CN112447877A - 二级标片及其制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种二级标片及其制备方法，所述二级标片包括电池片和测试保护片组，所述电池片包括正面主栅、位于所述正面主栅上的若干正面测试点；所述测试保护片组包括与所述若干正面测试点一一焊接的测试保护片；本发明的二级标片，通过设置与若干正面测试点一一对应的测试保护片，减少二级标片测试衰减，提高了二级标片的稳定性，大幅度提高了测试机台校准准确性，降低不同测试机台的测试差异性，提高了产品输出的一致性；提高了产品测量的准确性，降低产品的质量风险。
Description
技术领域
本发明涉及光伏领域，尤其涉及一种能够减少测试衰减的二级标片及其制备方法。
背景技术
太阳能电池测试机需要使用二级标片校准，仪器符合要求时，即可投入太阳能电池的批量生产。若二级标片不准确，则会导致产品测试不准确，使其存在质量风险。
然而，随着二级标片使用次数的增多，会导致二级标片的参数发生衰减变化，如果仍然按照标定值对太阳能电池测试机进行校准，就会造成机台的不准确。因此解决二级标片的衰减问题，是保证太阳能电池测试机准确性的关键问题；目前只有在更换新标片时才能发现异常，造成现场测试波动大，测试不准确，增大了产品的质量风险。
有鉴于此，有必要提供一种二级标片及其制备方法，以解决上述技术问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够减少测试衰减的二级标片及其制备方法。
为实现上述发明目的，本发明采用如下技术方案：
一种二级标片，包括电池片和测试保护片组，所述电池片包括正面主栅、位于所述正面主栅上的若干正面测试点；所述测试保护片组包括与所述若干正面测试点一一焊接的测试保护片。
进一步地，沿垂直于所述电池片的方向，所述测试保护片在所述正面主栅上的投影覆盖所述正面测试点。
进一步地，所述测试保护片在所述正面主栅上的投影与所述正面测试点一致。
进一步地，所述测试保护片与所述正面主栅的宽度相同。
进一步地，所述测试保护片为涂锡铜片；所述涂锡铜片包括厚度小于0.2mm的铜基体、厚度小于0.05mm的锡涂层，所述铜基体电阻率≤0.0165Ωmm2/m；所述涂锡铜片的抗拉强度≥25kgf/mm2。
进一步地，所述电池片还包括背面主栅、位于所述背面主栅上的若干背面测试点，所述背面测试点向外裸露。
为实现上述发明目的，本发明还提供一种二级标片的制备方法，包括如下步骤：在电池片正面主栅的若干正面测试点处一一焊接测试保护片。
进一步地，所述测试保护片为涂锡铜片；所述涂锡铜片包括厚度小于0.2mm的铜基体、厚度小于0.05mm的锡涂层，所述铜基体电阻率≤0.0165Ωmm2/m；所述涂锡铜片的抗拉强度≥25kgf/mm2。
进一步地，测试保护片的焊接过程为：焊接温度调整为350℃～400℃，助焊剂浸泡10min。
进一步地，所述测试保护片不小于所述正面测试点。
进一步地，所述测试保护片与所述正面主栅的宽度相同。
本发明的有益效果是：本发明的二级标片，通过设置与若干正面测试点一一对应的测试保护片，减少二级标片测试衰减，提高了二级标片的稳定性，大幅度提高了测试机台校准准确性，降低不同测试机台的测试差异性，提高了产品输出的一致性；提高了产品测量的准确性，降低产品的质量风险。
附图说明
图1是一种传统的二级标片结构示意图；
图2是另一种传统的二级标片结构示意图，仅示意正面探针接触位置的主栅线结构；
图3是本发明基于图1所示二级标片进行改进后的一较佳实施例中的二级标片的结构示意图；
图4是本发明基于图2所示二级标片进行改进后的一较佳实施例中的二级标片的结构示意图；
图5是传统的二级标片背面未焊接时使用次数与电池效率对应关系图；
图6是本发明的方法获得的二级标片背面未焊接时使用次数与电池效率对应关系图；
图7是传统的二级标片的使用次数与FF对应关系图；
图8是本发明的方法获得的二级标片的使用次数与FF对应关系图；
图9是传统的二级标片的使用次数与电池效率对应关系图；
图10是本发明的方法获得的二级标片的使用次数与电池效率对应关系图。
具体实施例
以下将结合附图所示的具体实施方式对本申请进行详细描述。但这些实施方式并不限制本申请，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本申请的保护范围内。
在本申请的各个图示中，为了便于图示，结构或部分的某些尺寸会相对于其它结构或部分夸大，因此，仅用于图示本申请的主题的基本结构。
发明人在研究中发现，在采用二级标片100对太阳能电池测试机进行标定时，为保证测试准确，测试探针头部呈针状与电池片1接触；然而随着测试次数的增多，主栅遭到破坏，增大了探针与电池片1的接触电阻，降低了电池的FF，进而造成电池片1效率下降；基于此，提出减少二级标片100测试衰减的方法对二级标片100进行改进。
请参阅图3～图10，对本发明较佳实施例的二级标片100及其制备方法进行说明。
如图3～图4所示，所述二级标片100包括电池片1、焊接于所述电池片1的若干测试点的测试保护片组。所述测试点即二级标片100在测试时探针接触的位置，也即所述测试点与所述探针针头的形状一致，在测试过程中，探针针头与所述测试保护片2连接，可以有效的降低二级标片100的测试衰减值。并且，所述测试保护片组焊接于若干测试点，不会覆盖其他位置，因此不会影响电池片1的受光面积，能够保证测试的准确性。
具体地，所述电池片1包括正面主栅11、位于所述正面主栅11上的若干正面测试点，所述正面测试点的数量根据正面主栅11的设计形状而定。例如图3所示，所述正面主栅11为条形主栅时，若干正面测试点分布于所述条形主栅上的不同位置处；如图4所示，所述正面主栅11为分段式主栅时，若干正面测试点分布于分段式主栅111处，而非分段连接112处。
所述测试保护片组包括与所述若干正面测试点一一焊接的测试保护片2；在测试过程中，探针针头与所述测试保护片2连接，所述正面主栅11不再遭到破坏，可以有效的降低二级标片100的测试衰减值。
相较焊接于所述正面主栅11上的整条条形焊带，若干测试保护片2与若干测试点一一对应具有如下优势：①所述测试保护片2仅覆盖所述测试点，因此将所述测试保护片2与所述电池片1的接触面积降低80％左右，有效降低了焊接过程中由于应力差异导致的电池片1变形与弯曲，大大减少了对电池片1的损伤，提高了二级标片100后续的使用寿命。②目前主流电池片1的正面主栅11存在分段式设计、或部分镂空设计，使用条形焊带会遮住正面主栅11上的受光面积，影响测试效率，存在很大的弊端，而本发明的测试保护片组可以有效屏蔽该问题，该方案更加灵活和准确。
沿垂直于所述电池片1的方向，所述测试保护片2在所述正面主栅11上的正投影覆盖所述正面测试点；以保证探针针头不会损伤所述正面电极。
所述测试保护片2的形状不限，只要能够覆盖所述正面测试点即可，优选地，所述测试保护片2的形状与所述测试点的形状相同。例如，所述测试保护片2为圆形保护片或方形保护片。
所述测试保护片2的面积越大，越能够有效地保护正面主栅11，其可以防止测试探针发生偏斜时对正面主栅11造成损伤，但同时也会影响电池片1的受光；因此所述测试保护片2的面积与所述正面测试点相同或略大于所述正面测试点即可。
综合形状和面积，一具体实施例中，所述测试保护片2在所述正面主栅11上的投影与所述正面测试点一致，不会影响电池片1的受光面积。
另外，所述测试保护片2与所述正面主栅11的宽度相同，能够防止虚焊保证有效测试，同时能够有效保护所述正面主栅11不被探针损伤。
基于上述任意结构，所述测试保护片2为涂锡铜片；所述涂锡铜片包括厚度小于0.2mm的铜基体、厚度小于0.05mm的锡涂层，锡涂层均匀，表面光亮、平整；所述铜基体电阻率≤0.0165Ωmm2/m；抗拉强度：≥25kgf/mm2，焊接后接触电阻小，不会影响标定测试。
另外，基于上述任意一种所述二级标片100，所述电池片1还包括背面主栅、位于所述背面主栅上的若干背面测试点，所述背面测试点向外裸露；也即所述二级标片100仅对正面主栅11上的测试点焊接所述测试保护片2。请参阅图6和图7，根据理论推测和实验结果验证，背面主栅是否焊接测试保护片2对二级标片100的测定效果影响不大，因此本发明仅进行正面焊接，有效降低了对电池片1的焊接伤害，保证了产品的稳定使用。
本发明还提供一种二级标片的制备方法，包括在电池片1正面主栅11的若干正面测试点处一一焊接测试保护片2。该方法中，使用焊接测试保护片2的方法保护电池片1正面主栅11后，电池片1正面主栅11不再遭到破坏，通过现场实验验证可以有效的降低电池片1的测试衰减值。
具体地，所述测试保护片2为涂锡铜片；所述涂锡铜片包括厚度小于0.2mm的铜基体、厚度小于0.05mm的锡涂层，该厚度设计可以将对所述电池片1的伤害降到最低，且可以保证良好的使用效果。
另外，所述铜基体电阻率≤0.0165Ωmm2/m；抗拉强度：≥25kgf/mm2，所述锡涂层均匀、表面光亮、平整，能够保证良好的测试效果。
测试保护片2的焊接过程具体为：焊接温度350℃～400℃，助焊剂浸泡10min，焊接后外观无毛刺，翘起，虚焊等异常；焊接位置与探针接触位置保持一致。
另外，所述测试保护片2不小于所述正面测试点，焊接后，保证所述测试保护片2覆盖所述正面测试点，对其进行有效保护。优选地，所述测试保护片2与所述正面测试点一致。
所述测试保护片2与所述正面主栅11的宽度相同，能够防止虚焊保证有效测试，同时能够有效保护所述正面主栅11不被探针损伤。
另外，二级标片的制备方法还包括选片、预衰减处理、制作二级标片、标定二级标片的标称值等常规步骤，这些步骤采用现有技术，于此不再赘述。其中，焊接所述测试保护片的步骤位于选片之后、制作二级标片之前，与预衰减处理可以互换，例如焊接测试保护片位于预衰减处理之后，测试保护片不会对预衰减过程产生任何影响。
请参阅图7～图10所示，相较于传统的二级标片100，采用本发明的二级标片100或采用上述方法获得的二级标片100，随着使用次数的增加，FF和效率基本保持不变，改善效果明显。
综上所述，本发明的二级标片100，通过设置与若干正面测试点一一对应的测试保护片2，减少二级标片100测试衰减，提高了二级标片100的稳定性，大幅度提高了测试机台校准准确性，降低不同测试机台的测试差异性，提高了产品输出的一致性；提高了产品测量的准确性，降低产品的质量风险。
应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施方式中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本申请的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本申请的保护范围，凡未脱离本申请技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种二级标片，其特征在于，包括
电池片，所述电池片包括正面主栅、位于所述正面主栅上的若干正面测试点；
测试保护片组，包括与所述若干正面测试点一一焊接的测试保护片。
2.根据权利要求1所述的二级标片，其特征在于：沿垂直于所述电池片的方向，所述测试保护片在所述正面主栅上的投影覆盖所述正面测试点。
3.根据权利要求2所述的二级标片，其特征在于：所述测试保护片在所述正面主栅上的投影与所述正面测试点一致。
4.根据权利要求1所述的二级标片，其特征在于：所述测试保护片与所述正面主栅的宽度相同。
5.根据权利要求1所述的二级标片，其特征在于：所述测试保护片为涂锡铜片；所述涂锡铜片包括厚度小于0.2mm的铜基体、厚度小于0.05mm的锡涂层，所述铜基体电阻率≤0.0165Ωmm2/m；所述涂锡铜片的抗拉强度≥25kgf/mm2。
6.根据权利要求1～5任意一项所述的二级标片，其特征在于：所述电池片还包括背面主栅、位于所述背面主栅上的若干背面测试点，所述背面测试点向外裸露。
7.一种二级标片的制备方法，其特征在于：包括如下步骤：在电池片正面主栅的若干正面测试点处一一焊接测试保护片。
8.根据权利要求7所述的二级标片的制备方法，其特征在于：所述测试保护片为涂锡铜片；所述涂锡铜片包括厚度小于0.2mm的铜基体、厚度小于0.05mm的锡涂层，所述铜基体电阻率≤0.0165Ωmm2/m；所述涂锡铜片的抗拉强度≥25kgf/mm2。
9.根据权利要求8所述的二级标片的制备方法，其特征在于：测试保护片的焊接过程为：焊接温度调整为350℃～400℃，助焊剂浸泡10min。
10.根据权利要求7所述的二级标片的制备方法，其特征在于，所述测试保护片不小于所述正面测试点。
11.根据权利要求7所述的二级标片的制备方法，其特征在于：所述测试保护片与所述正面主栅的宽度相同。
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