获取测量值后根据获取的误差对测量值进行更正。具体就是将测量结果与差异值作差,即可获得测量精度较高的修正值(用于步骤S400输出的测量结果)。
进一步的,所述步骤S100中倾斜面的倾斜角度取值范围为:1.5~10度。本实施例中,所述匹配液是直接设置在跳线插芯端面和待测光端口插芯端面之间,而且是采用跳线插芯沾取匹配液的方式,因此,跳线插芯倾斜面的倾斜角度大小,对跳线插芯端面、待测光端口、匹配液三者的连接影响很大;当跳线插芯倾斜面的倾斜角度小于1.5度时,跳线插芯端面可能与待测光端口插芯端面发生碰撞摩擦,而且两者之间过小的夹角无法容纳沾取的匹配液,导致匹配液溢出泄露;当跳线插芯倾斜面的倾斜角度大于10度时,由于跳线插芯端面与待测光端口插芯端面之间的间隙较大,沾取的匹配液无法完成填充,即无法连接跳线插芯、待测光端口插芯的光路,也无法完成测试。更进一步的,所述步骤S100中倾斜面的倾斜角度为3度。
进一步的,所述步骤S200前还包括步骤:对跳线插芯的端面进行去灰处理。通过对跳线插芯的端面进行去灰处理,可以有效的减少跳线插芯的端面的灰尘,保证测试的正常进行。
进一步的,所述步骤S100中倾斜面的加工的具体步骤为:采用研磨机对跳线插芯的端面进行研磨。通过采用研磨机进行研磨,可以保证较好的加工效果,提高加工成品率。
应当理解的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制,对本领域技术人员来说,可以对上述实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而所有这些修改和替换,都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种非接触跳线测量方法,其特征在于,包括步骤:
步骤A:将跳线插芯的端面加工为倾斜面;
步骤B:在跳线插芯的倾斜面上添加用于填充间隙的匹配液,并将跳线插芯插入待测光端口进行测试;
步骤D:输出反映待测光端口性能的测量数值。
2.根据权利要求1所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述非接触跳线测量方法还包括步骤:
步骤C:根据待测量插损值的大小,对测量结果进行处理;当测量要求的插损值小于0.4db时,则获取差异值对测量结果进行修正,并跳到步骤D;当测量要求的插损值大于等于0.4db时,则直接跳到步骤D。
3.根据权利要求2所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤C中获取差异值的具体步骤为:
采用步骤A、步骤B的方法测量N次,获取测量结果并计算非接触平均值;
采用接触式的方法测量N次,获取测量结果并计算接触平均值;
将非接触平均值与接触平均值作差即可获取差异值。
4.根据权利要求3所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述N大于等于10。
5.根据权利要求3或4所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤C中修正的具体步骤为:
获取测量结果以及差异值;
将测量结果以及差异值进行作差以获取修正值。
6.根据权利要求1所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤A中倾斜面的倾斜角度取值范围为:1.5~10度。
7.根据权利要求6所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤A中倾斜面的倾斜角度为3度。
8.根据权利要求1所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤B前还包括步骤:对跳线插芯的端面进行去灰处理。
9.根据权利要求1所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤A中倾斜面的加工的具体步骤为:采用研磨机对跳线插芯的端面进行研磨。
10.根据权利要求8所述的非接触跳线测量方法,其特征在于,所述步骤A中在跳线插芯的倾斜面上添加匹配液的具体步骤为:在跳线插芯的倾斜面上沾取匹配液。
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