CN112630548A - 一种外推法天线增益测量装置及其测量方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种外推法天线增益测量装置及其测量方法，其测量装置的安装接收转台的基座箱和发射转台安装在直线导轨上；发射转台整机装配后关键止口径向跳动度和端面跳动度≤0.008mm；接收转台整机装配后极化轴关键止口径向跳动度和端面跳动度≤0.008mm，其方位轴光栅安装面跳动度和端面跳动度≤0.015mm；其能降低天线增益校准的不确定度至0.05dB；其在远场距离的1/10至1/5，将接收数据作为距离的函数进行测量，能准确测量天线增益，不确定度优于0.1dB；其解决传统近场测量和远场测量中存在的多径效应和近场耦合效应等；满足近远场的测量需求，可直接用天线测量远场方案或升级满足天线测量近场方案。

Description

一种外推法天线增益测量装置及其测量方法

技术领域

本申请涉及电磁脉冲标准场产生技术领域，尤其涉及一种外推法天线增益 测量装置及其测量方法，用于天线的校准工作。特别是对测量精度有较高要求 的喇叭天线的校准工作。

背景技术

美国国家标准技术研究院、英国国家物理实验室等一般依据IEEE ANSI C63.5-2017、SAE ARP-958等标准来指导天线的计量校准工作。国内实验室参 照的标准主要有电磁兼容性测量天线的天线系数规范GJB/J5410，电磁兼容性 测量天线的天线系数校准方法QJ2840等。这些标准采用三天线法、双天线法、 标准场地法、标准天线法等方法对天线进行校准。天线的校准一般在半电波暗 室和全电波暗室中进行，通过矢量网路分析仪进行信号的收发工作。在暗室环 境中，矢量信号源发射端的产生的发射信号经过线缆进入发射天线，经过空间 衰减后进入接收天线再由另一根电缆接入到矢量信号源的接收端。根据场地的 归一化衰减和空间模型，通过数学模型求解天线的增益。

现有的天线校准系统大多采用三天线法、双天线法、标准场地法、标准天 线法等方法，其校准的不确定度大多在1dB左右，部分暗室环境较好，设备精 度较高的单位可达到0.1dB量级。但大多受到场地和收发天线支架等影响，无 法再进一步降低不确定度，使得天线增益的测量精度受到较大影响。随着无线 电技术的突飞猛进，部分单位对于天线增益精度计量的需求大大提升，例如部 分导航天线，由于天线增益的不确定度较大，为保证其无线性能就要在结构尺 寸、质量等方面进行让步，这对与航空、航天等设备是难以接受的。即现有技 术存在的问题是，相关的方法和标准无法满足天线精准测量的需求，无法达到 天线增益测量不确定度低于0.1dB的目的。

发明内容

针对现有技术中所存在的上述问题可知，天线在无线电领域应用广泛，属 于无线电收发系统的核心部件。天线的增益等无线电参数的测试直接影响了无 线电收发系统的设计和加工，采用近场外推天线测试方法可以准确获得天线增 益值，可以较好地指导研究人员进行天线的设计工作。特别是对于航空航天领 域，受到有效载荷的限制，选择合适的天线非常关键；为此，本申请提出一种 外推法天线增益测量装置及其测量方法，用于准确测量天线增益。

本发明提供一种外推法天线增益测量装置，包括发射转台(1)、接收转台 (2)、直线轨道组件(3)和基座箱(4)；接收转台(2)安装在基座箱(4) 上，直线轨道组件(3)包括直线导轨，基座箱(4)和发射转台(1)分别安 装在所述直线导轨的两端；发射转台(1)整机装配后关键止口径向跳动度和 端面跳动度均≤0.008mm；接收转台(2)上安装有方位轴光栅，接收转台(2) 整机装配后极化轴关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm，所述方位 轴光栅安装面跳动度和端面跳动度均≤0.015mm。

在以上方案中优选的是，直线轨道组件(3)的所述直线导轨全行程直线 度为0.08mm。

还可以优选的是，所述直线导轨为拼接式结构，每个拼接段的直线度为 0.02mm。

还可以优选的是，发射转台(1)上安装有准直望远镜，所述准直望远镜 的光轴与机械轴同轴度为整0.008°。

还可以优选的是，接收转台(2)上设置有平动导轨，所述方位轴光栅安 装在所述平动导轨上，所述方位轴光栅的直线光栅尺相对于所述平动导轨的平 行度为0.02mm。

还可以优选的是，所述方位轴光栅的镜面法向光轴与机械轴垂直度为 0.008°。

上述外推法天线增益测量装置的测量方法，包括以下步骤，

天线增益测试系统搭建：将接收转台(2)安装在基座箱(4)上，将基座 箱(4)和发射转台(1)分别安装在直线轨道组件(3)的直线导轨的两端； 使得发射转台(1)整机装配后关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm； 将接收转台(2)上安装有方位轴光栅，使得接收转台(2)整机装配后极化轴 关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm，使得所述方位轴光栅安装面 跳动度和端面跳动度均≤0.015mm；

测量不同距离下的天线增益：通过所述直线轨道(300)对每两副天线进 行由近到远的一系列不同距离下的测试数据；

对测量数据进行处理：采用线性拟合或者曲线拟合的方式得到收发天线的 增益乘积，再通过求解每两副天线的所述增益乘积方程获得每副天线的增益。

在以上方案中优选的是，测量不同距离下的天线增益时，首先将测试线缆 直连，测得线缆直通的衰减；然后将测试线缆分别连接收发天线，调整收发天 线的高度、距离及口面对准；测量过程中保持收发天线高度一致，口面对准。

还可以优选的是，对测量数据进行处理时，为去除线缆和衰减器引入的衰 减，使得插入损耗为发射线缆及接收线缆连接天线时接收设备接收到的信号幅 度与线缆直通连接时的信号幅度之间的差值。

还可以优选的是，测量不同距离下的天线增益时，从四分之一波长的辐射 近场区开始，通过所述直线轨道(300)对每两副天线进行由近到远的一系列 不同距离下的测试数据。

本申请的外推法天线增益测量装置及其测量方法能够达到以下有益效果：

本申请的外推法天线增益测量装置及其测量方法，其针对现有的天线校准 系统依据IEEE ANSI C63.5-2017、SAE ARP-958、电磁兼容性测量天线的天线 系数规范GJB/J5410，电磁兼容性测量天线的天线系数校准方法QJ2840等大多 采用三天线法、双天线法、标准场地法、标准天线法等方法，其校准的不确定 度大多在1dB左右；部分暗室环境较好，设备精度较高的单位可达到0.1dB量 级；但大多受到场地和收发天线支架等影响，无法再进一步降低不确定度，使 得天线增益的测量精度受到较大影响等问题；其能够解决上述问题，建立外推 法天线增益测量装置可有效降低天线增益校准的不确定度，其校准不确定度可 达0.05dB；其具体具有如下优势：(1)在远场距离的1/10至1/5范围内，将接 收数据作为距离的函数进行测量，能够准确测量天线增益，不确定度优于 0.1dB；(2)能够有效解决传统近场测量和远场测量中存在的多径效应和近场 耦合效应等；(3)其具备直线导轨可满足近远场的测量需求，可直接用天线测 量的远场方案，经过升级后可满足天线测量的近场方案。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部 分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不 当限定。在附图中：

图1为本申请的外推法天线增益测量装置的结构示意图。

图2为本申请的外推法天线增益测量装置的直线轨道组件的俯视图。

图3为图2的A-A剖面图。

图4为图2的B-B剖面图。

图5为本申请的外推法天线增益测量装置的发射转台的结构示意图。

图6为本申请的外推法天线增益测量装置的发射转台的俯视图。

图7为本申请的外推法天线增益测量装置的发射转台的主视图。

图8为本申请的外推法天线增益测量装置的发射转台的侧视图。

图9为图8中的I处局部放大图。

图10为图7中的II处局部放大图。

图11为图7中的III处局部放大图。

图12为本申请的外推法天线增益测量装置的接收转台的主视图。

图13为本申请的外推法天线增益测量装置的接收转台的侧视图。

图14为本申请的外推法天线增益测量装置的接收转台的结构示意图。

图15为本申请的外推法天线增益测量装置的接收转台的俯仰轴的结构示 意图。

图16为本申请的外推法天线增益测量装置的接收转台的极化轴的结构示 意图。

图17为本申请的外推法天线增益测量装置的基座箱的结构示意图。

图18为本申请的外推法天线增益测量装置的基座箱的主视图。

图19为图18的C-C剖面图。

图20为本申请的外推法天线增益测量装置的基座箱的侧视图。

图21为本申请的外推法天线增益测量装置的天线增益测试系统的示意图。

图中，1为发射转台，101为维护平台底座，102为直线滑台，103为缓冲 器挡块，104为橡胶缓冲器，105为定位销座，106为电控箱组件，107发射塔， 108为发射塔斜支撑件，109为斜齿条，110为第一螺钉，111为第二螺钉；2 为接收转台，201为接收极化部件，202为俯仰左月牙部件，203为第三螺钉， 204为第四螺钉，205为俯仰左减速箱，206为接收转台立柱，207为第五螺钉， 208为平动组合件，209为方位部件，210为方位脚踏板；3为直线轨道组件，300为直线轨道，301为轨道底座，302为动力头顶块，303为直线开关盒组件， 304为第一开关触发组件，305为第二开关触发组件，306为拖链总成，307为 直线拖链支架，308为地脚调整螺栓，309为直线导轨压块；4为基座箱，401 为座箱顶板，402为座箱底板，403为圆管，404为洞口，405为洞口加强筋， 406为箱板；5为待测天线，6为旋转关节，7为电缆，8为标准天线，9为伺 服驱动器，10为转台控制器，11为计算机，12为接收端，13为放大器，14 为发射端。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实 施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的 实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施 例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施 例，都属于本申请保护的范围。

以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。

实施例1

一种外推法天线增益测量装置，如图1，包括发射转台1、接收转台2、直 线轨道组件3和基座箱4；接收转台2安装在基座箱4上，直线轨道组件3包 括直线导轨，基座箱4和发射转台1分别安装在所述直线导轨的两端；发射转 台1整机装配后关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm；接收转台2 上安装有方位轴光栅，接收转台2整机装配后极化轴关键止口径向跳动度和端 面跳动度均≤0.008mm，所述方位轴光栅安装面跳动度和端面跳动度均≤ 0.015mm。

实施例2

一种外推法天线增益测量装置，在实施例1的基础上，还可以进一步的， 直线轨道组件3的所述直线导轨全行程直线度为0.08mm。

还可以具体的是，所述直线导轨为拼接式结构，每个拼接段的直线度为 0.02mm。

还可以具体的是，发射转台1上安装有准直望远镜，所述准直望远镜的光 轴与机械轴同轴度为整0.008°。

还可以具体的是，接收转台2上设置有平动导轨，所述方位轴光栅安装在 所述平动导轨上，所述方位轴光栅的直线光栅尺相对于所述平动导轨的平行度 为0.02mm。

还可以具体的是，所述方位轴光栅的镜面法向光轴与机械轴垂直度为 0.008°。

实施例3

实施例1或实施例2所述的外推法天线增益测量装置，还可以进一步的， 发射转台1的主要材质为铝合金、合金结构钢、碳纤维复合材料；其外形尺寸 为1480mm×528mm×627mm，重量为153kg。接收转台2的主要材质为碳素 结构钢、合金结构钢、硬质铝合金；其外形尺寸为1990mm×1280mm×2947mm， 重量2060kg。基座箱4处于接收转台2的下部，与接收转台2下端紧密连接； 其主要材质为碳钢，其直径尺寸为φ1243mm，其高度尺寸为1581mm，重量 为1520kg；其可以采用25mm钢板卷制后焊接成型、焊接后热处理而成。直线 轨道组件3与基座箱4相连，直线轨道组件3为保证其直线度一般在地面采用 埋铁处理；其主要材质为碳钢，尺寸为18590mm×1366mm×537.5mm，不包 含埋铁部分其重量约为9000kg；其全长可达18米，其可以采用多段拼接式结 构、拼接后全行程直线度为0.08mm，任意3m直线度为0.02mm。

还可以具体的，如图2至图4，直线轨道组件3包括直线轨道300，直线 轨道300安装在轨道底座301上，直线轨道300上安装有拖链总成306，拖链 总成306安装在直线拖链支架307上，直线轨道300的底部安装有至少两个均 匀分布的地脚调整螺栓308，地脚调整螺栓308可以分别均匀分布在直线轨道 300的左右两侧，这里的左右方向指图2的上下方向。直线轨道300的顶部安 装有至少两个均匀分布的直线导轨压块309，直线导轨压块309可以分别均匀 分布在直线轨道300的左右两侧；拖链总成306的末端安装有驱动发射转台1 在直线轨道300上移动的动力头顶块302，动力头顶块302上设置有直线开关 盒组件303，直线轨道300上均匀间隔地设置有第一开关触发组件304和第二 开关触发组件305。

还可以具体的，如图5至图11，发射转台1包括底部的维护平台底座101 和安装在维护平台底座101上的发射塔107，维护平台底座101安装在直线滑 台102上，直线滑台102安装在直线轨道300上，直线轨道300上安装有橡胶 缓冲器104，橡胶缓冲器104的端部连接有缓冲器挡块103，直线滑台102上 设置有定位销座105，定位销座105上设置有可与直线轨道300连接定位的定 位销；发射塔107上安装有电控箱组件106，发射塔107上安装有发射塔斜支 撑件108，直线滑台102的底部安装有起到传动作用的斜齿条109，维护平台 底座101底部可以设置有与斜齿条109配合啮合的接触齿部件，如齿条或齿轮， 其齿条与齿轮或齿条与齿条配合啮合的结构，相比于齿轮和齿轮配合啮合的结 构，有效接触齿更多，能够提高承载能力。相邻的分段的直线导轨300之间通 过第一螺钉110连接，橡胶缓冲器104通过第二螺钉与缓冲器挡块103连接。

还可以具体的，如图12至图16，接收转台2包括接收极化部件201，其 中图14所示的极化轴为接收极化部件201的极化轴，接收极化部件201通过 第三螺钉203与俯仰左月牙部件202连接，其中图13所示的俯仰轴为俯仰左 月牙部件202的俯仰轴，接收极化部件201通过第四螺钉204与接收转台立柱 206连接，俯仰左月牙部件202上安装有俯仰左减速箱205，接收转台立柱206 通过第五螺钉207与平动组合件208连接，平动组合件208与方位脚踏板210 连接，方位脚踏板210安装在方位部件209上。

还可以具体的，如图17至图20，基座箱4包括顶部的座箱顶板401和底 部的座箱底板402，座箱顶板401和座箱底板402均可以为圆形板，座箱顶板 401和座箱底板402之间连接有竖向的圆管403，圆管403的侧壁上设置有洞 口404，洞口404处的圆管403侧壁上连接有环形的洞口加强筋405，圆管403 的外壁上均匀分布地连接有至少两个箱板406，箱板406包括全长箱板和半长 箱板，所述全长箱板的上端和下端分别与座箱顶板401和座箱底板402连接， 所述半长箱板的两端分别与座箱顶板401和圆管403外壁连接，或所述半长箱 板的两端分别与圆管403外壁和座箱底板402连接。座箱顶板401和座箱底板 402及圆管403的纵向中心轴线重合。

实施例4

上述任一实施例所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，包括以下步 骤，

如图21，天线增益测试系统搭建：将接收转台2安装在基座箱4上，将基 座箱4和发射转台1分别安装在直线轨道组件3的直线导轨的两端；使得发射 转台1整机装配后关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm；将接收转 台2上安装有方位轴光栅，使得接收转台2整机装配后极化轴关键止口径向跳 动度和端面跳动度均≤0.008mm，使得所述方位轴光栅安装面跳动度和端面跳 动度均≤0.015mm；

测量不同距离下的天线增益：通过所述直线轨道300对每两副天线进行由 近到远的一系列不同距离下的测试数据；

对测量数据进行处理：采用线性拟合或者曲线拟合的方式得到收发天线的 增益乘积，再通过求解每两副天线的所述增益乘积方程获得每副天线的增益。

可以详细说明的是，如图21，将待测天线5通过旋转关节6安装在接收转 台2上，其中旋转关节6即由接收转台2的俯仰左月牙部件202、平动组合件 208等俯仰、转动和平动部件组成；待测天线5通过电缆7与伺服驱动器9连 接，转台控制器10与伺服驱动器9控制连接，计算机11与转台控制器10控 制连接，电缆7及计算机11分别与接收端12连接；标准天线8通过另一条电 缆7与放大器13连接，放大器13与发射端14连接，计算机11与发射端14 控制连接。

实施例5

实施例4所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，还可以进一步的， 测量不同距离下的天线增益时，首先将测试线缆直连，测得线缆直通的衰减； 然后将测试线缆分别连接收发天线，调整收发天线的高度、距离及口面对准； 测量过程中保持收发天线高度一致，口面对准。

还可以具体的是，对测量数据进行处理时，为去除线缆和衰减器引入的衰 减，使得插入损耗为发射线缆及接收线缆连接天线时接收设备接收到的信号幅 度与线缆直通连接时的信号幅度之间的差值。

还可以具体的是，测量不同距离下的天线增益时，从四分之一波长的辐射 近场区开始，通过所述直线轨道300对每两副天线进行由近到远的一系列不同 距离下的测试数据。

实施例6

上述任一实施例所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，还可以进一 步的，其可以从约四分之一波长的辐射近场区开始，依靠高精度所述直线轨道 300测试由近到远的一系列距离下的测试数据；可以滤去部分多重反射后异常 的测试结果，采用线性拟合或者曲线拟合的方式以得到收发天线的增益乘积； 可以在三副天线中每两副天线之间分别进行上述测试和数据处理，则可得到天 线之间的增益乘积，通过解方程则可以获得每副天线的增益。其能够获得更高 的测试准确度，可以避免天线间耦合及测试环境多效应的影响。

传统天线测试主要采用的是远场测试和近场测试两种方法。远场测试方法 最直观，数据无需经过复杂处理；但是收发天线之间距离较远，多径效应明显， 同时带来对准上的影响。远场测试所需场地巨大，配套暗室、吸波材料等成本 较高，在毫米波频段需要克服信号衰减严重等问题。近场测试一般又叫近远场 转换法，通过近场探头进行平面、柱面或者球面数据采样，然后通过转换算法 和误差校准算法以获得远场增益结果。近场外推法在远场距离的十分之一至五 分之一的范围内，将接收的数据作为距离的多阶函数进行测试，从而修正近距 耦合和远场多径效应。近场外推的天线测试方式虽然会增加天线测试和数据处 理的工作量，但是可以大大降低测试系统的不确定度度并提高测试精度。而上 述任一实施例的外推法天线增益测量装置的测量方法，发射转台1可沿所述直 线轨道300作平滑移动。测量时，参照电磁兼容性测量天线系统校准规范 GJB/5410中三天线法的测试流程，首先将测试线缆直连，测得线缆直通的衰减； 然后将线缆分别连接收发天线，调整收发天线的高度、距离及口面对准；测试 过程中保持收发天线高度一致，口面对准；收发天线的距离可以由1m开始， 可以每步进0.1m测试一组数据，直到收发天线距离为3m结束；采用上述方法， 三个天线两两之间进行测试；为刨除线缆和衰减器引入的衰减，插入损耗为线 缆直通连接时的信号幅度与发射线缆与接收线缆连接天线时接收设备接收到 的信号幅度的差值。

上述任一实施例所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，其外推法测 试数据较多。整体测试的数据量较大，同时需要配合Matlab编写程序调用相 关数据以进行数据处理和天线增益计算。包括系统搭建、不同距离下的天线测 试、数据处理等流程。根据测量结果可以得出其天线测量的不确定度低于 0.05dB，能够满足天线精确测量的需求。

上述外推法天线增益测量装置及其测量方法，其精密加工件的图纸要求精 度等级IT5～7级零件占比达到70％～80％；其系统18m全行程收发对准精度 要求极高，并且涉及一部分光学系统共轴及对准调试。其在工作时，发射转台 1沿所述直线轨道300按照波长的一定比例进行移动，采用拟合函数对系统采 回大量数据进行处理，从而得到准确的天线增益测量结果；其天线增益测量的 不确定度可控制在0.1dB以下。其通过采用直线度要求较高的超长直线导轨可 以满足待测天线之间距离的准确调整。其接收转台2、发射转台1均采用高精 度联合设计，整机装配后满足径向跳动和端面跳动、直线度指标要求。其测量 结果不确定度性能极大提升，由现有的1dB提升至0.1dB以内。其避免远场测 试系统和近场测试系统中的多径效应和耦合效应给天线增益测量结果带来的 影响。其能够可直接用于远场测试系统，并支持部分近场测试系统。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技 术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所 作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种外推法天线增益测量装置，包括发射转台(1)、接收转台(2)、直线轨道组件(3)和基座箱(4)；其特征在于，接收转台(2)安装在基座箱(4)上，直线轨道组件(3)包括直线导轨，基座箱(4)和发射转台(1)分别安装在所述直线导轨的两端；发射转台(1)整机装配后关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm；接收转台(2)上安装有方位轴光栅，接收转台(2)整机装配后极化轴关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm，所述方位轴光栅安装面跳动度和端面跳动度均≤0.015mm。

2.如权利要求1所述的外推法天线增益测量装置，其特征在于，直线轨道组件(3)的所述直线导轨全行程直线度为0.08mm。

3.如权利要求2所述的外推法天线增益测量装置，其特征在于，所述直线导轨为拼接式结构，每个拼接段的直线度为0.02mm。

4.如权利要求3所述的外推法天线增益测量装置，其特征在于，发射转台(1)上安装有准直望远镜，所述准直望远镜的光轴与机械轴同轴度为整0.008°。

5.如权利要求4所述的外推法天线增益测量装置，其特征在于，接收转台(2)上设置有平动导轨，所述方位轴光栅安装在所述平动导轨上，所述方位轴光栅的直线光栅尺相对于所述平动导轨的平行度为0.02mm。

6.如权利要求5所述的外推法天线增益测量装置，其特征在于，所述方位轴光栅的镜面法向光轴与机械轴垂直度为0.008°。

7.如权利要求1-6中任一项所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤，

天线增益测试系统搭建：将接收转台(2)安装在基座箱(4)上，将基座箱(4)和发射转台(1)分别安装在直线轨道组件(3)的直线导轨的两端；使得发射转台(1)整机装配后关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm；将接收转台(2)上安装有方位轴光栅，使得接收转台(2)整机装配后极化轴关键止口径向跳动度和端面跳动度均≤0.008mm，使得所述方位轴光栅安装面跳动度和端面跳动度均≤0.015mm；

测量不同距离下的天线增益：通过所述直线轨道(300)对每两副天线进行由近到远的一系列不同距离下的测试数据；

对测量数据进行处理：采用线性拟合或者曲线拟合的方式得到收发天线的增益乘积，再通过求解每两副天线的所述增益乘积方程获得每副天线的增益。

8.如权利要求7所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，其特征在于，测量不同距离下的天线增益时，首先将测试线缆直连，测得线缆直通的衰减；然后将测试线缆分别连接收发天线，调整收发天线的高度、距离及口面对准；测量过程中保持收发天线高度一致，口面对准。

9.如权利要求7所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，其特征在于，对测量数据进行处理时，为去除线缆和衰减器引入的衰减，使得插入损耗为发射线缆及接收线缆连接天线时接收设备接收到的信号幅度与线缆直通连接时的信号幅度之间的差值。

10.如权利要求7所述的外推法天线增益测量装置的测量方法，其特征在于，测量不同距离下的天线增益时，从四分之一波长的辐射近场区开始，通过所述直线轨道(300)对每两副天线进行由近到远的一系列不同距离下的测试数据。

Images