CN112344968A - 用于校准角度传感器的装置和方法 - Google Patents

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Abstract

在此描述了一种用于校准角度传感器的装置和方法。本公开涉及一种用于校准角度传感器的装置，包括：数据接口，用于针对测量对象的多个不同旋转角度中的每个，根据在第一传感器元件位置处的磁场获取第一传感器元件的第一测量值，磁场均取决于测量对象的旋转角度；并且根据在第二传感器元件位置处的磁场获取第二传感器元件的第二测量值，磁场均取决于测量对象的旋转角度；处理器，配置为基于获取的第一和第二测量值计算椭圆方程的多个椭圆参数，并基于求出的椭圆参数，计算第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据、第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据以及第一和第二周期性传感器信号之间的相移。

Description

用于校准角度传感器的装置和方法
技术领域
本公开总体上涉及角度传感器，并且更具体地涉及角度传感器的校准。
背景技术
用于非接触式检测旋转的旋转角度传感器例如在汽车技术中使用。旋转角度传感器可以例如借助于放置在诸如轴的旋转测量对象附近的磁场传感器来实现。可以根据在第一传感器元件的位置处的磁场来确定第一传感器元件的第一测量值(X)，该磁场取决于测量对象的旋转角度α。此外，可以根据在第二传感器元件的位置处的磁场来确定第二传感器元件的第二测量值(Y)，该磁场取决于测量对象的旋转角度α。在理想情况下，两个测量值对应于X＝A*cos(α)和Y＝A*sin(α)形式的周期信号。然后可以通过已知的规则α＝atan(Y/X)来推导出测量对象的旋转角度α。
然而，实际上通常不能完全避免传感器元件和测量对象之间的机械不对中，从而出现周期信号X和Y的不同幅度、偏移和相移，这又会导致错误的角度估算。机械不对中的一些原因是传感器元件与测量对象或磁体之间的x位移，y位移、气隙变化(z位移)、不同类型的倾斜(例如包装或外壳倾斜)和/或磁化倾斜。
到目前为止，一种解决方案是EoL校准(EoL＝End-of-Line行尾)，以便在整个使用寿命内提供足够的误差预算，包括机械负载和温度影响。在此经常使用所谓的多点校准方法，其中确定和记录角度传感器的角度估计值相对于几个已知参考角度(采样点)的偏差，这例如在查找表(Lookup-Table,LUT)中实现。然后可以由此求出角度估计值的修正值。然而，提供参考角引起额外的硬件支出，例如是额外的高精度光学测量装置形式的硬件支出。
因此，本发明的目的是通过较少硬件支出的校准来补偿角度传感器的角度误差原因。
发明内容
这通过根据本发明的装置和方法来解决。有利的进一步发展是以下内容。
根据本公开的第一方面，提出了一种用于校准角度传感器的方法。在此针对测量对象的多个不同旋转角度中的每个旋转角度执行以下步骤：
·根据在第一传感器元件的位置处的磁场，获取第一传感器元件的第一测量值，该磁场决于测量对象的旋转角度；根据在第二传感器元件的位置处的磁场，获取第二传感器元件的第二测量值，该磁场取决于的测量对象的旋转角度，
·基于所获取的第一和第二测量值来求出椭圆方程的多个椭圆参数，以及
·基于所求出的椭圆参数：
o确定第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据，
o确定第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据，以及
o确定第一和第二周期性传感器信号之间的相移。
根据另一方面，还提出了一种用于校准角度传感器的装置。该装置包括数据接口，针对测量对象的多个不同旋转角度中的每一个，该数据接口根据在第一传感器元件的位置处的磁场获取第一传感器元件的第一测量值，该磁场取决于测量对象的旋转角度；并且该数据接口根据在第二传感器元件的位置处的磁场获取第二传感器元件的第二测量值，该磁场取决于测量对象的旋转角度。该装置还包括处理器，该处理器被设计为基于所获取的第一和第二测量值来计算椭圆方程的多个椭圆参数，并基于所求出的椭圆参数来计算第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据、第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据、以及第一和第二周期性传感器信号之间的相移。
因此，在校准模式期间，可以首先基于不同旋转角度下的测量值来求出椭圆参数，并且又基于这些椭圆参数求出第一和第二周期性传感器信号的特性数据以及两个传感器信号之间的相移。根据一些示例性实施例，所求出的第一和第二特性数据然后可以在角度传感器的校准模式下游的正常运行模式中用于角度修正。
为了使两个测量值理想地对应于X＝A*cos(α)和Y＝A*sin(α)形式的周期信号，根据一些示例性实施例，第一传感器元件可以对磁场的第一方向分量(例如X方向)敏感，并且第二传感器元件对磁场的第二方向分量(例如，Y方向)敏感，其中第二方向分量垂直于第一方向分量。可替代地，第一传感器元件和第二传感器元件可以对磁场的相同方向分量敏感，其中通过第一传感器元件和第二传感器元件的位置或这些传感器元件之间的距离来设置第一传感器信号和第二传感器信号之间的理想的90°相移。传感器元件可以是例如磁阻传感器或霍尔传感器形式的磁场传感器元件。
根据一些示例性实施例，第一特性数据包括第一周期性传感器信号的第一幅度AX和第一平均值或偏移OX，并且第二特性数据包括第二周期性传感器信号的第二幅度AY和第二平均值或偏移OY。两个传感器信号可以附加地移动相应的相位角
Figure BDA0002622970120000031
和
Figure BDA0002622970120000032
Figure BDA0002622970120000033
Figure BDA0002622970120000034
根据一些示例性实施例，获取第一和第二测量值时所处的不同旋转角度覆盖了测量对象的至少一个360°旋转。因此，在校准模式下，测量对象可以旋转360°。在分别测量第一和第二测量值时所处的n个不同的旋转角度的情况下，相邻的测量旋转角度可以彼此分开例如360°/n。
根据一些示例性实施例，分别同时获取多个第一和第二测量值。同时获取确保不会在不同的旋转角度下获取第一和第二测量值，这可能导致不正确的校准。
根据一些实施例，基于最小二乘法求出椭圆方程的椭圆参数。在此在椭圆中搜索尽可能接近数据点行进的数据点云(此处为测量值)。
在一些实施例中，椭圆方程具有以下形式：
ax2+bxy+cy2+dx+fy+g＝0。
椭圆参数a，b，c，d，f，g可以根据最小平方差借助等式C＝(MTM)-1MTZ求出，其中
Figure BDA0002622970120000041
意味着基于多个第一和第二测量值的测量值矩阵，且Z＝[1 1 ... 1]T意味着校准的可能目标幅度并表示参数g的负值。在这种情况下，椭圆映射到单位圆上。由系数C0...Cn-1和单位圆幅度可以确定辅助参数，其中由单位圆幅度得出椭圆参数，这些辅助参数可以用于求出第一周期性传感器信号的第一特性数据、和第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据、以及在第一和第二周期性传感器信号之间的相移。
根据一些示例性实施例，为了确定第一周期性传感器信号的第一幅度AX和第一平均值OX，根据x＝f(y)变换椭圆方程，并设置导数dx/dy＝0。由此，可以得出对应于所求出的椭圆参数的椭圆的最大和最小x值。相应地，为了确定第二周期性传感器信号的第二幅度AY和第二平均值OY，根据y＝f(x)对椭圆方程进行变换，并设置导数dy/dx＝0。由此，可以获得与所求出的椭圆参数相对应的椭圆的最大和最小y值。
根据一些示例性实施例，可以基于对相应于所求出的椭圆参数的椭圆的最大和最小x值进行平均来求出第一平均值OX，并且可以基于对椭圆的最大和最小y值进行平均来求出第二平均值OY。
根据一些实施例，可以基于椭圆的最大(或最小)x值和第一均值OX来求出第一振幅AX，并且可以基于椭圆的最大(或最小)y值和第二均值OY来求出第二振幅AY。
根据一些实施例，根据
Figure BDA0002622970120000051
求出在第一和第二周期性传感器信号之间的相移
Figure BDA0002622970120000052
其中yAx意味着椭圆在椭圆的x值最大时的y值，OY意味着第二传感器信号的平均值，并且AY意味着第二传感器信号的幅度。
因此，本公开的实施例提出使用椭圆自适应函数，该椭圆自适应函数使用任意分布的、对应的分量值X和Y。对此无需角度参考。
附图说明
下面将参考附图通过仅示例的方式描述装置和/或方法的一些实施例。在此示出：
图1是磁场传感器的示意图。
图2是测量电路；
图3是有故障的测量电路；
图4是理想正弦和余弦信号与带有幅度、偏移和相位偏差的信号的比较；
图5是根据实施例用于校准角度传感器的装置，和
图6是根据实施例用于校准角度传感器的方法。
具体实施方式
现在将参照示出了一些示例的附图更全面地描述各种示例。在附图中，为了清楚可以放大线、层和/或区域的厚度。
因此，虽然另外的示例能够具有各种修改和替换形式，但是其一些特定示例在图中示出并且随后进行详细描述。然而，这种详细描述并不将另外的示例限于所描述的特定形式。另外示例可以覆盖落在本公开范围内的所有修改、等价和备选。相似的附图标记在附图的描述中表示相似或类似的元件，当相互比较时可以以相同的或以修改的形式实施，同时提供相同或类似的功能。
应当理解，当一个元件被称作“连接”或“耦合”至另一个元件时，这些元件可以直接连接或耦合或者经由一个或多个中间元件连接或耦合。如果使用“或者”组合两个元素A和B，则理解为公开了所有可能的组合，即仅A、仅B以及A和B。相同组合的备选措辞是“A和B中的至少一个”。这同样适用于两个以上元素的组合。
本文用于描述特定示例的术语并不旨在限制另外的示例。无论何时使用诸如“一个”和“一”的单数形式，以及仅使用单个元素既不是明示或暗示定义为强制性的，另外的示例也可以使用多个元素来实施相同的功能。类似地，当随后将功能描述为使用多个元素实施时，另外的示例可以使用单个元素或处理实体来实施相同的功能。将进一步理解，术语“包括”和/或“包含”在使用时指定所陈述的特征、整数、步骤、操作、处理、元素、部件和/或它们的组的存在，但不排除一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、处理、元素、部件和/或它们的任何组的存在或添加。
除非另有定义，否则所有术语(包括技术和科学术语)在本文中以其在该示例所属领域的普通含义使用。
图1示出了GMR测量电桥(GMR＝巨磁阻)形式的角度传感器100的可能实施方式。
使本领域技术人员直接明了的是，除了图1所示的配置之外，其他配置也可以用作角度传感器。仅举几例，替代传感器例如是AMR传感器(AMR＝各向异性磁阻)、TMR传感器(TMR＝隧道磁阻)或霍尔传感器。
与AMR传感器相比，基于根据自旋阀原理(Spin-Valve-Prinzip)的GMR效应的旋转角度传感器可以具有优势。在使用桥接装置时，基于GMR效应的旋转角度传感器可以具有固有的360°唯一性，并且具有比AMR传感器更高的灵敏度。因此，使用基于GMR效应的旋转角度传感器可以带来性能优势和成本优势。为了借助自旋阀GMR/TMR结构实现360°探测，可以将多个层系统连接到两个惠斯通电桥。因此可以实现最大的信号。在此，这些桥中的一个的具有参考磁化，其垂直于另一个桥的参考磁化。参考磁化在两个桥的每个桥内反平行布置。因此，两个桥都提供取决于外部磁场的旋转角度的正弦波主信号，它们正好是彼此相移90°。这两个主信号在下面也称为主正弦信号和主余弦信号。
图1中的磁场传感器100具有在第一优选方向104上取向的第一传感器元件102和在第二预磁化方向105上取向的第二传感器元件103。四个第一传感器元件102连接在一起以形成第一桥电路。四个第二传感器元件103同样被连接在一起以形成第二桥电路。第一测量桥被设计为获取磁场的第一优选方向104的一个分量，第二测量桥被设计为获取待获取磁场的第二优选方向104的第二分量。第一测量电桥被设计为产生第一电桥电压UX 106，其对应于磁场的第一分量，即沿着第一预磁化方向或优选方向的分量。第二测量电桥被设计为产生第二电桥电压UY 107，其对应于第二分量，即待获取的磁场沿着第二预磁化方向的分量。
旋转角测量的原理是基于这样的事实，即二维坐标系足以确定角度。测量系统参考坐标系的原点、例如图1所示的测量点的电压UX，UY来提供X值和Y值。可以借助微处理器适宜的方法从该XY值对中计算出测量点的所属角度α。如果现在所有测量值UX，UY都位于圆形路径上，则计算出的角度准确地描述了旋转角度的绝对位置。例如，如果磁铁在两个磁传感器之上旋转，并且例如一个传感器在X轴上取向、第二个传感器在Y轴上取向，则会检测到圆周运动的正弦和余弦分量。通过反正切函数atan(Y/X)推导出角度。由于角度表示测量点相对于坐标系的方向，因此该应用可以用作角度传感器。
图2示出了角度测量的原理。X分量和Y分量在直角坐标系中被绘制出。所获取的磁场方向208的第一分量206(在这种情况下为X分量)在第一轴211a(在该第一轴线211a的情况下为X轴)的方向上被标出。在沿着第二轴211b(在这种情况下为Y轴)的方向上标出所获取的磁场方向208的第二分量207(在这种情况下为Y分量)。磁场方向208的角度α可以由例如图1所示的磁场传感器获取到的X和Y分量来计算。磁场方向208的方向向量对应于由X分量206和Y分量207展开的矩形的对角线。磁场方向208的角度α因此可以通过由X分量206和Y分量207进行的反正切计算来算出。
但是，如果测量点不再位于圆形路径上，而是位于具有非正交轴的倾斜移位的椭圆路径上，则计算出的角度会偏离要获取的方向的实际角度。
两个测量电桥元件之间的正交性偏差、测量电桥灵敏度的差异以及不同的偏移误差都可能导致偏离理想的圆形路径。一般的路径延伸为椭圆形的，具有偏移的中心点和倾斜的轴位置。所提到的影响可以例如取决于老化和温度。
角度传感器的制造和组装也可能导致误差，该误差在传感器元件的应用中又应被消除，以确保角度的相应高测量精度。在此可能发生三种类型的错误。
偏移误差会导致X和/或Y轴偏移。由于制造和运行温度的原因，可能会产生偏差。这导致测量电路发生偏移。
幅度误差会导致X和/或Y轴出现幅度。由于制造过程、尤其是温度，可能会出现幅度误差。这导致圆变形为椭圆形，但是该椭圆的主轴仍在X或Y轴上。
如果传感器并不是正交或相差90°定位或传感器制造未被精确制造，则X和Y分量之间会出现角度误差。
综上所述，可以说从待描述圆产生的误差之和变成可以在零点附近以任何角度移动的普通椭圆。
图3示出了由于影响而导致的圆形路径到椭圆形路径的变形。所获取的磁场方向308'的误差X分量306'和误差Y分量307'展开一个矢量图，从中可以计算出所获取的磁场方向的误差角α'。通过误差X分量306′和误差Y分量307′，方向矢量308′并不描述围绕X轴211a和Y轴211b的原点的圆，而是描述了围绕误差X轴311a′和误差Y轴311b′的中心点的椭圆310′。圆坐标系的原点312偏离椭圆坐标系的原点312′。另外，椭圆坐标系的轴311a′，311b′相对于圆轴211a，211b旋转。误差椭圆轴311a′，311b′也可以具有彼此成90°偏差的角度。
除了变形成椭圆404的圆402之外，图4还示出了与理想的X和Y分量206，207相比，所属的在0°至360°的角度范围内标出的误差X和Y分量306′，307′的测量值。
误差X和Y组件306′，307′可以根据
Figure BDA0002622970120000091
Figure BDA0002622970120000092
被模拟。在此，AX和AY意味着分量信号X和Y的相应幅度，OX和OY意味着分量信号的相应偏移，并且
Figure BDA0002622970120000093
和
Figure BDA0002622970120000094
意味着分量信号的相应相移。
现在，本公开提出了一种装置和方法，借助于该装置和方法，可以估计误差X和Y分量的上述参数AX，AY，
Figure BDA0002622970120000095
OX，OY，并将其用于角度校准。
图5示意性地示出了根据实施例用于校准角度传感器501的装置500。
装置500包括数据接口503，505，针对测量对象(未示出)的多个(n个)不同旋转角度αi(i＝0，...，n-1)中的每一个旋转角度，该数据接口根据在第一传感器元件502的位置处的磁场获取第一传感器元件502的第一测量值Xi，该磁场取决于测量对象的旋转角度αi。针对测量对象的多个不同旋转角度αi中的每一个旋转角度，数据接口还根据在第二传感器元件504的位置处的磁场获取第二传感器元件504的第二测量值Yi，该磁场取决于测量对象的旋转角度αi。传感器元件502，504例如可以是类似于图1的磁阻传感器元件的桥电路。
装置500还包括处理器510，该处理器被设计为基于所获取的第一和第二测量值Xi，Yi来计算椭圆方程的多个椭圆参数512，并基于所求出的椭圆参数512来计算第一传感器元件502的第一误差周期性传感器信号X′的第一特性数据514-1、第二传感器元件504的第二误差周期性传感器信号Y′的第二特性数据514-2、以及第一和第二误差周期性传感器信号X′，Y′之间的相移
Figure BDA0002622970120000101
在一些实施例中，椭圆方程具有二次(Quadrik)的形式
ax2+bxy+cy2+dx+fy+g＝0。
最佳地对应于测量值Xi，Yi的椭圆参数a，b，c，d，f，g例如可以借助补偿计算、尤其是借助最小平方差法来确定。
为此，首先获取n个分量信号采样值
Pi＝[Xi，Yi] i＝0..(n-1)。
借助这些第一和第二测量值Xi，Yi可以创建观察矩阵
Figure BDA0002622970120000102
从MC＝z开始，其中
Figure BDA0002622970120000103
Figure BDA0002622970120000104
可以由处理器510根据
C＝(MT·M)-1·MT·Z
求出矢量C。Z意味着校准的目标幅度并且代表参数g的负值。在该实施例中，该椭圆被映射到单位圆上。
根据这里给出的实施例，然后可以如下从矢量C的分量中确定椭圆参数。
a＝C0，b＝C1/2，c＝C2，d＝C3/2，f＝C4/2，g＝-1
利用以这种方式获得的椭圆参数，处理器510现在可以计算第一传感器元件502的第一误差周期性传感器信号X的特性数据Ax，Ox、第一传感器元件504的第二误差周期性传感器信号Y的特性数据Ay，Oy、以及第一和第二误差周期性传感器信号X′，Y′之间的相移
Figure BDA0002622970120000111
对于第一误差周期性传感器信号X的幅度Ax，可以根据x＝f(y)变换椭圆方程，并可以设置导数dx/dy＝0。因此，可以针对x的极值获得y位置。
Figure BDA0002622970120000112
通过导数(dx/dy)并将该dx/dy设为零，可以求出Y值，在该值处椭圆具有关于X值的最大值和最小值。在这种情况下，对于x最大值和最小值的y位置可获得以下表达式：
Figure BDA0002622970120000113
yAx因此表示在椭圆x值最大(最小)时的椭圆的y值。
通过在原始椭圆方程中插入该y位置，可以在x方向上得到椭圆的最大范围：
Figure BDA0002622970120000114
或者
Figure BDA0002622970120000115
xAx因此表示对应于所求出的椭圆参数a，b，c，d，f，g的椭圆的最大或最小x值。
对于第二误差周期性传感器信号Y的幅度AY，可以根据y＝f(x)变换椭圆方程，并可以设置导数dy/dx＝0。因此可以针对y的极值获得x位置。
Figure BDA0002622970120000116
通过导数(dy/dx)并将该导数归零，可以求出X值，在该值处椭圆具有关于Y值的最大值和最小值。在这种情况下，对于y最大值和最小值的x位置获得以下表达式：
Figure BDA0002622970120000121
xAy因此表示在椭圆y值最大(最小)时的椭圆的x值。
通过将该x位置插入原始椭圆方程，可以在y方向上得到椭圆的最大范围：
Figure BDA0002622970120000122
或者
Figure BDA0002622970120000123
yAy因此表示对应于所求出的椭圆参数a，b，c，d，f，g的椭圆的最大或最小y值。
利用椭圆参数a，b，c，d，f，g，第一误差周期性传感器信号的第一平均值/偏移量OX然后可以基于对最大(xAx+)和最小(xAx-)x值进行平均根据
Figure BDA0002622970120000124
Figure BDA0002622970120000125
来求出，并且第二误差周期性传感器信号的第二平均值/偏移量OY然后可以基于对最大(yAy+)和最小(xAy-)y值进行平均根据
Figure BDA0002622970120000126
Figure BDA0002622970120000127
来求出。
然后可以分别基于极值、例如基于椭圆的最大x值(xAx+)和最大y值(yAy+))并考虑相应的平均值OX，OY来求出第一和第二误差周期性传感器信号的幅度AX，AY。
AX＝xAx+-OX
AY＝yAy+-OY
第一和第二误差周期性传感器信号X，Y之间的相移
Figure BDA0002622970120000128
可以根据
Figure BDA0002622970120000131
来求出，其中yAx意味着在x值最大时的椭圆的y值，OY意味着第二传感器信号的平均值，并且AY意味着第二传感器信号的幅度。
现在可以保存通过校准获得的值AX，AY，OX，OY和
Figure BDA0002622970120000132
以在角度传感器的运行模式(正常运行)期间使用。为此目的，在装置500中附加地存在数据存储器。
在角度传感器运行期间，处理器510可以按以下方式修正测量值X，Y：
Figure BDA0002622970120000133
Figure BDA0002622970120000134
X″＝X′
然后这些值X″，Y″与修正的测量值相对应，并且然后根据如下公式得出修正的角度α：
Figure BDA0002622970120000135
概况而言，图6中示出了用于校准角度传感器的方法600。
方法600包括：针对测量对象的多个不同旋转角度中的每个旋转角度，根据第一传感器元件位置处的磁场，获取602第一传感器元件的第一测量值，该磁场取决于测量对象的旋转角度；以及根据在第二传感器元件的位置处的磁场，获取第二传感器元件的第二测量值，该磁场取决于测量对象的旋转角度。在604处，基于所获取的第一测量值和第二测量值求出椭圆方程的多个椭圆参数。在606处，基于所求出的椭圆参数来确定第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据、第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据、以及第一和第二周期性传感器信号之间的相移。
在可选过程608中，第一和第二特性数据以及相移可用于修正第一和第二测量值，进而修正所估计的角度。
例如，本公开的实施例可以在测试设备中实现。在此无需角度参考，因此不需要昂贵且大型的光学编码器。取而代之的是，简单旋转的均质磁体可用于EoL检验和/或校准。较大的旋转磁体可以允许并行检验以降低检验成本。
本公开的实施例也可以在用于运行期间使用的传感器中实现。自动校准功能也可以通过实施例来改善。
与一个或多个之前详细描述的示例和附图一起提到和描述的方面和特征可以与一个或多个其他示例组合，以便代替其他示例的类似特征或者向其他示例附加地引入特征。
示例可以进一步是或涉及具有程序代码的计算机程序，该程序代码用于在计算机程序在计算机或处理器上运行时执行上述一种或多种方法。上述各种方法的步骤，操作或过程可以由编程的计算机或处理器执行。示例也可以覆盖程序存储装置，例如数字数据存储介质，这些装置是机器、处理器或计算机可读的，并且由指令对机器可执行的、处理器可执行的或计算机可执行的程序进行编码。指令引导上述方法的一些或全部步骤或引起这些步骤的实施。程序存储装置可以包括或作为例如数字存储、诸如磁盘和磁带之类的磁存储介质、硬盘驱动器或光学可读数字数据存储介质。其他示例可以覆盖被编程用于实施上述方法的步骤的计算机、处理器或控制单元，或者覆盖被编程用于实施上述方法的步骤的(现场)可编程逻辑阵列((F)PLA＝(现场)可编程逻辑阵列)或(现场)可编程门阵列((F)PGA＝(现场)可编程门阵列)。
说明书和附图仅示出了本公开的原理。此外，此处列出的所有示例仅旨在明确地用于说明目的，以帮助读者理解本公开的原理以及发明人对进一步发展技术做出贡献的构思。这里关于本公开的原理，方面和示例的所有陈述以及其具体示例包括其等同形式。
表示为执行特定功能的“用于…的装置”的功能块可以表示被配置成执行特定功能的电路。因此，“用于某事的装置”可以被实施为“被配置成或者适合于某事的装置”，诸如被配置成或适合于相应的任务的装置或电路。
在附图中示出的各种元件的功能，包括标记为“装置”、“用于提供传感器信号的装置”、“用于生成发射信号的装置”等的任何功能块可以以专用硬件的形式(诸如“信号提供器”、“信号处理单位”、“处理器”、“控制器”等)以及能够与适当软件相关联地执行软件的硬件的形式来实施。当由处理器提供时，可以通过单个专用处理器、单个共享处理器或者多个独立的处理器(其中一些或所有都被共享)来提供功能。然而，术语“处理器”或“控制器”远不限于只能够执行软件的硬件，而是可以包括数字信号处理器(DSP)硬件、网络处理器、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、用于存储软件的只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)和非易失性存储器。也可以包括传统和/或定制的其他硬件。
例如，框图可以图示实施本公开原理的高级电路图。类似地，流程图、状态转换图、伪代码等可以表示各种过程、操作或步骤，这例如可以在由计算机或处理器执行的计算机可读介质中基本表示，无论这种计算机或处理器是否被明确示出。在说明书或权利要求中公开的方法可以通过具有用于执行这些方法的每个相应步骤的器件的部件来实施。
可以理解，说明书和权利要求中公开的多个步骤、过程、操作或功能的公开可以不以特定顺序构建，除非另有明示或暗示，例如出于技术原因。因此，多个步骤或功能的公开将不将它们限于特定顺序，除非这些动作或功能由于技术原因而不可互换。另外，在一些示例中，单个步骤、功能、过程或操作可以分别包括或者可以分为多个子步骤、子功能、子过程或子操作。这些子步骤可以被包括在该单个步骤的公开中或是其一部分，除非明确排除。
另外，权利要求在此被并入到详细描述中，其中每个权利要求自身可以作为独立示例。虽然每个权利要求自身可以作为独立示例，但应当注意，尽管从属权利要求可以在权利要求中引用与一个或多个其他权利要求的特定组合，但其他示例还可以包括该从属权利要求与每个其他从属权利要求或独立权利要求的主题的组合。本文明确提出这种组合，除非该特定组合是不想要的。另外，还将权利要求的特征包括到任何其他独立权利要求，即使该权利要求不直接从属于该独立权利要求。

Claims (15)

1.一种用于校准角度传感器(501)的方法(600)，包括：
针对测量对象的多个不同的旋转角度中的每个旋转角度，根据第一传感器元件的位置处的磁场，获取(602)所述第一传感器元件(502)的第一测量值，所述第一传感器元件的位置处的磁场取决于所述测量对象的所述旋转角度；并且根据第二传感器元件的位置处的磁场，获取所述第二传感器元件(504)的第二测量值，所述第二传感器元件的位置处的磁场取决于所述测量对象的所述旋转角度；
基于所获取的所述第一测量值和所述第二测量值求出(604)椭圆方程的多个椭圆参数(512)；和
基于所求出的所述椭圆参数：
确定(606)所述第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据、所述第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据、以及所述第一周期性传感器信号和所述第二周期性传感器信号之间的相移。
2.根据权利要求1所述的方法(600)，其中，所求出的所述第一特性数据和所述第二特性数据能够用于所述角度传感器(501)的运行模式中的角度校准。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一特性数据包括所述第一周期性传感器信号的第一幅度和第一平均值，并且所述第二特性数据包括所述第二周期性传感器信号的第二幅度和第二平均值。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，获取所述第一测量值和所述第二测量值时所处的所述不同的旋转角度覆盖所述测量对象的至少一个360°旋转。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，分别同时获取多个所述第一测量值和多个所述第二测量值。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一传感器元件(502)对磁场的第一方向分量敏感，并且所述第二传感器元件(504)对磁场的第二方向分量敏感，其中所述第二方向分量垂直于所述第一方向分量。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一传感器元件(502)和所述第二传感器元件(504)对磁场的相同方向分量敏感，其中通过所述第一传感器元件和所述第二传感器元件的位置/距离，设定在所述第一传感器信号和所述第二传感器信号之间的理想的90°相移。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，所述第一传感器元件(502)和所述第二传感器元件(504)分别包括至少一个磁场传感器元件。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，基于最小二乘法求出所述椭圆参数(512)。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述椭圆方程的形式为ax2+bxy+cy2+dx+fy+g＝0，并且基于C＝(MTM)-1MTZ求出所述椭圆参数a、b、c、d、f、g，其中
Figure FDA0002622970110000021
意味着基于多个所述第一测量值和多个所述第二测量值的测量值矩阵，并且Z＝[1 1… 1]T。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法(600)，其中，为了确定所述第一周期性传感器信号的第一幅度AX和第一平均值OX，根据x＝f(y)变换所述椭圆方程，并且设置导数dx/dy＝0，并且其中为了确定所述第二周期性传感器信号的第二幅度AY和第二平均值OY，根据y＝f(x)变换所述椭圆方程，并设置导数dy/dx＝0。
12.根据权利要求11所述的方法(600)，其中，基于对与所求出的所述椭圆参数相对应的椭圆的最大x值和最小x值进行平均来求出所述第一平均值OX，并且基于对所述椭圆的最大y值和最小y值进行平均来求出所述第二平均值OY。
13.根据权利要求12所述的方法(600)，其中，基于所述椭圆的最大x值和所述第一平均值OX来求出所述第一幅度AX，并且基于所述椭圆的最大y值和所述第二平均值OY来求出所述第二幅度AY。
14.根据权利要求13所述的方法(600)，其中，根据
Figure FDA0002622970110000031
求出在所述第一周期性传感器信号和所述第二周期性传感器信号之间的所述相移
Figure FDA0002622970110000032
其中yAx意味着所述椭圆在所述椭圆的x值最大时的y值，OY意味着所述第二传感器信号的平均值，并且AY意味着所述第二传感器信号的幅度。
15.一种用于校准角度传感器(501)的装置(500)，包括：
数据接口(503；505)，用于针对测量对象的多个不同的旋转角度中的每个旋转角度，
根据在第一传感器元件的位置处的磁场，获取所述第一传感器元件(502)的第一测量值，所述第一传感器元件的位置处的磁场取决于所述测量对象的所述旋转角度，以及
根据在第二传感器元件的位置处的磁场，获取所述第二传感器元件(504)的第二测量值，所述第二传感器元件的位置处的磁场取决于所述测量对象的所述旋转角度；
处理器(510)，被配置为
基于所获取的所述第一测量值和所述第二测量值计算椭圆方程的多个椭圆参数(512)，并且
基于所求出的所述椭圆参数，
计算所述第一传感器元件的第一周期性传感器信号的第一特性数据、所述第二传感器元件的第二周期性传感器信号的第二特性数据、以及所述第一周期性传感器信号和所述第二周期性传感器信号之间的相移。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023143172A1 (zh) * 2022-01-28 2023-08-03 上海安翰医疗技术有限公司 一种磁球校准方法和磁球校准装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7234737B2 (ja) * 2019-03-28 2023-03-08 株式会社デンソー 検出ユニット
US20220317142A1 (en) * 2021-03-30 2022-10-06 Allegro Microsystems, Llc Automatic phase offset calculation
DE102021112732A1 (de) 2021-05-17 2022-11-17 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und verfahren zur kalibrierung eines magnetischen winkelsensors
DE102021133422A1 (de) 2021-12-16 2023-06-22 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Verfahren zur Ermittlung des Winkels des Rotors und/oder der Winkelgeschwindigkeit eines Elektromotors, Regler sowie Kraftfahrzeug
DE102021133421A1 (de) 2021-12-16 2023-06-22 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Verfahren zur Ermittlung des Winkels des Rotors und/oder der Winkelgeschwindigkeit eines Elektromotors, Regler sowie Kraftfahrzeug

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10034733A1 (de) * 1999-08-02 2001-02-15 Siemens Ag Ermittlungsverfahren für ein Lagesignal und/oder für Korrekturwerte für Messsignale
DE10163528A1 (de) * 2001-12-21 2003-07-10 Siemens Ag Verfahren zur Fehlerkompensation von sin/cos-Lagemesssystemen nach Offset-, Amplituden- und Phasenfehler
US20050278137A1 (en) * 2004-05-17 2005-12-15 Dirk Hammerschmidt Method and device for adjusting a determination rule of an angle sensor
US20070174015A1 (en) * 2004-06-19 2007-07-26 Siegbert Steinlechner Method and arrangement for correcting an angle-measuring and/or distance measuring sensor system
CN104976948A (zh) * 2014-04-08 2015-10-14 英飞凌科技股份有限公司 磁阻角度传感器以及使用该传感器的传感器系统
CN106483475A (zh) * 2015-09-01 2017-03-08 意法半导体股份有限公司 用于磁场感测设备的校准方法、对应系统、装置和计算机程序产品
CN107121057A (zh) * 2016-02-25 2017-09-01 英飞凌科技股份有限公司 磁角位置传感器
CN108204825A (zh) * 2016-12-19 2018-06-26 Tdk株式会社 角度传感器的修正装置以及角度传感器

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6401052B1 (en) * 1999-08-02 2002-06-04 Siemens Aktiengesellschaft Determination method for a position signal and/or for correction values for measurement signals
DE10148918A1 (de) * 2001-10-04 2003-04-10 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren zur Offsetkompensation eines magnetoresistiven Weg- oder Winkelmeßsystems
DE102005024879B4 (de) * 2005-05-31 2018-12-06 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Bestimmen von Restfehler-Kompensationsparametern für einen magnetoresistiven Winkelsensor und Verfahren zum Verringern eines Restwinkelfehlers bei einem magnetoresistiven Winkelsensor

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10034733A1 (de) * 1999-08-02 2001-02-15 Siemens Ag Ermittlungsverfahren für ein Lagesignal und/oder für Korrekturwerte für Messsignale
DE10163528A1 (de) * 2001-12-21 2003-07-10 Siemens Ag Verfahren zur Fehlerkompensation von sin/cos-Lagemesssystemen nach Offset-, Amplituden- und Phasenfehler
US20050278137A1 (en) * 2004-05-17 2005-12-15 Dirk Hammerschmidt Method and device for adjusting a determination rule of an angle sensor
US20070174015A1 (en) * 2004-06-19 2007-07-26 Siegbert Steinlechner Method and arrangement for correcting an angle-measuring and/or distance measuring sensor system
CN104976948A (zh) * 2014-04-08 2015-10-14 英飞凌科技股份有限公司 磁阻角度传感器以及使用该传感器的传感器系统
CN106483475A (zh) * 2015-09-01 2017-03-08 意法半导体股份有限公司 用于磁场感测设备的校准方法、对应系统、装置和计算机程序产品
CN107121057A (zh) * 2016-02-25 2017-09-01 英飞凌科技股份有限公司 磁角位置传感器
CN108204825A (zh) * 2016-12-19 2018-06-26 Tdk株式会社 角度传感器的修正装置以及角度传感器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023143172A1 (zh) * 2022-01-28 2023-08-03 上海安翰医疗技术有限公司 一种磁球校准方法和磁球校准装置

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