CN112433143A - 一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法;该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器:当需要对该测试仪器进行日常防护时,通过转动机壳一侧的防尘盖,使得防尘盖通过转轴进行旋转,当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时,使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外,从而防止接口位置受到堵塞;当该测试仪器在日常使用时,将护垫通过一侧的卡条对准机壳的卡槽,使得卡条卡合连接进卡槽中,并且使用配套螺丝将护垫固定在机壳顶部两端的拐角位置处,从而通过护垫对机壳进行防碰撞保护。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路仪器技术领域,具体为一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法。
背景技术
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备,集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一,在集成电路产品生产和使用时,需要相应的集成电路测试仪器对集成电路产品进行相关电路检测,而市场上集成电路测试仪器的引线和接口大多裸露在外,使得集成电路测试仪器在长期使用时常受灰尘等杂质影响,为此,我们对于集成电路测试仪器的要求越来越高,希望能够通过对集成电路测试仪器的创新来提高集成电路测试仪器的使用效率,便于防尘防堵塞,便于仪器摆放角度的调节,使之发挥出最大的价值,随着科技的发展,具有防堵塞功能的集成电路测试仪器有了很大程度的发展,它的发展给人们在对集成电路产品进行电路检测时带来了很大的便利,其种类和数量也正在与日俱增。
目前市场上的具有防堵塞功能的集成电路测试仪器虽然种类和数量非常多,但是具有防堵塞功能的集成电路测试仪器有这样的缺点:集成电路测试仪器容易受灰尘等杂质堵塞,集成电路测试仪器容易受到碰撞,集成电路测试仪器不便于引线收纳,集成电路测试仪器不便于搬运携带,集成电路测试仪器不便于支脚组装和集成电路测试仪器不便于调节摆放角度。因此要对现在的具有防堵塞功能的集成电路测试仪器进行改进。
发明内容
本发明的目的在于提供一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器,以解决上述背景技术提出的目前市场上的集成电路测试仪器容易受灰尘等杂质堵塞,集成电路测试仪器容易受到碰撞,集成电路测试仪器不便于引线收纳,集成电路测试仪器不便于搬运携带,集成电路测试仪器不便于支脚组装和集成电路测试仪器不便于调节摆放角度的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器,包括机壳、护垫和转动杆,所述机壳的一侧表面设置有引线接口,所述引线接口的相邻一侧设置有测试口,其中,
所述引线接口和测试口的外侧设置有防尘盖,所述防尘盖通过转轴和机壳固定,所述机壳远离测试口的一侧安装有散热口,所述机壳的两端开设有连接槽,所述连接槽的相邻一侧设置有凸柱,所述凸柱上连接有手柄,所述连接槽远离凸柱的相邻位置和机壳顶部的一侧开设有卡槽,所述护垫通过卡条连接在卡槽内;
所述机壳的底部一侧设置有底座,所述机壳的底部的中央位置设置有连接架,所述连接架的内部连接有抽屉,所述机壳底部远离底座的一侧固定有合页的一端,所述合页的另一端固定有齿轮盒,所述齿轮盒的一侧连接有螺纹杆,所述螺纹杆连接在固定板内部的滑槽中,所述螺纹杆伸出固定板的一端连接有第一旋钮;
所述齿轮盒的内部一端连接有直齿轮,所述直齿轮伸出齿轮盒的一端连接有第二旋钮,所述直齿轮的一端和盘齿的一端进行连接,所述转动杆贯穿连接在盘齿的内部,所述转动杆伸出齿轮盒的外侧一端连接进支架内部的螺纹孔中,所述支架的外侧两端设置有伸出架,所述齿轮盒底部的导向杆贯穿连接进伸出架的内部。
优选的,所述防尘盖为透明塑料材质,且防尘盖的截面尺寸小于机壳的截面尺寸,并且防尘盖通过转轴和机壳之间构成旋转结构。
优选的,所述卡槽设置有两组共八个,且两组所述卡槽关于机壳的竖直中心截面对称分布,并且卡槽的截面形状为“凸”状,而且卡槽的截面尺寸和卡条的截面尺寸相吻合。
优选的,所述螺纹杆的长度大于固定板和第一旋钮的厚度,且螺纹杆的直径和滑槽的宽度相吻合,并且螺纹杆的截面尺寸和第一旋钮的内部截面尺寸相匹配,而且螺纹杆和第一旋钮之间构成螺纹结构。
优选的,所述滑槽的形状为圆弧状,且滑槽的弧度为90°,并且滑槽的圆心交于合页的中心线上。
优选的,所述盘齿的尺寸小于齿轮盒的内部尺寸,且盘齿和直齿轮之间相互啮合连接。
优选的,所述支架的形状为倒置的“T”字型,且支架关于机壳的竖直中心线对称分布,并且支架内部的转动杆表面设置有螺纹,而且支架内部螺纹孔的截面尺寸和转动杆的截面尺寸相匹配。
优选的,所述导向杆的长度大于螺纹孔的深度,且导向杆的截面尺寸和伸出架的内部截面尺寸相吻合,并且导向杆关于支架的中心线对称分布。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器:
当需要对该测试仪器进行日常防护时,通过转动机壳一侧的防尘盖,使得防尘盖通过转轴进行旋转,当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时,使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外,从而防止接口位置受到堵塞;
2. 当该测试仪器在日常使用时,将护垫通过一侧的卡条对准机壳的卡槽,使得卡条卡合连接进卡槽中,并且使用配套螺丝将护垫固定在机壳顶部两端的拐角位置处,从而通过护垫对机壳进行防碰撞保护;
3. 当该测试仪器不需要对集成电路产品进行测试时,通过拉动机壳底部连接架内的抽屉,使得抽屉从连接架中抽出打开,通过将集成电路测试仪器的连接引线收纳进抽屉中,在不使用该测试仪器时,将引线收纳盛放进抽屉中,从而避免引线混乱摆放;
4. 当需要对该测试仪器进行搬运时,通过双手插入连接槽中搬运机壳,或者拉动手柄带动机壳移动到指定位置进行摆放,同时转动齿轮盒使得合页在机壳的底部旋转,当齿轮盒转动到支架垂直在机壳的底部位置时,拧紧螺纹杆伸出固定板一端的第一旋钮,使得第一旋钮将固定板夹紧,从而将齿轮盒的角度位置进行固定,并且方便对该测试仪器进行搬运;
5.设置有转动杆,当需要对该测试仪器的支架进行组装时,将支架的螺纹孔对准转动杆,并且将伸出架对接到导向杆上,同时转动第二旋钮使得直齿轮和盘齿进行啮合传动,转动的盘齿带动转动杆将支架和伸出架连接到转动杆和导向杆上,从而方便对该测试仪器的支架进行组装;
6.设置有导向杆,当需要对该测试仪器的摆放角度进行调节时,转动第二旋钮使得直齿轮和盘齿进行啮合传动,转动杆旋转带动支架通过伸出架在导向杆上滑动,当支架在导向杆上移动时,改变支架在齿轮盒底部螺纹杆上的伸出长度,从而方便改变机壳的摆放角度。
附图说明
图1为本发明具有防堵塞功能的集成电路测试仪器主视截面结构示意图;
图2为本发明具有防堵塞功能的集成电路测试仪器后视结构示意图;
图3为本发明具有防堵塞功能的集成电路测试仪器左视截面结构示意图;
图4为本发明具有防堵塞功能的集成电路测试仪器图1中A处局部放大结构示意图;
图5为本发明具有防堵塞功能的集成电路测试仪器图3中B处局部放大结构示意图。
图中:1、机壳;2、引线接口;3、测试口;4、防尘盖;5、转轴;6、散热口;7、连接槽;8、凸柱;9、手柄;10、卡槽;11、护垫;12、卡条;13、底座;14、连接架;15、抽屉;16、合页;17、齿轮盒;18、螺纹杆;19、固定板;20、滑槽;21、第一旋钮;22、直齿轮;23、第二旋钮;24、盘齿;25、转动杆;26、支架;27、螺纹孔;28、伸出架;29、导向杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-5,本发明提供一种技术方案:一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器,包括机壳1、引线接口2、测试口3、防尘盖4、转轴5、散热口6、连接槽7、凸柱8、手柄9、卡槽10、护垫11、卡条12、底座13、连接架14、抽屉15、合页16、齿轮盒17、螺纹杆18、固定板19、滑槽20、第一旋钮21、直齿轮22、第二旋钮23、盘齿24、转动杆25、支架26、螺纹孔27、伸出架28和导向杆29,所述机壳1的一侧表面设置有引线接口2,所述引线接口2的相邻一侧设置有测试口3,其中,
所述引线接口2和测试口3的外侧设置有防尘盖4,所述防尘盖4为透明塑料材质,且防尘盖4的截面尺寸小于机壳1的截面尺寸,并且防尘盖4通过转轴5和机壳1之间构成旋转结构,利用防尘盖4通过转轴5和机壳1之间构成的旋转结构,使得防尘盖4通过转轴5在机壳1的一侧可打开与关闭,从而实现防尘效果,所述防尘盖4通过转轴5和机壳1固定,所述机壳1远离测试口3的一侧安装有散热口6,所述机壳1的两端开设有连接槽7,所述连接槽7的相邻一侧设置有凸柱8,所述凸柱8上连接有手柄9,所述连接槽7远离凸柱8的相邻位置和机壳1顶部的一侧开设有卡槽10,所述卡槽10设置有两组共八个,且两组所述卡槽10关于机壳1的竖直中心截面对称分布,并且卡槽10的截面形状为“凸”状,而且卡槽10的截面尺寸和卡条12的截面尺寸相吻合,设置卡槽10的截面尺寸和卡条12的截面尺寸相吻合,使得护垫11通过卡条12可以方便卡合连接到卡槽10内,所述护垫11通过卡条12连接在卡槽10内;
所述机壳1的底部一侧设置有底座13,所述机壳1的底部的中央位置设置有连接架14,所述连接架14的内部连接有抽屉15,所述机壳1底部远离底座13的一侧固定有合页16的一端,所述合页16的另一端固定有齿轮盒17,所述齿轮盒17的一侧连接有螺纹杆18,所述螺纹杆18的长度大于固定板19和第一旋钮21的厚度,且螺纹杆18的直径和滑槽20的宽度相吻合,并且螺纹杆18的截面尺寸和第一旋钮21的内部截面尺寸相匹配,而且螺纹杆18和第一旋钮21之间构成螺纹结构,利用螺纹杆18和第一旋钮21之间的螺纹结构,使得在拧紧第一旋钮21时,可以方便将齿轮盒17进行固定,避免齿轮盒17跟随合页16转动,所述螺纹杆18连接在固定板19内部的滑槽20中,所述滑槽20的形状为圆弧状,且滑槽20的弧度为90°,并且滑槽20的圆心交于合页16的中心线上,设置滑槽20的弧度为90°,使得齿轮盒17在转动角度时,可以在滑槽20中改变位置,并且方便第一旋钮21在不同位置进行拧紧,所述螺纹杆18伸出固定板19的一端连接有第一旋钮21;
所述齿轮盒17的内部一端连接有直齿轮22,所述直齿轮22伸出齿轮盒17的一端连接有第二旋钮23,所述直齿轮22的一端和盘齿24的一端进行连接,所述盘齿24的尺寸小于齿轮盒17的内部尺寸,且盘齿24和直齿轮22之间相互啮合连接,设置盘齿24和直齿轮22之间相互啮合连接,使得在转动第二旋钮23时,方便直齿轮22带动盘齿24啮合传动,所述转动杆25贯穿连接在盘齿24的内部,所述转动杆25伸出齿轮盒17的外侧一端连接进支架26内部的螺纹孔27中,所述支架26的形状为倒置的“T”字型,且支架26关于机壳1的竖直中心线对称分布,并且支架26内部的转动杆25表面设置有螺纹,而且支架26内部螺纹孔27的截面尺寸和转动杆25的截面尺寸相匹配,设置支架26内部螺纹孔27的截面尺寸和转动杆25的截面尺寸相匹配,使得盘齿24带动转动杆25转动时,可以方便支架26进行伸缩,所述支架26的外侧两端设置有伸出架28,所述齿轮盒17底部的导向杆29贯穿连接进伸出架28的内部,所述导向杆29的长度大于螺纹孔27的深度,且导向杆29的截面尺寸和伸出架28的内部截面尺寸相吻合,并且导向杆29关于支架26的中心线对称分布,设置导向杆29的长度大于螺纹孔27的深度,使得转动杆25在螺纹孔27中转动时,可以保证支架26通过伸出架28在导向杆29上移动,从而避免支架26转动。
工作原理:在使用该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器时,首先,将支架26的螺纹孔27对准转动杆25,并且将伸出架28对接到导向杆29上,同时转动第二旋钮23使得直齿轮22和盘齿24进行啮合传动,转动的盘齿24带动转动杆25将支架26和伸出架28连接到转动杆25和导向杆29上,然后,在需要将该测试仪器进行搬运携带时,通过双手插入连接槽7中搬运机壳1,或者拉动手柄9带动机壳1移动到指定位置进行摆放,同时转动齿轮盒17使得合页16在机壳1的底部旋转,并且带动螺纹杆18在滑槽20中转动位置,当齿轮盒17转动到支架26垂直在机壳1的底部位置时,拧紧螺纹杆18伸出固定板19一端的第一旋钮21,使得第一旋钮21将固定板19夹紧,从而将齿轮盒17的角度位置进行固定,在需要调节该测试仪器机壳1的摆放角度时,通过转动第二旋钮23使得直齿轮22和盘齿24进行啮合传动,转动杆25旋转带动支架26通过伸出架28在导向杆29上滑动,当支架26在导向杆29上移动时,改变支架26在齿轮盒17底部螺纹杆18上的伸出长度,从而改变机壳1的摆放角度,之后,该测试仪器在日常摆放时,将护垫11通过一侧的卡条12对准机壳1的卡槽10,使得卡条12卡合连接进卡槽10中,并且使用配套螺丝将护垫11固定在机壳1顶部两端的拐角位置处,通过护垫11对机壳1进行防碰撞保护,该测试仪器在进行日常使用时,通过转动机壳1一侧的防尘盖4,使得防尘盖4通过转轴5进行旋转,当防尘盖4将机壳1一侧的引线接口2和测试口3位置遮挡时,使得防尘盖4将外界的灰尘等杂质排除在外,通过拉动机壳1底部连接架14内的抽屉15,使得抽屉15从连接架14中抽出打开,通过将集成电路测试仪器的连接引线收纳进抽屉15中,在不使用该测试仪器时,将引线收纳盛放进抽屉15中,从而避免引线混乱摆放,本说明中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:包括机壳(1)、护垫(11)和转动杆(25),其特征在于:所述机壳(1)的一侧表面设置有引线接口(2),所述引线接口(2)的相邻一侧设置有测试口(3),其中,
所述引线接口(2)和测试口(3)的外侧设置有防尘盖(4),所述防尘盖(4)通过转轴(5)和机壳(1)固定,所述机壳(1)远离测试口(3)的一侧安装有散热口(6),所述机壳(1)的两端开设有连接槽(7),所述连接槽(7)的相邻一侧设置有凸柱(8),所述凸柱(8)上连接有手柄(9),所述连接槽(7)远离凸柱(8)的相邻位置和机壳(1)顶部的一侧开设有卡槽(10),所述护垫(11)通过卡条(12)连接在卡槽(10)内;
所述机壳(1)的底部一侧设置有底座(13),所述机壳(1)的底部的中央位置设置有连接架(14),所述连接架(14)的内部连接有抽屉(15),所述机壳(1)底部远离底座(13)的一侧固定有合页(16)的一端,所述合页(16)的另一端固定有齿轮盒(17),所述齿轮盒(17)的一侧连接有螺纹杆(18),所述螺纹杆(18)连接在固定板(19)内部的滑槽(20)中,所述螺纹杆(18)伸出固定板(19)的一端连接有第一旋钮(21);
所述齿轮盒(17)的内部一端连接有直齿轮(22),所述直齿轮(22)伸出齿轮盒(17)的一端连接有第二旋钮(23),所述直齿轮(22)的一端和盘齿(24)的一端进行连接,所述转动杆(25)贯穿连接在盘齿(24)的内部,所述转动杆(25)伸出齿轮盒(17)的外侧一端连接进支架(26)内部的螺纹孔(27)中,所述支架(26)的外侧两端设置有伸出架(28),所述齿轮盒(17)底部的导向杆(29)贯穿连接进伸出架(28)的内部;所述防尘盖(4)为透明塑料材质,且防尘盖(4)的截面尺寸小于机壳(1)的截面尺寸,并且防尘盖(4)通过转轴(5)和机壳(1)之间构成旋转结构;所述卡槽(10)设置有两组共八个,且两组所述卡槽(10)关于机壳(1)的竖直中心截面对称分布,并且卡槽(10)的截面形状为“凸”状,而且卡槽(10)的截面尺寸和卡条(12)的截面尺寸相吻合;所述螺纹杆(18)的长度大于固定板(19)和第一旋钮(21)的厚度,且螺纹杆(18)的直径和滑槽(20)的宽度相吻合,并且螺纹杆(18)的截面尺寸和第一旋钮(21)的内部截面尺寸相匹配,而且螺纹杆(18)和第一旋钮(21)之间构成螺纹结构。
2.首先,将支架的螺纹孔对准转动杆,并且将伸出架对接到导向杆上,同时转动第二旋钮使得直齿轮和盘齿进行啮合传动,转动的盘齿带动转动杆将支架和伸出架连接到转动杆和导向杆上,然后,在需要将该测试仪器进行搬运携带时,通过双手插入连接槽中搬运机壳,或者拉动手柄带动机壳移动到指定位置进行摆放,同时转动齿轮盒使得合页在机壳的底部旋转,并且带动螺纹杆在滑槽中转动位置,当齿轮盒转动到支架垂直在机壳的底部位置时,拧紧螺纹杆伸出固定板一端的第一旋钮,使得第一旋钮将固定板夹紧,从而将齿轮盒的角度位置进行固定,在需要调节该测试仪器机壳的摆放角度时,通过转动第二旋钮使得直齿轮和盘齿进行啮合传动,转动杆旋转带动支架通过伸出架在导向杆上滑动,当支架在导向杆上移动时,改变支架在齿轮盒底部螺纹杆上的伸出长度,从而改变机壳的摆放角度,之后,该测试仪器在日常摆放时,将护垫通过一侧的卡条对准机壳的卡槽,使得卡条卡合连接进卡槽中,并且使用配套螺丝将护垫固定在机壳顶部两端的拐角位置处,通过护垫对机壳进行防碰撞保护,该测试仪器在进行日常使用时,通过转动机壳一侧的防尘盖,使得防尘盖通过转轴进行旋转,当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时,使得防尘盖将外界的灰尘排除在外,通过拉动机壳底部连接架内的抽屉,使得抽屉从连接架中抽出打开,通过将集成电路测试仪器的连接引线收纳进抽屉中,在不使用该测试仪器时,将引线收纳盛放进抽屉中,从而避免引线混乱摆放。
3.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:所述滑槽(20)的形状为圆弧状,且滑槽(20)的弧度为90°,并且滑槽(20)的圆心交于合页(16)的中心线上。
4.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:所述盘齿(24)的尺寸小于齿轮盒(17)的内部尺寸,且盘齿(24)和直齿轮(22)之间相互啮合连接。
5.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:所述支架(26)的形状为倒置的“T”字型,且支架(26)关于机壳(1)的竖直中心线对称分布,并且支架(26)内部的转动杆(25)表面设置有螺纹,而且支架(26)内部螺纹孔(27)的截面尺寸和转动杆(25)的截面尺寸相匹配。
6.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:所述导向杆(29)的长度大于螺纹孔(27)的深度,且导向杆(29)的截面尺寸和伸出架(28)的内部截面尺寸相吻合,并且导向杆(29)关于支架(26)的中心线对称分布。
7.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:所述导向杆(29)的长度大于螺纹孔(27)的深度,且导向杆(29)的截面尺寸和伸出架(28)的内部截面尺寸相吻合,并且导向杆(29)关于支架(26)的中心线对称分布。
8.根据权利要求1所述的一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器的测试方法,其特征在于:所述导向杆(29)的长度大于螺纹孔(27)的深度,且导向杆(29)的截面尺寸和伸出架(28)的内部截面尺寸相吻合,并且导向杆(29)关于支架(26)的中心线对称分布。
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