CN112432590A - 一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法 - Google Patents

一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112432590A
CN112432590A CN202011474573.XA CN202011474573A CN112432590A CN 112432590 A CN112432590 A CN 112432590A CN 202011474573 A CN202011474573 A CN 202011474573A CN 112432590 A CN112432590 A CN 112432590A
Authority
CN
China
Prior art keywords
beam splitter
splitter prism
reflector
laser
wavelength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202011474573.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN112432590B (zh
Inventor
李拓
雷文秀
董军
张朵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian University of Posts and Telecommunications
Original Assignee
Xian University of Posts and Telecommunications
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian University of Posts and Telecommunications filed Critical Xian University of Posts and Telecommunications
Priority to CN202011474573.XA priority Critical patent/CN112432590B/zh
Publication of CN112432590A publication Critical patent/CN112432590A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112432590B publication Critical patent/CN112432590B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02041Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
    • G01B9/02047Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques using digital holographic imaging, e.g. lensless phase imaging without hologram in the reference path

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法。该基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路包括第一激光器11、第二激光器12、第三激光器13、第一反射镜2、第二反射镜4、第三反射镜7、第四反射镜8、第一分光棱镜3、第二分光棱镜5、第三分光棱镜9、准直扩束系统6及CCD图像传感器10。用本发明所提出的基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法,显著的提高了传统数字全息技术的抗噪音性能。本发明实验操作简单快捷,可操作性强,以菲涅尔算法和搜寻欠定方程组唯一解求解算法有效融合的方法,扩大了测量范围,且减少了噪声对实验的影响以及样本的恢复效果。

Description

一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法
技术领域
本发明涉及光学干涉成像技术领域,具体涉及一种三波长数字全息光路及方法,该方法基于搜寻欠定方程组实现。
背景技术
双波长数字全息技术近年来已经有了许多发展,它是通过用两束不同波长的光束合成一束等效波长,该等效波长大于光束经过物体后所产生的最大光程差,此时物体得到的相位图即为物体的真实相位图,然后再通过相位与物体形貌之间的关系恢复出物体的三维形貌,已经广泛应用于生物细胞检测和物体表面形貌的体积测量中。
参见(Optics express,27(22)(2019);Optics and Lasers in Engineering,117(2019);Opt.Lett.42,73(2016))
双波长数字全息技术通过合成等效波长,测量范围可以达到微米甚至毫米范围,在等效波长的范围内,可以解决单一波长条件下存在的相位包裹问题,使测量范围大大增加,并且对相邻像素梯度问题较大的物体仍然有良好的成像效果。
参见(Optics letters,45(15),(2020);Laser Physics,30(3)(2020);Opt.Lett.43,4469-4472(2018);Opt.Lett.43,3449-3452(2018))
但上述这些技术方案,他们有如下缺陷:当物体的表面厚度大于一个等效波长时,双波长数字全息的方法由于超出测量范围而失效,所以在光源的选择上有很大的限制,与此同时在实验中,双波长数字全息技术的噪声被明显放大,导致测量精度大大降低,这些方法固有的局限性严重的阻碍了双波长数字全息技术的应用。
CN201710589245.6公开了一种题为“基于透射式点衍射的三波长数字全息检测装置与方法”的发明专利,该案将波分复用技术和频谱角分复用技术相结合,在透射式点衍射结构基础上,引入波分复用技术和频谱角分复用技术,通过一次曝光采集一幅三波长载频角分复用的全息图,并通过频域分离完成待测相位恢复;同时,该案通过合色棱镜分离三波长,利用三平面反射镜偏转不同方向在全息图中引入三波长角分载频,使三波长光束共用一个光路,全息图对比度相同,只需黑白图像传感器记录全息图,并借助逆傅里叶变换的方法完成三波长全息图分离。该案虽然对三波长数字全息技术有一定的技术启示,但该案中提供的技术方案易受噪音影响,且不适用于频差过大的情况,最终可能导致无法恢复出相位图。
发明内容
为了克服现有技术的上述问题,本发明提供一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法。该光路及方法提高了系统的时效性和可操作性,改进了需要通过寻找两个频差较小的激光器或可调谐激光器作为光源,克服了测量范围不可改变的问题,降低了噪声对实验的影响,避免了测量范围不可变化,难以实现动态测量的问题,使具体实验操作简单易实现。
本发明的具体技术解决方案如下:
该基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路,其特征在于:包括第一激光器11、第二激光器12、第三激光器13、第一反射镜2、第二反射镜4、第三反射镜7、第四反射镜8、第一分光棱镜3、第二分光棱镜5、第三分光棱镜9、准直扩束系统6及CCD图像传感器10;所述第一激光器11的出射光经第一反射镜2反射入第一分光棱镜3合束,第二激光器12的出射光直接进入第一分光棱镜3合束,第三激光器13的出射光经第二反射镜4反射入第一分光棱镜3合束;第一分光棱镜3出射光经准直扩束系统6后进入第二分光棱镜5分为两束,一束经第三反射镜7及待测物体后进入第三分光棱镜9合束,另一束经第四反射镜8后直接进入第三分光棱镜9合束;第三分光棱镜9合束后于CCD图像传感器10中形成干涉条纹图。
进一步的,第一激光器11、第二激光器12、第三激光器13的出射光为平行光。也可以不为平行光,不为平行光时,应调节相关反射镜的角度,使从反射镜出射的各路光能够在分光棱镜的作用下汇聚同轴。
进一步的,第二分光棱镜5分束的两束光,经第三反射镜7、第四反射镜8后入射第三分光棱镜9合束为同轴或离轴。
该基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
1】搭建如签署基于约束欠定方程的三波长数字全息技术的光路,并加入待测样品;
2】同时开启三路入射光,采集三个不同波长下待测样品所获得的全息图;
3】利用步骤2】得到的待测样品的全息图,以菲涅尔算法和搜寻欠定方程组唯一解的求解算法有效融合的方法,对待测样品进行相位恢复重建,得到所要测量的三维形貌图。欠定方程组理论上一般有无穷多解,物理真实解是无穷多解中的一个。要从无穷多个解中确定哪个为物理真实解近乎是不可能完成的。所以理论上,要找到物理真实解,首先得缩减解的搜索空间。目前,欠定方程组唯一解的证明问题已被解决。
进一步的,所述步骤3】中所述的搜寻欠定方程如下:
Figure BDA0002834818560000031
Figure BDA0002834818560000032
式(1)(2)中,
Figure BDA0002834818560000033
为波长为λ1、波长λ2和波长λ3所对应的折射率,
Figure BDA0002834818560000034
Figure BDA0002834818560000035
为从干涉图获得的包裹相位,
Figure BDA0002834818560000036
Figure BDA0002834818560000037
是整数,Hx为物体的表面高度分布函数,Hmax为物体的最大厚度,此点可以根据预估取出合理的最大值。
进一步的,所述步骤3】中以菲涅尔算法和搜寻欠定方程组唯一解的求解算法有效融合,是搜寻唯一整数解并获取物体的三维形貌分布,
Figure BDA0002834818560000038
Figure BDA0002834818560000039
直接提取的物体相位;
设物体的表面形貌分布函数是H(pΔx,qΔy),其中p=1,2…,P,q=1,2,…Q,向量Xk(i)(i=1,2,...,N;k=1,2,…,)是一个元素数量为N的零向量。
进一步的,步骤3】中对待测样品进行相位恢复重建具体是:
步骤一:令
Figure BDA00028348185600000310
b为小于
Figure BDA00028348185600000311
当前迭代次数的任意整数;
步骤二:执行操作
Figure BDA00028348185600000312
其中,
Figure BDA00028348185600000313
步骤三:进行操作
Figure BDA00028348185600000314
步骤四:重复第二步至第三步直至i=N,于是停止循环;
步骤五:继续进行下述操作:
Z1(pΔx,qΔy)=fivemin{|X1(i)-round(X1(i))|,b} (3)
其中,fivemin{}表示取向量的最小值,round{}表示对一个向量中所有元素进行取整操作;
步骤六:
Figure BDA00028348185600000315
b为小于
Figure BDA00028348185600000316
当前迭代次数的任意整数;
步骤七:执行操作
Figure BDA0002834818560000041
其中,
Figure BDA0002834818560000042
步骤八:进行操作
Figure BDA0002834818560000043
步骤九:重复第七步至第八步直至i=N,于是停止循环;
步骤十:继续进行下述操作:
Z2(pΔx,qΔy)=fivemin{|X2(i)-round(X2(i))|,b} (4)
步骤十一:继续进行下述操作:
Z(pΔx,qΔy)=fivejiao(Z1,Z2) (5)
其中,fivejiao{}表示取两个向量Z1和Z2的交集。
步骤十二:执行操作p=p+1;
步骤十三:重复步骤2-13直至p=P,停止循环;
步骤十四:重复操作q=q+1;
步骤十五:重复步骤2-15直至q=Q,停止循环;
步骤十六:进行以下操作:
Figure BDA0002834818560000044
其中,
Figure BDA0002834818560000045
Figure BDA0002834818560000046
的未包裹相位;
步骤十七:根据方程(2),物体的表面分布函数为:
Figure BDA0002834818560000047
至此,得到物体的三维表面分布函数Hx,测量过程完成。
所述光源的波长分别为474nm,570nm和632nm。
本发明与现有的技术方案相比存在以下有益效果:
1)对于相邻像素梯度问题较大的物体仍然有良好的成像效果。
2)通过搜寻欠定方程组唯一整数解的求解问题,从理论上解决了由于两个波长频差较大而引起无法恢复出相位图的问题。
3)在实验中引入一个波长,可以降低噪声对实验的影响,使得相位图在恢复过程中,精确度得到了大大的提升。
由于采取本发明提出的三波长搜寻欠定方程组唯一整数解的求解问题,使得激光器引起的误差减小,不需要特定波长的激光器作为光源,就可完成对样品图样的重建过程,且大大降低了噪声对实验的影响,显著的提高了传统数字全息技术的抗噪音性能;同时,本发明大大的简化了实验操作步骤,使得实验操作简单快捷,可操作性强,以菲涅尔算法和搜寻欠定方程组唯一解求解算法有效融合的方法,扩大了测量范围,且减少了噪声对实验的影响以及样本的恢复效果。
附图说明
图1是本发明基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路(离轴)原理图;
图2是本发明的基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法流程框图;
图3是本发明对斜面型样品的仿真实验系列图;
图4是本发明对高斯曲面型样品的仿真实验系列图;
图5是本发明对双高斯曲面型样品的仿真实验系列图;
图6是本发明基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路(同轴)原理图;
图中,第一激光器11、第二激光器12、第三激光器13、第一反射镜2、第二反射镜4、第三反射镜7、第四反射镜8、第一分光棱镜3、第二分光棱镜5、第三分光棱镜9、准直扩束系统6及CCD图像传感器10。
具体实施方式
为了更好的理解本发明的具体内容及实施过程,下面将结合说明书附图,对实施新型三波长数字全息技术恢复样品的三维形貌方法的具体过程进行详细说明。
参照图1,搭建实验光路图,使用氦氖激光器波长为474nm的蓝光、570nm的绿光和632nm的红光,氦氖激光器的光源产生激光后,一束经过反射镜到达分光棱镜,一束直接到达分光棱镜,两束激光通过分光棱镜重合后,光束传播到准直扩束系统,最后成为具有一定宽度的平行光,光束再经过准直扩束系统后被分光棱镜分成两束,一束通过分光棱镜反射,到达反射镜,一束通过分光棱镜透射,再照射到反射镜上,然后将待测样品放入到任何一路光路中,放入待测样品的一路形成物光,另一路形成参考光,两束光路再次经过分光棱镜合束在CCD表面形成干涉条纹图,被CCD采集输入到计算机中,通过计算机对CCD图形的处理就可得到实验所需的全息图。
参照图2,一种新型三波长数字全息技术中,要设计搜寻欠定方程组唯一解求解的算法,通过
Figure BDA0002834818560000051
Figure BDA0002834818560000052
求解出5组最接近整数解,通过
Figure BDA0002834818560000053
Figure BDA0002834818560000054
求解出5组最接近整数的解,再求解交集,我们就可以得出所要求的唯一整数解。再通过欠定方程组,就可以得到物体的三维表面函数。
本发明实施所使用的算法:
Figure BDA0002834818560000061
Figure BDA0002834818560000062
分别通过数字全息重建算法重建的三个相位,分别对应物体在λ1、λ2和λ3照明下相位分布。设物体的表面形貌分布函数是H(pΔx,qΔy),其中p=1,2…,P,q=1,2,…Q。向量X(i)(i=1,2,...,N)是一个元素数量为N的零向量。构建的欠定方程组为:
Figure BDA0002834818560000063
Figure BDA0002834818560000064
Figure BDA0002834818560000065
Figure BDA0002834818560000066
式中,
Figure BDA0002834818560000067
为波长为λ1、波长λ2和波长λ3所对应的折射率,
Figure BDA0002834818560000068
Figure BDA0002834818560000069
为从干涉图获得的包裹相位,
Figure BDA00028348185600000610
Figure BDA00028348185600000611
是整数,Hx为物体的表面高度分布函数,Hmax为物体的最大厚度,此点可以根据预估取出合理的最大值。
所述设计算法搜寻唯一整数解并获取物体的三维形貌分布,
Figure BDA00028348185600000612
Figure BDA00028348185600000613
直接提取的物体相位。物体的表面形貌分布函数是H(pΔx,qΔy),这里p=1,2…,P,q=1,2,…Q。向量Xk(i)(i=1,2,...,N;k=1,2,…,)是一个元素数量为N的零向量。一种新型三波长数字全息技术的重建算法为:
步骤一:令
Figure BDA00028348185600000614
b为小于
Figure BDA00028348185600000615
当前迭代次数的任意整数;此处以5为例进行说明。
步骤二:执行操作
Figure BDA00028348185600000616
其中,
Figure BDA00028348185600000617
步骤三:进行操作
Figure BDA00028348185600000618
步骤四:重复第二步至第三步直至i=N,于是停止循环;
步骤五:继续进行下述操作:
Z1(pΔx,qΔy)=fivemin{|X1(i)-round(X1(i))|,b}
其中,fivemin{}表示取向量的最小值,round{}表示对一个向量中的所有元素进行取整操作;
步骤六:
Figure BDA0002834818560000071
b为小于
Figure BDA0002834818560000072
当前迭代次数的任意整数;此处以5为例进行说明。
步骤七:执行操作
Figure BDA0002834818560000073
其中,
Figure BDA0002834818560000074
步骤八:进行操作
Figure BDA0002834818560000075
步骤九:重复第七步至第八步直至i=N,于是停止循环;
步骤十:继续进行下述操作:
Z2(pΔx,qΔy)=fivemin{|X2(i)-round(X2(i))|,b}
步骤十一:继续进行下述操作:
Z(pΔx,qΔy)=fivejiao(Z1,Z2)
其中,fivejiao{}表示取两个向量Z1和Z2的交集;
步骤十二:执行操作p=p+1;
步骤十三:重复步骤2-13直至p=P,停止循环;
步骤十四:重复操作q=q+1;
步骤十五:重复步骤2-15直至q=Q,停止循环;
步骤十六:进行以下操作:
Figure BDA0002834818560000076
其中,
Figure BDA0002834818560000077
Figure BDA0002834818560000078
的未包裹相位;
步骤十七:根据方程(2),物体的表面分布函数为:
Figure BDA0002834818560000079
至此,得到物体的三维表面分布函数Hx,测量过程完成。
实施例1
斜面的样品模型如图3所示,在图3的系列图中,光源采用474nm、570nm和632nm,物体的最大厚度为0.03mm,记录距离和再现距离均为1000mm,3(a)为构建的斜面模型,3(b)为双波长数字全息技术在噪声为50时恢复的三维重建图样,3(c)为新型三波长数字全息技术在噪声为50时恢复的三维重建图样,对比结果可以说明三波长数字全息技术相比于双波长数字全息技术具有良好的抗噪性。
实施例2
高斯曲面的样品模型如图4所示,在图4的系列图中,光源采用474nm、570nm和632nm,物体的最大厚度为0.03mm,记录距离和再现距离均为1000mm,4(a)为构建的高斯曲面模型,4(b)为双波长数字全息技术在信噪比为60时恢复的三维重建图样,4(c)为新型三波长数字全息技术在信噪比为60时恢复的三维重建图样,对比结果可以说明三波长数字全息技术相比于双波长数字全息技术具有良好的抗噪性。
实施例3
双高斯曲面的样品模型如图5所示,在图5的系列图中,光源采用474nm、570nm和632nm,物体的最大厚度为0.03mm,记录距离和再现距离均为1000mm,5(a)为构建的双高斯曲面模型,5(b)为双波长数字全息技术在信噪比为60时恢复的三维重建图样,5(c)为新型三波长数字全息技术在信噪比为60时恢复的三维重建图样,对比结果可以说明三波长数字全息技术相比于双波长数字全息技术具有良好的抗噪性。
上述方法和实施例都是通过本发明提出的新型三波长数字全息技术,通过欠定方程组唯一整数解求解的方法获得任意波长的激光器作为光源,降低噪声对实验的影响,最终实现对待测物品的三维重建的目的。本发明的实施不局限于上述具体实施方案。只要通过欠定方程组唯一整数解的求解获得三维重建图像,都可以采用本发明的方法、装置和系统,采用本发明所提出的恢复算法,均属于发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路,其特征在于:包括第一激光器(11)、第二激光器(12)、第三激光器(13)、第一反射镜(2)、第二反射镜(4)、第三反射镜(7)、第四反射镜(8)、第一分光棱镜(3)、第二分光棱镜(5)、第三分光棱镜(9)、准直扩束系统(6)及CCD图像传感器(10);所述第一激光器(11)的出射光经第一反射镜(2)反射入第一分光棱镜(3)合束,第二激光器(12)的出射光直接进入第一分光棱镜(3)合束,第三激光器(13)的出射光经第二反射镜(4)反射入第一分光棱镜(3)合束;第一分光棱镜(3)出射光经准直扩束系统(6)后进入第二分光棱镜(5)分为两束,一束经第三反射镜(7)及待测物体后进入第三分光棱镜(9)合束,另一束经第四反射镜(8)后直接进入第三分光棱镜(9)合束;第三分光棱镜(9)合束后于CCD图像传感器(10)中形成干涉条纹图。
2.根据权利要求1所述的三波长数字全息光路,其特征在于:所述第一激光器(11)、第二激光器(12)、第三激光器(13)的出射光为平行光。
3.根据权利要求2所述的三波长数字全息光路,其特征在于:所述第二分光棱镜(5)分束的两束光,经第三反射镜(7)、第四反射镜(8)后入射第三分光棱镜(9)合束为同轴或离轴。
4.一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
1】搭建如权利要求1至3任一所述的基于约束欠定方程的三波长数字全息技术的光路,并加入待测样品;
2】同时开启三路入射光,采集三个不同波长下所获得的全息图;
3】利用步骤2】得到的全息图,以菲涅尔算法和搜寻欠定方程组唯一解的求解算法有效融合的方法,对待测样品进行相位恢复重建,得到所要测量的三维形貌图。
5.根据权利要求4所述的基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法,其特征在于:所述步骤3】中所述的搜寻欠定方程如下:
Figure FDA0002834818550000011
Figure FDA0002834818550000021
式(1)(2)中,
Figure FDA0002834818550000022
为波长为λ1、波长λ2和波长λ3所对应的折射率,
Figure FDA0002834818550000023
Figure FDA0002834818550000024
为从干涉图获得的包裹相位,
Figure FDA0002834818550000025
Figure FDA0002834818550000026
是整数,Hx为物体的表面高度分布函数,Hmax为物体的最大厚度,此点可以根据预估取出合理的最大值。
6.根据权利要求5所述的基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法,其特征在于:所述步骤3】中以菲涅尔算法和搜寻欠定方程组唯一解的求解算法有效融合,是搜寻唯一整数解并获取物体的三维形貌分布,
Figure FDA0002834818550000027
Figure FDA0002834818550000028
直接提取的物体相位;
设物体的表面形貌分布函数是H(pΔx,qΔy),其中p=1,2…,P,q=1,2,…Q,向量Xk(i)(i=1,2,...,N;k=1,2,…,)是一个元素数量为N的零向量。
7.根据权利要求6所述的基于约束欠定方程的三波长数字全息成像方法,其特征在于:所述步骤3】中对待测样品进行相位恢复重建具体是:
步骤一:令
Figure FDA0002834818550000029
b为小于
Figure FDA00028348185500000210
当前迭代次数的任意整数;
步骤二:执行操作
Figure FDA00028348185500000211
其中,
Figure FDA00028348185500000212
步骤三:进行操作
Figure FDA00028348185500000213
步骤四:重复第二步至第三步直至i=N,于是停止循环;
步骤五:继续进行下述操作:
Z1(pΔx,qΔy)=fivemin{|X1(i)-round(X1(i))|,b} (3)
其中,fivemin{}表示取向量的最小值,round{}表示对一个向量中所有元素进行取整操作;
步骤六:
Figure FDA00028348185500000214
b为小于
Figure FDA00028348185500000215
当前迭代次数的任意整数;
步骤七:执行操作
Figure FDA00028348185500000216
其中,
Figure FDA0002834818550000031
步骤八:进行操作
Figure FDA0002834818550000032
步骤九:重复第七步至第八步直至i=N,于是停止循环;
步骤十:继续进行下述操作:
Z2(pΔx,qΔy)=fivemin{|X2(i)-round(X2(i))|,b} (4)
步骤十一:继续进行下述操作:
Z(pΔx,qΔy)=fivejiao(Z1,Z2) (5)
其中,fivejiao{}表示取两个向量Z1和Z2的交集;
步骤十二:执行操作p=p+1;
步骤十三:重复步骤2-13直至p=P,停止循环;
步骤十四:重复操作q=q+1;
步骤十五:重复步骤2-15直至q=Q,停止循环;
步骤十六:进行以下操作:
Figure FDA0002834818550000033
其中,
Figure FDA0002834818550000034
Figure FDA0002834818550000035
的未包裹相位;
步骤十七:根据方程(2),物体的表面分布函数为:
Figure FDA0002834818550000036
至此,得到物体的三维表面分布函数Hx,测量过程完成。
CN202011474573.XA 2020-12-14 2020-12-14 一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法 Active CN112432590B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011474573.XA CN112432590B (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011474573.XA CN112432590B (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112432590A true CN112432590A (zh) 2021-03-02
CN112432590B CN112432590B (zh) 2022-07-05

Family

ID=74691661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011474573.XA Active CN112432590B (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112432590B (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120232535A1 (en) * 2011-03-11 2012-09-13 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Systems And Methods For Performing Digital Holography
CN103838124A (zh) * 2014-01-21 2014-06-04 中国科学院大学 面向成像视场增大的叠层扫描数字全息术
CN105066908A (zh) * 2015-08-12 2015-11-18 北京航空航天大学 一种基于多波长和多偏振态的数字全息三维形貌检测装置
CN106370111A (zh) * 2016-09-23 2017-02-01 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种基于变频测相原理的飞秒激光测长装置及方法
CN107356196A (zh) * 2017-07-19 2017-11-17 哈尔滨工程大学 三波长载频复用共路数字全息检测装置与方法
CN107388959A (zh) * 2017-07-19 2017-11-24 哈尔滨工程大学 基于透射式点衍射的三波长数字全息检测装置与方法
CN108241279A (zh) * 2016-12-23 2018-07-03 深圳市点网络科技有限公司 一种全息再现系统及其再现算法
CN108562541A (zh) * 2018-04-23 2018-09-21 南京大学 基于矩阵分解的无透镜全息显微散斑噪声去除方法及装置
CN111811394A (zh) * 2020-06-02 2020-10-23 上海大学 基于3ccd或3cmos的动态三波长数字全息测量方法
CN112013791A (zh) * 2020-09-02 2020-12-01 常州机电职业技术学院 三波长可变尺度干涉显微成像系统、成像方法及三相位复原方法
US20200378756A1 (en) * 2019-05-15 2020-12-03 Guangdong University Of Technology Dual-channel optical three-dimensional interference method and system based on underdetermined blind source separation

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120232535A1 (en) * 2011-03-11 2012-09-13 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Systems And Methods For Performing Digital Holography
CN103838124A (zh) * 2014-01-21 2014-06-04 中国科学院大学 面向成像视场增大的叠层扫描数字全息术
CN105066908A (zh) * 2015-08-12 2015-11-18 北京航空航天大学 一种基于多波长和多偏振态的数字全息三维形貌检测装置
CN106370111A (zh) * 2016-09-23 2017-02-01 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种基于变频测相原理的飞秒激光测长装置及方法
CN108241279A (zh) * 2016-12-23 2018-07-03 深圳市点网络科技有限公司 一种全息再现系统及其再现算法
CN107356196A (zh) * 2017-07-19 2017-11-17 哈尔滨工程大学 三波长载频复用共路数字全息检测装置与方法
CN107388959A (zh) * 2017-07-19 2017-11-24 哈尔滨工程大学 基于透射式点衍射的三波长数字全息检测装置与方法
CN108562541A (zh) * 2018-04-23 2018-09-21 南京大学 基于矩阵分解的无透镜全息显微散斑噪声去除方法及装置
US20200378756A1 (en) * 2019-05-15 2020-12-03 Guangdong University Of Technology Dual-channel optical three-dimensional interference method and system based on underdetermined blind source separation
CN111811394A (zh) * 2020-06-02 2020-10-23 上海大学 基于3ccd或3cmos的动态三波长数字全息测量方法
CN112013791A (zh) * 2020-09-02 2020-12-01 常州机电职业技术学院 三波长可变尺度干涉显微成像系统、成像方法及三相位复原方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
AN, YULONG 等: "Compressive Sensing Based Three-Dimensional Imaging Method with Electro-Optic Modulation for Nonscanning Laser Radar", 《SYMMETRY-BASEL》 *
陈宝鑫: "基于压缩同轴数字全息的研究", 《中国优秀硕士学位论文库》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112432590B (zh) 2022-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Khmaladze et al. Phase imaging of cells by simultaneous dual-wavelength reflection digital holography
Dragoman I: The Wigner distribution function in optics and optoelectronics
EP3677969B1 (en) Holographic imaging device and data processing method therefor
JP5414523B2 (ja) 内部円錐回折に基づく光学装置
Huang et al. High bandwidth‐utilization digital holographic multiplexing: an approach using Kramers–Kronig relations
Khmaladze et al. Simultaneous dual-wavelength reflection digital holography applied to the study of the porous coal samples
CN112666129B (zh) 一种考虑折射率差异的三波长相干衍射成像方法
KR20030017496A (ko) 공간 및 스펙트럼 파면 분석 및 측정
CN102788562B (zh) 一种带有运动坐标反馈的子孔径拼接面形检测装置
CN108279068B (zh) 基于四波横向剪切干涉的激光光束质量动态测量装置
CN112013791A (zh) 三波长可变尺度干涉显微成像系统、成像方法及三相位复原方法
CN112432590B (zh) 一种基于约束欠定方程的三波长数字全息成像光路及方法
CN105277136A (zh) 基于双波长数字全息技术的透射式显微成像装置及其方法
CN111103120B (zh) 一种基于深度学习的光纤模式分解方法及可读介质
CN113031422B (zh) 一种全息成像装置
LeBouquin et al. Comparison of integrated optics concepts for a near-infrared multi-telescope beam combiner
JPH0599610A (ja) ビームの波面を検出する方法およびこの方法を実施するための装置
Li et al. Simultaneous phase-shifting dual-wavelength interferometry based on independent component analysis
CN105446111B (zh) 一种应用于数字全息重构过程的对焦方法
CN114323312A (zh) 一种实现同步四波横向剪切干涉测量装置及方法
Cheng et al. Phase retrieval based on transport of intensity equation with two-wavelength illuminations
CN111307302B (zh) 横向剪切干涉波前重建过程中波前损失信息的补全方法
Hu et al. Study on Quantitative Phase Imaging by Dual‐Wavelength Digital Holography Microscopy
Zhu et al. Triple-output phase unwrapping network with physical prior in fringe projection
Khmaladze et al. Dual wavelength digital holography phase unwrapping by linear regression

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant