CN112684220A - 一种集成电路电子元件自动检测装置 - Google Patents

一种集成电路电子元件自动检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112684220A
CN112684220A CN202110083719.6A CN202110083719A CN112684220A CN 112684220 A CN112684220 A CN 112684220A CN 202110083719 A CN202110083719 A CN 202110083719A CN 112684220 A CN112684220 A CN 112684220A
Authority
CN
China
Prior art keywords
wall
block
fixedly connected
clamping
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110083719.6A
Other languages
English (en)
Inventor
李正强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN202110083719.6A priority Critical patent/CN112684220A/zh
Publication of CN112684220A publication Critical patent/CN112684220A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明属于集成电路技术领域,尤其是一种集成电路电子元件自动检测装置,包括安装底座,所述安装底座的两侧表面均固定连接有第一连接块。该集成电路电子元件自动检测装置,达到了将后续进行检测的电子元件放入上料滑道内,顺着第一滑道滑入推动槽内,控制第一电机通电工作,带动第一推动块旋转,由于第一推动块与第二推动块接触的一面为斜切面,因此第一推动块凸出端缓慢与第二推动块凸出端相抵触,进而推动第二推动块向夹持盘的一侧进行移动,进而将位于推动槽内的电子元件进行推动,推至夹持口内的效果,从而解决了在增加工作人员的劳动强度的同时,降低了对电子元件的检测效率的问题。

Description

一种集成电路电子元件自动检测装置
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种集成电路电子元件自动检测装置。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母"IC"表示。是20世纪50年代后期一60年代发展起来的一种新型半导体器件。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺,把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上,然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术,主要体现在加工设备,加工工艺,封装测试,批量生产及设计创新的能力上;
电子元件,是电子电路中的基本元素,通常是个别封装,并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路,例如:放大器、无线电接收机、振荡器等,连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等),或是各种不同复杂度的群组,例如:集成电路(运算放大器、排阻、逻辑门等),为了保持电子元件运作的稳定性,通常将它们以合成树脂包覆封装,以提高绝缘与保护不受环境的影响;
集成电路由若干电子元件组成,电子元件在加工完成后,需要对电子元件进行检测,现有的电子元件在检测时需要通过工作人员将需要检测的电子元件逐个放置在检测装置上进行固定,随后进行检测,检测完成后将电子元件取出,操作繁琐,不便于批量检测,在增加工作人员的劳动强度的同时,降低了对电子元件的检测效率。
发明内容
基于现有的电子元件在检测时,操作繁琐,不便于批量检测,在增加工作人员的劳动强度的同时,降低了对电子元件的检测效率的技术问题,本发明提出了一种集成电路电子元件自动检测装置。
本发明提出的一种集成电路电子元件自动检测装置,包括安装底座,所述安装底座的两侧表面均固定连接有第一连接块,所述第一连接块的上表面固定连接有支撑块,一个所述支撑块的相对表面分别固定连接有红外激光发射器,两个所述支撑块的相对表面设置有夹持装置,所述夹持装置包括夹持盘,所述夹持盘的周侧面固定连接有夹持块,多个所述夹持块的一端表面均固定连接有红外激光接收器,所述夹持块的一端表面开设有夹持口,所述夹持口的两侧内壁均开设有第一连通口,所述第一连通口的内壁活动套接有第一推动杆,所述第一推动杆的一端表面固定连接有第一活塞,所述第一活塞的外表面与第一连通口的内壁活动套接,所述第一活塞的一端表面固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧的自由端与第一连通口的一端内壁固定连接;
所述安装底座的上表面设置有检测装置,所述检测装置包括检测板,所述检测板的上表面固定连接有报警灯;
一个所述支撑块的上表面设置有上料装置,所述上料装置包括上料块。
优选地,所述夹持块以夹持盘的轴线为中心线呈环形阵列均匀分布,所述夹持盘的内壁开设有第一安装腔,所述第一安装腔的内壁固定安装有双轴电机,所述第一安装腔的两端内壁均开设有第一连接口,所述双轴电机的输出轴通过联轴器固定连接有第一转轴,两个所述第一转轴的外表面分别与两个所述第一连接口的内壁活动套接,所述第一转轴的外表面通过轴承与支撑块的内壁固定连接。
优选地,所述第一推动杆位于夹持口内表面的一端表面固定连接有夹板,所述夹板的下表面固定连接有连接脚,两个所述第一连通口的一侧内壁均开设有第二连通口,所述夹持口的一端内表面开设有第一控制口,所述第一控制口的内壁活动套接有控制块,所述控制块的一端外表面固定连接有第二活塞,所述第二活塞的外表面与第一控制口的一端内壁活动套接,所述第二活塞的一端表面固定连接有第二弹簧,所述第二弹簧的自由端与第一控制口的一端内壁固定连接,所述第二连通口的内壁与第一控制口的内壁相互连通。
优选地,所述第一控制口的内侧壁开设有第三连通口,所述夹持盘的内壁开设有第二安装腔,所述第二安装腔以夹持盘的轴线为中心线呈环形整列分布,多个所述第二安装腔的内壁均固定安装有液压缸,所述液压缸包括活塞和液压杆,所述液压杆远离活塞的一端表面固定连接有第三活塞,所述第三连通口的内壁与第二安装腔的内壁相互连通,所述第一连通口、第二连通口、第三连通口和第一控制口的内壁均设置有液压油。
优选地,所述检测板的上表面固定连接有检测块,所述检测块的上表面开设有接触槽,两个所述接触槽的内壁分别固定连接有正极电极块和负极电极块,所述连接脚的外表面与接触槽的内表面活动插接。
优选地,所述安装底座的一侧表面固定连接有万用表,所述万用表的正极电笔与正极电极块电性连接,所述万用表的负极电笔与负极电极块电性连接。
优选地,所述上料块的下表面与支撑块的上表面固定连接,所述上料块的上表面开设有开设有上料滑道,所述上料块的一侧表面开设有第一安装口,所述第一安装口的一端内壁开设有推动槽。
优选地,所述上料滑道的内壁与推动槽的内壁相互连通,所述推动槽的一端贯穿并延伸至上料块的另一侧外表面,所述第一安装口的内壁固定安装有第一电机,所述第一电机的输出轴通过联轴器固定连接有第二转轴,所述第二转轴的外表面固定连接有第一推动块。
优选地,所述第一推动块的外表面与推动槽的内壁活动套接,所述第一推动块的一端外表面呈斜切面,所述推动槽的内侧壁开设有滑槽,所述推动槽的内壁活动套接有第二推动块,所述第二推动块靠近第一推动块的一端表面呈斜切面。
优选地,所述第二推动块的周侧面固定连接有滑块,所述滑块的外表面与滑槽的内壁滑动插接,所述滑块的一侧表面固定连接有第三弹簧,所述第三弹簧的自由端与滑槽的另一端内壁固定连接。
本发明中的有益效果为:
1、通过设置两个支撑块的相对表面设置有夹持装置,夹持装置包括夹持盘,夹持盘的周侧面固定连接有夹持块,达到了电子元件对控制块进行推动,控制块带动第二活塞对第一控制口内的液压油进行挤压,使得第一控制口内的液压油推动第一活塞,使得两个第一推动杆同时向夹持口中部进行移动,进而通过夹板将电子元件夹紧的效果,从而解决了现有的电子元件在检测时需要通过工作人员将需要检测的电子元件逐个放置在检测装置上进行固定,随后再进行检测的问题。
2、通过设置安装底座的上表面设置有检测装置,检测装置包括检测板,检测板的上表面固定连接有报警灯,达到了连接脚滑入接触槽内,万用表通过正极电极块和负极电极块对电子元件进行检测,检测正常时,进而电子元件可正常通过,当检测不正常时,控制报警灯灯亮,工作人员将电子元件取出的效果,从而解决了现有的电子元件需要工作人员一个一个进行检测,增加了工作人员的劳动强度的问题。
3、通过设置一个支撑块的上表面设置有上料装置,上料装置包括上料块,达到了将后续进行检测的电子元件放入上料滑道内,顺着第一滑道滑入推动槽内,控制第一电机通电工作,带动第一推动块旋转,由于第一推动块与第二推动块接触的一面为斜切面,因此第一推动块凸出端缓慢与第二推动块凸出端相抵触,进而推动第二推动块向夹持盘的一侧进行移动,进而将位于推动槽内的电子元件进行推动,推至夹持口内的效果,从而解决了在增加工作人员的劳动强度的同时,降低了对电子元件的检测效率的问题。
