CN112650631B - 一种光驱进出仓自动化测试装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出了一种光驱进出仓自动化测试装置和方法，该装置包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息。光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；分别检测光驱是否完成进仓和出仓。基于该装置，本发明还提出了一种光驱进出仓自动化测试方法。本发明可以测试全部类型的光驱，精准判断光驱进出仓测试结果，提高测试效率，降低人力成本。

Description

一种光驱进出仓自动化测试装置和方法

技术领域

本发明属于光驱进出仓技术领域，特别涉及一种光驱进出仓自动化测试装置和方法。

背景技术

在装有光驱的计算机上，常出现光驱不能顺畅进出光驱仓，甚至出现光驱在进出仓过程中卡住的现象。产生此现象的原因主要是计算机箱体中光驱仓结构设计不合理、或光驱仓加工工艺没有控制好，或光驱在装配过程中出现问题，或者光驱本身外壳出现变形等造成。所以光驱进出仓测试在计算机研发测试和批量生产出厂测试中都是必测项目。

依据光驱类型大致分3种测试流程；流程1、支持系统进出仓命令的光驱，可以基于系统命令实现进出仓测试，系统发出仓命令，光驱出仓，系统发进仓命令，光驱进仓；流程2、不支持系统进出仓命令的光驱，可以通过按光驱开关，按一下光驱开关，光驱出仓；再按一下光驱开关，光驱进仓；流程3、不支持命令和光驱开关实现自主进仓的光驱，按一下光驱开关，光驱出仓，使用外力推动实现光驱进仓。目前的测试方法主要分2种，1是通过编写脚本，实现自动化测试，缺点是这种方法只适用于支持系统进出仓命令的光驱，对于不支持系统进出仓命令和不能自主进仓的光驱并不适用；2是采用手动方式，目视观察进出仓状态判断光驱进出仓是否流畅，手动测试方法存在以下问题无法解决：1、效率低；2、无法精准判断进出仓位置是否准确到位；3、按下光驱开关后，进出仓响应时间无法准确记录；4、进出仓响应时间是否一致无法判断；5、无法精确区别响应时间不在合格范围内的光驱。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提出了一种光驱进出仓自动化测试装置和方法，可以测试全部类型的光驱，精准判断光驱进出仓测试结果，提高测试效率。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种光驱进出仓自动化测试装置，包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；

所述微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；微处理器通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；所述微处理器与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息。

进一步的，所述光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；

所述第一光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的近端，用于检测光驱是否完成进仓；

所述第二光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的远端。用于检测光驱是否完成出仓。

进一步的，所述微处理器还与显示器相连；所述显示器用于输入光驱进出仓测试命令和测试参数。

进一步的，所述微处理器还与通信接口模块相连；用于通过通信接口向待测试计算机发出进出仓命令。

进一步的，所述装置还包括电源模块；其中电源模块包括工作电源和控制电源；

所述工作电源分别为微处理器和显示器供电；

所述控制电源分别为按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块供电。

进一步的，所述第一驱动模块采用第一三极管；所述第一三极管的基极连接微处理器；所述第一三极管的集电极连接按键执行模块；所述第一三极管的发射极接地；

所述第二驱动模块采用第二三极管；所述第二三极管的基极连接微处理器；所述第二三极管的集电极连接进仓推动模块；所述第二三极管的发射极接地。

进一步的，所述按键执行模块采用推拉式电磁铁；所述推拉式电磁铁得电则执行案件动作；所述推拉式电磁铁失电则不执行案件动作。

进一步的，进仓推动模块采用电动推杆；

所述电动推杆的电机得电则推动光驱进仓；所述电动推杆的电机失电则推杆返回。

本发明还提出了一种光驱进出仓自动化测试方法，是基于一种光驱进出仓自动化测试装置实现的，包括以下步骤：

接受光驱进出仓测试命令，依次判断在出仓响应时间内进出仓的近端是否检测到光驱、以及出仓响应时间内进出仓的远端是否检测到光驱；

如果进出仓的近端和远端均检测到光驱，接受光驱推动命令，然后判断在出仓响应时间内进出仓的近端是否检测到光驱、以及出仓响应时间内进出仓的远端是否检测到光驱，并记录错误的次数。

进一步的，在所述接受光驱进出仓测试命令之前：

将待测计算机的第一驱动模块与按键执行模块相连；将第一光驱位置检测模块与光驱进出口近端匹配；将第二光驱位置检测模块与光驱进出口远端匹配；

在显示器上输入光驱进出仓测试命令和测试参数。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

本发明提出了一种光驱进出仓自动化测试装置和方法，该装置包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；微处理器通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；微处理器与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息。光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；第一光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的近端，用于检测光驱是否完成进仓；第二光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的远端。用于检测光驱是否完成出仓。基于本发明提出的一种光驱进出仓自动化测试装置，本发明还提出了一种光驱进出仓自动化测试方法，本发明对于支持系统进出仓命令的光驱，通过通讯接口发送进出仓命令，利用光驱位置检测模块自动检测光驱进出仓是否到位，从而实现光驱进出仓的自动化测试，对于不支持系统进出仓命令的光驱，通过按键执行模块按计算机光驱开关,利用光驱位置检测模块自动检测光驱进出仓是否到位，从而实现光驱进出仓的自动化测试。对于不支持命令和光驱开关实现自主进仓的光驱，通过按键执行模块按计算机光驱开关实现光驱出仓，通过进仓推动模块推动光驱进仓，利用光驱位置检测模块自动检测光驱进出仓是否到位，从而实现光驱进出仓的自动化测试。

本发明实现了光驱进出仓测试的自动化，光驱位置检测模块可以精准检测进出仓位置是否到位，提高了光驱进出仓测试的准确性。本发明还可以准确记录每次光驱进出仓的响应时间，依据记录的响应数据，结合程序，可以判断出光驱响应时间是否一致，发现光驱或光驱仓结构的批次性问题。根据不同型号光驱进出仓响应时间的差异，参考记录的响应数据，结合程序，可以实现光驱型号的识别，发现生产过程中光驱型号混用的问题。

附图说明

如图1为本发明实施例1一种光驱进出仓自动化测试装置示意图；

如图2为本发明实施例2一种光驱进出仓自动化测试方法流程图。

具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。

实施例1

本发明实施例1提出了一种光驱进出仓自动化测试装置。光驱仓：指计算机机箱中用于容纳、固定、保护光驱的仓体。如图1为本发明实施例1一种光驱进出仓自动化测试装置示意图。

该装置包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；微处理器通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；所述微处理器与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息。

光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；第一光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的近端，用于检测光驱是否完成进仓；第二光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的远端。用于检测光驱是否完成出仓。

显示器以串口方式与微处理器进行信息交互，可以设置光驱进出仓测试执行次数、进仓/出仓间隔时间、进仓响应时间、出仓响应时间，显示成功次数、失败次数、进仓响应时间、出仓响应试验、平均响应时间、光驱型号等。

微处理器还与通信接口模块相连；用于通过通信接口向待测试计算机发出进出仓命令。

装置还包括电源模块；其中电源模块包括工作电源和控制电源；工作电源分别为微处理器和显示器供电；控制电源分别为按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块供电。工作电源和控制电源采用AC-DC电源模块实现。

微处理器选用STM32单片机，一路I/O口输出0、1电平通过驱动电路控制按键执行模块，0电平时按键执行模块不按光驱开关，1电平时按键执行模块按光驱开关；一路I/O口输出0、1电平通过驱动电路控制进仓推动模块，0电平时进仓推动模块返回，1电平时进仓推动模块推动光驱进仓；两路I/O口通过光驱位置检测模块采集光驱进出仓位置信息；一路RS232串口连接触摸屏；一路网口连接被测计算机。

第一驱动模块采用第一三极管；第一三极管的基极连接微处理器；第一三极管的集电极连接按键执行模块；第一三极管的发射极接地；第二驱动模块采用第二三极管；第二三极管的基极连接微处理器；第二三极管的集电极连接进仓推动模块；第二三极管的发射极接地。

按键执行模块采用推拉式电磁铁；推拉式电磁铁得电则执行案件动作；推拉式电磁铁失电则不执行案件动作。进仓推动模块采用电动推杆；电动推杆的电机得电则推动光驱进仓；电动推杆的电机失电则推杆返回。

实施例2

基于本发明实施例1提出的一种光驱进出仓自动化测试装置，本发明实施例2还提出了一种光驱进出仓自动化测试方法。如图2为本发明实施例2一种光驱进出仓自动化测试方法流程图。

在执行自动化测试之前，将待测计算机放置于自动化测试装置测试位置上，计算机光驱开关对准按键执行模块电磁铁推拉杆，调整近段和远端位置的检测模块，使其与光驱进出仓位置匹配。

在触摸屏上设置光驱进出仓测试执行次数、进仓/出仓间隔时间、进仓响应时间、出仓响应时间等参数。

点击触摸屏上的测试开始按键。

在步骤S201中，开始测试。

在步骤S202中，执行光驱开关命令，光驱出仓命令，光驱出仓。

在步骤S203中，判断在出仓响应时间内进出仓的近端是否检测到光驱，如果检测到光驱，则执行步骤S204，否则，则执行步骤S205。

在步骤S204中，判断在出仓响应时间内进出仓的远端是否检测到光驱，如果检测到光驱，则执行步骤S206，否则，则执行步骤S205。

在步骤S205中，记录出仓错误次数。

在步骤S206中，依次执行驱开关命令，光驱进仓命令，进仓拖动命令，光驱进仓。

在步骤S207中，判断在出仓响应时间内进出仓的远端是否检测到光驱，如果检测到光驱，则执行步骤S208，否则执行步骤S209。

在步骤S208中，判断在出仓响应时间内进出仓的近端是否检测到光驱，如果检测到光驱，则执行步骤S210。

在步骤S209中，记录进仓错误次数。

在步骤S211中，判断执行次数是都达到设定值，如果达到设定值，则执行步骤S212。否则返回步骤S202。

在步骤S212中，测试结束。

本发明可以实现光驱进出仓自动化测试，可以测试全部类型的光驱，精准判断光驱进出仓测试结果，提高测试效率，降低人力成本

上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制。对于所属领域的技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的修改或变形。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (10)

1.一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，包括微处理器、两个驱动模块、按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块；

所述微处理器通过第一驱动模块与按键执行模块相连，用于控制光驱开关的打开或者关闭；微处理器通过第二驱动模块与进仓推动模块相连，用于控制进仓推动模块推动光驱进仓；所述微处理器与光驱位置检测模块相连，用于获取光驱进出仓位置信息；

对于支持系统进出仓命令的光驱，通过通讯接口发送进出仓命令，利用光驱位置检测模块自动检测光驱进出仓是否到位:对于不支持系统进出仓命令的光驱，通过按键执行模块按计算机光驱开关，利用光驱位置检测模块自动检测光驱进出仓是否到位:对于不支持命令和光驱开关实现自主进仓的光驱，通过按键执行模块按计算机光驱开关实现光驱出仓，通过进仓推动模块推动光驱进仓，利用光驱位置检测模块自动检测光驱进出仓是查到位。

2.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述光驱位置检测模块包括第一光驱位置检测模块和第二光驱位置检测模块；

所述第一光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的近端，用于检测光驱是否完成进仓；

所述第二光驱位置检测模块采用对射式光电开关，安装在进出仓的远端，用于检测光驱是否完成出仓。

3.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述微处理器还与显示器相连；所述显示器用于输入光驱进出仓测试命令和测试参数。

4.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述微处理器还与通信接口模块相连；用于通过通信接口向待测试计算机发出进出仓命令。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述装置还包括电源模块；其中电源模块包括工作电源和控制电源；

所述工作电源分别为微处理器和显示器供电；

所述控制电源分别为按键执行模块、进仓推动模块和光驱位置检测模块供电。

6.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述第一驱动模块采用第一三极管；所述第一三极管的基极连接微处理器；所述第一三极管的集电极连接按键执行模块；所述第一三极管的发射极接地；

所述第二驱动模块采用第二三极管；所述第二三极管的基极连接微处理器；所述第二三极管的集电极连接进仓推动模块；所述第二三极管的发射极接地。

7.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，所述按键执行模块采用推拉式电磁铁；所述推拉式电磁铁得电则执行按键动作；所述推拉式电磁铁失电则不执行按键动作。

8.根据权利要求1所述的一种光驱进出仓自动化测试装置，其特征在于，进仓推动模块采用电动推杆；

所述电动推杆的电机得电则推动光驱进仓；所述电动推杆的电机失电则推杆返回。

9.一种光驱进出仓自动化测试方法，是基于权利要求1至8任意一项所述的一种光驱进出仓自动化测试装置实现的，其特征在于，包括以下步骤：

接受光驱进出仓测试命令，依次判断在出仓响应时间内进出仓的近端是否检测到光驱、以及出仓响应时间内进出仓的远端是否检测到光驱；

如果进出仓的近端和远端均检测到光驱，接受光驱推动命令，然后判断在出仓响应时间内进出仓的近端是否检测到光驱、以及出仓响应时间内进出仓的远端是否检测到光驱，并记录错误的次数。

10.根据权利要求9所述的一种光驱进出仓自动化测试方法，其特征在于，在所述接受光驱进出仓测试命令之前：

将待测计算机的第一驱动模块与按键执行模块相连；将第一光驱位置检测模块与光驱进出口近端匹配；将第二光驱位置检测模块与光驱进出口远端匹配；

在显示器上输入光驱进出仓测试命令和测试参数。

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