CN112642752B - 电子部件处理用分选机 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种电子部件处理用分选机。本发明的主要特征在于,在存储关于电子部件的基准信息值(数值或形态)之后,拍摄装载有电子部件的托盘的下表面,并且从获得到的图像中获取比较信息值,然后比较基准信息值与比较信息值。根据本发明,由于基本上通过数值信息的比较来判断装载不良,因此可以确保关于装载不良的判断的可靠性。

Description

电子部件处理用分选机
技术领域
本发明涉及一种电子部件处理用分选机,尤其涉及一种判断电子部件的装载不良(Loading Miss)的技术。
背景技术
生产的电子部件经过多种处理过程(测试过程或分类过程等)而出货。
在针对电子部件的多种处理过程中使用用于操作电子部件的专用的分选机。
分选机可以根据在什么处理过程被使用而制造为多种形态。多种形态的分选机中,许多种类的分选机将托盘作为用于搬运电子部件的媒介而使用。使用托盘的原因之一是通过将大量的电子部件一同处理而提高处理容量。
但是,为了以装载(Loading)于托盘的电子部件为对象进行处理作业(测试\分类等),电子部件必须要准确地装载于托盘。如果电子部件未准确地装载于托盘,则可能在处理作业时发生不良。因此,需要在处理作业之前检查电子部件是否准确地装载于托盘。
装载不良的原因可以是多种原因。例如,装载作业的不良、位于托盘的装载部位的不良或电子部件自身的不良可能导致装载不良。随着电子部件变得越来越精细,这些装载不良的检查的重要性越来越高。
首先,装载作业的不良表示在将电子部件装载到托盘的过程中发生错误,因此电子部件未准确地安置于托盘的情形。通常,装载作业可以在分选机中自主地完成,或者在其他设备完成。在大多数情况下,配备有托盘的分选机具有装载装置,然而某些种类的分选机从其他设备接收完成装载的托盘。但是,由于不管在哪种情况下都必须要准确地完成装载作业才能够准确地执行分选机的处理作业,因此需要以完成装载作业的托盘为对象确认装载不良。
装载部位的不良是指由于将电子部件固定在托盘的闩锁的不良或安置其他电子部件的部位的机械不良而导致电子部件无法准确地安置于托盘的情形。
电子部件自身的不良由于在生产电子部件的过程中各种公差或生产过程的不当而发生。例如,在电子部件的端子尺寸或端子之间的间隔发生不良或者在整体的规格发生不良,从而可能导致装载不良。
以往,应用分选机的企业使用能够识别装载不良的程序。
初期,为了判断装载不良,在存储作为基准的正常图像(基准图像)之后,通过将存储的基准图像与拍摄的比较图像相互比较来判断装载不良(第一现有技术)。但是,由于这样的方式必须将整个基准图像与整个比较图像全部进行比较,因此检查速度较慢。并且,当在不可能成为发生不良的原因的部位由于其他器械的影子等而发生失真时,基准图像与比较图像彼此不同而可能判断为发生不良,因此检查的准确性降低。
因此,开发了如下的程序:通过手动或自动地单独指定托盘的特定部位(例如闩锁部位)或者电子部件的端子所在的部位等可能发生装载不良的特定区域而存储基准图像,然后将存储的特定区域与基准图像的特定区域进行比较(第二现有技术)。因此,可以通过特定区域之间的比较来缩短比较时间并提高检查的准确性。
然而,由于不管在以上的现有技术中提到的任何情况下,为了获取基准图像,都必须使用相机,因此存在以下问题。
第一,生产并提供分选机的供应商无法以能够判断装载不良的状态向使用分选机的消费者交货。其原因在于,即使照相机拍摄相同的部位,也会由于多样的照明环境或电子部件的颜色等而导致拍摄为彼此不同的图像,因此根据状况可能会获取到彼此不同的基准图像。但是,由于各个消费者使用分选机的照明环境不同,因此获取基准图像或设定要比较的特定区域的作业必须要作为在消费者的工作场所设置分选机的过程中的一项作业完成。并且,工作场所的照明环境可能随时改变,因此必须要反复进行获取基准图像的繁琐的作业。
第二,由于消费者任意决定基准图像的特定区域,因此其结果也各自不同,因此即使应用第二现有技术,在检查准确度方面也仍然会持续发生与第一现有技术相差无几的误差。并且,也可能会根据谁(哪位管理者)指定特定区域而发生误差,因此不能统一保证检查的可靠性。
并且,为了获取精确的基准图像,相机必须是高性能且昂贵的,并且要求作业者的熟练度必须较高,不仅如此,还有要求始终以相同的判断接近等各种限制条件。
并且,在要存储基准图像的情况下,图像数据容量大,并且用于获取基准图像的拍摄区域受到限制,因此需要设置拍摄设备且该设置存在限制,并且每次必须确保相机能够聚焦的空间,因此导致分选机大型化。
[现有技术文献]
[专利文献]
韩国授权专利公报第10-0717882号
发明内容
本发明具有如下所述的目的。
第一,提供一种如下的技术:不管在哪种现场环境还是由哪位管理者进行设定,都能够得出与加载不良相关的相同的检查结果。
第二,提供一种如下的技术:还能够掌握加载不良的类型,从而能够去除加载不良的原因或者树立改善方案。
第三,提供一种如下的技术:即使使用相对廉价的相机也能够准确地进行检查。
根据本发明的电子部件处理用分选机包括:装载装置,将电子部件装载到托盘;处理装置,对装载于托盘的电子元部件执行所需的处理作业;卸载装置,从测试托盘卸载通过所述处理装置完成处理的电子部件;相机,为了检测装载于托盘的电子部件的装载不良而拍摄托盘的下表面;移送装置,移送托盘,以使以行列形态装载于托盘的电子部件中的一部分暴露于所述相机的视角;以及控制装置,控制上述的各个构成,并且将从由所述相机拍摄的图像获得的比较信息值与预先输入的实际基准信息值进行比较,从而判断是否装载不良,其中,所述控制装置以使装载于测试托盘的电子部件依次暴露于所述相机的视角的方式控制所述移送装置,并控制所述相机拍摄测试托盘的下表面。
所述相机设置为视角的中心线相对于垂直线倾斜预定角度,所述相机在与测试托盘的一侧边平行的方向上设置为多个,所述测试托盘的一侧边与通过所述移送装置移动的测试托盘的移动方向垂直。
所述控制装置包括:存储结构,存储关于电子部件的基准信息值;获取结构,从通过所述相机获得的图像获取关于电子部件的比较信息值;以及判断结构,比较所述基准信息值与所述比较信息值而判断电子部件的装载不良。
所述基准信息值是关于实际待处理的电子部件的物理规格的数值,所述比较信息值是关于从由通过所述相机拍摄的图像中获得的物理规格的数值,所述控制装置还包括用于设定所述基准信息值与所述比较信息值的匹配比率的设定结构,所述判断结构通过所述基准信息值与所述比较信息值之间的匹配比率而判断装载不良。
并且,根据本发明的电子部件处理用分选机具有如下功能:存储功能,存储关于电子部件的基准信息值,其中,基准信息值包括数值信息,获取功能,从通过相机获取的关于电子部件的图像中获取能够与所述基准信息值进行比较的比较信息值;以及判断功能,比较所述基准信息值与比较信息值而判断电子部件的装载不良。
所述获取功能可以实现为,应用通过以预定的亮度为基准将像素的亮度变更为0和1的二进制法,从而获取关于电子部件的端子的比较信息值。
所述获取功能可以实现为,在应用二进制法之后,对横向纵向上的像素数量进行加和,若加和后的像素数量为预定的基准以上,则为1,若小于预定的基准,则变更为0,从而获得结果数据,并以“与”条件运算基于获得的结果数据的有效区域图像和通过相机获得的原始图像而检测端子。
还可以具有如下功能:设定功能,能够设定匹配比率,以根据所述基准信息值与所述比较信息值的匹配比率来判断装载不良。
所述判断功能实现为,能够通过比较转换基准信息值的数值转换值和转换比较信息值的数值转换值来判断装载不良。
所述存储功能实现为还能够存储关于托盘的规格的信息,
所述判断功能实现为,将关于电子部件及托盘的规格的信息用作所述基准信息值,从而不仅能够判断装载不良,还能够一同判断电子部件及托盘的不良。
根据本发明具有如下所述的效果。
第一,由于仅输入所有构成的数值即可,因此用于掌握加载不良的设定作业变得更容易。
第二,用于掌握加载不良的设定作业可以确保可靠性,而无需依赖于操作者(管理者)的熟练程度。
第三,与使用分选机的空间的照明状况或用于拍摄的所有装置的规格无关,能够准确地判断加载不良,并且能够通过使用相对低廉的相机来期望生产成本的降低。
第四,通过数值比较迅速完成判断过程,从而最终能够提高分选机的处理速度。
第五,通过对拍摄的图像进行校正,能够进一步提高检查的准确性。
第六,由于还掌握了加载不良的原因,因此可以根据加载不良寻求向后应对方案。
附图说明
图1是应用于根据本发明的分选机的托盘的示意图。
图2是关于根据本发明的分选机的概念性的平面图。
图3是关于图2的分选机的主要部位的示意性立体图。
图4是应用于图2的分选机的控制装置的功能图。
图5是在关于图2的分选机中判断装载不良的作业的流程图。
图6是在关于图2的分选机中执行的图像校正的简要示例。
图7至图14是用于说明获得比较信息值并将基准信息值与比较信息值比较的一例的参照图。
图15至图19是用于说明检测端子的另一示例的参考图。
图20是用于说明根据利用端子判断装载不良的一示例的整体流程的流程图。
附图标记说明
100:分选机 120:连接装置
140:移送装置 150:相机装置
151:相机 170:控制装置
171:存储结构 173:获取结构
174:判断结构 175:设定结构
具体实施方式
参照附图,对根据本发明的优选实施例进行说明,为了说明的简洁性,尽可能地省略或压缩针对重复或实质上相同的构成的说明。
<关于托盘的示意性的说明>
托盘T例如可以参考韩国公开专利10-2008-00406541号的技术。
图1的(a)及(b)是关于托盘T的示意性的平面立体图和底面立体图。
托盘T配备有框架F和插入件I。
框架F构成托盘T的骨架,插入件I以16×16的行列形态设置于框架F。
众所周知,插入件I具有安置电子部件的安置空间,并且具有用于固定安置在安置空间的电子部件的闩锁。
并且,图1的托盘T具有如下结构:具有2×2的布置形态的四个插入件I通过一个螺栓B固定于框架F。在此,如后文所述,螺栓B所在的中心点在关于四个插入件I所在的区域的图像中起到基准点(标记(Marker))M的作用。
另外,众所周知,插入件I具有用于防止安置在安置空间的电子部件向下方脱落的支撑台或支撑膜。
<关于分选机的示意性的说明>
图2是关于根据本发明的一实施例的分选机100的示意性的平面图,图3是关于图2的分选机100中的主要部位的示意性的立体图。图1的分选机100采用了执行将电子部件装载到托盘T的装载作业和从托盘T卸载电子部件的卸载作业两者的示例。并且,托盘T沿预定的循环路径C循环,并且在循环路径C上的特定位置进行电子部件的装载、卸载或测试。
根据本实施例的分选机100包括装载装置110、连接装置120、卸载装置130、移送装置140、相机装置150、清洁装置160、控制装置170及输入装置180。
装载装置110将待测试的电子部件装载于托盘T。本实施例中的装载装置110与移送装置140配对,使得托盘T的移送与装载关联执行。此时,众所周知,为了进行装载装置110的作业,用于使托盘T的插入件I开放的装载用开放装置OA可以配备于装载装置110的下方。
当托盘T位于预定的循环路径C上的测试位置TP时,连接装置120将装载于托盘T的电子部件电连接到测试机TESTER,从而测试电子部件。在本实施例中,电子部件所需的处理作业为测试作业,为此,连接装置120执行将电子部件电连接到测试机TESTER的作业,因此连接装置120起到执行电子部件所需的处理作业的处理装置的作用。若为仅对电子部件单纯进行分类的分选机,则用于对电子部件进行分类的分类构成起到处理装置的作用。
卸载装置130从托盘T将完成测试作业的处理的电子部件卸载,并根据其测试结果对电子部件进行分类。同样地,众所周知,为了进行卸载装置130的作业,用于使托盘T的插入件I开放的卸载用开放装置可以配备于卸载装置130的下方。
移送装置140在循环路径C上阶段性地移送完成电子部件的卸载的托盘T。当托盘T如上所述地通过移送装置140重复移动和停止而阶段性地进行移送时,通过装载装置110进行的装载作业和通过卸载装置130进行的卸载作业也依次地执行。虽然这种托盘T的移送和装载作业的技术事项可以参照韩国公开专利10-2008-0008661号(现有技术),但是本发明并不一定局限于现有技术中特定的用于装载及卸载作业和移送作业的结构。
如图2所示,相机装置150配备有1列的8个相机151,并且拍摄托盘T的下表面。这种相机装置150在通过移送装置140移送托盘T时在循环路径C上位于进行装载作业的位置的后端,在本实施例中,一个相机151拍摄2×2排列即总共四个插入件I。即,通过移送装置140阶段性地移送托盘T,装载于托盘T的电子部件的一部分(本实施例中为2列32个)阶段性地暴露于相机151的视角,相机151拍摄暴露于自身的视角的区域。关于相机装置150,后文将进行更详细的说明。
清洁装置160通过吹送空气而周期性地清洁相机151的镜头。据此,在分选机100的工作过程中或者在作业现场产生的灰尘或异物被持续去除,因此在很大程度上减少了由于粘附于透镜的异物而引起的图像的失真。即,通过清洁装置160可以很大程度上降低由于因异物而失真的图像导致判定为装载不良的可能性。
控制装置170控制上述的各个构成。尤其,控制装置170控制移送装置140,使得完成卸载的托盘T在循环路径C上经过多个步骤而移动及停止,从而使装载于托盘T的电子部件依次暴露于相机151的视角,并且控制装载装置110和相机151,使得当托盘T停止时进行针对待测试的电子部件的装载作业和拍摄托盘T的下表面的拍摄作业。当然,随着计算技术的发展,可以应用分析图像的运算速度非常快的高性能计算手段,在这种情况下,显而易见的是,控制装置170控制相机151,从而在使托盘T不停止而持续移动的同时拍摄托盘T的下表面。
输入装置180为了向控制装置170输入所需的信息而设置。虽然这种输入装置180可以配备为能够由管理者直接向分选机100输入,但是也可以充分考虑通过设置于作业现场的通信网络而从上级的服务器等向分选机100输入所需的基准信息值。当然,也可以将输入装置180配备为管理者直接向分选机100输入所需的基准信息值的方式和通过通信网络而从上级的服务器等向分选机100输入所需的基准信息值的方式并行。然而,虽然本实施例中实现为通过单独的输入装置100输入基准信息值,但是根据实施方式,也可以充分考虑从通过拍摄获得的正常图像获取基准信息值并进行存储的方式。在此,也可以实现为关于插入件I等的基准信息值可以被预先存储或输入到分选机100,关于电子部件的基准信息值可以通过内部通信网络而从购买分选机100的客户公司的上级服务器接收。此外,关于电子部件的基准信息值可以通过用于供应托盘T的自动供应装置(OHT)或自动移动台车(AGV)等输入到分选机100。即,伴随分选机100的基准信息值和伴随电子部件的基准信息值的输入路径可以不同。
作为参考,虽然图2的分选机100以在针对电子部件的大量处理作业中用于测试作业的情形的分选机100为例,但是除了测试作业之外,本发明还可以在用于多种处理作业(例如,分类作业等)的各种形态的分选机全部应用。即,虽然在本实施例中,连接装置120起到作为针对电子部件所要求的处理作业的用于电子部件与测试机TESTER之间的电连接的处理装置的作用,但是如上文所述,根据分选机的形态,可以应用根据其形态所要求的多种处理装置。
并且,虽然图2的分选机100配备有装载装置110及卸载装置130,但是根据实施形态,电子部件的装载完成的状态下的托盘T可以被供应至分选机,因此,装载装置110和卸载装置130仅为可以根据分选机的种类而选择性地配备的结构。
<关于主要部位的说明>
接着,进一步参照图3。
参照图3,托盘T重复停止和移送,从而通过移送装置140阶段性地被移送,与此相关地执行通过装载装置110及卸载装置130进行的装载及卸载作业。
当托盘T停止时,装载装置110将2列的总计32个电子部件装载到托盘T,为此,开放装置OA开放32个插入件I。并且,与此同时,对之前装载于托盘T的32个电子部件进行拍摄。
相机装置150配备有沿前后方向排成1列的8个相机151,一个相机151对大致布置为2×2的4个插入件I的底面进行拍摄。因此,相机装置150一次性拍摄总计32个插入件I及电子部件的底面。
在本实施例中,配备于相机装置150的相机151的视角的中心线CL相对于垂直线PL倾斜预定角度θ。即,相机151不配备在要拍摄的插入件I(或电子部件)的正下方,而是以倾斜的状态在水平方向上隔开预定间隔而配备。这不仅考虑到相机装置150的设置性,还特别考虑到支撑电子部件的构成是支撑膜的情况。例如,对于支撑膜而言,由于其反射照明,因此由相机151拍摄的图像可能由于反射的光而发生失真。因此,通过使相机151的视角的中心线CL相对于垂直线PL倾斜预定角度,即使在插入件I配备有支撑膜的情况下,也可以最小化由于反射的照明而引起的图像的失真。
另外,当托盘T停止时,装载及卸载作业与拍摄作业一同进行,因此能够相应地缩短处理时间。
清洁装置160周期性地向相机151的镜头强烈地吹送空气,从而去除相机151上的镜头的异物。
<关于控制装置的说明>
如图4所示,控制装置170包括存储结构171、校正结构172、获取结构173、判断结构174、设定结构175。
存储结构171存储通过输入装置180输入的关于电子部件的基准信息值。存储的基准信息值可以是关于构成托盘T的插入件I或托盘T的信息值或者关于电子部件的信息值。
首先,关于插入件I的信息值为诸如用于固定电子部件的闩锁的形态、安置空间的平面面积或一边的长度、关于在插入件I配备有支撑台还是配备有支撑膜的信息、从基准点M到插入件I为止的距离等的数值或关于支撑台的形态等的信息值。
并且,关于电子部件的信息值为关于电子部件的边长或形态、端子的位置、端子的直径或端子之间的间隔、端子的数量等的数值或者关于排列形态等的信息值。
即,与存储基准图像的现有技术不同,在本发明中,诸如数值和形态(例如,从基准点到哪一位置,何种构成,以何种形态,何种程度的尺寸或面积等)之类的基准信息值存储于存储结构171。并且,虽然所有基准信息值都可以用作用于判断装载不良的因素,但是可以实现为仅指定基准信息值中关于特征部位的信息值,并且仅将相应特征部位的信息值使用为判断装载不良的因素,从而提高识别速度。为此,可以优选地考虑实现为管理者仅指定并设定关于特征部位的信息值。
校正结构172对由于现场的照明或相机151的倾斜而引起的图像的失真进行校正。据此,与相机151的视角倾斜无关地,经过校正的图像被校正为如同相机151在插入件I的正下方拍摄插入件I一样,并且不管有多种现场的照明或器械的阴影等下也都被统一地转换。然而,由于图像的校正是可以通过更具体的运算算法而解决的事项,因此校正结构172可以省略。
获取结构173从通过相机151获得后进行校正的图像中获取可与基准信息值对应的各种比较信息值。
判断结构174对基准信息值与比较信息值进行比较而判断电子部件的装载不良。在此,虽然判断结构174可以现实为仅在基准信息值与比较信息值100%一致时判断为没有装载不良,但是也可以实现为若比较信息值相对于基准信息值处于预定的匹配比率内,则判断为没有装载不良。例如,在匹配比率为98%的情况下,意味着:当基于基准信息值的电子部件的端子为100个,而比较信息值中检测到98个电子部件的端子时,即可判断为准确的装载状态。即,若具有坚硬的固化物性的电子部件因装载不良而倾斜地安置于插入件I,则并非1~2个电子部件的端子被遮挡,而是特定列或一部分区域全部不可见,或者照明条件发生变化而在图像上一次性漏掉大量的端子,这种现象可能更多地发生在电子部件被支撑膜支撑的情况。因此,例如,如果检测到98个端子,则不妨将其判断为正常的装载状态。并且,即使在电子部件以微小的角度倾斜地安置的情况下,根据其倾斜程度,如果为正常范围内的倾斜,则可以判断为装载准确。在此,优选地可以实现为,由管理者考虑基于通过多种实验获得的结果而设定匹配比率。
作为参考,优选地,匹配比率根据插入件I具有支撑台还是具有支撑膜而不同。对于支撑膜而言,与支撑台的情况不同地,是端子被插入到凸出孔的方式,因此,即使端子在拍摄的图像中位于准确的范围内,也会由于稍微搭接凸出孔等原因,在图像中可能不会以可视为端子的程度的尺寸显示。并且,在设置支撑膜的过程中,偶尔也可能存在一部分凹陷的位置,在这种情况下,即使端子处于正常位置,可能存在端子未通过凸出孔充分凸出而仅略微凸出的情形,并且也可能由于光的散射而无法对端子进行准确的显示。在这些情况下,若经过后文所述的二进制方法等,则可能发生端子部位被擦除的情况。因此,可以进一步添加多种改进方法。例如,可以应用使照明更亮或者增加光量的方法等,并且可以通过增加相机151的增益值(例如,由亮度5变更为亮度10)来进行优化。并且,可以考虑采用将具有哪怕只是基准值的很小程度以上的光的像素也都计数为端子存在的区域等方式,而不是与实际端子的尺寸进行比较。在此基础上,与插入件I具有支撑台的情况相比,需要进一步降低具有支撑膜的情况下的匹配比率。即,例如,若插入件I具有支撑台的情况下的匹配比率为98%,则可以将更低的90%或80%等作为插入件I具有支撑膜的情况下的匹配比率的一例。优选地,在通过多种实验而确认到何种程度的匹配比率为止是正常的之后,以此来设定上述匹配比率。
设定结构175可以支持进行检查区域或匹配比率等各种需要的设定。
<关于主要部位的工作方法的说明-参照图5>
1、存储基准信息值(S501)
存储结构171通过管理者的手动输入或自动化的程序而存储来自上级的基准信息值。为此,设置于控制装置170的专用程序具有能够存储基准信息值的功能。在此,基准信息值是关于实际待处理的电子部件的物理规格的数值,可以如下所述。
例如,关于电子部件的基准信息值可以为电子部件端子的数量、端子之间的间隔距离、端子的布置形态(排列形态或排列的横纵长度比率等)、端子的直径(尺寸)、电子部件的X-Y规格(面积)、电子部件的数量、排列的端子的倾斜度(端子不在同一平面上的情况)、端子的排列形态(矩形形态、环形形态)等。
关于托盘T的基准信息值可以为从基准点M到插入件I之间的隔开距离(电子部件之间的隔开距离)、插入件I下表面的形态、插入件I的横纵长度比率、插入件I之间的间隔、从下方看到的闩锁的形态等。
2、设定检查区域(S502)
检查区域的设定在初期执行分选机的设定的过程中在待处理的电子部件的规格变化等的状况下进行1次。此后,对设定的检查区域自动执行检查。关于这样的检查区域的设定,后文将描述具体的示例。
3、电子部件的装载(S503)
在存储有基准信息值的状态下,若管理者启动分选机100,则分选机100根据既定的程序开始进行针对电子部件的测试工序。此时,最先执行的作业是装载装置110向托盘T装载2列32个电子部件的作业。
4、托盘的移送及停止(S504)
若2列32个电子部件安置于2列32个插入件I,则移送装置140工作而使托盘T移动一步(step)。并且,托盘T为了执行装载及拍摄作业而停止。
5、照相机的拍摄(S505)
若通过步骤S503,托盘T被移送1步后停止,则控制装置170启动装载装置110和相机装置150而执行装载作业和拍摄作业。
即,相机151对完成部件的装载的2列32个插入件I的底面进行拍摄,并且装载装置110将电子部件装载于接下来的2列32个插入件I。
6、图像的校正(S506)
由于相机151的视角的中心线CL相对于垂直线PL倾斜预定角度θ,因此拍摄的图像将会与倾斜程度对应地发生失真,并且还会根据现场的照明条件等而发生失真。因此,如图6的示例所示,校正结构172反映相机的倾斜程度而对图像进行校正。当然,为了执行这种作业,专用的程序必须具有校正图像的功能。此时,可以从插入件I的中心计算电子部件的中心点,并以略大于电子部件的X-Y规格的规格进行图像处理,并且也可以充分考虑将与特征部位无关的区域全部处理为黑色或者进行简化的方式。当然,由于图像的校正是以更准确的比较为目的而执行的过程,因此如果能够从原始图像运算而获取准确的比较信息值,则也可以充分考虑省略图像的校正。
7、获取比较信息值(S507)
获取结构173从在步骤S506校正的图像中获取比较信息值。此时,获取结构173获取诸如位于检查区域内的端子的数量、端子之间的间隔、端子的尺寸、闩锁等作为从图像获得的关于电子部件的物理规格的数值的比较信息值。此时,例如在将基准信息值转换为数值转换值的情况下,获取比较信息值并将其转换为数值转换值。
对此,通过一示例进行更具体的说明。
图7是关于在插入件I配备有支撑台的情况下当电子部件正常安置时拍摄的图像。
图7的(a)为通过相机151拍摄的图像。(a)的图像通过二进制法转换为(b)。在此,二进制法表示通过将各个像素的亮度确定为0和1而重置亮度的方式。例如,假设各个像素的亮度为0至10,以5为基准点,5以下为0,大于5则为10。由此,从(a)转换为(b)。然后,利用预先输入的关于端子的基本信息(直径、形态、端子之间的间隔等),在(b)的状态下去除不是端子的噪声(N),从而获取如(c)所示的比较图像。参照(c),噪声(N)被处理为残像,然而其目的是为了使管理者能够确认被擦除的是哪个,因此,根据情况,也可以不留下残像而去除噪声。
为了便于说明,图7对在从(a)到(c)的过程中经过(b)的情形进行了说明,但是由于在算法上是立即地进行转换的,因此也可以理解为从(a)直接转换为(c),而不是经过(b)。由此,可以从比较图像准确地获取比较信息值(端子的数量等)。
当然,也可以获取比较信息值并将这种比较信息值转换为比较所需的数值转换值(例如,端子的排列的整体横纵长度和与其对应的形态等)的例子。
8、基准信息值与比较信息值的比较及判断(S508)
若通过步骤S507获取比较信息值(例如,端子的数量),则判断结构174将比较信息值与基准信息值进行比较而掌握其一致程度。
如上文所述,若比较信息值在预先设定的匹配比率内在基准信息值的一致范围内,则判断为准确地实现了装载。下面举几个这种判断的例子。
例如,若电子部件的端子数为100个,并且100个全部可见,则当然会判断为正常。但是,若电子部件的端子数为100个,但98个可见,因有时可能存在由于瞬间的异常照明或器械的阴影等而不可见的情况,因此这种情况被判断为正常。
并且,原本端子与端子之间的间隔为0.5毫米,但是若检测为0.4毫米,则这种情况判断为非正常。并且,原本10个端子排列成4.5毫米,但是若检测出排列成小于或大于4.5毫米的距离,则判断为非正常,这些可在X-Y平面上的距离上全部掌握。同样地,对于这样的间隔,也可以考虑预定的匹配比率而执行判断。
在此过程中,可以将基准信息值的所有数值信息中的一部分直接利用,或者通过一部分的组合生成更加简化的数值转换值,从而利用相应数值转换值来比较基准信息值与比较信息值。在此,数值转换值表示任意简化由数值构成的形态、面积、长度等。例如,也可以实现为在生成数值转换值(所述数值转换值为,在将基准点M的坐标固定为(0,0)时,在作为由基准点M开始的对角线方向的坐标(1cmm,1cmm)至坐标(2cmm,2cmm)的范围内形成有电子部件的端子,并且该区域内的端子数量大约为10个,而且端子排列的形态为长方形(或菱形、三角形等))之后比较上述数值转换值与获取的比较信息值。并且,作为另一示例,也可以充分考虑仅比较端子中位于最外侧的端子的数量。当然,在将基准信息值转换成数值转换值的情况下,比较信息值也需要转换成数值转换值而进行比较。
在此,基于基准信息值与比较信息值之间的比较的匹配也可以以从基准点M开始逐渐扩大区域的方式实现。
针对上文所述的过程进行更具体的说明。
观察图7,根据获取的比较信息值的端子数量为39×2个,实际电子部件的端子数量为39×2个,因此在图7的情况下,判断为正常。
但是,观察图8,(a)的图像经过二进制法,则成为(b),若比较基本信息而最终只留下与基本信息一致的端子,则成为(c)。因此,在将可从(c)的图像中获得的比较信息值或数值转换值与预先设定输入的基本信息值进行比较时,两者不一致。因此,在这种情况下,判断为装载不良。当然,如上文所述,可以实现为在判断正常或者装载不良与否时采用预定的匹配比。
图9及图10为应用如图7及图8所述的二进制法的情形,图9示出了电子部件的S侧翘起地不良安置于插入件I的情形,图10示出了电子部件以扭曲一定角度的状态不良安置于插入件I的情形。
作为参考,观察图8的(b)中的图像,可知,2个端子彼此连接。其原因在于,在相机151倾斜预定角度的状态下,由于电子部件也倾斜,从而因相机151的拍摄角度导致彼此相邻的端子看起来像连接在一起,因此通过与基本信息的比较过程,其尺寸比实际端子大或长,因此从(c)中被擦除。这样,由于相机具有相对于垂直线倾斜的照射角,因此可以更精确地掌握电子部件的装载不良。
另外,图11至图14示出了在插入件I配备有支撑膜的情况下应用二进制法等的过程。
图11示出了电子部件被正常安置的情形,图12及图13示出了电子部件的S侧部位翘起而导致装载不良的情形,图14示出了电子部件未被安置的情形。在此,图12示出了S侧的翘起程度稍微更大而端子被压成团似的拍摄到的图像,图13示出了相比于图12较小程度翘起的情形。
9、发生卡涩(jam)(S509)
虽然在装载准确的情况下,控制装置170接着检查接下来的2列32个电子部件的装载状态的作业,但在在判断为装载不良的情况下,发生卡涩。
在该过程中,如上文所述,装载不良的原因可能是装载作业的误差、电子部件本身的不良、托盘T的结构误差等。对这些进行举例说明。
首先,在获取的电子部件的端子的数量远少于输入的基准信息值的情况下,可以判断为电子部件以倾斜的状态装载。即,在这种情况下,可以判断在装载作业中发生了不良。
如果电子部件的端子之间的间隔超出基准信息值中的端子之间的间隔,则可以判断为电子部件本身的不良,这可以判断为电子部件的生产工序中的不良。
并且,若比较信息值中的从基准点M到闩锁之间的距离值或闩锁的形态与基准信息值产生差异,则可以判断为闩锁不良。
即,根据本发明,不仅能够判断装载作业的不良,而且还能够判断托盘T的不良(包括插入件的不良)或电子部件本身的不良,这样的判断使得管理者能够更清楚地知道装载不良的原因为何处导致。
当重复上文所述的过程时,由于分选机100的连续操作,可能导致灰尘或异物粘附到相机,因此清洁装置周期性地清洁相机的镜头。
另外,虽然也可以配备为一个相机151仅拍摄一个电子部件,但是更优选地,如图6的示例所示,在配备为一个相机151负责作为以2×2行列布置的四个电子部件时,考虑到能够在减少相机的数量而降低生产成本且易于设计,因此更为优选。因此,需要在初期设定检查区域。这样的检查区域的设定可以通过由管理者利用鼠标指定区域的方式实现。但是,为了更加便于使用,也可以实现为自动设定检查区域。
例如,如上文所述,可以采用通过计算从基准点M的距离等而设定检查区域的方式。
但是,在托盘T的结构上可能存在难以设置额外的基准点M的情况,在这种情况下,可以通过如下方式实现:在将电子部件正常安置于托盘的状态下,在稍微粗略(rough)地设定的基准区域中找出端子的群集,并且计算相应群集中的距离等,从而设定总共4个检查区域。当然,由于可能存在各种公差或插入件I的游动,因此需要相比于实际端子所具有的群集区域更宽地设定检查区域。
<关于端子检测方法的其他示例>
本发明特别适合于通过检测电子部件的端子来判断装载不良。因此,虽然如上文所述,可以利用经过二进制法后与实际端子的尺寸进行比较等方法来检测端子,但是也可以实现为通过其他示例来检测端子。在此介绍的方法优选地适用于因端子的尺寸非常微小而在比较其尺寸时发生不良的可能性较大的情形。
1、拍摄图像
首先,利用相机151拍摄电子部件的具有端子的面。
2、应用二进制法
对拍摄的图像应用上文所述的二进制法而获得如图15所示的图像。
3、像素值的加和及数据变更
并且,将横向及纵向上的像素数量相加。例如,在纵向的情况下,若将像素数量相加,则可以获得如图16所示的图表。在这样的结果数据中,若加和的像素数量为基准值以上,则确定为255,若加和的像素数量小于基准值,则变更为0而获得如图17所示的图表数据。
4、查找起点和终点的位置
在结果数据的图表中查找起点和终点。例如,若当前位置的值-下一个位置的值为-255,则为起始点,若为+255,则为终点。
5、生成有效区域图像
如上所述,若执行关于横纵的作业,则如图18的(b)所示,生成显示有效区域的有效区域图像(显示为白色的部分为端子需要被布置的有效区域)。这种有效区域图像可以通过如下方式获得:在通过横纵的像素数量的加和以及数据变更而描绘的(a)的图像中仅留下横纵的数据重叠的区域。
6、检测端子
之后,如图19所示,以“与(AND)”条件对有效区域图像和通过相机151获取的原始图像进行运算而获得去除噪声的最终图像,从而可以准确地检测端子。
这种端子检测方法既可以在初期设置过程中在设定检查区域时使用,也可以在获得比较信息值时使用。
<关于整体流程的一示例的说明>
图5的流程图图示了概括性的流程图,因此对在初期设置过程和端子检测过程中通过采用利用像素值的方法的端子比较来判断装载不良的具体流程的一示例进行说明。
1、输入端子的直径、端子的数量等基准信息值(S501)
输入电子部件的端子的直径或数量等基准信息。此时的输入可以实现为从上级服务器发送到分选机100的形态。当然,也可以考虑能够将由管理者手动输入的方式并行。在该过程中,还输入并设定匹配比率。
2、用于设定检查区域的拍摄(S502-1)
若管理者在将电子部件正常安置于托盘T的状态下向分选机100供应之后输入设定命令,则通过相机151拍摄电子部件的底面。
3、用于设定检查区域的端子的群集搜索(S502-2)
由于通过相机151拍摄的图像拍摄包括4个电子部件的更宽的区域,因此首先在图像上沿一侧方向搜索端子的群集。
4、用于设定检查区域的端子检测(S502-3)
在步骤S502-2中,对搜索到的群集应用二进制法之后,经过像素值的加和以及数据变更、查找起点和终点的位置、生成有效区域图像等的过程来检测端子。
5、用于设定检查区域的比较及判断(S502-4)
若通过步骤S502-3检测到端子,则将检测到的端子的数量和直径等与基准信息值进行比较,从而判断搜索到的群集是否为合适的端子的群组。如果不是合适的群集,则再次返回上述的步骤S502-2。
6、根据基准信息值的检查区域设定(S502-5)
在步骤S502-4中,若判断为合适的端子的群集,则以从相应群集隔开的距离和方向等为基础,计算出其余3个群集的区域,之后,设定包括相应群集的检查区域。此时,考虑到各种设计或设置公差,优选地实现为将检查区域设定为可以包括端子的群集的更宽的区域。
7、电子部件的装载(S503)、托盘的移送及停止(S504)、相机的拍摄(S505)、图像的 校正(S506)
电子部件的装载、托盘的移送及停止、相机151的拍摄、图像的校正与针对图5的流程图的说明相同。
8、应用用于获取比较信息值的二进制法等(S507-1)
由根据步骤S506的校正后的图像经过二进制法、像素值的加和以及数据变更、查找起点和终点的位置、生成有效区域图像等过程来检测端子。
9、从检测到的端子获取比较信息值(S507-2)
若通过步骤S507-1完成关于端子的检测,则在拍摄的图像上获取按预先设定的方式掌握的诸如端子的数量和直径之类的比较信息值。
10、基于匹配比率的基准信息值与比较信息值的比较及判断(S508)
比较及判断比较信息值(在图像中可见的端子的直径或数量)是否相对于基准信息值(端子的实际直径或数量)在预定的匹配比率内,从而判断是否装载不良。
<关于程序的说明>
为了通过控制装置170判断上文所述的装载不良,在控制装置170必须安装有用于此的专用的程序。
专用的程序可以由控制装置170通过通信网络从服务器等下载或通过可移动记录介质由管理者手动安装。
程序可以在计算机上执行上文所述的图5的方法,并且具有存储功能、检查区域设定功能、匹配比率设定功能、校正功能、获取功能及判断功能。
存储功能是能够存储关于电子部件的基准信息值的功能,进而是还能够存储关于托盘T的规格的基准信息值的功能。在此,如上文所述,基准信息值并非图像本身,而是关于数值或形态的信息。当然,存储功能也可以被实现为能够存储基准图像,然而根据本发明,由于基准图像本身不用于判断装载不良与否,因此基准图像仅在需要获取基准信息值时使用。
检查区域设定功能是根据上文所述的方法中的至少一种方法而设定检查区域的功能。
匹配比率设定功能是能够设定匹配比率以根据基准信息值与比较信息值之间的匹配比率来判断装载不良的功能。优选地,这种设定功能还支持管理者仅对特定部位进行比较的设定方式。
校正功能实现为在通过获取功能获取比较信息值之前校正由相机151获取的图像的失真。当然,校正功能可以不是必要的功能。
获取功能实现为从通过相机151获取的关于电子部件的(校正后的)图像获取能够与基准信息值进行比较的比较信息值。同样地,获取功能还可以具有将获取到的比较信息值转换为数值转换值的功能。此时,如上文所述,可以通过应用二进制法等来获得准确的比较信息值,并且可以使用上文所述的端子检测方法等。
判断功能实现为通过比较基准信息值与比较信息值来判断电子部件的装载不良。这样的判断功能还可以实现为将转换基准信息值而获得的数值转换值与转换比较信息值而获得的数值转换值进行比较而判断装载不良。此外,判断功能可以实现为不仅能够判断装载不良,还能够将关于电子部件及托盘的规格的信息作为基准信息值而使用,从而将电子部件及托盘的不良也一同判断。夸张地说,例如,若正确的端子的直径为1mm,然而看起来像1.5mm,则也可以判断端子不良与否。
当然,上述的功能可以包含在记录介质中。在此,记录介质可以是USB存储介质、CD磁盘、硬盘或服务器,并且由于分选机也具有存储结构,因此分选机本身也可以用作记录介质。
作为参考,虽然上述的示例参照了实现为同时进行装载作业和拍摄作业的分选机100,但是根据实施形态,也可以考虑在完成向托盘T装载全部电子部件之后,使托盘T一个一个地移动而进行拍摄的情形。然而,在整个处理过程中,将拍摄作业所需的时间插入到装载作业所需的时间中的上述的实施形态在提高处理速度方面是更优选的。
并且,根据托盘T的种类,相机装置150也可以只配备有一个相机151,因此只要相机装置150具有一个以上的相机151就可以合适地实现本发明。
即,如上文所述,虽然基于参照附图的实施例而针对本发明进行了具体说明,但是上述的实施例仅仅说明了本发明的优选实施例,因此不应理解为本发明局限于上述实施例,本发明的权利范围应按照权利要求书的范围及其等同范围来理解。

Claims (4)

1.一种电子部件处理用分选机,包括:
装载装置,将电子部件装载到托盘;
装载用开放装置,配备于所述装载装置的下方,用于使所述托盘的插入件开放,以进行所述装载装置的作业;
处理装置,若通过所述装载装置完成装载作业,则对装载于托盘的电子元部件执行所需的处理作业;
卸载装置,从测试托盘卸载通过所述处理装置完成处理的电子部件;
相机,在托盘的循环路径上位于通过所述装载装置进行装载作业的位置的后端,以为了检测通过所述装载装置装载于托盘的电子部件的装载不良而拍摄托盘的下表面,并设置为视角的中心线相对于垂直线倾斜预定角度;
清洁装置,周期性地清洁所述相机的镜头;
移送装置,移送托盘,以使通过所述装载装置以行列形态装载于托盘的电子部件中的一部分暴露于所述相机的视角;以及
控制装置,控制上述的各个构成,并且将从由所述相机拍摄的图像获得的针对电子部件的端子的比较信息值与预先输入的实际基准信息值进行比较,从而判断是否装载不良,
其中,所述控制装置以使装载于测试托盘的电子部件依次暴露于所述相机的视角的方式控制所述移送装置,并控制所述相机拍摄测试托盘的下表面,
所述移送装置在循环路径上阶段性地移送已完成电子部件的卸载的托盘,
当托盘通过所述移送装置重复移动和停止而被阶段性地进行移送时,通过所述装载装置进行的装载作业和通过所述卸载装置进行的卸载作业依次地执行,
所述控制装置以如下方式控制所述装载装置和所述相机:当托盘停止时,使所述装载装置和所述相机工作,以进行待测试的电子部件的装载作业和拍摄托盘的拍摄作业,
所述基准信息值是关于实际待处理的电子部件的物理规格的数值,所述比较信息值是关于从由通过所述相机拍摄的图像中获得的物理规格的数值。
2.根据权利要求1所述的电子部件处理用分选机,其中,
所述相机在与测试托盘的一侧边平行的方向上设置为多个,所述测试托盘的一侧边与通过所述移送装置移动的测试托盘的移动方向垂直。
3.根据权利要求1所述的电子部件处理用分选机,其中,
所述控制装置包括:
存储结构,存储通过输入装置输入的关于电子部件的基准信息值;
获取结构,从通过所述相机获得的图像获取关于电子部件的比较信息值;以及
判断结构,比较所述基准信息值与所述比较信息值而判断电子部件的装载不良。
4.根据权利要求3所述的电子部件处理用分选机,其中,
所述控制装置还包括用于设定所述基准信息值与所述比较信息值的匹配比率的设定结构,
所述判断结构通过所述基准信息值与所述比较信息值之间的匹配比率而判断装载不良。
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