附图说明
图1为本发明提出的一种集成电路电子元件自动检测装置的示意图;
图2为本发明提出的一种集成电路电子元件自动检测装置的夹持盘结构剖视图;
图3为本发明提出的一种集成电路电子元件自动检测装置的夹持块结构剖视图;
图4为本发明提出的一种集成电路电子元件自动检测装置的图2中A处结构放大图;
图5为本发明提出的一种集成电路电子元件自动检测装置的图2中B处结构放大图。
图中:1、安装底座;2、第一连接块;3、支撑块;4、红外激光发射器;5、夹持盘;501、夹持块;502、红外激光接收器;503、夹持口;504、第一推动杆;505、第一活塞;506、双轴电机;507、夹板;508、连接脚;509、第一控制口;510、控制块;511、第二活塞;512、液压缸;513、第三活塞;6、检测板;601、报警灯;602、检测块;603、接触槽;604、正极电极块;605、负极电极块;606、万用表;7、上料块;701、上料滑道;702、推动槽;703、第一电机;704、第一推动块;705、滑槽;706、第二推动块;707、滑块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-5,一种集成电路电子元件自动检测装置,包括安装底座1,安装底座1的两侧表面均固定连接有第一连接块2,第一连接块2的上表面固定连接有支撑块3,一个支撑块3的相对表面分别固定连接有红外激光发射器4,支撑块3的外表面呈L形状,两个支撑块3的相对表面设置有夹持装置,夹持装置包括夹持盘5,夹持盘5的周侧面固定连接有夹持块501,夹持块501以夹持盘5的轴线为中心线呈环形阵列均匀分布,夹持盘5的内壁开设有第一安装腔,第一安装腔的内壁固定安装有双轴电机506,第一安装腔的两端内壁均开设有第一连接口,双轴电机506的输出轴通过联轴器固定连接有第一转轴,两个第一转轴的外表面分别与两个第一连接口的内壁活动套接,第一转轴的外表面通过轴承与支撑块3的内壁固定连接;
多个夹持块501的一端表面均固定连接有红外激光接收器502,夹持块501的一端表面开设有夹持口503,夹持口503的两侧内壁均开设有第一连通口,第一连通口的内壁活动套接有第一推动杆504,第一推动杆504的一端表面固定连接有第一活塞505,第一活塞505的外表面与第一连通口的内壁活动套接,第一活塞505的一端表面固定连接有第一弹簧,第一弹簧的自由端与第一连通口的一端内壁固定连接;
第一推动杆504位于夹持口503内表面的一端表面固定连接有夹板507,夹板507的下表面固定连接有连接脚508,两个第一连通口的一侧内壁均开设有第二连通口,夹持口503的一端内表面开设有第一控制口509,第一控制口509的内壁活动套接有控制块510,控制块510的一端外表面固定连接有第二活塞511,第二活塞511的外表面与第一控制口509的一端内壁活动套接,第二活塞511的一端表面固定连接有第二弹簧,第二弹簧的自由端与第一控制口509的一端内壁固定连接,第二连通口的内壁与第一控制口509的内壁相互连通;
第一控制口509的内侧壁开设有第三连通口,夹持盘5的内壁开设有第二安装腔,第二安装腔以夹持盘5的轴线为中心线呈环形整列分布,多个第二安装腔的内壁均固定安装有液压缸512,液压缸512包括活塞和液压杆,液压杆远离活塞的一端表面固定连接有第三活塞513,第三连通口的内壁与第二安装腔的内壁相互连通,第一连通口、第二连通口、第三连通口和第一控制口509的内壁均设置有液压油,达到了电子元件对控制块510进行推动,控制块510带动第二活塞511对第一控制口509内的液压油进行挤压,使得第一控制口509内的液压油推动第一活塞505,使得两个第一推动杆504同时向夹持口503中部进行移动,进而通过夹板507将电子元件夹紧的效果,从而解决了现有的电子元件在检测时需要通过工作人员将需要检测的电子元件逐个放置在检测装置上进行固定,随后再进行检测的问题;
安装底座1的上表面设置有检测装置,检测装置包括检测板6,检测板6的上表面固定连接有报警灯601,检测板6的上表面固定连接有检测块602,检测块602的上表面开设有接触槽603,两个接触槽603的内壁分别固定连接有正极电极块604和负极电极块605,连接脚508的外表面与接触槽603的内表面活动插接,安装底座1的一侧表面固定连接有万用表606,万用表606的正极电笔与正极电极块604电性连接,万用表606的负极电笔与负极电极块605电性连接,达到了连接脚508滑入接触槽603内,万用表606通过正极电极块604和负极电极块605对电子元件进行检测,检测正常时,进而电子元件可正常通过,当检测不正常时,控制报警灯601灯亮,工作人员将电子元件取出的效果,从而解决了现有的电子元件需要工作人员一个一个进行检测,增加了工作人员的劳动强度的问题;
一个支撑块3的上表面设置有上料装置,上料装置包括上料块7,上料块7的下表面与支撑块3的上表面固定连接,上料块7的上表面开设有开设有上料滑道701,上料块7的一侧表面开设有第一安装口,第一安装口的一端内壁开设有推动槽702,上料滑道701的内壁与推动槽702的内壁相互连通,推动槽702的一端贯穿并延伸至上料块7的另一侧外表面,第一安装口的内壁固定安装有第一电机703,第一电机703的输出轴通过联轴器固定连接有第二转轴,第二转轴的外表面固定连接有第一推动块704。
第一推动块704的外表面与推动槽702的内壁活动套接,第一推动块704的一端外表面呈斜切面,推动槽702的内侧壁开设有滑槽705,推动槽702的内壁活动套接有第二推动块706,第二推动块706靠近第一推动块704的一端表面呈斜切面,第二推动块706的周侧面固定连接有滑块707,滑块707的外表面与滑槽705的内壁滑动插接,滑块707的一侧表面固定连接有第三弹簧,第三弹簧的自由端与滑槽705的另一端内壁固定连接;
达到了将后续进行检测的电子元件放入上料滑道701内,顺着第一滑道滑入推动槽702内,控制第一电机703通电工作,带动第一推动块704旋转,由于第一推动块704与第二推动块706接触的一面为斜切面,因此第一推动块704凸出端缓慢与第二推动块706凸出端相抵触,进而推动第二推动块706向夹持盘5的一侧进行移动,进而将位于推动槽702内的电子元件进行推动,推至夹持口503内的效果,从而解决了在增加工作人员的劳动强度的同时,降低了对电子元件的检测效率的问题。
工作原理:工作人员将万用表606调至需用检测的项目,将首检的电子元件手动插入夹持盘5左半边的夹持口503内,电子元件对控制块510进行推动,控制块510带动第二活塞511对第一控制口509内的液压油进行挤压,使得第一控制口509内的液压油推动第一活塞505,使得两个第一推动杆504同时向夹持口503中部进行移动,进而通过夹板507将电子元件夹紧,通过连接脚508将电子元件的引脚进行夹紧,控制双轴电机506启动,双轴电机506带动夹持盘5进行旋转;
当红外激光发射器4与相应的红外激光接收器502信号连接后,控制双轴电机506停止,此时,连接脚508滑入接触槽603内,万用表606通过正极电极块604和负极电极块605对电子元件进行检测,检测正常时,进而电子元件可正常通过,双轴电机506运动,液压缸512通过液压杆带动第三活塞513向液压缸512的方向进行移动,通过第三连通口将第一控制口509内的液压油吸入第二安装腔内,使得夹板507松开电子元件,电子元件落入收料盒内,随后,液压缸512带动第三活塞513进行复位,使得控制块510伸出第一控制口509,当检测不正常时,控制报警灯601灯亮,工作人员将电子元件取出;
将后续进行检测的电子元件放入上料滑道701内,顺着第一滑道滑入推动槽702内,控制第一电机703通电工作,带动第一推动块704旋转,由于第一推动块704与第二推动块706接触的一面为斜切面,因此第一推动块704凸出端缓慢与第二推动块706凸出端相抵触,进而推动第二推动块706向夹持盘5的一侧进行移动,进而将位于推动槽702内的电子元件进行推动,推至夹持口503内,电子元件对控制块510进行推动,控制块510带动第二活塞511对第一控制口509内的液压油进行挤压,使得第一控制口509内的液压油推动第一活塞505,使得两个第一推动杆504同时向夹持口503中部进行移动,进而通过夹板507将电子元件夹紧,随后进行检测。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种集成电路电子元件自动检测装置,包括安装底座(1),其特征在于:所述安装底座(1)的两侧表面均固定连接有第一连接块(2),所述第一连接块(2)的上表面固定连接有支撑块(3),一个所述支撑块(3)的相对表面分别固定连接有红外激光发射器(4),两个所述支撑块(3)的相对表面设置有夹持装置,所述夹持装置包括夹持盘(5),所述夹持盘(5)的周侧面固定连接有夹持块(501),多个所述夹持块(501)的一端表面均固定连接有红外激光接收器(502),所述夹持块(501)的一端表面开设有夹持口(503),所述夹持口(503)的两侧内壁均开设有第一连通口,所述第一连通口的内壁活动套接有第一推动杆(504),所述第一推动杆(504)的一端表面固定连接有第一活塞(505),所述第一活塞(505)的外表面与第一连通口的内壁活动套接,所述第一活塞(505)的一端表面固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧的自由端与第一连通口的一端内壁固定连接;
所述安装底座(1)的上表面设置有检测装置,所述检测装置包括检测板(6),所述检测板(6)的上表面固定连接有报警灯(601);
一个所述支撑块(3)的上表面设置有上料装置,所述上料装置包括上料块(7)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述夹持块(501)以夹持盘(5)的轴线为中心线呈环形阵列均匀分布,所述夹持盘(5)的内壁开设有第一安装腔,所述第一安装腔的内壁固定安装有双轴电机(506),所述第一安装腔的两端内壁均开设有第一连接口,所述双轴电机(506)的输出轴通过联轴器固定连接有第一转轴,两个所述第一转轴的外表面分别与两个所述第一连接口的内壁活动套接,所述第一转轴的外表面通过轴承与支撑块(3)的内壁固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述第一推动杆(504)位于夹持口(503)内表面的一端表面固定连接有夹板(507),所述夹板(507)的下表面固定连接有连接脚(508),两个所述第一连通口的一侧内壁均开设有第二连通口,所述夹持口(503)的一端内表面开设有第一控制口(509),所述第一控制口(509)的内壁活动套接有控制块(510),所述控制块(510)的一端外表面固定连接有第二活塞(511),所述第二活塞(511)的外表面与第一控制口(509)的一端内壁活动套接,所述第二活塞(511)的一端表面固定连接有第二弹簧,所述第二弹簧的自由端与第一控制口(509)的一端内壁固定连接,所述第二连通口的内壁与第一控制口(509)的内壁相互连通。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述第一控制口(509)的内侧壁开设有第三连通口,所述夹持盘(5)的内壁开设有第二安装腔,所述第二安装腔以夹持盘(5)的轴线为中心线呈环形整列分布,多个所述第二安装腔的内壁均固定安装有液压缸(512),所述液压缸(512)包括活塞和液压杆,所述液压杆远离活塞的一端表面固定连接有第三活塞(513),所述第三连通口的内壁与第二安装腔的内壁相互连通,所述第一连通口、第二连通口、第三连通口和第一控制口(509)的内壁均设置有液压油。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述检测板(6)的上表面固定连接有检测块(602),所述检测块(602)的上表面开设有接触槽(603),两个所述接触槽(603)的内壁分别固定连接有正极电极块(604)和负极电极块(605),所述连接脚(508)的外表面与接触槽(603)的内表面活动插接。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述安装底座(1)的一侧表面固定连接有万用表(606),所述万用表(606)的正极电笔与正极电极块(604)电性连接,所述万用表(606)的负极电笔与负极电极块(605)电性连接。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述上料块(7)的下表面与支撑块(3)的上表面固定连接,所述上料块(7)的上表面开设有开设有上料滑道(701),所述上料块(7)的一侧表面开设有第一安装口,所述第一安装口的一端内壁开设有推动槽(702)。
8.根据权利要求7所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述上料滑道(701)的内壁与推动槽(702)的内壁相互连通,所述推动槽(702)的一端贯穿并延伸至上料块(7)的另一侧外表面,所述第一安装口的内壁固定安装有第一电机(703),所述第一电机(703)的输出轴通过联轴器固定连接有第二转轴,所述第二转轴的外表面固定连接有第一推动块(704)。
9.根据权利要求8所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述第一推动块(704)的外表面与推动槽(702)的内壁活动套接,所述第一推动块(704)的一端外表面呈斜切面,所述推动槽(702)的内侧壁开设有滑槽(705),所述推动槽(702)的内壁活动套接有第二推动块(706),所述第二推动块(706)靠近第一推动块(704)的一端表面呈斜切面。
10.根据权利要求9所述的一种集成电路电子元件自动检测装置,其特征在于:所述第二推动块(706)的周侧面固定连接有滑块(707),所述滑块(707)的外表面与滑槽(705)的内壁滑动插接,所述滑块(707)的一侧表面固定连接有第三弹簧,所述第三弹簧的自由端与滑槽(705)的另一端内壁固定连接。
CN202110083719.6A 2021-01-21 2021-01-21 一种集成电路电子元件自动检测装置 Pending CN112684220A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110083719.6A CN112684220A (zh) 2021-01-21 2021-01-21 一种集成电路电子元件自动检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110083719.6A CN112684220A (zh) 2021-01-21 2021-01-21 一种集成电路电子元件自动检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112684220A true CN112684220A (zh) 2021-04-20

Family

ID=75458914

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110083719.6A Pending CN112684220A (zh) 2021-01-21 2021-01-21 一种集成电路电子元件自动检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112684220A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116500371A (zh) * 2023-06-16 2023-07-28 武汉晟诚科技有限公司 一种大功率隔离器用隔离度测试设备

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116500371A (zh) * 2023-06-16 2023-07-28 武汉晟诚科技有限公司 一种大功率隔离器用隔离度测试设备
CN116500371B (zh) * 2023-06-16 2024-03-08 武汉晟诚科技有限公司 一种大功率隔离器用隔离度测试设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4066204A (en) Process and device for unsoldering semiconductor modules in the flip-chip technique
CN113865835A (zh) 一种基于双积分球的芯片测试设备及测试方法
CN112684220A (zh) 一种集成电路电子元件自动检测装置
CN114733782B (zh) 一种激光芯片测试分选机及其工作方法
CN211027155U (zh) 测试装置
KR100517074B1 (ko) 트레이 트랜스퍼 유닛 및 그를 포함하는 자동 테스트 핸들러
JP2010202392A (ja) Icオートハンドラ
US5760481A (en) Encapsulated electronic component containing a holding member
CN210333398U (zh) 一种自动测试机
CN117783834A (zh) Kgd芯片高低温循环测试分选设备及其测试方法
CN112485479A (zh) 一种集成电路测试多工位定位装置
CN105436095B (zh) 一种球栅阵列结构芯片下料设备
CN110404823B (zh) 集成电路性能检测装置
CN112975381A (zh) 一种吸顶灯自动组装生产线
KR20200089221A (ko) 척 톱, 검사 장치, 및 척 톱의 회수 방법
CN217595212U (zh) 一种发光二极管加工用晶片检测装置
CN216334689U (zh) 端子自动上料装置
CN210449943U (zh) 一种操作方便的led灯生产线
CN115770979A (zh) 一种具备焊点位置微调功能的芯片封装检测机
JPH0992699A (ja) 発光素子の測定方法
CN210756315U (zh) 转盘式开关组装机
CN210071184U (zh) 载具及采用该载具的mems压力传感器模组校准设备
CN204052200U (zh) 用于球栅阵列结构芯片的下料设备
CN214753660U (zh) 一种cob封装装置
CN217981729U (zh) 一种基于fpga的集成电路芯片测试设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20210420

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication