CN112459767A - 一种标准层选取方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种标准层选取方法和装置，该方法包括：在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；计算最小公倍数；通过滑动变窗长扫描的方式确定非标准井的标准层。

Description

一种标准层选取方法和装置

技术领域

本发明涉及地球物理测井技术领域，尤其涉及一种标准层选取方法和装置。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

测井标准化处理由于可以消除测井仪器的系统误差，提高井与井的一致性，因此作为储层参数计算和预测不可或缺的基础性工作之一。尤其在老油田、开发区块等密井网区，井数多、井距小，对储层预测提高了更高的精度要求，而标准层的精准选取直接关系到标准化的处理效果。

目前，曲线标准化思路和方法已经比较成熟，其中标准层的选取是其中的一个关键步骤，标准层选取有四种常见方式：一是按测井地质分层作为约束选取标准层，二是通过制定曲线上的深度选取标准层，三是按地震解释层位作为约束选取标准层，四是利用全井段直接作为标准层。但这些方法由于很难精准识别出同一泥岩层，所以都是一种相对粗略的选取标准层的方法，影响后期反演和储层预测的精度。通过人工拾取标准层虽然能够提高选取精度，但在井多的情况下，工作量比较大，而且易受到人为因素影响。

因此，如何提供一种新的方案，其能够解决上述技术问题是本领域亟待解决的技术难题。

发明内容

本发明实施例提供一种标准层选取方法，实现恶劣标准层的自动准确选取，该方法包括：

在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

设定相关系数的截止值；

获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

本发明实施例还提供一种标准层选取装置，包括：

标准井标准层选取模块，用于在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

搜索范围确定模块，用于根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

相关系数的截止值设定模块，用于设定相关系数的截止值；

标准井参数获取模块，用于获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

非标准井参数确定模块，用于根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

最小公倍数计算模块，用于计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

相关系数计算模块，用于根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

相关系数对比模块，用于若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

单次最新非标准井窗长的顶、底数值确定模块，用于将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值输出模块，用于将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

非标准井的标准层确定模块，用于根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

本发明实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种标准层选取方法。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述一种标准层选取方法的计算机程序。

本发明实施例提供的一种标准层选取方法和装置，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。本发明实施例针对标准层拾取结果不可靠对后续储层预测带来的不利影响，提供了一种自动选取标准层的方法，在非标准井上通过滑动变窗长扫描的方式，优选与标准井的标准层曲线形态最相似的曲线段，以区域统一的测井地质分层控制各井搜索范围，在该范围内寻找与标准井的标准层相关系数最大的井段，作为各井的标准层，不仅消除了人为因素在选取标准层时的影响，而且实现了快速、准确的优选标准层的目的，有利于提高后续曲线标准化处理的精度，为储层预测提供可靠的测井曲线数据。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1为本发明实施例一种标准层选取方法示意图。

图2为本发明实施例一种标准层选取方法的标准井及标准层示意图。

图3为本发明实施例一种标准层选取方法的非标准井示意图。

图4a-图4d为本发明实施例一种标准层选取方法的非标准井滑动窗长内的曲线重采样前后对比图。

图5为本发明实施例一种标准层选取方法的非标准井优选经滑动变窗长扫描优选后选取的标准层图。

图6为运行本发明实施的一种标准层选取方法的计算机装置示意图。

图7为本发明实施例一种标准层选取装置示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本发明实施例做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。

图1为本发明实施例一种标准层选取方法示意图，如图1所示，本发明实施例提供一种标准层选取方法，实现恶劣标准层的自动准确选取，该方法包括：

步骤101：在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

步骤102：根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

步骤103：设定相关系数的截止值；

步骤104：获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

步骤105：根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

步骤106：计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

步骤107：根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

步骤108：若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

步骤109：将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

步骤1010：将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

步骤1011：根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

本发明实施例提供的一种标准层选取方法，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。本发明实施例针对标准层拾取结果不可靠对后续储层预测带来的不利影响，提供了一种自动选取标准层的方法，在非标准井上通过滑动变窗长扫描的方式，优选与标准井的标准层曲线形态最相似的曲线段，以区域统一的测井地质分层控制各井搜索范围，在该范围内寻找与标准井的标准层相关系数最大的井段，作为各井的标准层，不仅消除了人为因素在选取标准层时的影响，而且实现了快速、准确的优选标准层的目的，有利于提高后续曲线标准化处理的精度，为储层预测提供可靠的测井曲线数据。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，可以包括：

在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

设定相关系数的截止值；

获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

图2为本发明实施例一种标准层选取方法的标准井及标准层示意图，如图2所示，具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，包括：

在研究区范围内的所有井中进行筛选，将在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井作为标准井。

实施例中，在研究区范围内的所有井中选出一口井作为标准井，则需要满足至少在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井，在多口满足上述条件情况下，一般可以选取任意一口井作为起始标准井，但尽量选取在井数相对密集的区域。在研究区范围内的所有井，均包含有测井曲线。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的选取标准井的标准层，包括：

在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层。

实施例中，在标准井中选取标准层，包括：在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层，标准层，是指在区域上稳定分布、厚度一般在5m以上且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层。

如图2所示，标准井的标准层的上端、下端深度分别为1976.0m和1976.5m，厚度0.5m。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围，包括：

标准井的标准层的上端、下端分别向外延伸，寻找并确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；图3为本发明实施例一种标准层选取方法的非标准井示意图，在对于所示非标准井，在测井地址分层上端T和下端B的深度范围内搜索该非标准井的标准层。在图2中，也表示出了测井地址分层上端T和下端B的深度；在图2和图3中，T表示测井地址分层的上端，B表示测井地址分层的下端。

前述的测井地质分层，是指地下地层的沉积和形成是有时间和顺序的，同一时期形成的地层在测井曲线上有相似的曲线形态，而地层和地层之间的界限一般与曲线形态的某一位置对应，而通常会对这些曲线位置进行命名，就是测井地质分层。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的设定相关系数的截止值，包括：根据不同的研究区设定相关系数的截止值，在一个实例中，相关系数设定为0.7；前述的相关系数，是指用于表示两条曲线形态的相似程度，数值越大表示两者越相似。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，包括：

获取标准井标准层的顶、底数值，确定标准层标准井的窗长厚度D；

获取标准井的测井曲线采样间隔△t，结合窗长厚度D，确定样点个数为D/△t+1。

实施例中，获取标准井标准层的顶、底数值，将顶、底数值相减即可确定标准层标准井的窗长厚度D，获取标准井的测井曲线采样间隔△t，将标准层标准井的窗长厚度D与合窗长厚度D相比然后加一，即可得到样点个数为D/△t+1；参见图2，标准井的测井曲线采样间隔△t为0.1米，标准井的标准层的厚度D为0.5米，样点个数则计算为6个。

所述的采样间隔，是指测井曲线隔多少米记录一个数值，测井曲线常见的采样间隔是0.1m或0.125m。

所述的窗长，是指一个厚度，按该厚度提取对应的测井曲线段；

图4a-图4d为本发明实施例一种标准层选取方法的非标准井滑动窗长内的曲线重采样前后对比图，图4a、图4c为滑动窗长内非标准井重采样前曲线图；图4b、图4d为滑动窗长内非标准井重采样后曲线图。具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数，包括：

将标准井标准层的窗长厚度的一半作为非标准井的窗长厚度D/2；

根据非标准井的窗长厚度D/2和标准井标准层的测井曲线采样间隔△t，确定非标准井的样点个数D/(2·△t)+1。

实施例中，以某一口非标准井为例，记为W井，非标准井W井的搜索范围按照前述测井地址分层上端T和下端B的深度范围，分别记为T、B，从上端T的深度开始，见图3，该非标准井的搜索范围为1950.6～1951.7米，在搜索范围内，非标准井W井的窗长厚度为D/2，即0.25米，样点个数为D/(2·△t)+1，即3个，见图4a。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数，包括：

分别将标准井标准层的样点个数D/△t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)+1减一；

计算减一后标准井标准层的样点个数D/△t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)的最小公倍数Q。

实施例中，由于非标准井W井和标准井标准层的窗长样点数不一致，则在求取最小公倍数时，需要先将非标准井W井和标准井标准层的窗长样点数减1，然后求取最小公倍数，包括：分别将标准井标准层的样点个数D/△t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)+1减一，计算减一后标准井标准层的样点个数D/△t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)的最小公倍数Q，即求取D/△t和D/(2·△t)的最小公倍数，求得的最小公倍数记为Q。见图4a、图4c，样例中就是求2和5的最小公倍数，则Q为10；

所述的最小公倍数，是指两个整数共有的倍数中最小的数。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，前述的根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，包括：

根据最小公倍数Q和非标准井的样点个数D/(2·△t)+1，对非标准井窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算非标准井窗长内插样点个数Q/(D/(2·△t))-1，在非标准井窗长的相邻两点之间内插样点；

根据最小公倍数Q和标准井标准层的样点个数D/△t+1，对标准井标准层窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算标准井标准层内插样点个数Q/(D/△t)-1，在标准井标准层的相邻两点之间内插样点。

实施例中，根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，包括：

根据最小公倍数Q和非标准井的样点个数D/(2·△t)+1，对非标准井窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算非标准井窗长内插样点个数Q/(D/(2·△t))-1，在非标准井窗长的相邻两点之间内插样点；对于非标准井W井窗长内的曲线段，相邻两点之间按照线性插值方法，内插Q/(D/(2·△t))-1个点，见图4b，每相邻两点间内插了4个点，内插后的总样点个数为11个。

根据最小公倍数Q和标准井标准层的样点个数D/△t+1，对标准井标准层窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算标准井标准层内插样点个数Q/(D/△t)-1，在标准井标准层的相邻两点之间内插样点；对于标准井标准层，相邻两点之间按照线性插值方法，内插Q/(D/△t)-1个点，见图4b，每相邻两点间内插了1个点，内插后的总样点个数也为11个，从而使得W井的窗长内的样点个数和标准井标准层的样点个数一致，见图4b、图4d。

所述的线性插值方法，是指使用连续两个已知量的直线来确定在这两个已知量之间的一个未知量的值的方法。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，按照如下方式，计算相关系数：

其中，r为相关系数，X为非标准井窗长内内插后测井曲线段的曲线值；Y为标准井标准层内插样点后测井曲线段的曲线值；N为插值后的样点个数。

前述提到的计算相关系数的表达式为举例说明，本领域技术人员可以理解，在实施时还可以根据需要对上述公式进行一定形式的变形和添加其它的参数或数据，或者提供其它的具体公式，这些变化例均应落入本发明的保护范围。

实施例中，在通过上述公式计算得到相关系数后，比较计算得到的相关系数与前述设定的截止值，若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；否则不保留。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值。

实施例中，将非标准井W井的窗长从测井地质分层的上端T整体每向下移动一个△t采样点的厚度，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，否则不保留，直至非标准井W井窗长的底计算到测井地质分层的下端B的位置为止，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值。

图5为本发明实施例一种标准层选取方法的非标准井优选经滑动变窗长扫描优选后选取的标准层图，如图5所示，具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取方法时，在一个实施例中，将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值。

实施例中，非标准井W井的窗长厚度加1个△t采样点的厚度，即W井的窗长厚度为D/2+△t，则样点个数变为D/(2·△t)+2，对非标准井W井的窗长厚度和样点个数进行迭代更新，W井按照更新的窗长厚度和样点个数，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，每次更新时，W井的窗长厚度继续加1个△t采样点的厚度，直至W井的窗长厚度变为2·D，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，即为W井优选后的标准层的顶、底深度位置，见图5。

据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层，包括：将最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值相减，确定非标准井的标准层厚度，通过最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值和标准层厚度，表示非标准井W井的标准层。

其他非标准井按照上述过程，分别求取各井的标准层深度位置。

本发明实施例还提供一种标准层选取方法的实现步骤，主要包括：

1)在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其余井统称为非标准井，并选取标准井的标准层；

2)在标准井的标准层上端、下端分别找一个测井地质分层，要求所有井的标准层包含在所选测井地质分层的范围内，并将选中测井地质分层的范围作为搜索范围；

3)设定相关系数的截止值，本实施例中设置为0.7，具体大小根据不同的研究区确立进行修改；

4)将标准井的标准层的顶、底之间的厚度记为D，记研究区内测井曲线的采样间隔为△t，则标准井标准层窗长的样点个数为D/△t+1，以某一口非标准井为例，记为W井，W井的搜索范围按照步骤2中选中的上、下测井地质分层的深度分别记为T、B，从T的深度开始，在搜索范围内，W井的窗长厚度为D/2，则样点个数为D/(2·△t)+1，由于W井和标准井标准层的窗长样点数不一致，需要先将W井和标准井标准层的窗长样点数减1，然后求取最小公倍数，即求取D/△t和D/(2·△t)的最小公倍数，求得的最小公倍数记为Q；

5)对于W井窗长内的曲线段，相邻两点之间按照线性插值方法，内插Q/(D/(2·△t))-1个点，对于标准井标准层，相邻两点之间按照线性插值方法，内插Q/(D/△t)-1个点，从而使得W井的窗长内的样点个数和标准井标准层的样点个数一致，按照公式1计算两者的相关系数，若该相关系数大于步骤3中的截止值，则保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，否则不保留；

6)W井的窗长整体每向下移动一个△t采样点的厚度，重复步骤5，若计算的相关系数大于步骤3中的截止值且大于步骤5中计算的最大相关系数，则保留新的顶、底数值，否则不保留，直至W井窗长的底计算到深度B的位置为止，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

7)W井的窗长厚度加1个△t采样点的厚度，即W井的窗长厚度为D/2+△t，则样点个数变为D/(2·△t)+2，W井按照新的窗长厚度和样点个数，重复步骤4、步骤5、步骤6，然后W井的窗长厚度继续加1个△t采样点的厚度，重复步骤4、步骤5、步骤6，直至W井的窗长厚度变为2·D，输出最终保留的单次最新非标准井W井窗长的顶、底数值，即为W井优选后的标准层的深度位置；

8)其他非标准井按照步骤4～步骤7的过程，分别求取各井的标准层深度位置。

本发明是一种新的标准层优选方法及装置，利用标准井的标准层作为目标样本，通过滑动变时窗扫描的方式，在标准井上优选与目标样本曲线形态最为相似的曲线段，这种通过计算机智能识别的方式可以实现快速、准确的优选标准层的目的，有利于提高后续曲线标准化处理的精度，为储层预测提供可靠的测井曲线数据。

图6为运行本发明实施的一种标准层选取方法的计算机装置示意图，如图6所示，本发明实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种标准层选取方法。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行实现上述一种标准层选取方法的计算机程序。

本发明实施例中还提供了一种标准层选取装置，如下面的实施例所述。由于该装置解决问题的原理与一种标准层选取方法相似，因此该装置的实施可以参见一种标准层选取方法的实施，重复之处不再赘述。

图7为本发明实施例一种标准层选取装置示意图，如图7所示，本发明实施例还提供一种标准层选取装置，具体实施时可以包括：

标准井标准层选取模块701，用于在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

搜索范围确定模块702，用于根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

相关系数的截止值设定模块703，用于设定相关系数的截止值；

标准井参数获取模块704，用于获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

非标准井参数确定模块705，用于根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

最小公倍数计算模块706，用于计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

相关系数计算模块707，用于根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

相关系数对比模块708，用于若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

单次最新非标准井窗长的顶、底数值确定模块709，用于将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值输出模块710，用于将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

非标准井的标准层确定模块711，用于根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的标准井标准层选取模块，具体用于：

在研究区范围内的所有井中进行筛选，将在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井作为标准井。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的标准井标准层选取模块，还用于：

在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的标准井参数获取模块，具体用于：

获取标准井标准层的顶、底数值，确定标准层标准井的窗长厚度D；

获取标准井的测井曲线采样间隔△t，结合窗长厚度D，确定样点个数为D/△t+1。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的非标准井参数确定模块，具体用于：

将标准井标准层的窗长厚度的一半作为非标准井的窗长厚度D/2；

根据非标准井的窗长厚度D/2和标准井标准层的测井曲线采样间隔△t，确定非标准井的样点个数D/(2·△t)+1。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的最小公倍数计算模块，具体用于：

分别将标准井标准层的样点个数D/△t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)+1减一；

计算减一后标准井标准层的样点个数D/△t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)的最小公倍数Q。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的相关系数计算模块，具体用于：

根据最小公倍数Q和非标准井的样点个数D/(2·△t)+1，对非标准井窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算非标准井窗长内插样点个数Q/(D/(2·△t))-1，在非标准井窗长的相邻两点之间内插样点；

根据最小公倍数Q和标准井标准层的样点个数D/△t+1，对标准井标准层窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算标准井标准层内插样点个数Q/(D/△t)-1，在标准井标准层的相邻两点之间内插样点。

具体实施本发明实施例提供的一种标准层选取装置时，在一个实施例中，前述的相关系数计算模块，还用于按照如下方式，计算相关系数：

其中，r为相关系数，X为非标准井窗长内内插后测井曲线段的曲线值；Y为标准井标准层内插样点后测井曲线段的曲线值；N为插值后的样点个数。

综上，本发明实施例提供的一种标准层选取方法和装置，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。本发明实施例针对标准层拾取结果不可靠对后续储层预测带来的不利影响，提供了一种自动选取标准层的方法，在非标准井上通过滑动变窗长扫描的方式，优选与标准井的标准层曲线形态最相似的曲线段，以区域统一的测井地质分层控制各井搜索范围，在该范围内寻找与标准井的标准层相关系数最大的井段，作为各井的标准层，不仅消除了人为因素在选取标准层时的影响，而且实现了快速、准确的优选标准层的目的，有利于提高后续曲线标准化处理的精度，为储层预测提供可靠的测井曲线数据。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (18)

1.一种标准层选取方法，其特征在于，包括：

在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

设定相关系数的截止值；

获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，包括：

在研究区范围内的所有井中进行筛选，将在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井作为标准井。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，选取标准井的标准层，包括：

在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，包括：

获取标准井标准层的顶、底数值，确定标准层标准井的窗长厚度D；

获取标准井的测井曲线采样间隔△t，结合窗长厚度D，确定样点个数为D/△t+1。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数，包括：

将标准井标准层的窗长厚度的一半作为非标准井的窗长厚度D/2；

根据非标准井的窗长厚度D/2和标准井标准层的测井曲线采样间隔△t，确定非标准井的样点个数D/(2·△t)+1。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数，包括：

分别将标准井标准层的样点个数D/△t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)+1减一；

计算减一后标准井标准层的样点个数D/△t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)的最小公倍数Q。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，包括：

根据最小公倍数Q和非标准井的样点个数D/(2·△t)+1，对非标准井窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算非标准井窗长内插样点个数Q/(D/(2·△t))-1，在非标准井窗长的相邻两点之间内插样点；

根据最小公倍数Q和标准井标准层的样点个数D/△t+1，对标准井标准层窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算标准井标准层内插样点个数Q/(D/△t)-1，在标准井标准层的相邻两点之间内插样点。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，按照如下方式，计算相关系数：

其中，r为相关系数，X为非标准井窗长内内插后测井曲线段的曲线值；Y为标准井标准层内插样点后测井曲线段的曲线值；N为插值后的样点个数。

9.一种标准层选取装置，其特征在于，包括：

标准井标准层选取模块，用于在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；

搜索范围确定模块，用于根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；

相关系数的截止值设定模块，用于设定相关系数的截止值；

标准井参数获取模块，用于获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；

非标准井参数确定模块，用于根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；

最小公倍数计算模块，用于计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；

相关系数计算模块，用于根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；

相关系数对比模块，用于若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；

单次最新非标准井窗长的顶、底数值确定模块，用于将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值输出模块，用于将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；

非标准井的标准层确定模块，用于根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，标准井标准层选取模块，具体用于：

在研究区范围内的所有井中进行筛选，将在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井作为标准井。

11.如权利要求9所述的装置，其特征在于，标准井标准层选取模块，还用于：

在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层。

12.如权利要求9所述的装置，其特征在于，标准井参数获取模块，具体用于：

获取标准井标准层的顶、底数值，确定标准层标准井的窗长厚度D；

获取标准井的测井曲线采样间隔△t，结合窗长厚度D，确定样点个数为D/△t+1。

13.如权利要求12所述的装置，其特征在于，非标准井参数确定模块，具体用于：

将标准井标准层的窗长厚度的一半作为非标准井的窗长厚度D/2；

根据非标准井的窗长厚度D/2和标准井标准层的测井曲线采样间隔△t，确定非标准井的样点个数D/(2·△t)+1。

14.如权利要求13所述的装置，其特征在于，最小公倍数计算模块，具体用于：

分别将标准井标准层的样点个数D/△t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)+1减一；

计算减一后标准井标准层的样点个数D/△t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2·△t)的最小公倍数Q。

15.如权利要求14所述的装置，其特征在于，相关系数计算模块，具体用于：

根据最小公倍数Q和非标准井的样点个数D/(2·△t)+1，对非标准井窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算非标准井窗长内插样点个数Q/(D/(2·△t))-1，在非标准井窗长的相邻两点之间内插样点；

根据最小公倍数Q和标准井标准层的样点个数D/△t+1，对标准井标准层窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算标准井标准层内插样点个数Q/(D/△t)-1，在标准井标准层的相邻两点之间内插样点。

16.如权利要求14所述的装置，其特征在于，相关系数计算模块，还用于按照如下方式，计算相关系数：

其中，r为相关系数，X为非标准井窗长内内插后测井曲线段的曲线值；Y为标准井标准层内插样点后测井曲线段的曲线值；N为插值后的样点个数。

17.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8任一项所述方法。

18.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有执行实现权利要求1至8任一项所述方法的计算机程序。

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